Интерференционный спектрометр
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
(51)5 С О 1 В 9/02 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИЯМПРИ ГИНТ СССР ЗОБРЕТЕН ВТОРСНОМ ЧЕТР, содержащ проектирующую ющих зеркал, д фотоприемник, тем, что, с ц действия, сис выполнена в в уголковых отр ная решетка н го иэ указанн излучения, ему отклоня"решетку и ю щ и й с я ия быстроющих зеркал оугольных ифракционркало одно- отражателей,и источни птику, си фракционн т л и ч ью повыш ма отклон 20И. Агапова л ельство СССР 1/11, 1965, е в Фурье-спек 75, с 126-130 е жетелеи, анесена нах уголковы(57) ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ СПЕКТРОИзобретение относится к ткой физике и может быть использованов спектральных приборах.Известен интерференционный спектрометр, содержащий источник излучения,дифракционную решетку, проектирующуюсоптику и фотоприемник, ",Наиболее близким к изобретению техническим решением является интерференционный спектрометр, содержащий источник излучения, проектирующую оптику,систему отклоняющих зеркал, дифракци"онную решетку .и фотоприемник, Недос"татком данного спектрометра являетсямалое его быстродействие, обусловленное невозможностью одновременной регистрации интерферограмммы спектраисточника,Целью изобретения является устранение указанного недостатка и повышение быстродействия устройства,Укаэанная цель достигается тем,что в интерференционном спектрометре,содержащем источник излучения, проек-:тирующую оптику, систему отклоняющихзеркал, дифракционную решетку и фотоприемн зеркалльныхкционо одноажатевыполн уголка ная ре го из На чертеже представлена схема предлагаемого устройства.Спектрометр содержит источник 1 излучения, формирующий обьектив 2, плоское зеркало 3 с отверстием в центре, первый уголковый отражатель, образованный зеркалами 4, 5, причем на поверхность зеркала 4 нанесена дифракционная решетка, второй уголковый отажатель, образованный зеркалами 6,7,нализирующий обьектив 8,фотопник 9,ра осуществляетРабота спектроме ся следующим образо Пучки лучей от и ходя объек ифрФточника 1, проверстие в эеркдифракционнойна зеркало 4,зеркал 56,7 тив 2 и о агируют н анесенной отражающи ле 3,д решетке с помощ(56) Авторское свидетИ 177116, кл. 12 и 3Ьелл Р.Дж. Введенироскопию, И Иир, 19 к, система отклоняющих на в виде двух прямоуг ых отражателей, а дифр етка нанесена на эерка помянутых уголковых от3 85 ч 123 4в разных дифракционных порядках фор- на зеркало одного из них, позволяетмируют его (источника) изображение в зарегистрировать с помощью многоэлеПплоскости 3 1 на входе объектива 8. ментного фотоприемника 9 информациюСмещение с и разворот об осей угол- относительно спектральной яркостиковых отражателей обеспечивает требу- исследуемого источника, без привлече"5емое смещение дифракционных изображе" ния сканирующих подвижных элементов,ний на входе анализирующего объектива и тем самым увеличить быстродействиеи интерференцию формирующих их свето- прибора,вых пучков в фокальной плоскости упо Рассматриваемый интерференционныймянутого объектива. Выполнение систе- спектрометр содержит элементы, рабомы отклоняющих зеркал в виде двух пря- тающие тольксь на отражение,. что весьмоугольных уголковых отражателей с ма важно при исследовании спектровдифракционной решеткой, нанесенной источников в дальней ИК"области.
СмотретьЗаявка
2896361, 19.03.1980
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Р-6681
ЕГОРОВА Л. В, АГАПОВА Л. И
МПК / Метки
МПК: G01B 9/02
Метки: интерференционный, спектрометр
Опубликовано: 30.05.1992
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-854123-interferencionnyjj-spektrometr.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Интерференционный спектрометр</a>
Предыдущий патент: Блок детектирования эквивалентной дозы смешанного гамма нейтронного излучения
Следующий патент: Вторичная радиолокационная система
Случайный патент: Способ измерения силы с компенсацией температурной погрешности