G01B 11/24 — для измерения контуров или кривых
Устройство для измерения отклонений от прямолинейности объекта
Номер патента: 1682769
Опубликовано: 07.10.1991
Автор: Соколов
МПК: G01B 11/24, G02B 27/28
Метки: объекта, отклонений, прямолинейности
...объекта, содержащее источник линейно поляризованногосвета, уголковый отражатель, предназначенный для установки на контролируемомобъекте, четвертьволновую пластину и фотоприемник, о т л и ч а а щ е е с я тем, что, с целью повышения точности измерения,оно снабжено двухлучеаой поляризацион 5 1015202530 35 двухлучевую поляриэационную призму 6Фостера и направляется на уголковый отражатель 11, установленный на контролируемом объекте 13.При совпадении вершины уголкового отражателя 11 с центром падающего пучка света отраженный пучок лучей совпадает с пучком света, выходящим из оптического блока. При смещении вершины уголкового отражателя 11 от центра падающего пучка лучей на величину а отраженный пучок света сместится от своего...
Способ контроля формы объектов
Номер патента: 1686303
Опубликовано: 23.10.1991
Авторы: Лыткин, Портнов, Смирнов, Цыгвинцев
МПК: G01B 11/24
...с отражающим зеркалами 5.Способ осуществляется следующим образом. ления прямолинеиности канала ствола с отражающей поверхностью. Целью изобретения является повышение точности при контроле кривизны каналов стволов с отражающей внутренней поверхностью. Способ осуществляется следующим образом. Параллельные лучи направляют под углом к образующей внутренней отражающей поверхности канала с возможностью выхода их со стороны противоположного отверстия. Совмещают два крайних отраженных луча с крайними метками шкалы. Положение остальных лучей относительно других меток шкалы, лежащих между крайними метками, определяет кривизну канала ствола, 1 ил. Контролируемый ствол 2 устанавливают на оптический стол 1. От источника 3 света на внутреннюю...
Способ определения рельефа поверхности
Номер патента: 1696852
Опубликовано: 07.12.1991
Авторы: Забаровский, Рачковский, Рубанов, Танин
МПК: G01B 11/24, G01B 9/023
Метки: поверхности, рельефа
...пп, хп - действительная и мнимая часи комплексного показателя преломления (й,),После ряда преобразований можно показать, что глубинное расстояние ЛЕ между контурами определяется ЛЕ=2 (п - п 1)В общем случае поглощающих сред показатель преломления определяется соотношением Крамерса-Кронига 23 х)бЛи - по+ Р =с Н ( 7 (1 - г )и - - ) 1 Таким образом, ЬУ. и Р являются основными параметрами. позволяющими определять как относительный, так и абсолютный рельеф поверхности.В прототипе глубинное расстояние определяется как длинами волн Л 1 и Х 2, так и показателями преломления п 1, п, задаваемыми положениями этих частот на спектральной линии, Контраст регулируется значениями коэффициентов поглощения к 1 и хг спектральной линии и...
Способ определения волнистости текстильных материалов после их стачивания на швейных машинах
Номер патента: 1698636
Опубликовано: 15.12.1991
Авторы: Гурович, Смирнова, Эскин
МПК: G01B 11/24, G01N 33/36
Метки: волнистости, машинах, после, стачивания, текстильных, швейных
...цилиндре 1 размещают стэчаннь.й на швейной машине образец 2 текстильного материала тэк, чтобы линия строчки была направлена вдоль образующей цилиндра 1. Один конец образца 2 закрепляют на цилиндре 1 хомутом 3, второй конец хомутом 4 закрепляют на подвижном кольце 5. Перед установкой цилиндра 1 на спектропроектор его поворачивают в вертикальное положение и образец 2 под действием веса по 5 10 1. 20 25 30 35 40 45 5 Г 1,5 движного кольца 5 натягивается. Для обеспечения натяжения образца 2 к свободномуконцу подвешивают груз 6, Цилиндр 1 устанавливают В конусах 7 и 8 с возможностьюповорота Вокруг своей оси,Способ осуществляют следующим образом.Цилиндр 1 устанавливают нэ спектрспроектор и освещают его световым лучом;световой...
Способ определения величины износа рабочих поверхностей зубчатых колес
Номер патента: 1702174
Опубликовано: 30.12.1991
Автор: Ливинский
МПК: G01B 11/24, G01B 9/04, G01N 3/56 ...
Метки: величины, зубчатых, износа, колес, поверхностей, рабочих
...4 и упор 5. Корпус двойного микроскопа закрепляется на корпусе машины (на чертеже не показано), в котором находится измеряемое зубчатое колесо 6. Механизм крепления (на чертеже не показан) позволяет перемещать корпус двойного микроскопа параллельно нормали зубчатого колеса 6.Способ определения износа рабочих поверхностей зубчатых колес осуществляется следующим образом.С корпусом двойного микроскопа 1 неподвижно скрепляют зеркало 4 и упор 5. Зеркало скрепляется с корпусом так, что отражающая плоскость зеркала образует с общей нормалью угол, равный 125 О. Рабочая плоскость упора должна быть повернута к двойному микроскопу. Она ориентируется перпендикулярно к общей нормали и располагается от точки пересечения общей нормали с оптической осью...
Способ определения параметров морской поверхности
Номер патента: 1702175
Опубликовано: 30.12.1991
Авторы: Кузьминский, Шмальгаузен
МПК: G01B 11/24
Метки: морской, параметров, поверхности
...энергетический центр каждого отражен ного блика с оптическим центром приемной оптической системы, измеряют распределение интенсивности светового поля блика и по статическим характеристикам измеряемой интенсивности восстанавливают статистические параметры морской поверхности. мого пучка зондирования. При этом алгоритм работы следящей системы обеспечивает наведение энергетического центра рассеянного светового поля на центр приемного объектива, если требуемая коррекция соответствует динамическому диапазону устройства. В тех случаях, когда последнее не выполняется, экспериментальный отсчет не производится (критерием такой ошибки является достижение максимально возможного коррекционного сигнала в канале адаптивного уравнения). По...
Голографический способ оконтуривания рельефа поверхности
Номер патента: 1707469
Опубликовано: 23.01.1992
Авторы: Рачковский, Танин
МПК: G01B 11/24, G01B 9/021
Метки: голографический, оконтуривания, поверхности, рельефа
...содержащую поглощающую среду, освещают объект коллимлрованными пуч.,ами когерентного иэлуени. с раз.и ным; длинами вол записывают Голог 1; мму регистрируют интерференционную картину на восста новленном иэображении, по картине хности. Помещают исследуемый объект в камеру, содержащую поглощающую среду. Формиру,от коллимированные пучки с однородным распределением интенсивности по их сеченио из когерентного излучения с различными длинами волн. При этом величины интесивностей пучхов выбирают иэ условия соответствия большей величины интенсисости, пучка пучку, обладаю".,ему больим отношением коэффициента полощения среды к соответи вующей длине волнь. Освещают сформированными пучками объект л записывают на релстрир,: й среде голограмму...
Способ контроля формы вогнутых эллиптических поверхностей
Номер патента: 1712776
Опубликовано: 15.02.1992
Авторы: Кондратов, Контиевский
МПК: G01B 11/24, G02B 27/54
Метки: вогнутых, поверхностей, формы, эллиптических
...тем, чтоусовершенствуется способ контроля вогнутых эллиптических поверхностей, заключающийся в том, что контролируемуюповерхность освещают из дальнего ее фокуса гомоцентрическим пучком лучей, устанавливают вспомогательный оптическийэлемент перпендикулярно оси излучения,регистрируют отраженный волновой фронт,по которому судят о форме контролируемойповерхности,В качестве вспомогательного оптического элемента используют плоское зеркалои устанавливают его так, что отражающаяповерхность совмещается с ближним к контролируемой поверхности ее фокусом.На чертеже изображена схема, реализующая способ контроля вогнутой эллиптической поверхности с помощью теневогоприбора,Схема контроля включает источник света 1, конденсор 2, точечную, диафрагму...
Способ контроля формы вогнутых эллиптических поверхностей
Номер патента: 1712777
Опубликовано: 15.02.1992
Авторы: Кондратов, Контиевский
МПК: G01B 11/24, G01B 9/02
Метки: вогнутых, поверхностей, формы, эллиптических
...в том, что контролируемуюповерхность освещают из ее фокуса гомоцентрическим пучком лучей, устанавливаютвспомогательный оптический элемент перпендикулярно оси излучения, регистрируют 10отраженный волновой фронт, по которомусудят о форме контролируемой поверхности,Освещение контролируемой поверхности производят из ее ближнего фокуса, в 15качестве вспомогательного оптическогоэлемента используют плоское зеркало сцентральным отверстием и устанавливаютего посередине между койтролируемой поверхностью и дальним ее фокусом, 20На чертеже изображена схема.реализующая способ контроля вогнутой эллиптической поверхности с помощью неравноплечего интерферометра.Схема контроля включает лазер 1, расширитель лазерного излучения 2, светоделитель 3,...
Интерферометр для контроля асферических поверхностей второго порядка
Номер патента: 1712778
Опубликовано: 15.02.1992
Автор: Феоктистов
МПК: G01B 11/24, G01B 9/02
Метки: асферических, второго, интерферометр, поверхностей, порядка
...для контроля вогнутых эллипсоидов.Интерферометр содержит источник 1 монохроматического излучения, светоделитель 2 для разделения излучения на две ветви - рабочую иэталонную, последовательно установленные по ходу прошедшего светоделитель 2 излучения фокусирующий объектив 3, диафрагму 4, плоское зеркало 5, объектив 6 для формирования плоского эталонного волнового фронта, светоделитель 7 для совмещения эталонного и контролируемого волновых фронтов, блок регистрации интерференционной картины, состоящий из объектива 8, диафрагмы 9 и фотоприемного устройства 10, и размещенные по ходу отраженного светоделителем 2 излучения плоское зеркало 11, второй фокусирующий объектив 12, диафрагму 13, установленную в заднем фокусе объектива 12,...
Способ получения интерферограммы для контроля качества линз и объективов
Номер патента: 1712779
Опубликовано: 15.02.1992
Автор: Гусев
МПК: G01B 11/24, G01B 9/025, G01M 11/00 ...
Метки: интерферограммы, качества, линз, объективов
...объекта.со значением 1 фокусного расстояния голограмму Фурье рассеивателя с помощью коллимированного опорного пучка, осуществляют смещение рассеивателя в его плоскости и изменение угла падения опорного пучка, вновь записывают голограмму Фурье рассеивателя и проводят фильтрацию полученной двухэкспозиционной голограммы до получения интерферограммы контроля.- В отличие от известного способа освещение рассеивателя осуществляют расходящейся сферической волной с радиусом В кривизны фронта в плоскости рассеивателя Й = 1 /( - 1), где- расстояние от главной плоскости контролируемого объекта до регистрирующей среды,В предлагаемом способе возможность достижения положительного эффекта с физической точки зрения обеспечивается созданием...
Интерференционное устройство для измерения линейных перемещений
Номер патента: 1714346
Опубликовано: 23.02.1992
Авторы: Конысбеков, Марков
МПК: G01B 11/24, G01B 9/02
Метки: интерференционное, линейных, перемещений
...17,последовательно установленные и образующие второй измерительный канал, последовательно установленные и оптически связанные четвертый отражатель 18 и четвертый светоделитель 19, а также пятый отражатель 20 и пятый светоделитель 21 и уголковый отражатель 10.. Интерференционное устройство работает следующим образом. торых оба пучка направляются в опорный и измерительные каналы, интерферуют друг с. другом и попадают на фоточувствительныеплощадки фотоприемников 6, 11 и 17,5 10 15 20 В . результате интерференции разностных световых волн на фоточувствительных площадках фотоприемников возникают интерференционные полосы бесконечной ширины, которые пульсируют с частотой, равной. частоте модуляции, и вследствие этого на выходах...
Способ контроля вогнутых эллиптических поверхностей
Номер патента: 1716318
Опубликовано: 28.02.1992
Авторы: Бакеркин, Друщиц, Контиевский
МПК: G01B 11/24
Метки: вогнутых, поверхностей, эллиптических
...2 фокусируют в геометрический фокус г 1, ближайший к контролируемой поверхности 11. Плоское зеркало, состоящее из подложки 3 и зеркального покрытия 4 с отверстием 5, устанавливают под углом Р к оптической оси поверхности 11, Полупрозрачное плоское зеркало, состоящее из подложки 6 и полупрозрачного покрытия 7, устанавливают между геометрическим фокусом Е 1 контролируемой поверхности 11 и изображением Е 2 фокуса Р 2 зеркалом 4. Поверхность полупрозрачного плоского зеркала 7 располагают к плоскому зеркалу 5 под углом а= 90 - Р. Регистрацию интерференционной картины осуществляют с помощью видикона 8 и телевизионной установки 9. Для регистрации интерференционной картины полупрозрачное зеркало из подложки 6 и покрытия 7 перемещают в...
Способ получения интерферограммы контроля качества линз и объективов
Номер патента: 1716319
Опубликовано: 28.02.1992
Автор: Гусев
МПК: G01B 11/24, G01B 9/021
Метки: интерферограммы, качества, линз, объективов
...вновь записывают голограмму сфокусированного изображения и восстанавливают полученную двухэкспозиционную голограмму до регистрации интерферограммы, по которой судят о качестве контролируемого объекта, перед записью голограммы формируют опорную волну в виде расходящейся сферической волны с радиусом г кривизны волнового фронта в плоскости светочувствительной среды, равным расстоянию от светочувствительной среды до узловой точки контролируемого объекта, и осуществляют поворот контролируемого объекта вокруг оси, проходящей через узловую точку перпендикулярно направлению сдвига, на угол а, удовлетворяющий соотношению 0 ( щ аб/2 г, где б - размер изображения диффузного рассеивателя,В предлагаемом способе возможность достижения...
Устройство для измерения профиля объекта
Номер патента: 1717951
Опубликовано: 07.03.1992
Автор: Петров
МПК: G01B 11/24
...зеркалом и объективом проецируются на фотоприемную линейку, Позиционное положение засвеченных элементов фоточувствительной линейки зависит от расстояния до светового пятна на поверхности объекта, 1 ил. также блок обработки, при этом оптические оси двух каналов параллельны.Недостатком известного устройства я в- ляется низкая точность измерения иэ-за зависимости выходного сигнала фотоприемников от отражающих свойств поверхности объекта, а также из-за нестабильности параметров и фотоприемника.Известно устройство для измерения профиля иэделия, содержащее источник излучения, направляющийсветовое излучение на измеряемую поверхность, и дискретный1717951 ед М,Моргентал актор Н. Лазаренко ректор Л. Па аказ 869ВНИИ Подписноетениям и открытиям...
Интерферометр для контроля вогнутых асферических поверхностей
Номер патента: 1728650
Опубликовано: 23.04.1992
Авторы: Бодров, Васильев, Комраков
МПК: G01B 11/24
Метки: асферических, вогнутых, интерферометр, поверхностей
...и для любой поверхности, эквидистантной идеальной.Контроль общей погрешности контролируемой поверхности осуществляется следующим образом.Схема интерферометра включает плоское зеркало с центральным отверстием, ориентированное таким образом, что его от-. ражающая поверхность пересекает оптическую ось интерферометра под прямым углом в точке заднего фокуса первого компенсатора, а также второй компенсатор, расположенный между задним фокусом первого компенсатора и контролируемой поверхностью. Центральная часть светового пучка, сформированного после прохождения через первый компенсатор, падает на второй компенсатор. Расчет второго компенсатора выполняется таким образом, что, если контролируемая поверхность не имеет погрешностей, то прошедшие...
Способ измерения непрямолинейности
Номер патента: 1740988
Опубликовано: 15.06.1992
Авторы: Левин, Леонтьева, Маршаков, Серегин, Удачин
МПК: G01B 11/24
Метки: непрямолинейности
...чертежом,При измерении производят следующие операции.Располагают оптическую линейку 1 таким образом, чтобы при установке каретки 2 в первую измеряемую точку исходной прямой (отсчет "0" по шкале корпуса оптической линейки) измерительный наконечник каретки находился в контакте с рабочей поверхностью первой из концевых мер 3. Концевые меры располагают вдоль измеряемой исходной прямой 4 на вспомогательной балке или жесткой раме 5 с возможностью перемещения перпендикулярно исходной прямой (вверх или вниз), Число концевых мер соответствует числу измеряемых точек и выбирается в зависимости от длины исходной прямой оптической линейки. Размеры всех концевых мер выполняют одинаковыми, т. е, Ь= 1==1=1-1= 1, где 1 о, 1 ь 1 - соответственно размеры...
Проекционное устройство для измерения линейных размеров деталей
Номер патента: 1744451
Опубликовано: 30.06.1992
Автор: Миронченко
МПК: G01B 11/24
Метки: линейных, проекционное, размеров
...углом к оси 17, перпендикулярной оси, установленной в основных направляющих б. Геометрический центр торца ветви 12 при этом лежит в плоскости проекции детали 16, установленной в измерительной станции 2.Дополнительные направляющие 7 (фиг.1) расположены в плоскости, нормальной плоскости проекции и проходящей через основные направляющие 6 и рабочие поверхности их выполнены по профилю, описываемому формулой: где б - расстояние между осями каретки 5;- расстояние между фокусом объектива 3и плоскостью экрана 4; х - расстояние отоптической оси объектива 3 до оси 17 каретки 5, установленной в основной направляющей 6,К 1 и знак "+" перед корнем, при расположении дополнительных направляющих перед основными; К1 и знак "-" передкорнем - в...
Интерферометр для контроля плоскостности отражающих поверхностей
Номер патента: 1744452
Опубликовано: 30.06.1992
Авторы: Котляр, Сойфер, Храмов
МПК: G01B 11/24
Метки: интерферометр, отражающих, плоскостности, поверхностей
...интерферограммы без ее видоизменения, что повышает надежность и достоверность измерений величины отклонения исследуемой поверхности от плоскости. Делительный элемент расположен в сходящемся (или расходящемся) световом пучке в области вблизи фокуса первого объектива и поэтому имеет малые размеры, не зависящие от размеров контролируемой поверхности. Предлагаемая оптическая схема с делительным элементом (дифракционной решеткой) является примером поперечно-сдвигового интерферометра, в котором величина изгибов интерференционных полос на интерферограмме пропорциональна не величине отклонения контролируемой поверхности от плоскости (как в интерферометре Физо), а пропорциональна первой производной функции отклонения от плоскости, так как...
Устройство для контроля кривизны поверхности
Номер патента: 1747880
Опубликовано: 15.07.1992
Автор: Щелоков
МПК: G01B 11/24
Метки: кривизны, поверхности
...искажении кривизны он увидит идентификационные элементы также на боковых поверхностях пластин. 12 ил.- установка устройства в фокус кривизны С полосы,Устройство для контроля кривизны поверхности состоит из упругой полосы 1 с магнитными прихватами 2 по концам для а крепления ее на контролируемойповерхности 3, На полосе закреплены индикаторные элементы в виде пластин 4, каЖфая из которых прикреплена одним из реб 41 по нормали к полосе00На поверхность полосы и боковые по- . 0 ф верхности пластин нанесены иденифика- . С) ционные элементы 5 и 6 в виде рельефных. фигур (вертикальных, гориаонтальнгхх, на- )ьвклоненных в различные стороны геометрических фигур и т.п,) или поверхностей . разного цвета.Устройством контролируют кривизну поверхности...
Способ контроля радиуса кривизны оптических сферических поверхностей
Номер патента: 1747881
Опубликовано: 15.07.1992
МПК: G01B 11/24
Метки: кривизны, оптических, поверхностей, радиуса, сферических
...симметричных порядках дифракции голограммы соответственно,Кроме того, с целью повышения точности контроля выпуклых поверхностей об разцовая осевая голограмма выполнена в виде двух соосно размещенных на одной подложке голограмм; а вершину и цЕнтр кривизны контролируемой поверхности совмещают соответственно с иэображениями 30 светящейся точки от каждой из двух голограмм.На фиг, 1 - 3 приведены схемы для реализации предлагаемого способа. На фиг. 1 приняты следующие обозначения: 1- светя щаяся точка (точечный источник); 2 - контролируемая вогнутая оптическая :- поверхность с радиусом кривизны Р; 3. -"йропускающая образцовая осевая голо"граФЬ, 4- объектив; 5 - коллимированный 40"мойохроматический пучок света, освещающий голограмму 3; 6-...
Способ измерения радиуса кривизны сферической поверхности оптической детали
Номер патента: 1747882
Опубликовано: 15.07.1992
Автор: Бакеркин
МПК: G01B 11/24
Метки: детали, кривизны, оптической, поверхности, радиуса, сферической
...кривизны Й оптической детали, а также ход лучей при фокусировке коллимированного излучения в вершину детали 1,На фиг, 2 показано положение детали 1. мениска 2 и объектива 3 и ход лучей при фокусировке излучения объективом 3 в вершину выпуклой поверхности мениска 2,На фиг, 2 показано положение детали 1 и объектива 3 и ход лучей при фокусировке излучения объективом 3 в вершину детали 1,Перед оптической деталью 1, радиус кривизны поверхности которой необходимо измерять, располагают телескопический мениск 2 (фиг. 1), Телескопический мениск 2 установлен с возможностью смещения вдоль оптической оси 001, Затем по оптической оси 001 направляют коллимированное излучение. Источником коллимированного излучения может быть автоколлиматор,...
Устройство для измерения профиля объекта
Номер патента: 1753260
Опубликовано: 07.08.1992
Автор: Сороко
МПК: G01B 11/24
...образующей внешнего или внутренфокус которого расположен в точке, где находится мнимое изображение точечного источника света, формируемое внешним или внутренним, соответственно, элементом выпуклого трехэлементного зеркала, а второй фокус эллипса находится в точке, равноудаленной от поверхности этого элемента и от точки пересечения пучков света с осью симметрии устройства,Отличи-ельными признаками предлагаемого устройства являются образующая внешнего или внутреннего элемента выполнена в виде дуги эллипса; первый фокус указанного эллипса расположен в точке, где находится мнимое изображение точечного источника света, формируемое внешним или внутренним, соответственно, элементом выпуклого трехэлементного зеркала; второй фокус указанного...
Интерферометр для контроля формы поверхности
Номер патента: 1755041
Опубликовано: 15.08.1992
Авторы: Бакеркин, Контиевский
МПК: G01B 11/24
Метки: интерферометр, поверхности, формы
...Точки А 1 и Р 1 линзой 17 проектируются вских поверхностей; на фиг.2 - для 20 центрдиафрагмы 6,контроля вогнутых эллиптических поверх- Объектив 10 (фиг,4) в рабочем потокеностей; на фиг,З - для контроля выпуклых фокусирует излучение в фокус Р 2 вогнутойгиперболических поверхностей, на фиг.4 - гиперболической поверхности 26 оптицедля контроля вогнутых гиперболицеских по- ской детали 22. В ойорном потоке интерфеверхностей, .: , . 25 рометра установлен мениск 14, одна изСхемы интерферометра Включают апланатицеских "тоцек которого совмещенаследующие элементы; лазер 1, светоде-. с фокусом Р 1 поверхности 26; а другая аплалительный кубик 2, зеркало 3, призму 4, натическая точка, сопряженная кубиком 5 ссветоделительный кубик 5, диафрагму 6,...
Интерферометр для контроля формы поверхности
Номер патента: 1755042
Опубликовано: 15.08.1992
Авторы: Бакеркин, Контиевский
МПК: G01B 11/24
Метки: интерферометр, поверхности, формы
...мениски 9,10 и линзы 11, 12, Ха схемах показаны контролируемые оптические детали 13, 14 с параболическими поверхностямй 15, 16. И нтерферометр (фиг.1) содержит объектив 7 и последовательно установленные лазер 1 и светаделительный кубик 2, делящий излучение на два потока. В каждом из потоков установлены отражательные элементы,выполненные с плоскими отражающими поверхностями, ориентированными пад углом к направлению соответствующего потока.Один из потоков является рабочим. В этом потоке отражательным элементом служит зеркало 3. В другом потоке, который является опорным, установлены объектив 7 и отражательный элемент - призма 4. Интер ферометр снабжен апланатическим менискам 9, установленным в опорном потоке так, что одна из его...
Измеритель радиуса сферических поверхностей
Номер патента: 1756755
Опубликовано: 23.08.1992
МПК: G01B 11/24
Метки: измеритель, поверхностей, радиуса, сферических
...по заданной программе производит обработкурезультатов иЗмерений с выведением результатов на блок обработки и отображенияинформации.Использование предложенного техничеСкбго решения в качестве измерителя радйуса выпуклых и вогнутых сферивскихповерхностей. обеспечивает повышениеточности проводимых измерений без увеличения погрешности. зависящей от увеличениятипоразмера инструмента и контролируемойтали, по части поверхности контролируей детали,Заявленное техническое решение"поскую длину пути лазерного луча, Результатсравнению с прототипом позволяет прово- . измерения будет характеризовать отрезокдить измерение сферических поверхностей АВ, который реализуется программируепо части сферы с повышенной точностьЮ; мым процессором для...
Способ определения профиля поверхности диффузно отражающих объектов и устройство для его осуществления
Номер патента: 1758421
Опубликовано: 30.08.1992
Автор: Хопов
МПК: G01B 11/24
Метки: диффузно, объектов, отражающих, поверхности, профиля
...образом,Положение уголкового отражателя измеряется относительно начального значения, которое фиксируется при помощи второй измерительной системы, Эта система представляет собой интерферометр, который функционирует аналогично устройству измерения размеров обьекта, В опорном плече интерферометра находится зеркало 15, а в обьектном - зеркало 16, относительно которого и фиксируется начальное положение уголкового отражателя б. В момент времени при изменении положения уголкового отражателя, когда на входном окне фотоприемника 17 появляются контрастные интерференционные полосы, блок 18 выдает импульс на счетчик 14 и обнуляет его вь 1 ходы. Первая измерительфокальная плоскость совмещена г плоско 3. Устройство по и. 2, о т л и ч а ю щее с я...
Способ контроля радиуса кривизны оптических поверхностей второго порядка
Номер патента: 1758422
Опубликовано: 30.08.1992
Автор: Власенко
МПК: G01B 11/24
Метки: второго, кривизны, оптических, поверхностей, порядка, радиуса
...сферической поверхности 2. Параллельный пучок света 1 направляют перпендикулярно к плоскости35 линзы 2 (на чертеже плоскость линзы необозначена), Расходящийся пучок света отфокусировки сферической поверхностью 2попадает на экран Зпосле чего измеряютугловую расходимость пучка света, которая40 является эталоном расходимости для радиуса кривизны, равного половине диаметраэтой линзы. Чтобы не измерять каждый разугловую расходимость пучка света при контроле и определять радиус кривизны не по45 расходимости света, а по изображению светового пятна на экране 3 и шкале 4, дляэтого изготовляют сферическую поверхность на торце сердцевины оптического световода и добиваются, чтобы угловая50 расходимость света выходящего из сферической...
Интерференционное устройство для контроля линз
Номер патента: 1758423
Опубликовано: 30.08.1992
Авторы: Войтенко, Гиргель, Горелый, Казаков, Крылов
МПК: G01B 11/24
Метки: интерференционное, линз
...при оценке качества изготовления линзы.Цель изобретения - повышение точности, достоверности, информативности, .а также повышение производительности при контроле качества изготовления линз.Достижение цели обеспечивается тем, что интерференционное устройство для контроля линз, содержащее источник моно- хроматического света, светоделитель, делящий световой поток на рабочий и эталонный, последовательно установленные в рабочем потоке обьектив, держатель контролируемой линзы и зеркало, эталонный элемент, расположенный в эталонном потоке и систему регистрации интерференционной картины снабжено механизмом переремещения объектива рабочего потока в плоскости, перпендикулярной оптической оси, двухкоординатным механизмом с...
Интерферометр для контроля плоскостности отражающих поверхностей
Номер патента: 1760312
Опубликовано: 07.09.1992
Авторы: Котляр, Сойфер, Храмов
МПК: G01B 11/24
Метки: интерферометр, отражающих, плоскостности, поверхностей
...двумя исследуемыми волновыми фронтами, смещенными и наклоненными по отношению друг к другу. Поэтому малые случайные смещения и наклоны любых оптических элементов схемы приводят только к малым смещениям интерферограммы и не искажают ее, а это в свою очередь означает повышение надежности и достоверности результатов измерения отклонения поверхности от плоскости, Во-вторых, вместо двух дифракционных решеток в прототипе в поперечносдвиговом интерферометре использована только одна решетка, которая помещена после второго объектива в сходящемся пучке в области фокуса, и поэтому имеет небольшие размеры, независящие от размеров контролируемой поверхности. В-третьих, предложенная оптическая схема с одним делительным элементом позволяет при...