G01B — Измерение длины, толщины или подобных линейных размеров; измерение углов; измерение площадей; измерение неровностей поверхностей или контуров

Страница 412

Способ изготовления высокотемпературного тензорезистора

Загрузка...

Номер патента: 1165877

Опубликовано: 07.07.1985

Автор: Поднебеснов

МПК: G01B 7/16

Метки: высокотемпературного, тензорезистора

...стабильности метрологических характеристик тензорезистора относительно средних для данной партии значений и повышение производительности способаПоставленная цЕль достигается тем, что согласно способу изготовления высокотемпературного тензорезистора, заключающемуся в том, что на подложку напыляют изо 5 10 15 20 25 30 35 лирующий слой жаростойкого окисла, формируют тензорешетку, приваривают ее концы к токовыводам, закрывают подложку с закрепленной на ней тензорешеткой тепло- изолирующей рамкой с отверстием в области средней части тензорешетки, напыляют через отверстие жаростойкий окисел, убирают рамку и напыляют дополнительный слой жаростойкого окисла, подложку закреп ляют на технологическом носителе, устанавливают носитель с подложкой в...

Интерферометрическое измерительное устройство

Загрузка...

Номер патента: 1165878

Опубликовано: 07.07.1985

Авторы: Рокос, Рокосова

МПК: G01B 9/02

Метки: измерительное, интерферометрическое

...11, узкополосного фильтра 12 и реверсивного счетчика 13, двустороннее зеркало 14, установленное на предметном столике 5 параллельно двум дополнительным зеркалам 15 и 16, светоделительный блок в виде светоделительного кубика 17 и четырех фазовых пластин 18 - 21, каждая из которых посажена на оптический контакт с соответствующей гранью кубика 17, установленного на оптической оси устройства между модулятором 8 и анализатором 9, блок 22 настройки нулевой полосы, расположенный за светоделителем 2 по ходу потока излучения, ось которого перпендикулярнаоптической оси устройства, в виде оптически связанных источника 23 немонохроматического излучения, обьектива 24, поляризатора 25 и светофильтра 26, оптически связанного со светоделителем...

Двухлучевое интерференционное устройство для измерения толщины прозрачных пленок

Загрузка...

Номер патента: 1165879

Опубликовано: 07.07.1985

Авторы: Сергеева, Черноусова

МПК: G01B 11/06, G01B 9/02

Метки: двухлучевое, интерференционное, пленок, прозрачных, толщины

...призмы и призмы Дове, а держатель измеряемой пленки установлен с возможностью поворота в плоскости, перпендикулярной основанию оборачивающей призмы.На чертеже изображена принципиальная схема двухлучевого интерференционного устройства для измерения толщины прозрачных пленок.Устройство содержит осветительную систему 1, интерференционный блок, выполненный в виде последовательно расположенных по ходу излучения плоскопараллельной пластины 2, установленной под углом 45 к оси излучения, обеспечиваюшей призмы 3 и призмы 4 Дове, узкополосный интерференционный фильтр 5, поляризатор 6, уголковую призму 7, зрительную трубу 8, держатель 9 измеряемой пленки, установленный с возможностью поворота в плоскости, перпендикулярной основанию...

Устройство для измерения перемещений

Загрузка...

Номер патента: 1165880

Опубликовано: 07.07.1985

Авторы: Кривобоков, Малков, Шиляев

МПК: G01B 11/00

Метки: перемещений

...связан с дополнительным фотоприемником, а выходы обоих фотоприемников подключены к блоку регистрации.На чертеже изображена оптическая схема устройства для измерения перемещений,Устройство содержит источник 1 излучения, щелевую диафрагму 2, светоделитель 3, рабочий 4 и компенсационный 5 датчики перемещений, каждый из которых включает зеркало 6, 7 и пару параллельных отражателей 8, 9 и 1 О, 11, причем отражатели 9 и 10 установлены неподвижно и выполнены в виде призм, например, Дове, с отражающими гранями, причем на входных гранях 12 и 13 призм выполнены полупрозрачные щелевые диафрагмы 14 и 15, ширина каждой из которых определяется соотношениемяп 9,где т - ширина диафрагмы;( - расстояние между соседними падающими лучами на...

Способ контроля отклонения формы поверхности от эталонной

Загрузка...

Номер патента: 1165881

Опубликовано: 07.07.1985

Авторы: Духович, Колесов

МПК: G01B 11/25, G02B 27/60

Метки: отклонения, поверхности, формы, эталонной

...эталонную поверхность 1 проектором4 проецируют нерегулярный растр 2, фотографируют изображение растра проектором 5, доработанным так, чтобы он обеспечивал фотографирование и последующее проецирование негатива без изменения его положения, и получают таким образом растр 203, согласованный с растром 2 по эталоннойповерхности. Одновременное проецированиерастров 2 и 3 на эталонную поверхностьприводит к взаимному перекрытию их темных и светлых зерен, вследствие чего эталонная поверхность будет затенена. Положение растров в проекторах определяют с помощью, например, микрометров. Далее наместо эталонной поверхности устанавливают в то же положение контролируемую поверхность 6. В местах отклонений поверхно- ЗОсти от эталонной наблюдают...

Устройство для контроля прямолинейности

Загрузка...

Номер патента: 1165882

Опубликовано: 07.07.1985

Авторы: Левин, Серегин

МПК: G01B 11/30

Метки: прямолинейности

...с возможностью наклона и скрепленной с отсчетным барабаном (непоказан), объектив .2, линзовый элемент 3,установленный с возможностью перемещения вдоль оптической оси устройства, сетку4, окуляр 5, механизм 6 фокусировки и соединенный с линзовым элементом 3, источник7 света, конденсатор 8, точечную диафрагму 9, аксикон 10, дающий резкое изображение диафрагмы на сетке 4, отражающий элемент 11, установленный на оптической оси инаправляющий излучение источника света7 на сетку 4, механизм 12 перемещениясетки 4,Отражающий элемент 11 частично экранирует только центральную часть объектива.5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 2На фиг. 2 показано изображение 13 точечной диафрагмы на сетке 4, перекрестие 14 сетки, изображение 15 марки на сетке.Устройство...

Устройство для контроля шероховатости поверхности

Загрузка...

Номер патента: 1165883

Опубликовано: 07.07.1985

Авторы: Клиентов, Поклад, Шестов

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...отражателей.Целью изобретения является повьг шение чувствительности устройства.Поставленная цель, достигается тем, что в устройстве для контроля шероховатости поверхности, содержащем источник излучения, коллнмирующую линзу, цилиндрический отражатель, установленный осесимметрично оптической оси коллимирующей линзы, фотоприемники для регистрации .зеркально и диффузно отраженного излучения, расположенные на оси перпендикулярной оптической оси коллимирующей линзы, полупрозрачную пластину, установленную в точке пересечения оптической оси коллимирующей линзы с осью расположения фотоприемников, приемник сравнения и блок обработки сигналов, Фотоприемники расположены концентричноих фотокатоды установлены в Фокальной плоскости колли. мирующей...

Устройство для измерения дробной части интерференционной полосы

Загрузка...

Номер патента: 1165884

Опубликовано: 07.07.1985

Авторы: Буров, Лабковский, Чехович

МПК: G01B 21/00, G01B 9/02

Метки: дробной, интерференционной, полосы, части

...полосы незначительно меньше цены интерференционной полосы интерферометра 2. Фотоприемники 4 и 5 преобразуют оптические сигналы интерферометров 2 и 3 в гармоничес.кие электрические сигналы, периоды следования которых соответствуют цене интерференционных полос указанных интерферометров. Аналого-цифровые преобразователи 8 и 9 осуществляют периодическое преобразование поступающих на их входы синусоидально изменяющихся напряжений в цифровые коды. Блоки 6 и 7 опре.деления экстремума Формируют прямо 165884 5 10 15 20, значения (фиг. 2) . 55 25 30 35 40 45 50 4угольны импульсы при достижении электрическими сигналами, поступающими на их входы, максимальных и минимальных значений. Формирователь 22 Формирует короткие прямоугольные масштабные...

Устройство для определения смещений точек поверхности объекта

Загрузка...

Номер патента: 1165885

Опубликовано: 07.07.1985

Авторы: Гурьев, Евсеенко, Нечаев, Солодкин

МПК: G01B 21/00

Метки: объекта, поверхности, смещений, точек

...заключается в определении шага и угланаклона интерференционных полос,получаемых на экране при освещенииспекл-интерферограммы, записаннойметодом двух экспозиций, лучомкогерентного источника.Смещение точек объекта определяют соотношением 10 дг( = - .- + ЭЬша где- длина волны света;Ь - расстояние от спекл-интерферограммы до экрана;ш - масштаб изображения исследуемого объекта на спеклинтерферрграмме;а - шаг интерференционных полосна экране.Недостатком известного устройства является трудоемкость и большое время расшифровки спекл-интерферограмм. 25 30 Целью изобретения является повьппение производительности определения смещений.Поставленная цель достигается тем, что устройство для определения смещений точек поверхности объек, та, содержащее...

Способ определения объема партии бревен одинаковой длины при перемещении на поперечных транспортерах с произвольной ориентацией вершин и комлей

Загрузка...

Номер патента: 1167412

Опубликовано: 15.07.1985

Автор: Спрогис

МПК: G01B 5/00

Метки: бревен, вершин, длины, комлей, объема, одинаковой, ориентацией, партии, перемещении, поперечных, произвольной, транспортерах

...при массовомизмерении,На чертеже показана схема измерения бревен по предлагаемому способу.Партия бревен одинаковой длины10расположена на транспортере перпендикулярно направлению перемещения.Ориентация вершин и комлей бревенпроизвольная. Торцы бревен выровнены в плоскость 1. Плоскость 2 измерения диаметров бревен расположенасо смещением 1 й 1/2 от плоскости 3срединного сечения бревен.Сущность способа заключается вследующем. 20Партия бревен одинаковой длины(от 4 до б,5 м) перемещается на поперечном транспортере с произвольной ориентацией вершин и комлей. Торцы бревен выровнены в плоскость 1. 25Вероятность ориентацИи бревен вершинами к плоскости 1 равняется Р,комлями - =1-Р.Плоскость 2 измерения диаметровбревен располагается не в...

Координатная измерительная машина

Загрузка...

Номер патента: 1167413

Опубликовано: 15.07.1985

Авторы: Бражкин, Демидов, Исаев, Кудинов

МПК: G01B 5/008

Метки: измерительная, координатная

...основанию,призматическую киноль-направляющуюна аэростатических опорах, измерительную головку, установленную на пиноли,приводы координатных перемещенийпортала, каретки и пиноли и измерители их перемещений 21 .Недостатком указанной машины является неравномерность воздушных зазоров аэростатических опор при их перемещении вдоль координатных осей, вызываемая недостаточной жесткостью направляющих и их крепления, а такжеотсутствием равновесия сил, создаваемых аэростатическими опорами.Целью изобретения является повыше 55 ние точности координатной измерительной машины за счет увеличения равномерности воздушных зазоров аэростатических опор при их перемещении вдоль координатных осей.Для достижения указанной цели в координатной измерительной...

Измерительная модульная головка

Загрузка...

Номер патента: 1167414

Опубликовано: 15.07.1985

Авторы: Модестов, Тарасова, Чудов

МПК: G01B 5/012

Метки: головка, измерительная, модульная

...вокруг своей собственной оси, вызывая погрешность из-за смещения центра шарнира с пинии, проходящей через центр накоцеч цика рычага и центр конического Гцез - да узла модульного преобразования.Цель изобретения - повышение точности и расширение функциональных возможностей измерительной головки 45 путем предотвращения поворота измерительного рычага вокруг его продольной оси,Указанная цель достигается тем,что в измерительной модульной головке, содержащей корпус, измерительныйрычаг, подвешенный к корпусу на незамкнутом шарнире, наконечник, установленный на конце рычага, элементузла модульного преобразования, закрепленный на другом конце рычага,пружину, поджимающую одну часть шарнира к другой, измерительный преабраэователь линейного...

Устройство для измерения геометрических параметров, например, кочанов капусты

Загрузка...

Номер патента: 1167415

Опубликовано: 15.07.1985

Авторы: Романовский, Ростонская

МПК: G01B 5/24

Метки: геометрических, капусты, кочанов, например, параметров

...отсчетов совпадают.1167415 Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано для измерения горизонтального втулка 6 совпала с основанием кочерыги. При этом транспортир 3 совмещается с направлением натянутого шнура. Вращением угломера 4 до совпадения его с кочерыгой устанавливают на круговой шкале 1 значение угла бокового отклонения.Для определения угла наклона. кочерыги к горизонту устройство устанавливают на почве рядом с растением таким образом, чтобы горизонтальная проекция транспортира 3 с угломером 5 была параллельна кочерыге. Выставив круговую шкалу 1 горизонтально при помощи уровня 2 и оттягивая подпружиненный угломер 5 до совмещения с кочерыгой ца транспортире 3, определяют искомьй угол наклона кочерыги...

Устройство для определения неровностей дорожных и аэродромных покрытий

Загрузка...

Номер патента: 1167416

Опубликовано: 15.07.1985

Автор: Мепуришвили

МПК: G01B 5/28

Метки: аэродромных, дорожных, неровностей, покрытий

...18.40Устройство работает следующим образом.В исходном состоянии платформу 1 устанавливают в начале трассы контролируемого покрытия. С помощью державки 11 перемещают отсчетный элемент 12 до положения, соответствующего нулевому значению датчика 10 линейных перемещений. Устанавливают на нуль датчик 14 пути, схему 17 запоминания и регистрирующий блок 18,При измерении перемещают платформу 1 по трассе, При прохождении платформой 1 расстояния, равного расстоянию между осями измерительных колес 6 и 7, датчик 14 пути через блок 15 управления вводит в сумматор 16 сигнал с выхода датчика 10 линейных перемещений, который запоминается в схеме 17 запоминания и регистрируется в регистрирующем блоке 18. При перемещении платформы 1 в новое положение до...

Устройство для преобразования перемещений

Загрузка...

Номер патента: 1167417

Опубликовано: 15.07.1985

Автор: Никонов

МПК: G01B 7/00

Метки: перемещений, преобразования

...6 и 7 до центра чувствительногоэлемента 7, а. значение х = О, зависящее от конкретных соотношенийразмеров и значений электромагнитныхпараметров чувствительных элементов6-8, от расстояний между ними, атакже между первым 9 и вторым 10 яко рями, отнесено к центру пары, содержащей первый 6 и второй 7 чувствительные элементы (фиг. 1),Работа устройства рассматривается для координаты х подвижной части, В 50 момент, когда токимеет максимальную амплитуду 1 О, с выводов первой обмоточной пары 3 и 4 снимают разность напряжений переменного тока Бз с амплитудой Ч на встречно 55 включенных обмотках 3, 4, а с выводом второй обмоточной пары 4,5 - разность напряжений переменного тока Пс амплитудой Ч на обмотках 4 и 5, При этом, как видно из схемы...

Устройство для определения остаточных напряжений

Загрузка...

Номер патента: 1167418

Опубликовано: 15.07.1985

Авторы: Клейнер, Мардер, Тихонов, Ульянов

МПК: G01B 7/16

Метки: напряжений, остаточных

...4 ирегистратор 5, второй запоминающийэлемент 6, входом подключенный квторому выходу коммутатора 2, а выходом - к второму входу вычитающегоэлемента 4, датчик 7 толщины образца, Устройство содержит также компаратор 8, включенный между датчикомтолщины образца и коммутатором 2,и генератор 9 ступенчатых напряжений, подключенный выходом к второмувходу компаратора 8, а входом -25к его выходу и к второму входу регистратора 5,30 Составитель Т.НиколаеваТехред С.Мигунова Корректор Л.Бескид Редактор М.Келеш Заказ 4423/38 Тираж 651 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Филиал ППП "Патент", г, Ужгород, ул. Проектная, 4 Образец 1 О закрепляется в травильной ванне...

Способ определения трехосных остаточных напряжений

Загрузка...

Номер патента: 1167419

Опубликовано: 15.07.1985

Авторы: Соловьев, Тимофеев

МПК: G01B 7/16

Метки: напряжений, остаточных, трехосных

...деформаций в тех ее точках, которые находились до разрезки внутри 40 тела, а следовательно, исключена возможность определения остаточных напряжений внутри тела. Кроме того, неизвестность деформаций и прогибов наибольшей грани пластинки исключает 45 возможность определения тех комгонент остаточного напряженного состояния, которые действовали напластину до ее отсечения по плоскости будущего реза. Кроме того, отсутствие в способе операции, позволяющей измерить самоуравновешенные остаточные напряжения в самой отсеченной пластинке, существующие там вследствие невозможности осуществить полное ос вобождение пластины от остаточных напряжений механическими средствами, также снижает точность способа. Цель изобретения - повышение...

Измеритель угловых перемещений

Загрузка...

Номер патента: 1167420

Опубликовано: 15.07.1985

Авторы: Кугаевский, Лукашенок

МПК: G01B 7/30

Метки: измеритель, перемещений, угловых

...измерений. угловых перемещений в двух взаимно перпендикулярных плоскостях.На фиг.1 приведена принципиальная схема измерителя, вид сверху; на 10 фиг,2 - то же, вид сбоку(разрез А-А на фиг.1 на фиг.З - принципиальная электрическая схема измерителя,Измеритель угловых перемещений содержит кольцевую полую камеру 1, 15 два взаимно перпендикулярные диаметральные трубчатые канала 2 и ферромагнитную жидкость 3, частично заполняющую внутренние полости камеры 1 и каналов 2. На прямолиней ных участках каналов 2 размещены катушки 4-7 индуктивности датчика 3 перемещения ферромагнитной жидкости 3. Катушки 4-7 индуктивности включены попарно в соседние плечи мос товых измерительных схем фиг,З), Дополнительные плечи указанных мостовьм схем...

Преобразователь угловых перемещений

Загрузка...

Номер патента: 1167421

Опубликовано: 15.07.1985

Авторы: Евтихиев, Погожев, Преображенский, Экономов

МПК: G01B 7/30

Метки: перемещений, угловых

...экрана 1 относительно экрана. 2 изменяется ориентация вектора напряженности магнитного поля магнита 3 относительно базисной плоскости кристалла датчика 4 магнитного поля. Соответственно изменяется составляющая подмагничивающего поля Н, параллельная базисной плоскости крис" талла резонатора датчика 4 магнитного поля от максимальной (порядка 2 кЭ) при взаимно коллениарной ориентации до минимальной (порядка 30 Э) при взаимно ортогональной ориентации, а также изменяется частота автогенераторной схемы датчика 4 магнитного поля в 1,7 раза.Внешнее помеховое магнитное поле фактически не ограничивает чувствительность и точность измерения углового положения, поскольку появляется возможность использовать высокоэффективнь)е магнитные экраны от...

Способ измерения площадей плоских фигур и устройство для его реализации

Загрузка...

Номер патента: 1167422

Опубликовано: 15.07.1985

Авторы: Карпов, Мамаев, Хронин

МПК: G01B 7/32

Метки: плоских, площадей, реализации, фигур

...блок 7,подключенный входами к выходам компенсационных вольтметров 5 и 6, а -выходом - к выходу операционного бло ключен к первому выходу коммутатора,второй - к второму выходу коммутатора, выходы компенсационных вольтметров подключены к входам вычислительного блока, выход которого являетсявыходом операционного блока, масштабирующий блок содержит генератор опорного тока, подключенный к нему контур опорного поля, группу масштабирующих контуровразмещаемых в магнитном поле контура опорного поля,выходы масштабирующих контуров яв- .ляются выходами масштабирующего блока, координатный блок выполнен в видве группы измерительных контуров,размещаемых в магнитном поле контураопорного поля масштабирующего блока,а выходы измерительных...

Устройство для измерения перемещений

Загрузка...

Номер патента: 1167423

Опубликовано: 15.07.1985

Авторы: Жилкин, Здобников, Илюхин, Тарасов

МПК: G01B 11/00

Метки: перемещений

...зеркального ножа 2 с приводом 3, плоскогозеркала 4, жестко скрепленного сосканатором 5, выполняющим Функциипривода зеркала 4 и объектива 6,фотоприемника 7 и электронного блокаобработки информации (на фиг.1 обведен пунктиром), включающегов измерительном канале - предварительный усилитель 8, детектор 9,широкополосный усилитель 10, инвертор 11, дифференциатор 12, триггер13 Шмидта, логическую схему 14; вопорном канале. - генератор 15, триг"гер 16 Шмидта, умножитель 17 частоты, Оба канала сведены на измерителе 18 временных интервалов.1Устройство работает следующимобразом,Источник 1 излучения формируетна зеркальном ноже-анализаторе 2световое пятно. Зеркальный нож-анализатор 2 под действием сигнала сгенератора 15 через умножитель 17частоты,...

Волоконно-оптический датчик для контроля дефектов поверхности в глухих отверстиях

Загрузка...

Номер патента: 1167424

Опубликовано: 15.07.1985

Авторы: Керцман, Кречман, Уваров

МПК: G01B 11/30

Метки: волоконно-оптический, глухих, датчик, дефектов, отверстиях, поверхности

...приемного световода 4 пересекаются, образуя центр зоны обзора пакета, приэтом ось выхода подводящего световода установлена под углом к нормали,проведенной из центра эоны обзорапакета к поверхности корпуса 1 вплоскости, проходящей через оськорпуса 1. 20Входные торцы подводящих световодов 3 оптически связаны с источником5 света (например, лазером, светодиодом или лампой накаливания), а вкаждый из выходных торцов приемных 25световодов 4 - с соответствующимфотоприемником 6. На наружную поверхность корпуса 1 нанесено светопоглощающее покрытие 7,Каждый пакет 2 световодов через З 0соответствующее отверстие в корпусе 1обращен к контролируемой поверхностиизделия 8.Угол ч между осью выхода каждогоподводящего световода 3 к нормали,проведенной из...

Способ определения величины дефектного слоя материала

Загрузка...

Номер патента: 1167425

Опубликовано: 15.07.1985

Авторы: Волков, Драпкин, Рыкунов, Сухов

МПК: G01B 17/02

Метки: величины, дефектного, слоя

...обработкой слоя материала,Целью изобретения является расширение области применения способа дляматериалов с деформированным мехацической обработкой слоем,На чертеже представлено поперечное сечение используемого образца сисходным дефектным слоем 1 на однойиз граней 2 и сформированным идецтич ным первому дефектным слоем 3 на противоположной грани 4.Способ осуществляют следующим образом.В образце прямоугольного поперечного сечения с дефектным слоем 1 на,одной иэ граней 2, представляющимсобой деформированный механическойобработкой слой формируют втооойидентичный первому дефектный слой 3 25на противоположной грани 4, дляче:го грань 4 подвергают такой же механической обработке, как и грань 1.Например, при исследовании...

Устройство для контроля углового положения излучателя

Загрузка...

Номер патента: 1167426

Опубликовано: 15.07.1985

Автор: Солдатов

МПК: G01B 21/00

Метки: излучателя, положения, углового

...фотоприемника 4 и 5, каждый из которых установлен в ходе одного из пучков, прошедщих анализатор 3, и фаэометр 6, входы которого электрически связаны с выходом каждого из 20 Фотоприемников 4 и 5, два полупрозрач- ных зеркала 7 и 8, каждое из которых установлено на пути одного иэ пучков между светоделительным блоком 2 и дисковым анализатором 3, барабанный анализатор 9 изображения, установленный так, что его ось вращения совпадает с осью вращения дискового анализатора 3, два фотоприемника 10 и 11, каждый из которых установлен в 30 ходе одного иэ пучков, прошедщих барабанный анализатор 9, фазометр 12, входы которого электрически связаны с выходом каждого иэ Фотоприемников 10 и 11, и два сумматора 13 и 14,входы первого пз которых...

Оптико-электронное устройство для измерения площади

Загрузка...

Номер патента: 1167427

Опубликовано: 15.07.1985

Авторы: Андреев, Герасенков, Шамсиддинов

МПК: G01B 21/22

Метки: оптико-электронное, площади

...с инверсным входом первого триггера 17 и входом счетчика 20,к выходу которого подключен индика- Отор 21. Кнопка "Пуск" соединена сблоком 19, а кнопка "Сброс" - сосчетчиком 20.Иодулирующие диски имеют отверстия, расположенные по спирали, и упредставляют собой диски Нипкова,Частота вращения диска 4 больше икратна частота вращения диска 3.Для осуществления этого условия служитблок 7 синхронизации. Кратность частот вращения равна числу строк разложения в диске 3. Фотоприемник 8служит для приема импульсов, прошедших через диск 4. В диске 3 имеется отверстие , смещенное относительно спирали, над которым расположен фотоприемник 9. Он служит дляполучения сигналов начала и концаизмерения, т,е. Формирует импульсыодного цикла (кадра)...

Преобразователь перемещения в частоту

Загрузка...

Номер патента: 1168797

Опубликовано: 23.07.1985

Авторы: Анучин, Коса, Кулапин, Мартяшин, Фролов

МПК: G01B 7/00, G01D 5/22, G01F 23/00 ...

Метки: перемещения, частоту

...с выходом операционного усилителя, средняя точка его - 50 с вторым входом сумматора, вход интегратора соединен с выходом компаратора, а выход - с входом операционного усилителя.На фиг, 1 изображена блок-схема 55 предлагаемого устройства; на фиг. 2 - эпюры напряжений на отдельных функциональных блоках. Схема содержит компаратор 1, интегратор 2 с сопротивлением на выходе Ро, пассивный делитель 3, операционный усилитель 4, дифференциальный индуктивный датчик 5 с сердечником 6 и весовой сумматор 7, осуществляющий интегрирование,Для измерения малых изменений уровня жидкости, например расхода масла в двигателе внутреннего сгорания, устройство может быть снабжено поплавком 8, жестко соединенным с сердечником 6 и находящимся в мерном сосуде...

Вихретоковый толщиномер диэлектрических покрытий

Загрузка...

Номер патента: 1168798

Опубликовано: 23.07.1985

Авторы: Арбузов, Завалов, Коровяков

МПК: G01B 7/06

Метки: вихретоковый, диэлектрических, покрытий, толщиномер

...достигается тем, что вихретоковый толщиномер диэлектрических покрытий, содержащий по следовательно соединенные генератор гармонического тока, вихретоковый преобразователь, уСилитель, амплитудный детектор и логарифмический усилитель, а также индикатор, снаб жен последовательно соединенными фазовращателем, подключенным входом к генератору, фазовым детектором, под" ключенным вторым входом к выходу усилителя, функциональным преобразователем фазового угла в его котангенс и сумматором, второй вход которого подключен к выходу логарифмического усилителя, а выход - к ин дикатору.На фиг. 1 представлена блок-схема вихретокового толщиномера диэлектрических покрытий; на фиг, 2 - зависимОсть погрешности измерений от вариаций удельной...

Транзисторный автогенератор для преобразования перемещения в электрический сигнал

Загрузка...

Номер патента: 1169122

Опубликовано: 23.07.1985

Автор: Кирюшин

МПК: G01B 7/00, H02M 7/5395

Метки: автогенератор, перемещения, преобразования, сигнал, транзисторный, электрический

...сл 1 изооретения - повышение точнос 1)с 1)бр 1)зовация.111 1 сртс же показана принципиальная хл) ц;1 ц г.гг . ратора.Лвтогсцср игор содержит дифференциаль 1 ций ш)дуктивный датчик 1 с двумя неподги)жцыми обмотками 2 и 3 и подвижным феррс)магнитным сердечником 4, противофазцыс транзисторы 5 и 6 р-п-р и п-р-и типа, коллекторы которых подключены к обмоткх 1 датчика. Общий вывод обмоток 2 и 3 дифференциального датчикасоединен с ццвсртцрующим входом дифференциально) усилителя 7, а также с одним из вывок)в црсмлзада)о)дюжего резистора 8, другой цывс)д которого подключен к первому выводу автогснсратора. Выход усилителя 7 подкл)о кч одновременно к второму выходному ц)пи)ду автогенератора, к обеим эмиттерам транзисторов 5 и 6 и входу...

Фотоэлектрический измерительный преобразователь перемещений

Загрузка...

Номер патента: 1170269

Опубликовано: 30.07.1985

Авторы: Будгинас, Герберене, Перерва, Ушинскас

МПК: G01B 11/00

Метки: измерительный, перемещений, фотоэлектрический

...и в, где и = 1, 2, 3, , ппахп пах 3, 2, 1; вр - размер подгруппы; р = 1, 2 номер группы.Построение растра нулевого положения производится следующим образом (см. фиг. 2). Выбирают число подгрупп штрихов в каждой группе, например, М = 5; число штрихов в подгруппе, например, К = 3, Получают всего М К 2 = 30 штрихов (множитель 2 подставляют, так как в наборе 2 группы).Рассчитывают расстояния между штрихами для первой группы набора. В пределах каждой подгруппы его выбирают произвольно. Выбирают интервалы между штрихами в каждой подгруппе первой группы равной, например, ширине штриха г (обычно удобно брать г=2 Т, где Т - шаг измерительного растра). Так как каждая подгруппа 5 10 15 20 25 30 35 40 состоит из трех штрихов, то размер подгруппы в =...

Фотоэлектрическое устройство для контроля толщины пленок оптических покрытий в процессе их изготовления

Загрузка...

Номер патента: 1170270

Опубликовано: 30.07.1985

Авторы: Воробьев, Стерин, Тельный, Фурман

МПК: G01B 11/02

Метки: оптических, пленок, покрытий, процессе, толщины, фотоэлектрическое

...и фотоэлектрическим приемником 3, выпрямительный диод4, интегрирующее звено 5, компаратор 6,схему задержки 7, исполнительный элемент8, контролируемый объект 9. Выход фотоэлектрического приемника 3 подключен кпервому входу компаратора 6 и к выпрямительному диоду 4, выход которого через интегрирующее звено 5 подключен к второмувходу компаратора 6, а выход компаратора6 через схему задержки 7 подключен к входу исполнительного элемента 8.Устройство работает следующим образом. 75Сигнал, пропорциональный коэффициенту отражения контролируемой пленки иликоэффициенту пропускания, подается с фотоэлектрического приемника 3 на два выхода компаратора 6. На один из входов компаратора сигнал подается непосредственно. Надругой вход сигнал подается через...