Способ контроля качества изготовления параболической поверхности

Номер патента: 1283524

Авторы: Сюндюков, Школьников

ZIP архив

Текст

СОЮЗ СОВЕТСКИХавиамесп КРЕСПУБЛИК 50 4 С 01 В 11/2 ОП ОБРЕТЕНИ ЛЬСТ СВИД ТОРСК 0 Т т а онтроля развор чивается механизмоуг оси симметрии 6 разворота во контролируемой и измереверхнос на- ный ния повторяются нальной плоскос рывному измерен продольной абер ка достигается производительно лических поверх меридиоя непреначенийнного пу ля другоБлагод текущих тации о вышение точност ск аработи контр остей. 1 ОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ(56) Авторское свидетельство СССВ 480904, кл, С 01 В 11/24, 1975Авторское свидетельство СССРУ 974116, кл. 6 01 В 11/24, 198 1(54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ИЗТОВЛЕНИЯ ПАРАБОЛИЧЕСКОЙ ПОВЕРХНО(57) Изобретение относится к облизмерительной техники и может быиспользовано при контроле качестизготовления параболических повеностей, На контролируемую поверхность. 7 с помощью пентапризмы 12правляется пучок лучей, параллелоси симметрии поверхности. Отражный поверхностью пучок регистрирся позиционно-чувствительным фотприемником 14, который автоматичразворачивается своей чувствител 801283524 ной площадкой перпендикулярно отраженному пучку. Одновременно фотоприемник 14 автоматически смещаетсявдоль оси симметрии контролируемойповерхности в положение, при которомсигнал на его выходе равен нулю.Регистратор 17 непрерывно измеряет смещение фотоприемника 14 относительноплоскости теоретическогофокуса контролируемой поверхностипри зондирова.нии ееосвещающим вмеридиональнойплоскости. После окончания контроляв одном меридиональном сечении объект1 12835Изобретение относится к измерительной технике н может быть использовано при контроле качества изготовления крупногабаритных прожекторных параболических отражателей.Целью изобретения является повышение точности и производительностиконтроля, достигаемое благодаря непрерывному измерению текущих значений продольной аберрации отраженного пучка при сканировании контролируемой поверхности.На чертеже представлена схемаустройства для реализации способа.Устройство содержит основание 1 151 с колонной 2, ползуном 3 и консолью14, поворотный стол 5 с механизмом 6поворота и перемещения, на которомразмещают контролируемую поверхность7, осветитель 8 со щелью 9, модулятором 10, рабочим коллиматором 11,фокус объектива которого расположенв плоскости щели 9, пентапризмы 12с механизмом 13 горизонтального пе 25ремещения, двухкоординатный позиционно-чувствительный фотоприемник14 с механизмами 15 и 16 вертикального перемещения и разворота соответственно, регистратор 17, выполненный в виде устройства с записьюна диаграммной ленте. Фотоприемник14 подключен к автоматической фотоэлектрической измерительной системе 18.Устройство работает следующим образом.,Световой пучок проходит щель 9,модулятор 10, объектив коллиматора11, пентаприэму 12 и освещает определенную зону контролируемой поверхности 7. При этом исполнительный двигатель механизма 15 вертикальногоперемещения работает в режиме поиска,перемещая фотоприемник 14 вдоль осисимметрии контролируемой поверхностидо тех пор, пока изображение щели 9не попадает на его чувствительнуюплощадку. В этот момент автоматическая Фотоэлектрическая измерительнаясистема 18 формирует сигнал управления, переключающий исполнительныйдвигатель в режим слежения. Одновременно включается механизм 13 перемещения пентапризмы 12 и приводитсяв действие механизм 16 разворота приемника 14 перпендикулярно отраженно. - .му от контролируемой поверхности световому пучку. В режиме слежения авто 24 2матическая измерительная система 18 вырабатывает сигнал рассогласования, перемещающий фотоприемник 14 до получения на его выходе нулевого электрического сигнала. Такое положение фотоприемника поддерживается для каждой зоны с помощью механизма 15 вертикального перемещения. Благодаря кинематической связи фотоприемника 14 с приводом пера записывающего устройства регистратора 17 любое отклонение изображения щели 9, вызванное погрешностями формы контролируемой поверхности, фиксируется на диаграммной ленте.После записи аберрограммы в одной меридиональной плоскости автоматически приводится в действие механизм поворота стола 5 на определенный угол и цикл измерений вновь повторяется. По окончании последнего цикла прибор автоматически возвращает,ся в исходное положение.Формула изобретения Способ контроля качества изготовления параболической поверхности, заключающийся в том, что направляют на контролируемую поверхность параллельно ее оси параллельный пучок излучения, устанавливают позиционно- чувствительное фотоприемное устройство таким образом, что ось его чувствительности совпадает с осью симметрии контролируемой поверхности, регистрируют положение отраженного пучка, одновременно перемещают освещающий .пучок параллельно самому себе в плоскости, содержащей ось симметрии контролируемой поверхности, и наклоняют чувствительную площадку фотоприемного устройства таким образом, что ее поверхность остается перпендикулярной оси отраженного пучка, и определяют качество поверхности, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности и производительности контроля,непрерывно перемещают фотоприемное устройство в направлении оси симметрии контролируемой поверхности в положение, при котором сигнал на выходе фотоприемника устройства равен нулю, измеряют текущие значения совмещения центра чувствительной площадки фотоприемного устройства относительно расчетного положения фокальной плоскости поверхности, повторяют3 1283524 4весь цикл измерений для нескольких зональных продольных аберраций помериднональных сечений контролируемой верхности, полученных в результате поверхности, а качество поверхности измерений всех контролируемых мери- определяют по измеренным значениям диональных сечений.Составитель М. СемчуковРедактор Н, Слободяник Техред М.Ходаиич Корректор М. ПожоЗаказ 7426/36 Тираж 677 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб д. 4/5Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул, Проектная,4

Смотреть

Заявка

3778266, 18.07.1984

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Р-6681

СЮНДЮКОВ МИХАИЛ АЛЕКСЕЕВИЧ, ШКОЛЬНИКОВ ИГОРЬ ВАСИЛЬЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01B 11/24

Метки: качества, параболической, поверхности

Опубликовано: 15.01.1987

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-1283524-sposob-kontrolya-kachestva-izgotovleniya-parabolicheskojj-poverkhnosti.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ контроля качества изготовления параболической поверхности</a>

Похожие патенты