G01B 11/24 — для измерения контуров или кривых

Номер патента: 839364

Опубликовано: 15.09.1992

Авторы: Назаров, Туберовский

МПК: G01B 11/24, G01B 9/06

Метки: канала, капиллярных, кривизны, непрозрачных, трубок

...если трубка искривлена где-то В середине канала то эту кривизну можно це обнаружить, и, Во-вторых, если из-эа искажени)т дифрсткгионных колец обнаруживается кривизна ктзг гала трубки, то ее практически невозможно измерить, тзк как иэ ряда деформиров;)нных дифракциоггных колец (в число которьгх входят и отраженные от стенок канала) трудно Выбрать и измерить то кольцо, которое находится В месте максимальной кривизны канала,Целью изобретения являегся повышение то знос 1 т контроля кривизны кацапа непгоэ)Ргцых кзпилляжгных т)убсгк,Эта цель достигается тем, что использу)от катетометр с сеткой в Виде конце: гтрических окружностей и перекрестия, совмещают изобрзжсцие бгтижцего к кзгетометру отверстия с центром перекрестия сетки,...

Номер патента: 1765803

Опубликовано: 30.09.1992

Авторы: Гвоздев, Кирилловский, Петрученко, Прохоренко

МПК: G01B 11/24, G04B 9/02

Метки: интерферометр, качества, оптических, поверхностей, систем

...которогоэлектрически связан с выходом фотоэле,рической матрицы, а выход- с механизмами 15подвижек, обеспечивает воэможность автоматизации настройки интерферометра засчет обработки сигнала, полученного на фотоэлектрической матрице при попадании нанее отраженного испытуемой системой в 20режиме автоколлимации изображения точечного источника света, блоком управления, который вырабатывает управляющиесигналы для приводов в зависимости от отклонения изображения точечного источника света от центра матрицы, что ведет такжек повышению производительности и достоверности контроля за счет ликвидации недетерминированных ручных операций, икроме того, обеспечивает повышение производительности при любой случайнойразъюстировке схемы контроля,На фиг, 1...

Номер патента: 1768964

Опубликовано: 15.10.1992

Авторы: Кузьминский, Тихонов, Шмальгаузен

МПК: G01B 11/24

Метки: морской, параметров, поверхности

...изобретения является увеличение информативности путем расширения числа определяемых параметров (скорость перемещения зеркальной площадки),Это достигается тем, что морская поверхность зондируется узким, сканируемым по кругулучом, и размер области сканирования выбирается достаточно малым, чтобы в пределах ее могла присутствовать лишь одна зеркальная площадка, далее из всех наблюдаемых бликов выбираются лишь те ситуации, когда блик пересекал границы сканируемой области дважды и при этом энергетический центр светового рассеянного поля был совмещен с приемной апертурой, далее измеряют среднее число бликов и интенсивность рассеянного бликом светового поля на оси диаграммы направленности для каждого такого блика при сканировании угла...

Номер патента: 1768965

Опубликовано: 15.10.1992

Авторы: Богитов, Кулакова

МПК: G01B 11/24

Метки: вогнутых, вращения, интерферометр, оптических, поверхностей, формы

...волновой фронт, Поэтому перед компенсатором стоит высококачественный объектив, формирующий сферический вол-д новой фронт, что накладывает дополнительные требования к точности изготовления объектива и юстировке рабочей ветви интерферометра,Целью изобретения является повышение точности контроля и упрощение конструкции.1768965 оставитель Н. Кулакова хред М.Моргентал Соколова Те Корректор П, Гереши едакт Заказ 3638 ТиражВНИИПИ Государственного комитета по113035, Москва, ЖПодписноебретениям и открытиям при ГКНТ СССаушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат Патент", г. Ужгород, ул,Гагарина, 10 Указанная цель достигается тем, что в рабочей ветви интерферометра установлен компенсатор, выполненный из афокального и положительного...

Номер патента: 1770738

Опубликовано: 23.10.1992

Авторы: Баран, Маврин, Рафиков

МПК: G01B 11/24, G01B 9/021

Метки: поверхностей

...одна из которых является эталонной, установленный эталонной поверхностью к контролируемой поверхности держатель контролируемой поверхности и систему регистрации, состоящую из последовательно размещенных по ходу отраженного от светоделителя потока излучения объектива и экрана, установленного в плоскости регистрации интерференционной картины, оптически сопряженной с контролируемой поверхностью, согласно заявляемому изобретению дополнительно введен синтезированный голограммный оптический элемент (СГОЭ), выполненный на эталонной плоской поверхности образцового элемента в виде двух соосно расположенных центральной круговой и периферийной кольцевой осевых синтезированных голограмм, распределение радиусов колец которых определяется...

Номер патента: 1772608

Опубликовано: 30.10.1992

Автор: Гусев

МПК: G01B 11/24, G01B 9/021

Метки: аберраций, волновых, голографического, линз, объективов

...контролируемого объекта. 1 ил,бокового сдвига, по которой судят о волно- О вых аберрациях контролируемого обьекта.Недостаток способа заключается в низкой точности контроля, что обусловлено ошибками, возникающими при интерпретации регистрируемой интерферограммы с целью определения фазовых искажений в а фиксированной точке контролируемого объекта, так как интерференционная картина не сопряжена со зрачком контролируемого объекта.Ближайшим по технической сущности к заявляемому способу является способ контроля волновых аберраций линз и объективов, по которому освещают диффузный1772608 В, Гусевргентал оставит хред М орректор О. Кравцова аказ 3837 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ...

Номер патента: 1772617

Опубликовано: 30.10.1992

Авторы: Борыняк, Логинов

МПК: G01B 11/24, G01B 9/021

Метки: внутренней, голографический, интерферометр, отверстий, поверхности, формы

...внутренней поверхности отверстий, содержащийпоследовательно установленные источник 45излученил, микроабъектив, коллимирующий объектив и регистрирующую среду,снабжен конусом, предназначенным для установки внутри контролируемого отверстияыполненным с внешней отражающей поверхностью, на которую нанесен растр, регистрирующал среда расположена по ходу излучения за каллимирующим объективом в плоскости, перпендикулярной оси интерферометра, и взаимосвязана с вершиной конуса, ориентированного так, что его ось совпадает с осью интерферометра.На чертеже представлена схема реализации голографического интерфераметра. Голографический интерферометр содержит последовательно расположенныеисточник излучения 1 например лазер ЛГ 30), микрообъектив 2 в...

Номер патента: 1776988

Опубликовано: 23.11.1992

Авторы: Суминов, Сухарев, Шанин

МПК: G01B 11/24

Метки: оболочек, осесимметричных, прозрачных, профиля, тонкостенных, формы

...1, светоделитель 2, зеркало 3, коллиматоры 4 и 5, приспособление 6 для фиксации контролируемой оболочки 7, контактный измеритель 8 толщины оболочки, перископическую систему 9, зеркало 10, суммирующую призму 11, систему 12 технического зрения, микро- ЭВМ 13, приводы 14 и 15 горизонтального и азимутэльного поворота оболочки 7, а также блоки 16 и 17 согласования.Способ реализуется следующим образом,Контролируемую оболочку 7 фиксируют в требуемом положении в приспособлении 6. Оно представляет собой оптическую делительную головку, на которой закреплен узел для фиксации оболочки 7 и контактный измеритель 8 толщины на базе индуктивного датчика информации. Приспособление 7 обеспечивает поворот оболочки вокруг ее оси в горизонтальной плоскости...

Номер патента: 1778517

Опубликовано: 30.11.1992

Авторы: Галеев, Лещев, Тарасенко

МПК: G01B 11/24

Метки: положения, резервуара, стенки

...достаточно для определения напряженно-деформироьноь исфиля изоения онст- маглена т от лен- по- ений1778517 Ф о р мул а из о бр ете н ия Способ измерения положения стенки резервуара, заключающийся в том, что устанавливают теодолит по касательной к стенке резервуара, измеряют горизонтальные углы этой касательной через определенные интервалы по высоте резервуара, выполняют камеральную обработку указанных измерений, в результате которой определяют отклонение стенки от вертикали, о т л и ч аю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности измерения, указанные интервалы фиксируют тележкой с магнитом, которой посредством гибкой нити сканируют стенку резервуара от уторного шва, а при измерениях используют линейку, установленную на тележке по...

Номер патента: 1788432

Опубликовано: 15.01.1993

Автор: Шишлов

МПК: G01B 11/24

Метки: бесконтактного, мередиональный, поверхностей, полированных, профиля

...в ЭВМнулевой сигнал, а с фотоприемника 14 30 сигнал положительной полярности, С этогомомента ЭВМ начинает управлять процессом измерения по программе, По команде ЭВМ (см.фиг,1,3) электропривод 20 обеспечивает поступательное перемещение опти ческого датчика на величину Н кконтролируемой детали до момента совпадения изображения диафрагмы 8 (точка А) с вершинной точкой поверхности АО, т,е. до момента появления нулевого сигнала с фо топриемника 14, что свидетельствует о завершении первого этапа измерения по фиксации вершинной точки контролируемой поверхности.Величина Л Но перемещения оптиче ского датчика фиксируется ЭВМ посредством датчика 21 и т,о, вершинная тока А, получает координаты ХАо = Но +ЛНо Уд= 0(2) живании пространственного...

Номер патента: 1793209

Опубликовано: 07.02.1993

Авторы: Бакут, Кузнецов, Рожков, Ряхин

МПК: G01B 11/24

Метки: поверхности, профиля

...на поверхности объекта 9; но-чувствительного фотоприемника 6, выполненного в виде фотоприемника со скани-.руемым растром, блока 7 коммутации,первые четыре выхода которого подключе 5 ны к входам источников 1 - 4, и вычислительного блока 8, первый вход которогоподключен к выходу фотоприемника 6, авторой вход - к пятому выходу блока 7,В качестве вычислительного блока 8 мо 10 жет быть использована любая универсальная ЭВМ с адаптером видеокамеры либоспециализированная ЭВМ для обработкиизображений (см, например, Л.Рабинер,Б, Гоулд, Теория и применение цифровой об"5 работки сигналов, М., Мир, с, 696 - 697,проспект фирмы йцщеес, Регсо 1 ог ЭВМ типа СВИТ разработки ИКИ АН СССР и т.д.).При этом блок 8 должен быть запрограммирован в...

Номер патента: 1796895

Опубликовано: 23.02.1993

Авторы: Журавлев, Карасев, Турсунова

МПК: G01B 11/24

Метки: крутки, нитей

...измеритель 4с юстировочными приспособлениями. длины нити и счетчик измерительного блокаИсточник света 5, волоконно-оптиче. Движущаяся в зазоре световодов 6 и 7: .ские световоды 6 и 7 и Фотоприемник 8 15 контролируемая нить 2 витками своей пооптически соединены между собой, причем верхности модулирует по амплитуде прохосветоводы 6 и 7 соединены через зазор с дящий световой поток, При йопадании ввозможностью изменения его величины и зазор витка световой поток им рассеиваетперемещения светоаодов йо вертикали и уг- ся, а при прохождении межвиткового про-лу относительно продольной оси, разме-. 20 странства световой поток вновь проходитотщенной в зазоре нити без нарушения световода 6 к световоду 7. Промодулированоптической связи между ними,...

Номер патента: 1803726

Опубликовано: 23.03.1993

Автор: Котцов

МПК: G01B 11/24

Метки: конвейером, объекта, перемещаемого, рельефа

...излучения от источника 3, который промодулирован решеткой 2 и создает изображение периодических линий на поверхности объекта 11 перемещаемого конвейером. Направление этих линий ориентируют перпендикулярно направлению перемещения разворотом решетки 2. Причем объектив 1 , проецирует световой пучок в направлении перпендикулярном плоскости транспортера конвейера, а объектив 4 принимает излучение в направлении перпендикулярном той же плоскости и формирует оптическое изображение в своей фокальной плоскости, которое модулируется решеткой 6 развернутой параллельно решетке 2. Непосредственно размещенный за решеткой 6 матричный фотоприемник 5 преобразует оптическое излучение в электрические заряды накапливаемые на элементах матриц ФПЗС 5.Генератор...

Номер патента: 1810750

Опубликовано: 23.04.1993

Авторы: Курибко, Селезнев

МПК: G01B 11/24

Метки: интерференционный, кривизны, оптических, поверхностей, радиуса, сферических

...способ.Способ осуществляется следующим об-разом,Перед контролируемой поверхностью 1устанавливают пропускающую образцовуюголограмму 2, которую освещают соосный сней когерентный коллимированный пучком3 света, С помощью голограммы 2 в ее симметричных порядках дифракции, например,в+1-м и 1-м, +2-м и -2-м и т,д., в проходящемсвете из пучка 3 формируют два направленных на поверхность 1 гомоцентрических когерентных пучка 4, 5 света с центрами,соответственно 6 и 7, расположенными нарасчетном расстоянии 2 Р один от другого.Ручки 8, 9 света с.центрами 10, 11 соответственно, полученные отражением от повер- .хности 1 пучков 4 и 5 соответственносовмещают на голограмме 2, Возникающиепри совмещении пучков 8, 9 интерференционная картина...

Номер патента: 1812421

Опубликовано: 30.04.1993

Авторы: Гусаров, Комраков, Лазарева, Пуряев

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: асферических, зеркал, интерферометр, поверхностей, составных, формы

...в рабочую ветвь"интерферометра,Падающий на плоскопараллельную пластину 4 пучок белого светаделится эталоннойсветоразделительной поверхностью на два:отраженный и проходящий. Отраженныйпучок проходит эеркальну 1 о призму 1,3 Даве,светоделитель 12 и дифрагирует на щеляхШ 1 и Ш 2 двойной щели 16, В фокальнойплоскости блока 19 формируется интерференцибнная картина; котораярегистрируется с помощью матрицы ПЭС или наблюдается в окуляр. Проходящий пучокнаправляется через зеркальный компенса.тор 6 нэ контролируемую поверхность.На практике наиболее распространены5 составные зеркала с сотовой структурой,при которой элементы зеркала имеют видмногоугольников и юстируются относительно центрального элемента (фиг, 2), Поэтомунаиболее целесообразным...

Номер патента: 1820203

Опубликовано: 07.06.1993

Авторы: Балагурова, Зайцев, Подолян

МПК: G01B 11/24

Метки: объекта, положения

...выполненных идентично и расположенных в трех взаимно перпендикулярных плоскостях. Каждый иэ каналов смещен относительно оптической оси и включает приемный и передающий узлы. 1 ил. щий узел и предназначенный для скрепления с объектом (не показан) приемный узел а в виде позиционно-.чувствительного зле- (ф мента 3, и блока обработки информации (не р показан), вход. которого связан.с выходами позиционно-чувствительного элемента 3,Устройство работает следующим.образом,Осветитель 1, формирователь 2 марки бд образуют два коллимированных пучка излучения в виде узких. прямоугольных марок, которые принимаются позиционно чувствительными элементами 3 и затем информация поступает в блок обработки информации (не показан), в качестве которого...

Номер патента: 1830445

Опубликовано: 30.07.1993

Авторы: Курибко, Селезнев

МПК: G01B 11/24

Метки: интерференционный, кривизны, оптических, поверхностей, радиуса, сферических

...Направляют пучок 8 света на поверхность 4 и полученный из него отражением от нее пучок 12 света с центром 11 направляют на голограмму 2, спомощью которой преобразуют его в прошедшей сквозь голограмму 2 в обратном свете ходе лучей квазиколлимированный пучок 14 света,Направляют пучок 9 на поверхность 4 и получают из него отражением от поверхности 4 пучок 15 с центром 16 направляют на голограмму 3, с помощью которой преобразуют его в прошедший сквозь голограмму 3 в обратном ходе лучей квазиколлимированный пучок 17 света, Совмещают с эталонным пучком б света оба пучка 14, 17 и регистрируют с помощью светоделителя 18 и объектива 19 на экране 20 одновременно две интерференционные картины 21, 22 сопоставляют их и по взаимному...

Номер патента: 1835485

Опубликовано: 23.08.1993

Автор: Котцов

МПК: G01B 11/24

Метки: объекта, профиля, сечения

...пара для заданной плоскости сечения, а и ние профиля сечения определяют ио туде видеосигнала. 1 ил. гашение рофиля людают лярном ие све- ическоизво 0 ят нировари этом взаимбазиса ллакса оложе- амплиотраженное этои поверхностью, будет пропущено через диск 8 и соберется объективом 10 на фотоприемнике 11. В случае несовпадения проекции этих растров отраженноеизлучение будет задержано диском 8. Плоскость совпадения проекции является СО положением плоскости сечения и определя- (А)ется величиной смещения разверток, зада- (Л ваемой узлом 17, Перемещая диск 3 вдоль р направления базиса, устанавливается необходимый параллакс, соответствующий заданной плоскости сечения для определения профиля Объекта. При попадании излучения на фотоприемник...

Номер патента: 1342183

Опубликовано: 15.10.1993

Авторы: Голиков, Гурари, Прытков

МПК: G01B 11/24, G01B 9/021

Метки: герметических, зеркальных, оптических, параметров, элементов

...иэ отражателя 5, рассеивателя б регистратора 7 излучения, Отражатель 5 установлен на подвглжной каретке механизма 8 сдвига. Устройство содержит такж 8 источник 9 излучения. транспарант 10 и проецирующую оптиче. скуго с 1(стему 1 1, в предметной Г 1 лоскости которой располож 8 н транспарант 10, а пло- СКОСтЬ раСГЕИВаТОЛя 6 ЯВЛяеТСя гТЛОСКОСТЬЮ иэобоажений Оптической системы 11 и одновременно - предметной плоскостью оптической сист 8 мы 12 наблюдения, установленной в сигнальном канале за регистратором 7 излучения, Трансг 1 арант 10 содер)кит заранее рассчитанную в нрс 11 ОМ масштабе систему полос идеальной ин(ерферограммы контролиоуемого элемента,Описываем 08 устрОйство работает с(18" дугогдим Образом,Сначала получают на регистраторе 7...

Номер патента: 2003041

Опубликовано: 15.11.1993

Автор: Пимшин

МПК: G01B 11/24

Метки: объекта, поверхности, прямолинейности

...и вычисляют уклонение исследуемой точки обьекта от прямолинейности путем вычитания "места нуля"регистрационного устройства иэ взятого отсчета 2,Невысокая оност известного способа обусловлена влиянием нестабильностиоси диаграммы направленности лазерногоизлучения на результаты измерений, приэтом возникает необходимость многократного повторения измерений для сйижениявлияния нестабильности оси .диаграммы,что снижает производительность работ,Цель изобретения - повышение точности и производительности. контроля,Указанная цель достигается тем, что устанавливают лазерный источник света о исследуемой точке поверхности обьекта,формируют доа диаметрально противоположных лазерных луча, один из которых направляют на регистрационноЕ...

Номер патента: 1708053

Опубликовано: 10.04.1995

Авторы: Вагнер, Костюков, Шундиков

МПК: G01B 11/24

Метки: поверхности, формы

1. УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ФОРМЫ ПОВЕРХНОСТИ, содержащее опорную полую стойку, установленную с возможностью ее вращения вокруг продольной оси, привод вращения, оптический измеритель перемещений и блок регистрации, отличающееся тем, что, с целью повышения точности и производительности контроля при обеспечении его автоматизации, оно снабжено полым телескопическим рычагом, установленным так, что ось его углового перемещения расположена под прямым углом к оси опорной полой стойки, и щупом, скрепленным со свободным концом полого телескопического рычага и предназначенным для обеспечения контакта с контролируемым объектом, оптический измеритель перемещений выполнен в виде лазерного интерферометра, у которого измерительный отражатель связан со...

Номер патента: 1501677

Опубликовано: 30.04.1995

Авторы: Вагнер, Шундиков

МПК: G01B 11/24

Метки: поверхности, формы

УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ФОРМЫ ПОВЕРХНОСТИ, содержащее лазер, шарнирно установленную каретку с двумя точечными наконечниками, зеркало, закрепленное на шарнире каретки, и регистрирующий блок, отличающееся тем, что, с целью повышения точности и производительности при контроле вписываемости элементов механизации в контур крыла летательного аппарата, оно снабжено корпусом с тремя опорами, двумя полыми штоками, установленными в корпусе с возможностью осевого перемещения, двумя фиксаторами и узлом регулирования, установленными на корпусе, вторыми лазером, кареткой и зеркалом, закрепленным на шарнире второй каретки, лазеры установлены в штоках соосно с их осями и оптические оси лазеров параллельны, а каретки установлены так, что оси их шарниров...

Номер патента: 561444

Опубликовано: 10.09.1995

Авторы: Евтеев, Климашин, Колпаков, Коротков, Поживанов, Розентретер, Сладкоштеев

МПК: G01B 11/24

Метки: базовой, криволинейного, линии, непрерывной, проверки, разливки, стали, типа, установки

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПРОВЕРКИ БАЗОВОЙ ЛИНИИ УСТАНОВКИ КРИВОЛИНЕЙНОГО ТИПА ДЛЯ НЕПРЕРЫВНОЙ РАЗЛИВКИ СТАЛИ, содержащее рычаг, ось поворота которого совпадает с центром кривизны радиального участка базовой линии, отличающееся тем, что, с целью повышения точности и производительности проверки, оно снабжено интерферометром, закрепленным на рычаге, шаблоном, нижняя поверхность которого повторяет базовую линию установки, и отражателем, установленным на верхней поверхности шаблона с возможностью перемещения вдоль нее.

Номер патента: 786471

Опубликовано: 27.05.1996

Авторы: Губель, Духопел, Ефимов, Федина

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: асферических, вогнутых, интерферометр, лучей, обратно-круговым, оптических, поверхностей, сферических, формы, ходом

Интерферометр с обратно-круговым ходом лучей для контроля формы вогнутых сферических и асферических поверхностей оптических деталей, содержащий осветительную систему, включающую лазер и коллиматорный объектив, призменную и наблюдательную системы, отличающийся тем, что, с целью повышения точности контроля и расширения диапазона радиусов кривизны контролируемых поверхностей, призменная система выполнена в виде последовательно расположенных светоделительного кубика, плоского и двугранного зеркал и установленного между этими зеркалами высокоапертурного симметричного объектива, а коллиматорный объектив выполнен с возможностью осевого перемещения.

Номер патента: 1279337

Опубликовано: 27.06.2002

Авторы: Городецкий, Ларионов, Лукин, Мустафин, Рафиков

МПК: G01B 11/24, G01B 9/021

Метки: интерферометр, оптических, поверхности, формы

Интерферометр для контроля формы поверхности оптических деталей, содержащий последовательно расположенные монохроматический источник света, светоделитель и образцовый оптический элемент, имеющий одну поверхность эталонную, другую - плоскую и установленный плоской поверхностью к источнику света, и регистрирующий блок, отличающийся тем, что, с целью повышения точности контроля, он снабжен пропускающей осевой голограммой, расположенной на плоской поверхности образующего элемента так, что ось голограммы проходит через центр кривизны эталонной поверхности, а распределение радиусов колец голограммы определено выражением

Номер патента: 1648147

Опубликовано: 27.04.2005

Автор: Шутов

МПК: G01B 11/24

Метки: кривизны, оптических, радиусов

1. Способ контроля радиусов кривизны оптических деталей, заключающийся в том, что формируют коллимированный пучок излучения, устанавливают эталонный оптический элемент, освещают деталь, перемещают ее вдоль оптической оси, измеряют расстояние l между эталонным оптическим элементом и деталью и рассчитывают радиус R кривизны детали, отличающийся тем, что, с целью повышения точности контроля деталей с малой апертурой, в качестве эталонного оптического элемента используют плоское зеркало с двумя отверстиями, одно из которых - в центре зеркала, устанавливают зеркало отражающей поверхностью к детали, освещают деталь через второе отверстие в зеркале, совмещают точку пересечения оптической оси...

Номер патента: 1839848

Опубликовано: 20.06.2006

Авторы: Башилов, Воронов, Никульшин, Савицкий, Слуцкий, Титов, Уманский

МПК: G01B 11/24

Метки: поверхности, формы

Устройство для контроля формы поверхности, содержащее направляющую и установленную на ней дискретно сканирующую каретку с датчиком перемещения, отличающееся тем, что, с целью повышения точности контроля формы поверхности составленной из сопрягаемых частей, оно снабжено второй дискретно синхронно с первой сканирующей кареткой с датчиком перемещения, предназначенной для контроля части поверхности несканируемой первой кареткой, жестко связанным с направляющей командным узлом, выполненным в виде перфорированной шторки и оптически взаимодействующего с ней фототранзистора, а также вычислительным блоком, связанным с указанными датчиками и фототранзистором.