G01B 11/24 — для измерения контуров или кривых

Номер патента: 1252844

Опубликовано: 23.08.1986

Авторы: Бойченко, Рябой, Самоцветов, Теленков

МПК: G01B 11/24, H01Q 15/16

Метки: антенны, поверхности

...чего поворачивают горизонтальнуюплатформу 2 в исходное положение ирегулируют высоту каждой весоиэмерительной опоры 3, обеспечивая величину реакции этой весоизмерительнойопоры 11 э, равную 11,-юг(2, после чего измеряют вертикальные координатыконтрольных точек 6 поверхности антенны 1,Величина реакции 11, (фиг. 4) равна векторной сумме части веса антенны 1 Р, приходящейся на эту весогизмерительную опору 3, и упругойсилы Ч , обусловленной наличиемвнутренних упругих напряжений вэлементах конструкции. На фиг. 4представлен случай, когда вектор Ънаправлен в ту же сторону, что и составляющая веса антенны 1 Р; нафиг. 5 - схема сил при измерении 8По сравнению с первым измерениемреакции весоиэмерительной опоры 3направление действия упругой силы...

Номер патента: 1254292

Опубликовано: 30.08.1986

Автор: Шангин

МПК: G01B 11/24

Метки: криволинейных, поверхностей, профиля

...для измерения и контроля деталейсложной формы.Целью изобретения является расширение диапазона контроля путемустранения влияния аберраций,На чертеже представлена схемаустройства, реализующего способ контроля профиля криволинейных поверхностей,Устройство содержит источник 1излучения, два объектива 2 и 3, двасветофильтра 4 и 5 с отличными однаот другой длинами волн, две диафрагмы 6 и 7, два плоских зеркала 8 и 9, установленных с возможностью поворота вокруг их центров и перемешивания вдольоптической оси устройства, плоскоезеркало 10, установленное с воэможностью вращения вокруг его центра,фоторегистрирующий блок 11, выполненный в виде двух фотоэлементов 12и 13 и двух светофильтров 14 и 15,уставновленных перед фотоэлементами12 и 13...

Номер патента: 1254293

Опубликовано: 30.08.1986

Авторы: Кузнецов, Попов

МПК: G01B 11/24, G02B 17/08

Метки: асферических, вогнутых, зеркал, компенсатор

...выпуклой Формы накаждую из сферических поверхностейлинз 1 и 2 нанесены марки 3 и 4 Линзы ориентированы вогнутыми поверхностями друг к другу и установленымежду собой на расстоянии, равномрадиусу вогнутой поверхностиНа чертеже также показаны точечный источник 5 монохроматическогоизлучения, светоделительная пластчнка 6, контролируемая вогнутая сферическая поверхность 7, регистрирую- ЗОщая система 8.Устройство работает следующимобразом,Предварительно юстируют между собой пространственно разнесенные линзы 1 и 2 компенсатора. Для этогоподсвечивают точечным источником 5одну из марок (например 3). Наблюдают в микроскоп (не показан) со стороны выпуклой поверхности линзы 1 0автоколлимационное изображение марки 3 после отражения части...

Номер патента: 1260676

Опубликовано: 30.09.1986

Авторы: Пуряев, Романов

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: интерферометр, оптических, поверхностей, формы

...за объективом 5 и ориентировано так, что его вогнутая поверхность обращена к объективу 5, объектив 5 выполнен в виде плосковогнутой линзы с асферической вогнутой поверхностью и ориентирован так, что вогнутая поверхность обращена к вогнутому зеркалу.8 - контролируемая деталь.ьОбъектив 5 (фиг. 2) может быть выполнен в виде плосковогнутой и менисковой линз 9 и 10, плосковогнутая линза ориентирована так, что ее вогнутая поверхность обращена к выпуклой поверхности менисковой линзы 10, менисковая линза ориентирована так, что ее вогнутая поверхность обращена к вогнутому зеркалу.Интерферометр работает следующим образом.Излучение от источника 1 поступает через телескопическую систему 2 на светоделитель 3, делящий падающий на него поток на два....

Номер патента: 1265472

Опубликовано: 23.10.1986

Автор: Тарханов

МПК: G01B 11/24, G02B 27/28, G02B 27/50 ...

Метки: контура, оптических, прозрачных, сечения, элементов

...сигнала , фотоприемника 10 при пустом резервуаре 4 беэ жидкости 5 и измеряемого элемента 6. Этим автоматически учитываются потери на френелевское отражение от поверхностей раздела плоскопараллельной пластины с данным показателем преломления. Эти потери одинаковы как для пустого резервуара 4, так и для заполненногожидкостью 5, при условии, что материал держателя 3 имеет показательпреломления, совпадающий с показате" лем преломления жидкости 5, Послеэтого оптический элемент 7 помещаютв резервуар 4 на держатель 4 и заливают жидкость 5. Выбирают уровень жидкости 5, совпадающий с наибольшейвысотой оптического элемента 6 относительно держателя 3 (хотя это и не обязательно). Высота уровня 1 должна быть измерена любым известным способом с...

Номер патента: 1283523

Опубликовано: 15.01.1987

Авторы: Белоусов, Бердников, Вайнберг, Воробьев, Овечкис, Пустыльников, Семочкин

МПК: G01B 11/24, G02B 27/44

Метки: вогнутых, зеркал, сферических

...источника используется лазер5. Объектив 6 служит для фокусирования пучка на отверстие в экране 7На экране 7 со стороны зеркала 1 на- З 0 несена измерительная сетка, например,в виде концентрических окружностей.Две голографические дИФракционные решетки 8 и 9 установлены вплотную кэкрану 7 по разные стороны от него 35 и преобразуют излучение лазера 5 вп расходящихся из единого центра пучков, попадающих на различные участки контролируемого зеркала 1. Числои равно количеству контролируемых 40 участков на поверхности контролируемого зеркала 1 и определяетсяусловиями записи голограмм. Для контроля типичных зеркал авиационных тренажеров целесообразно исполвзовать 45 голограммы с и = 9-25.Измерения производятся...

Номер патента: 1283524

Опубликовано: 15.01.1987

Авторы: Сюндюков, Школьников

МПК: G01B 11/24

Метки: качества, параболической, поверхности

...измерительной системе 18.Устройство работает следующим образом.,Световой пучок проходит щель 9,модулятор 10, объектив коллиматора11, пентаприэму 12 и освещает определенную зону контролируемой поверхности 7. При этом исполнительный двигатель механизма 15 вертикальногоперемещения работает в режиме поиска,перемещая фотоприемник 14 вдоль осисимметрии контролируемой поверхностидо тех пор, пока изображение щели 9не попадает на его чувствительнуюплощадку. В этот момент автоматическая Фотоэлектрическая измерительнаясистема 18 формирует сигнал управления, переключающий исполнительныйдвигатель в режим слежения. Одновременно включается механизм 13 перемещения пентапризмы 12 и приводитсяв действие механизм 16 разворота приемника 14 перпендикулярно...

Номер патента: 1285550

Опубликовано: 23.01.1987

Авторы: Борисов, Парщиков

МПК: G01B 11/24, G02B 27/62, H01Q 15/16 ...

Метки: антенны, отражающей, поверхности, юстировки

...в виде зеркала 7, Ось шарнира 3 перпендикулярна оси 8 вращения опоры 1, а ось 5 - оси шарнира 3 и оси 8 вращения, кроме того, зеркало 7 перпендикулярно оси 8 вращения. На шаблоне 3 над зеркалом 7 закреплена призма 9, одна ее грань параллельна зеркалу 7, а другая перпендикулярна оптической оси 10 двух- координатного автоколлиматора 2. Ка 30 ретка 6 установлена на кольцевом пути 11, который уложен на каркасе 12 антенны. 35Перед юстировкой отражающей поверхности антенны необходимо путем подбора места установки призмы 9 выставить двухкоординатный автоколлиматор 2, так чтобы иэображение марки 40 находилось в центре его шкалы.Для осуществления процесса юстировки отражающей поверхности антенны необходимо привести во вращение опору 1...

Номер патента: 1286898

Опубликовано: 30.01.1987

Автор: Солдатов

МПК: G01B 11/24

Метки: непрямолинейности, фотоэлектрический, фотоэлектрическое

...при высокоточном измерении небольших угловых перемещений объектов, 5Цель изобретения - повышение точности контроля путем устранения погрешностей. обусловленных турбулентностью среды распространения излучения между кареткой и объективом,1 ОНа чертеже представлена схема предлагаемого устройства.Устройство содержит последовательно установленные на контролируемых направляющих 1 коллиматор 2, каретку 3 со светоделительным блоком 4, отражатель 5, свободно подвешенный над светоделительным блоком 4 под углом 45 к оптической оси коллиматора 2, объектив 6, два модулятора 7 и 8 с частотами модуляции, отличающимися по крайней мере на порядок от частоты модуляции другого пучка, один из модуляторов (7) установлен внутри коллиматора 2, другой (8)...

Номер патента: 1288501

Опубликовано: 07.02.1987

Авторы: Иванов, Мицуро

МПК: G01B 11/24

Метки: бесконтактного, наружных, параметров, резьб

...7 и 8выделяют в электрическом сигнале точки, соответствующие линиям одинаковойинтенсивности, в виде Фронтов прямоугольных импульсов (фиг, 2 поэ. 2и 3), Уровни компарирования для компараторов 7 и 8 составляют соответстИзобретение относится к измерительной технике и может быть исполь зовано для измерения параметров наружных резьб сре,цнего, внутреннего и наружного диаметров, высоты проФиля и высоты полного профиля резьбы.Цель изобретения - повьппение точности измерения параметров резьбы в процессе ее вращения,за счет того, что параметры резьбы определяют по расстоянию между линиями одинаковой интенсивности, параллельными оси резьбы.На фиг, 1 приведена принципиальная схема устройства, реализующего способ бесконтактного измерения...

Номер патента: 1293485

Опубликовано: 28.02.1987

Авторы: Бережинский, Лисица, Лысенко, Нечепоренко, Сергеев, Усенко

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: пластин, плоскостности, полированных, полупроводниковых

...отражением друг друга относительно нормали к эталонной поверхности клина 5, В качестве источника 1 монохроматического могерентного излучения используется лазер. Коплиматор состоит из двух объективов: первый микрообъектив 2 экране 6 визуально наблюдают интер.Ференционную картину сразу от всейконтролируемой поверхности пластины 7, по которой и производится котроль плоскостности пластины 7, 1 ил. фокусирует излучение лазера в точку, которая лежит в фокусе второго коллимирующего объектива 3, Оба обьектива 2 и 3 подобраны так, что их относительные отверстия предельно, близки. Коллимирующий объектив 3 и микрообьектив 2 установлены с возможностью перемещения относительно друг друга вдоль оси светового пучка. Это позволяет точно совместить...

Номер патента: 1293486

Опубликовано: 28.02.1987

Авторы: Бубис, Канатов, Любарский, Соболева, Хорошкеев

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02, G01M 11/00 ...

Метки: качества, оптических, систем, телескопических

...1 света и интерференционный блок 2 - интерферометр типа Физо. Выходящий из интерференционного блока 2 параллельный пучок лучей расширяется контролируемой системой и часть этого пучка падает на контрольное зеркало 3, диаметр которого может быть существенно меньше диаметра зеркала 7 контролируемой системы.Отраженный от зеркала 3 пучок лучей возвращается контролируемой системой и интерферирует с пучком, отраженным от эталоннои поверхности пластиныинтерферометра типа Физо, Соответс 1вующей настройкой схемы добиваютсяпоявления в поле зрения интерферен 5 ционной картины. В данном случае,в поле зрения интерферометра будетвидна интерференционная картина волнового фронта, проходящего черезверхнюю краевую часть контролируемойсистемы. Затем...

Номер патента: 1295211

Опубликовано: 07.03.1987

Авторы: Алипов, Контиевский, Феоктистов, Чунин

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: асферических, интерферометр, поверхностей, формы

...выходного объектива 6 и светоделителя 7 изображение диафрагмы3 формируется в фокусе Рб объектива6, совмещенного с осью 00 поворотасканирующей головки. Лучи проходятпробное сферическое стекло 23 непреломляясь, так как центр кривизныэталонной поверхности пробного стекла 23 совмещен с изображением диафрагмы 3 осветительной системы и, отразившись от эталонной поверхностипробного стекла 23 и контролируемойповерхности детали 22, интерферируют,образуя интерференционную картину,локализованную в воздушном промежутке между эталонной поверхностью пробного стекла 23 и деталью 22, Интерферирующие лучи, пройдя светоделитель 7 и отразившись от плоского 35 зеркала 8, попадают во входной объектив 9 измерительной системы, фокускоторого совмешен с...

Номер патента: 1296833

Опубликовано: 15.03.1987

Автор: Шлитерис

МПК: G01B 11/24

Метки: металлической, параметров, сетки

...измерительного канала спектрофотометра между источником 2 излучения, поляризатором 3 с одной стороны и монохроматором 4, приемником 5, усилителем 6, самописцем 7 с противоположной стороны, Полоски сетки 1 в направлении, параллельном прямой КН, ориентируют перпендикулярно плоскости 8 поляризации излучения, От источника 2 излучения через поляризатор 3 направляют пучок лучения в заданных пределах, а затем меряют величину пропускания сетки для различных длин волн. Используя измеренные длины волн по формулам а=1,593 Л -1,1571Р=2,6431 д-,1,341 вычисляют параметры сетки,2 ил. 2излучения перпендикулярно к плоскости сетки 1, установленной как показано на фиг, 1 в позиции 1, Пропускаемое сеткой излучение проходит мо нохроматор 4, попадает на...

Номер патента: 1298534

Опубликовано: 23.03.1987

Автор: Шишминцев

МПК: G01B 11/24, G01B 9/08

Метки: копий, плоских, профиля

...выходной своей гранью к выходному окну 13, вторая 23 установленапосле объектива 21 в корпусе 11, обращена выходной своей гранью к части15, а две другие призмы 24 и 25 установлены в части 15 корпуса 11 напротив друг друга и обращены своимивходными гранями к первым двум призмам 22 и 23, а выходными гранями че 34 2рез выходное окно 16 на экран 10, ишаровой шарнир 26, соединяющийкорпусс кареткой 3.На держателях 8 и 20 размещаютсясоответственно оригинал 27. ключа иего копия 28.Устройство работает следующим образом.С помощью шаблонов производитсяюстировка устройства, т.е. добиваютсяполного совМещения теневых проекцийшаблонов на экране 10.Затем в держателях 8 и 20 закрепляют оригинал 2 ключа и его копию28 соответственно, включают осветители 5 и...

Номер патента: 1337654

Опубликовано: 15.09.1987

Авторы: Пуряев, Романов

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: вращения, выпуклых, оптических, поверхностей, профиля

...на оси вращения призмы, а сама призма находилась над вершиной контролируемой детали 8, После этого пучок света лазера 1 коллимируют телескопической системой 2, делят его светоделительной пластинкой 3 на два пучка, которые с помощью зеркал 4 и 5 направляют под прямым углом на контролируемую деталь 8.После отражения обоих пучков от взаимно перпендикулярных участков контролируемой поверхности их соединяют на светоделительной призме б. 20 25 ЗО 35 40 45 50 55 Интерференционную картину взаимодействия обоих пучков наблюдают на матовом экране 7, параметры этой картины (расстояние между центрами полос) измеряют с помощью измерительного микроскопа.Интерференционная картина, наблюдаемая на экране, представляет собой результат взаимодействия двух...

Номер патента: 1341496

Опубликовано: 30.09.1987

Авторы: Нечаева, Тымчик

МПК: G01B 11/24

Метки: зубьев, профиля, фрез, червячных

...через блок 11 формирования видеосигнала с аналого-цифровым преобразователем 12, выход которого. подключен через интерфейсный блок 13 к входу процессора микроЭВМ 14. Червячная Фреза 8 установлена на блоке 15 перемещения фрезы от зуба к зубу таким образом, что передняя поверхность зуба 7 в момент измерения находится в общей фокальной плоскости цилиндрических линз 2 и 5. Блок 15, приводимый в движение шаговым электродвигателем 16, осуществляет вращение и смещение червячной фрезы 8 от зуба к зубу в нормальном сечении, Так како профильный угол фрезы Ф, = 20 , то для контроля левых и правых сторон зубьев Фрезы, устройство имеет два фиксированных положения: 17 - подоуглом -20 к оси у, червячной фрезы 8, 18 - под углом +20 к оси уо...

Номер патента: 1343242

Опубликовано: 07.10.1987

Авторы: Волков, Комраков, Савельев

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02, G01B 9/08 ...

Метки: интерферометр, поверхностей, сферических, формы

...в точку Р задний фокус эонной пластины, который совмещен с передним фокусом Р, первого объектива 7. На второй объектив 8 падает плоская волна 0-го порядка от зонной пластины 6 (рабочая волна) и плоская волна, выходящая из первого объектива 7, используемая как опорная волна сравнения. Объектив 8 фокусирует обе волны в1свой задний фокус Г 1, который совмещен с центром С, кривизны контролируемой сферической поверхности 10 детали 11, и поэтому на контролируемую поверхность 10 обеспечивается падение световых лучей вдоль нормалей.55 менять одну контролируемую деталь надругую. Небольшие смещения вдольустановленной детали не вносят заметных искажений в интерференционнуюкартину. Это позволяет применять инАпертура объектива 8...

Номер патента: 1348638

Опубликовано: 30.10.1987

Автор: Самсонов

МПК: G01B 11/02, G01B 11/22, G01B 11/24, G02B 27/46 ...

Метки: линейных, объекта, размеров

...образом.Объект 6 с контролируемой поверх 25 ностью освещают лазером 1. За счет этого формируют волновое поле от объекта 6. Например, интерферируют падающие и отраженные от объекта 6 лучи, дифрагируют падающие лучи при малых размерах объекта 6.С помощью первой линзы 2 осуществляют прямое Фурье-преобразование пространственного волнового поля от объекта 6. Помещая в преобразованное 35 волновое поле частотную маску 3, реализуют свертку Фурье-образа волнового поля от объекта 6 с частотной маской 3. Вторая линза 4 осуществляет обратное фурье-преобразование прост ранственного волнового поля, прошедточку в фокусе линзы 4. Таким образом, степень соответствия волновогополя от объекта эталонному можнопроверять по максимальной амплитудеволнового...

Номер патента: 1348640

Опубликовано: 30.10.1987

Автор: Чунин

МПК: G01B 11/24

Метки: асферических, бесконтактного, вращения, поверхностей, полированных, профиля

...Ужгород, ул. Проектная, 4 1Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного измерения профиля полированных асферических поверхностей вращения.Цель изобретения - измерение профиля поверхностей большой крутизны (50-60 , до 90), обе фокальные точки которых находятся внутри измеряемой поверхности типа выпуклого эллипсоида или вогнутого гиперболоида.На чертеже изображена принципиальная схема реализации способа.Луч света от источника 1 проекционной системой (не показана) с объективом 2 направляется в находящуюся внутри измеряемой поверхности 3 ее первую фокальную точку 4. Отраженный от поверхности луч создает в ее второй фокальной точке 5 мнимое изображение, которое положительной линзой 6 переносится...

Номер патента: 1357704

Опубликовано: 07.12.1987

Авторы: Голиков, Гурари, Прытков

МПК: G01B 11/24, G01B 9/021

Метки: геометрических, зеркальных, оптических, параметров, элементов

...измерения геометрическихпараметров зеркальных оптическихэлементов,Устройство состоит из последовательно расположенных источников 1когерентного излучения и светоделителя 2, связанного оптически с системами формирования опорного и предметного пучков. Системы формированияпредметного пучка включают в себяблок 3 освещения и сигнальный канал,состоящий из отражателя 4, рассеивателя 5 и регистратора 6 (фотопластинка). Система формирования опорногопучка включает плоское зеркало 7,отверстие 8 в рассеивателе 5, отражатель 4, плоские зеркала 9 и 10 ирасширитель 11 пучка. Отверстие 8вблизи центра рассеивания имеет небольшие размеры, достаточные дляпрохождения нерасширенного пучкалазера (несколько миллиметров). Отражатель 4 установлен на...

Номер патента: 1359663

Опубликовано: 15.12.1987

Авторы: Бубис, Кузнецов, Хорошкеев

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: интерферометр, поверхностей, цилиндрических

...цилиндрическую линзу 10, регистратор 11 интерференционной картины. 25Интерферометр работает следующим образом.Пучок лучей от монохроматического источника 1 света проходит через поляроид 2, регулирующий интенсивность пучка света. С помощью цилиндрической телескопической системы 3 сечение пучка света преобразуется в продолговатое, Далее нучок лучей преломляется зеркалом 4 и с помощью цилиндри 2ческой линзы 5 собирается в плоскости щелевой диафрагмы 6. Цилиндрический объектив 7 формирует параллельный пучок, который светоделителем 8 преломляется к второму цилиндрическому объективу 9, формирующему предметную светящуюся линию. За вторым цилиндрическим объективом 9 располочжена концентрическая цилиндрическая линза 10 выпуклой...

Номер патента: 1359669

Опубликовано: 15.12.1987

Авторы: Бубис, Канатов, Кузинков

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: интерферометр, оптических, поверхностей, формы

...контроля формы коническихоптических поверхностей.Цель изобретения " возможностькентроля формы конических поверхностей.На чертеже изображена принципиальная схема интерферометра для контроляформы оптических поверхностей.Интерферометр содержит последовательно установленные монохроматический источник 1 излучения, напримерлазер, интерференционный блок 2, конус 3 с образцовой поверхностью, плоское автоколлимационное зеркало 4 инаблюдательную систему 5,Интерферометр работает следующимобразом,Излучение монохроматического источника 1 выходит из интерференционного блока 2, который формирует цилиндрические волновые фронты - рабочий и сравнения. Рабочий фронт падаетна конус 3 с образцовой. поверхностью,ось которой совмещена с осью...

Номер патента: 1364864

Опубликовано: 07.01.1988

Авторы: Бирюк, Зубков, Суриков, Черноусов

МПК: G01B 11/24

Метки: диффузно, отражающих, поверхностей, рельефа

...направляющая 17 черезредуктор 16 соединена с механизмом15 перемещения, закрепленным на каретке 5, а на конце направляющей 17 40закреплен механизм 1 О вращения измерительной головки,Устройство работает следующим образом.Луч узконаправленного источника 6 45 света попадает на измеряемую диффузно отражающую поверхность, на которой образует контрастное световое пятноЧасть отраженного от поверхности света проектируется на Фоточувствительную 50 поверхность фотоприемника 7, например линейку ПЗС, где образует световое пятно, положение которого на линейке несет информацию о расстоянии до измеряемой поверхности, Значения 55 напряжений с выхода фотоприемника 7 через аналого-циФровой преобразователь 12 и устройство 13 сопряжения поступают в ЭВМ 14...

Номер патента: 1364865

Опубликовано: 07.01.1988

Авторы: Аугулис, Пранявичюс, Рагаускас, Ясюленис

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02, H01J 37/30 ...

Метки: отклонений, плоскостности, поверхности, поля, твердого, тела

...ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб д, 4/5Производственно- полиграфическое предприятие, г, Ужгород, ул, Проектная, 4 Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения поля отклоненийот плоскостности поверхности твердого5тела и микрогеометрии поверхности,Цель изобретения - возможность измерения поля отклонений от плоскостности в процессе ионно-лучевой обработки эа счет совместного использования приэменного интерферометра ивакуумной камеры,На чертеже изображена оптическаясхема устройства, 15Устройство содержит за выходнымокном лазера 1 последовательно расположенные коллиматор 2, светоделитель3 и держатель 4 образцов, Далее походу...

Номер патента: 1368623

Опубликовано: 23.01.1988

Авторы: Пуряев, Романов

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: асферических, вогнутых, интерферометр, оптических, поверхностей, формы

...процесса установки объектива в заданное положение при на гблюдении сплошной юстировочной интерференционной картины и уменьшениявлияния децентрировок элементов рабочей ветви на результаты контроля.На чертеже показана принципиальная схема интерферометра и ход лучейв нем.Интерферометр содержит источник 1монохроматического излучения, телескопическую систему для создания параллельного пучка лучей, состоящуюиз линз 2 и 3, светоделитель 4 дляразделения излучения на две ветви,плоское зеркало 5, установленное водной ветви, объектив 6, установленный в другой рабочей ветви, и регистратор 7 интерференционной картины,Объектив 6 рабочей ветви выполненв виде плосковогнутой и двояковыпуклой линз, установленных так, что35плоская поверхность...

Номер патента: 1368626

Опубликовано: 23.01.1988

Авторы: Волков, Горшков, Корнеев, Леонтьев, Фомин

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: детали, интерферометр, оптической, плоской, поверхности, формы

...полос)Виброопоры 16 предназначены для З 5 виброизоляции емкости 8 с вязкойжидкостью 9. Р качестве вязкой жид1368626 кости 9 используется техническоемасло типа турбинного, вазелинового,веретенного и т,п., свободная поверхность которого является эталоннойплоской поверхностью 17.Ориентация базировочного приспособления 7 в двух фиксированных положениях обеспечивается направляющими 18,Интерферометр работает следующимобразом. Осветитель 2 формирует точечный источник А монохроматического излучения в фокусе Г гиперболической поверхности 4 оптического элемента 3.Гиперболическая поверхность 4 преобразует сферический волновой Фронт от точечного источника А в плоский волновой фронт, распространяющийся в 20 направлении нормалей к...

Номер патента: 1370453

Опубликовано: 30.01.1988

Авторы: Гусев, Комраков

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: вогнутых, интереферометр, поверхностей, формы, эллиптических

...отражается и частично проходит через выходную грань. Отраженный пучок используется в качестве эталонного пучка сравнения. Вышедший иэ кубика 6 световой пучок отражается от контролируемой поверхности 12, выпуклой зеркальной поверхности концентрической линзы 10 и повторно от контролируемой поверхности 12. Этот световой пучок несет в себе информацию об ошибках Формы контролируемой поверхности 12 и образует с эталонным пучком сравнения интерференционную картину в виде концентрических колец. Так как световые лучи дважды отражают. ся от контролируемой поверхности 12 в точках, симметричных относительно ее вершины, то одно интерференционное кольцо соответствует симметричной ошибке, равной/4. При визуальной оценке кольцевои интерференционнои...

Номер патента: 1370454

Опубликовано: 30.01.1988

Авторы: Артеменко, Козлов, Островский, Речкалов

МПК: G01B 11/24, G01B 9/025, G02B 27/50 ...

Метки: отклонения, поверхностей, расположения, формы

...осуществляется контроль.Оптическая схема регистрации спек лограмм содержит рабочую кювету 1 с иммерсионной жидкостью, в которой помещены контролируемая 2 и эталонная 3 детали, компенсационную кювету 4, расположенную по ходу отраженных ст деталей 2 и 3 световых пучков и имеющую толщину, равную расстоянию от окна рабочей кюветы 1 до контролируемых участков поверхности деталей 2 и 3, оптическую систему совме- З 0 щения отраженных пучков, состоящую из линз 5 и 6, зеркала 7 и оборачивающей системы 8, и фоторегистрирующий слой 9.Способ осуществляют следующим 35 образом.Помещают контролируемую 2 и эталонную 3 детали в рабочую кювету 1 с иммерсионной жидкостью, имеющей показатель п, преломления, и освещают их 40 когерентным излучением....

Номер патента: 1384942

Опубликовано: 30.03.1988

Авторы: Костава, Отаришвили, Поцхишвили

МПК: G01B 11/24

Метки: зеркальной, изделия, плоскостности, поверхности

...изелия 6. При этом каждому отражению соответствует свое автоколлимационное изображение от соответствующего отверстия решетки 2.Измеряют вертикальные отклонения и-х автоколлимационных изображений для первого и второго пучков и по их разности судят о плоскостности.Если угол между вертикалью и зеркальной поверхностью изделия 6 (в случае первого отражения) равен Л, то угол между входным и выходным лучами автоколлиматора 1 при и-м отражении будет равен 2 п(Л+Л, 1), где величина Л 1 обусловле-. на дополнительным наклоном зеркальной поверхности изделия 6 при ее развороте (что имеет место в случае неперпендикулярности поверхности предметного стола 4 к оси 5вращения) . Если участки зеркальной поверхности изделия 6, на которые падают...