G01B 11/24 — для измерения контуров или кривых

Номер патента: 544864

Опубликовано: 30.01.1977

Авторы: Горшков, Пуряев, Скибицкий, Харитонов

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: асферических, вогнутых, интерференционный, оптических, поверхностей, формы

...е. значительная область поверхности останется непроконтролированной.Целью изобретения является обеспечениевозможности контроля поверхностен с больЗз шими отклонениями от сферы.544864 Составитель Л. Лобзова Корректор Н, Аук Техред Е, Петрова Редактор Т. Пилипенко Заказ 309 Изд.148 Тираж 729 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., и. 4/5Типография, пр. Сапепова, 2 Это достигается тем, что эталонное сферическое зеркало перемещают вдоль его оптической оси, последовательно совмещая кольцевые зоны отображения источника света на контролируемой поверхности с его отображением на сферическом зеркале, и судят о правильности формы контролируемой поверхности...

Номер патента: 550527

Опубликовано: 15.03.1977

Авторы: Карелина, Круглов, Симонов, Холопов, Хоменков, Эстров

МПК: G01B 11/24, G01B 9/08

Метки: кристаллов, параметров, проектор, сечения

...содержащая последовательно расположенные объектив 12 и и отражатель 13 (например, плоское зеркало), который установлен под 45 относительно оптической оси объектива 12, и ей симметричная вторая проектирующая система, содержащая последовательно расположенные объектив 14 и отрагкатель 15 с двумя плоскими, обращенными навстречу друг другу рабочими поверхностями 16 и 17, установленными под 2230 относительно оптической оси объектива 14. Оптические оси объективов 12 и 14 первой и второй проектирующих систем совпадают. Фокусные расстояния объективов 12 и 14 одинаковы.Рабочие поверхности отрагкателей 13 и 15 ориентированы на устройство совмещения изображения частей контура сечения кристалла. Это устройство представляет собой комбинацию из...

Номер патента: 574604

Опубликовано: 30.09.1977

Авторы: Герловин, Филиппов

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: детали, поверхности, полированой, сферической, формы

...интерференционной картины, по которому судят о форме детали,Повышение точности контроля обеспечивается за счет того, что, во-первых, регистрируется не форма интерфервнционных полос, зависящая также и от качества других деталей итерферометра, а изме)ение полос, зависящее только от формы контролируемой поверхности, и, во-вторых, схема не трес)уст перенастройки в процессе контроля. Упропсинс контроля обеспечивается отсутствием измерения и построения функций волновой аберрации,На чертеже приведено схематическое изображение устройства для осуществления предлагаемого способа контроля формы детали, а именно полусферической линзы, являющейся заготовкой для зеркал микроинтерферометров.Устройство содержит интерферометр 1, который включает в себя...

Номер патента: 574605

Опубликовано: 30.09.1977

Автор: Шваб

МПК: F16H 1/00, G01B 11/24

Метки: зубчатых, кинематической, передач, погрешности

...решетка 14 установлена на выходном валу передачи 3 и смещена по отношению к такой же круговой решетке 11, установленной на входном валу, на половину шага. Секторная решетка 15 установлена на корпусе передачи (на чертеже не показан).Идентичность растровых решеток 11 и 14 и 12 и 15 фотоэлектрических преобразователей начального 1 и конечного 2 звеньев улучшает технологичность измерительного устройства и упрощает процесс контроля.Предложенное устройство работает следующим образом.При движении контролируемой передачи 3 фотоэлектрический преобразователь начального 1 звена через определенные интервалы времени, определяемые шагом растровых решеток 11 и 12, выдает электрические импульсы с частотой= " (гц), где пскорость60вращения входного...

Номер патента: 578562

Опубликовано: 30.10.1977

Авторы: Бутусов, Ермакова

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: интерферометр, кваз, плоских, поверхностей, прогибов

...функции формирователя наклонного освещения детали, свстоделителя, совместителя интерферирующих световых лучей и держателя детали.Предлагаемый интсрферомстр работает следующим образом.Деталь 5 располагается на гипотенузной грани призмы 4 контролируемой поверхностью вниз. Катетная грань призмы освещается плоской свстовой волной, причем угол падения О на эту грань выбирается с помощью зеркала 3 таким образом, что на гипотенузную грань призмы световая волна падает под углом, близким к углу полного внутреннего отражения. На гппотенузной грани призмы срормпруотся два световых луча: один отражается от границы раздела стскло-воздух вФормула изобретения 2 Составитель В, Лобзова Техред И, Михайлова Рсдактор Т. Морозова Корректор Л. Котова...

Номер патента: 578564

Опубликовано: 30.10.1977

Авторы: Вацура, Горелик, Лкушина, Таранов

МПК: G01B 11/24

Метки: аоверхностей, второго, выпуклых, порядка

...с Элемент связи для контроля эллиптических и гиперболических профилей выполнен в виде тяги с шарнирами по концам, причем оси шарниров параллельны, ось шарнира ползушки совпадает с осью шарнира пластины, а ось шарнира корпуса проходит через центр подеры.Для контроля параболлпчсских профилей элемент связи выполнен в виде каретки, шар нирно связанной с ползушкой так, что ось этого шарнира совпадает с осью шарнира пластины, и подви)кной по прямолинсиным направляющим корпуса перпендикулярно оси профиля и оси рычага.На чертеже представлена кинсматичсская схема устройства для контроля эллиптических и гиперболических профилей.25 зо 35 1 О Формула изобретения 1. Устройство для контроля выпуклых поверхностей второго порядка, содерхкащее кор 5...

Номер патента: 585402

Опубликовано: 25.12.1977

Авторы: Закин, Копилевич

МПК: G01B 11/24

Метки: геометрических, динамике, исследования, объектов, параметров

...схема, поясняюая предпагаемый способ.На схеме показаны стробоскоп 1 и вап 2, усгановпенный в опорах 3. О Способ осуществпяют спедуюшим образом,Испытуемый вап 2 освещают стробоскэ.пическими импупьсами, частота 1 которыхв цва раза бопьше частоты ы вращения 5 вапа, т, е.т 2(д . При этом вап кажетсянепоцвижным двояковыпукпым. Ю С помощью оптического прибора, например квадранта, . опредепяют вепичину двойного прогиба "аб" в середине дпины вапа 20 ипи цвойного биения на концах вана.На практике предлагаемый способ осущвпяют спецуюшим образом. Проверяемыйавтомобипь устанавпивают на стенд цпясвободного вращения ведущих копес ипи 25 вывешивают одно из копес;в коробке пер585402 Составитель Лобзова Техред 3. фанта . Корректор И. Гоксич...

Номер патента: 593070

Опубликовано: 15.02.1978

Авторы: Голиков, Гурари

МПК: G01B 11/24, G01B 11/255, G01B 11/30 ...

Метки: геометрических, зеркальных, оптических, параметров, элементов

...Схема устройства по 25 строена таким образом, что рассеиватель бустановлен, перед отражателем б на расстоянии , меньшем фокусного расстояния отражателя.Устройство работает следующим образом.З 0 Поток излучения от источника 1 когерентно.го излучения через светоделитель 2, блок 4 освещения и рассеиватель б подается на отражатель 5, на место которого в процессе измерения устанавливают исследуемый зеркальный оптический элемент. Отраженный зер кальным элементом поток через рассеяватель б подается на регистратор 7 излучения одновременно с опорным пучком излучения, поступающим через систему 8 формирования опорного пучка излучения. После получения 10 на регистраторе 7 голограммы исследуемый зеркальный оптический элемент сдвигают механизмом 8...

Номер патента: 593071

Опубликовано: 15.02.1978

Авторы: Сойту, Трегуб, Ясицкий

МПК: G01B 11/24

Метки: линейка, неплоскостности, непрямолинейности, оптическая, поверхностей

...2, марки 3 и объектива 4, приемный блок, также выполненный в виде коллиматора. Он содержит объектив 5, ди- фрагму б и отсчетное устройство 7, два объ593071 Таким образом, благодаря тому, что задающий и приемный блоки линейки выполнены в виде коллиматоров, а чувствительный элемент - в виде сферы с отражающей поверхностью, в описываемой конструкции удалось добиться снижения измерительного давления на контролируемую поверхность, значительно ограничить чувствительность к наклонам подвижной каретки, повысить точ ность измерений. Оптическая линейка для измерения непрямолинейности и неплоскостности поверхностей, содержащая основание с расположенными на нем задающим и приемным блоками и двумя объективами с концевыми уголковыми...

Номер патента: 600388

Опубликовано: 30.03.1978

Авторы: Волкова, Левин, Пинаев

МПК: G01B 11/24, G01M 11/00, G02B 27/30 ...

Метки: аттестации, имитатор, плоскомеров, плоскости

...марка Л, выполцец- О ная в виде прозрачного кружка. Для подсвечивания марки А используется осветитель 5 с копденсором б.Имитатор плоскости работает следующим образом.В центре основания 1 помещают испытуемый плоскомер, который последовательно наводят на каждую светящуюся марку оптической оси каждого коллиматора и определяют таким образом полную погрешность испытуемого прибора.При определении составляющих погрешности, например величины углового отклонения визирной оси от ее первоначального положения, визирную ось испытуемого прибора выставляюг по первой и последней марке оптической оси одного из коллиматоров так, что в поле зрения испытуемого плоскомера изображения этих марок совмещаются со штрихом перекрестия. Вращая плоскомер на...

Номер патента: 601562

Опубликовано: 05.04.1978

Авторы: Блинов, Кравцов, Кутявин, Телешов, Шац

МПК: G01B 11/24, G02B 27/46, G03F 1/00 ...

Метки: дефектов, прямоугольной, рисунка, топологией, фотошаблонов

...заключающийся в блокировке про странственных частот, соответствующих. регулярной структуре, голографическим фильтром Я .Однако такой способ имеет невысокую точность контроля, так как иэображение дефектов накладывается на изображение беэдефектвого рисунка фотошаблона в виде светящихся точек и более слабые дефекты могут быть не эамеченщ оператором.Кроме того, способ недостаточно производителен иэ-за сложностей в изготовлении фильтра и юстировки системы при сменефотошаблоиа. Наиболее близким по технической сущности и решаемой задаче к данному изобретению является способ контроля дефекта фотошаб 2лонов с прчмоугольной топологией р заключающийся в том, что освещают шаблон коллнмированным пучком све мируют изображение спектра простра ных...

Номер патента: 603842

Опубликовано: 25.04.1978

Авторы: Бочкин, Захаров, Никифорова-Денисова

МПК: G01B 11/24

Метки: измеритель, пластин, полупроводниковых, прогибов, фотоэлектрический

...ого измерителя,Он содержит осветитель, имеющий источ- ЗОник 1 света и линзу 2, модулятор 3, оптическую систему для передачи светового потока в виде световода 4, диафрагму 5 в виде элемента с вогнутой отражающей поверхностью, например., в виде полуцилиндра, лекальную линейку 6, приемный световод 7,и электронный блок для измерения величиныпрогиба по высоте щели между линейкой иповерхностью контролируемой пластины,вкдючающий фотопривмник 8 опорного пучка 40излучения и измерительный этоприемник9. Индексом 10 обозначена контролируемаяпластина,Работае т предлагаемый измеритель следующим образом, 45Излучение источнике 1 света фиксируе 1- ся линзой 2 и плоскости модулятора 3(представляющего собой модудир ющий диск,установленный на валу...

Номер патента: 615359

Опубликовано: 15.07.1978

Авторы: Жилкин, Загорельский, Плошай, Торочков

МПК: G01B 11/24

Метки: объекта, плоскостности, прямолинейности

...схема устройства, реализующегопредлагаемый способ,Дна его реализации испоцьзуетса ис-.точник 1 света, формирователь 2 светоеого пучка, в качестве которого можетбыть выбрана, например, тецескопическая система, анализатор поперечных.смещений, состоящий из ножевой диафрамы 3 и устанавливаемого на измеряемыйобъект фотоприемного блока 4.Процесс измерении прямолинейности иплоскостности заключается в следующем.От источника 1 света на измеряемый Иобъект посылают пучок света, которыйпроходит формироватепь 2, имея на выходе угловую расходимость сх, и диаметр 3Далее пучок света попадает в анализаторпоперечных смешений. Бсли центр сканиро ванна совпадает с вершиной конуса расходимости светового пучка, то электричес- .кие сигналы, снимаемые...

Номер патента: 624111

Опубликовано: 15.09.1978

Авторы: Константиновская, Флейшер, Чугунова

МПК: G01B 11/24

Метки: качества, крупногабаритных, оптических, поверхности

...направляющих к основанию. Контролируемая деталь 6 установлена в подвесной ленте 7.Устройство работает следующим образом.Оптическую деталь 6 подвешивают на ленте 7. Затем к контролируемой поверхности подводят блок пробного стекла 3 до контакта выдвинутых опорных ножек самоустанавливающейся оправы блока, Ц зазоре между контролируемой поверх- ностью, и эталонной поверхностью пробного стекла возникает интерференционная картина. При помощи винта 5 устанавли(оставитель О. Лобэоваехреп О. Андрейко КорректорВ, Сердкж. Яковчи Редак Заказ 5187732ЦНИИП Подписи Совета Минно и открытий Раушская набд.Тираж ударственног по делам ЗОЗБ, Мостров ССС комитетобретенийа Ж4/8 г. Ужгород, ул. Проектная, 4 ал ППП фПатент вают угол наклона направляИщнх 4,...

Номер патента: 637704

Опубликовано: 15.12.1978

Авторы: Гарнов, Ерофеев, Либин, Певзнер

МПК: G01B 11/24, G01B 11/30

Метки: диффузноотражающих, поверхностей

...фэтонриемника.Такое выполнение устройства обеспечивает попадание луча от осветителя на профиль измеряемой поверхности при любых сложных поверхностях.На чертеже представлена схема предложенного устройства.Устрэйствэ имеет корпус 1, измерительный блок 2, в котором установлены узел 3 осветителя, фотоприемник 4 с вертикальной осью визирования и узел б сканирования светового луча в плоскости измерения, проходящей через ось визирования фотоприемника. Вал 6, находящийся на оси визирования фотоприемника., жестко соединен с корпусом 1 устройства и установлен в подшипнике 7, закрепленном на каретке 8. Направляющая 9 каретки соединена с каретками 10 продольного перемещения корпуса по направляющим 11, соединенным с камерой моделирования...

Номер патента: 643747

Опубликовано: 25.01.1979

Авторы: Владимиров, Котлецов, Савин, Туркевич, Шац

МПК: G01B 11/02, G01B 11/24, G02B 27/42 ...

Метки: размеров, рисунка, тестовых, фотошаблонов, элементов

...вфокальной плоскости,Устройство содержит когерентныйисточник света 1, который освещаетконтролцруеый фГтошаблон 2 с тестовым элементом рисунка 3, объектив4 преобразования Фурье который вУ8 ГЯ Е4 Яввуйнваа 1 рвидьт плвстщ Составитепь ЛобзоваРедактор Т, Шагова Техред 3.Фанта Корректор С. Шекмар Заказ 8009/38 Тираж, 865НИИПИ Государственного комипо делам изобрете113035, Москва, Ж,Подписноета СССРий и открытийаушская наб филиал ППП фПатентд, г, Ужгород, уп, Проектна своей задней фокальной плоскости 5формирует распределение света, точ но соответствующее преобра зованиюфурье от рисунка. В этой плоскостиустановлены прямоугольные щели 6, вырезающие из пространственного спектрасветовые потоки в разных порядкахспектра. Фотоумножители 7,...

Номер патента: 648832

Опубликовано: 25.02.1979

Автор: Новаковский

МПК: G01B 11/24, G02B 26/10

Метки: асферических, отражателей

...эакрьпленного в рубе с дивфрагмированнымотверстием 1,Устройство не обеспечивает нужнойточности измерений,Наиболее близким по техническойсущности и достигаемому аффекту кизобретению являконтроля асферичсодержащее нриспосния и поворота отризлучения, последоиые в ходе втзлучекоиденсор и бло Известные устройства не обладают достаточной точностью и не позволяют без дополнительных расчетов контролировать профиль отражателя, имеюшего значительные отклонения от заданного, теоретического профиля, что характерно, например, для штампованных отражателей и определяется это выполнением отражателя в виде узла сканирования в виде плоского зеркала.Целью изобретения является повышение точности и производительности измерений.Это достигается тем,...

Номер патента: 648833

Опубликовано: 25.02.1979

Автор: Пайкин

МПК: G01B 11/24, G01D 5/39

Метки: зубчатых, колес, профиля

...выполнен в виде регистра 10 и служит для определении дискретного значения погрешности.Елок 11 регистрации позволяет записать диаграмму кинематической погрещ-Работает устройство следующим;образом,Перед контролем все блоки устройся.г 0ва устанавливаются в исходное состояние. В проекторе 2 выставляется заданный масштаб проецирования зубчатоговенца. Режим работы генератора 5 развертки выбирается с учетом совмещениястроки развертки луча с линней зацепления, рассчитанной по параметрамсопряженного колеса. Емкость счетчика8 импульсов определяет угловой интервал дискретизации и устанавливается с30учетом заданной кинематической погрешности. В счетчике 9 набирается числозубьев контролируемого колеса,Включается привод контролируемогоколеса и...

Номер патента: 653508

Опубликовано: 25.03.1979

Авторы: Игнатьев, Орлов, Флейшер

МПК: G01B 11/24, G02B 27/62

Метки: крупногабаритных, оптических, поверхностей, подвеса, узел, устройств, формы

...подвеса крупногабаритных оптических деталей для устройств контроля формы поверхностей,Узел содержит стойку 1, держатели 2, несущую ленту 3, дополнительную текстильную ленту 4, привод 5 ееперемещения, состоящий из червяка б,двух червячных колес 7 и двух барабаУстройство работает следующим образом,На стойке 1 перемещают держаустанавливая их на размер контрруемого диаметра деталей 9.В шарнирах этих держателей укреплены концы несущей ленты 3.Дополнительная текстильная лентаприжата деталью к несущей ленте 3Перемотка ленты 4 производитсяприводом 5.При повороте детали 9 направлениеповорота выбирают так, чтобы ведущимтянущим барабаном привода 5 был тот,который имеет меньший диаметр иливообще не имеет намотки, тогда второйсматываемый барабан...

Номер патента: 659895

Опубликовано: 30.04.1979

Авторы: Громов-Бархин, Мещеряков

МПК: G01B 11/24

...достигается тем, что устройство снабжено фильтром переменной плотности с приводом, задатчиком яркости и схемой сравнения, включенной между задатчиком яркости и схемой сравнения, включенной между задатчиком яркости и индикатором расфокусировки, выход кото- ЗО ро й подь мочеМС 11 ОЕ ПЛОТНОСПа чертежемого устройствУстройствового потока, фсти, полупрозр5, вибрируощуиндикатор 8 рдвигатель 10,12 сравнения,Пой ПЛОТНОСТН.Устройство к приводу фильтра перетц,показана схема прсдлагае(орректопсп Л. Орлова и И. Позниковскан ставтель С. тало каз 558/9 Изд М 274 Тираж 855 Подпис НПО Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушскаи наб., д. 451 пография, пр, Сапупова, 2 вого потока, а фаза и амплитуда...

Номер патента: 659896

Опубликовано: 30.04.1979

Авторы: Авдеева, Афонский, Генкин, Гилерович, Кузенко, Самойленко

МПК: F16H 1/00, G01B 11/24

Метки: зубчатых, кинематической, передач, погрешности

...5 частот, к которому подключены приемники 6 и 7 излучения.Выход смесителя 5 соединен с анализатором 8 и демодулятором 9, один выходкоторого связан с интегратором 10, другой - с коммутатором 11. Выход коммутатора 11 соединен с регистрирующим прибором 12 и аналого-цифровым преобразователем 13, который связан с вычислите лем 14,Предложенное устройство работает следующим образом.На начальном н конечном звеньях контролируемой передачи устанавливают источ О ники 1 и 2 излучения. Приемники 6 и 7 излучения устанавливают неподвижно, например, на корпусе передачи, Тогда при вращении передачи приемниками воспринимаются сигналы с частотами, отличными 1.; от частоты, вырабатываемой генератором 3, на собственные поправки Доплера /дт и др, Эти...

Номер патента: 662795

Опубликовано: 15.05.1979

Авторы: Мамонов, Пуряев

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02, G02B 3/02 ...

Метки: астрономических, зеркал, интерферометр, формы

...Зеркало 4 исключают из хода лучей. Затем фотографируют интерференционную картину и сравнивают форму интерференционных колец с их теоретическим видом, на основе чего и делают заключение о погрешностях формы контролируемой поверхности в данкой зоне. Сопостав.ляя результаты контроля различных зон контролируемой поверхности (астрономического зеркала) делают общее заключение о правильности ее формы, т. е.о соответствии ф . действительной формы зеркала теоретической.Формула изобретения еломлен я линзы де и - показатель пр ид - ее толщина;К - абсолютное значение радиуса элоццой сферической поверхности;г - абсолютное значение вершинногорадиуса гиперболической поверхности линзы.11 а фиг, 1 изображена принципиальнаяоптическая схема предлагаемого ....

Номер патента: 664022

Опубликовано: 25.05.1979

Автор: Прытков

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: оптических, поверхностей

...поверхность пространственного модулятора 5 излучения, в качестве которого может служить фотопластинка, фототермопластик и другие материалы. Индексом б обозначена контролируемая деталь 6, которая расположена эа рассеинателем 3 на рас664022 4рассеянное назад излучение источника 1 света и рассеянное впередизлучение, отраженное от контролируемой поверхности детали 6. Изменяяфазу между этими волнами, напримеризменяя положение оптической поверх ности, можно наблюдать на поверхностипространственного модулятора излучения интерференционную картину. Устройство работает следующим образом.Излучение от источника 1 света через конденсатор 2 освещает рассеиватель 3 и через него контролируемую деталь 6. Рассеянное рассеивателем 3 о излучение через...

Номер патента: 665206

Опубликовано: 30.05.1979

Авторы: Грейм, Сойту

МПК: G01B 11/24, G02B 5/04

Метки: неплоскостности, поверхностей

...регулировки положения формирователя 3, установленного на нем, и измерительный узел Б с двумя марками 6 и 7.Устройство работает следующим образом.Луч света от лазера 1, находящегося на контролируемой поверхности или вблизи от нее, направляется в светоделительный блок 2, в котором он делится на два луча А и В, параллельных друг другу.Оба луча А и В направляются параллельно контролируемой поверхности на формирователь 3, закрепленный на регулируемом столике 4 и установленный на противоположной стороне контролируемой поверхности или вблизи от нее. Отразившись от зеркальной цилиндрической поверхности формирователя 3, лучи А и В образуют две референтные оптические плоскости РА и РВ.При помощи регулировочных винтов (на чертеже не обозначены)...

Номер патента: 667805

Опубликовано: 15.06.1979

Автор: Куштанин

МПК: G01B 11/24

Метки: неровностей, поверхности, светового, сечения, способу

...формы рабочей поверхности фильер.Известно устройство для контроля неровностей поверхности, содержащее осветительмарку с контрастными элементами,систему проецирования 1. Контроль фильер сопряжен со значительными трудностямйустройство недостаточно универсально,Известны устройства для контроля неровностей поверхности по методу световогосечения, содержащее осветитель, маркуВ вй= "де пластинки с контрастными элементами; -систему проецирования марки в плоскостьизмерения и систему наблюдения изображе-ния в этой плоскости 12. В подобных устройствах ось системы проецирования маркилежит в плоскости измерения, что не позволяет использовать их для контроля внут-"ренних поверхностей, например рабочей поверхности фильер,Цель изобретения -...

Номер патента: 678275

Опубликовано: 05.08.1979

Авторы: Горшков, Кравчук, Шевелев

МПК: G01B 11/24

Метки: диаметром, диафрагма, кнтроля, оптических, свыше

...расстояний между осями отверстий.Для достижения этой цели части экрана выполнены в виде набора взаимно перпендикулярных жестких лент, а в расположенных в узлах3их пересечения отверстиях размещены калиброванным по внутреннему диаметру втулки, Навтулках могут быть укреплены (со стороны-" детали) опоры, свободные концы которых ле.жат на поверхности, повторяющей поверхностьконтролируемой детали.На фиг. 1 представлена диафрагма, общийвид; на фиг, 2 - то же, сечение,Диафрагма состоит из каркаса 1, на которомукреплен экран, состоящий иэ взаимно перпен.дйкулярных жестких лент 2 с отверстиями 3под измерительные втулки 4, кбординирующиецентры отверстий взаимно перпендикулярнойпары лент 2, На измерительных втулках 4 состороны зеркала 5 укреплены...

Номер патента: 678280

Опубликовано: 05.08.1979

Авторы: Варанаускас, Наумавичюс, Рагульскис

МПК: G01B 11/24

Метки: ленты, магнитной, профиля, ребра

...фор.мирователь 7 сигнала, пропорционального пе.ремещению ребра магнитной ленты, подключенк первому входу блока 8 вычитания, На од.юй линии с фоточувствительным элементом 1перпендикулярно направлению движения магнитной ленты установлена воспроизводящая маг .нитная головка 9, подключенная через регули.руемый формирователь 10 сигнала, пропорцно.нального поперечному перемещению мапатнойленты, к второму входу блока вычитания. С 15противоположных сторон магнитной головкиустановлены дополнительный источник 11 из.лучения и фоточувствительный элемент 12, подключенный через формирователь 13 сигнала,пропорционального отскакиванию мапщтной 20ленты, к регулируемому формирователю 10сигнала. К выходу блока вычитанил подключенрегистратор 14,Устройство...

Номер патента: 679790

Опубликовано: 15.08.1979

Авторы: Лустберг, Петрова

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: асферических, оптических, отклонения, поверхностей, профиля

...является низкая производительность контроля. Это вызвано длительностью процесса выставления оптических элементов в схеме контроля иэ -за жестких допусков на взаимное положение зеркал.Цель изобретения - повышение точности и производительности контроля.Поставленная цель достигается тем,что вершину контролируемой поверхности устанавливают в центре кривизйыэталонного сферического зеркала,На чертеже изображена схема, реализующая предлагаемгй способ контроля,Способ предназначен для контроляасферических поверхностей высокогопорядка, радиус при вершине у которых превосходит 100 м и профиль контролируемой поверхности определенуравнениемХ = ау + ву +4В предлагаемом способе для контроля асферических поверхностей высокого порядка оптических...

Номер патента: 696282

Опубликовано: 05.11.1979

Автор: Долинский

МПК: G01B 11/24, G02B 27/30

Метки: автоколлимационное, вращения, тел, формы

...огьъектива коллиматораУстройство работает следующим образом.Выходящий из ко,члиматора 1 параллельный пучок лучей, попадает на стоящуюпосле объективаьколдйматора 1 перемещающуюся перпендикулярно его оси пластину 2,которая вырезает два узких пучка лучей. Этипучки проходят через светоделительную пластину 3 и попадаьот вмикрообъектив 4, который собирает их в своем фокусе Е.Перемещение пластины 2 перпендикулярно оси коллиматора 1 изменяет расстояние между двумя узкими пучками, попадающими в микрообъектив 4, что позволяет проконтролировать форму поверхности кольца вирикоподшипника по всему сечениюот центра до края,Если след поверхности желоба контролируемого кольца 6 к плоскости чертежа представляет собой дугу правильной окружности, имеющей...

Номер патента: 706689

Опубликовано: 30.12.1979

Авторы: Лазарева, Пуряев

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: вогнутых, высокоапертурных, интерферометр, качества, поверхностей, сферических

...А,совмещенной с центром кривизны С выпуклой 20поверхности линзы 4. Поэтому лучи света падают нормально на выпуклую поверхность линзы4, частично отражаются от нее, а частично направляются к контролируемой поверхности 9, отражаются от нее и повторяют свой путь в обратном направлении, Лучи, отраженные от выпуклой поверхности линзы 4, создают эталонныйволновой фронт сравнения, а лучи, отраженныеот контролируемой поверхности 9 - анализируемый волновой фронт, При настройке интер- З 0ферометра линза б, объектив 7 и фотопленка 8выключаются из хода лучей, а глаз наблюдателярасполагается непосредственно за окуляром 5.Апланатическую линзу 4 смещают в направлении4 Гперпендикулярном к оптической оси О - О, Так З 5как величина смещения очень...