Способ исследования распределения нормальных перемещений поверхности плоских объектов

Номер патента: 1397716

Авторы: Бахтин, Костюченко

ZIP архив

Текст

СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИН 191 1 4 С 01 В 900 БРЕТЕНИ ЕЛЬСТВ НИ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ ССС ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫ ОПИСАНИЕК АВТОРСКОМУ СВИ(71) Московский институт стали исплавов(56) Козачок А.Г. Голографические методы исследования в экспериментальноймеханике.-М.; Машиностроение, 1984,с, 130-131.(54) СПОСОБ ИССЛЕДОВАНИЯ РАСПРЕДЕЛЕ ЯНОРМАЛЬНЫХ ПЕРЕМЕЩЕНИЙ ПОВЕРХНОСТИПЛОСКИХ ОБЪЕКТОВ(57) Изобретение относится к измери-.тельной технике и может быть использовано для исследования нормальных перемещений в сечении плоских объектов на основе метода голографической интерфе" рометрии. Целью изобретения является повышение точности и снижение трудоемкости построения эпюры за счет устранения необходимости расчета перемеще ний по конечному числу точек. При добавлении к интерференционной картине, возникающей при нормальной деформации плоского объекта, системы параллельных исследуемому сечению прямолинейных интерференционных полос, в которой одна из полос проходит через это сечение, полоса искривится так, что ее форма с точностью до постоянного множителя воспроизведет эпюру нормальных перемещений в указанном сечении. По этой а эпюре анализируют распределение перемещений.13977 16 680 Подписное Произв.-полигр. пр-тие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 Изобретение относится к измерительной технике и может быть использованодля исследования нормальных перемещений в сечении плоских объектов на основе метода голографической интерферометрии.Цель изобретения " повышение точности и снижение трудоемкости исследования за счет исключения необходимости расчета перемещений по конечномучислу точек,Сущность способа заключается в следующем.При повороте коллимиронанного осве, щающего пучка вокруг оси, параллельнойисследуемому сечению, возникает систе,ма параллельных исследуемому сечениюпрямолинейных интерференционных полоси, изменяя угол поворота, можно добить 0ся того, чтобы одна из полос проходилачерез сечение. Порядок этой полосы ра 2 Ы.Гвен М,(х) =,где ьс - угол поворота; г - расстояние от оси поворота до 25исследуемого сечения; 9 - длина волны;х - текущая координата сечения. Привозниконовении нормальных перемещениййорядок интерференционных полос в сечении 302 Г Ч 2 с 1(х)(знак + означает, что нормальные пере,мещения Й (х) могут как совпадать си"фиктивными" перемещениями г, обус,ловленными изменением угла наклонаосвещающего пучка, так и быть проти воположными ему по направлению), Таким образом, разница порядков полосы,представляющая собой отклонение И,(х) 10полосы от прямолинейности, равна2 й(х)И (х) - М,=+т.е. искривление формы полосы с точностью до постоянного множителя 2 Исовпадает с эпюрой распределения нормалыщх перемещений д (х) вдоль исследуемого сечения,Способ осуществляется следующим образом.Определяют эпюру нормальных перемещений в центральном горизонтальном сечении, например, плоской металлической ВНИИПИ Заказ 226138 Тираж пластины размером 100 х 100 мм, нагружаемой в центре сосредоточенной силой. Освещают объект коллимированным пучком, когерентного излучения, лежащем в горизонтальной плоскости. На фотопластинку записывают голограмму объекта и после проведения фотохимической обработки устанавливают ее в первоначальное положение.С помощью юстируемого зеркала изменяют угол падения освещающего пучка путем поворота его вокруг горизонтальной оси на угол ос5 10 рад, что создает систему параллельных ис-. следуемому сечению прямолинейных интерференционных полос, одна из которых проходит через это сечениеПосле приложения в центре объекта сосредоточенной силы наблюдают в реальном времени интерференционную картину и по форме полосы, проходящей вдоль исследуемого сечения, строят эпюру нормальных перемещений. Путем изменения угла наклона освещающего пучка можно в реальном времени определять эпюры перемещений в любом прямолинейном сечении объекта без проведения количественной расшифровки. Формула изобретения Способ исследования распределениянормальных перемещений поверхностиплоских объектов, заключающийся втом, что освещают объект когерентнымизлучением, записывают его на голограмму, после перемещения объекта ре-гистрируют интерференционную картинучерез голограмму и по эпюре перемещений в исследуемом сечении поверхностиобъекта анализируют распределение нормальных перемещений в этом сечении,о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, сцелью повышения точности и снижениятрудоемкости исследования, освещение объекта производят коллимированным пучком, изменяют угол освещениядля создания системы прямолинейныхинтерференционных полос и ориентируют их параллельно исследуемому сечению так, чтобы одна из полос проходила через исслецуемое сечение, иформу, этой полосы используют для построения эпюры,

Смотреть

Заявка

4198237, 17.12.1986

МОСКОВСКИЙ ИНСТИТУТ СТАЛИ И СПЛАВОВ

КОСТЮЧЕНКО ВЛАДИМИР ПЕТРОВИЧ, БАХТИН ВЯЧЕСЛАВ ГЕННАДЬЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01B 9/00

Метки: исследования, нормальных, объектов, перемещений, плоских, поверхности, распределения

Опубликовано: 23.05.1988

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-1397716-sposob-issledovaniya-raspredeleniya-normalnykh-peremeshhenijj-poverkhnosti-ploskikh-obektov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ исследования распределения нормальных перемещений поверхности плоских объектов</a>

Похожие патенты