G01B 11/24 — для измерения контуров или кривых

Номер патента: 996857

Опубликовано: 15.02.1983

Авторы: Ибрагимов, Ларионов, Лукин, Мустафин

МПК: G01B 11/24, G01B 9/021

Метки: интерферометр, оптических, поверхностей, формы

...13 с плоскостью голограммного компенсатора 9,Иитерферометр работает следующимобразом.Излучение лазера 1 расширяется телескопической системой 2, проходит светоделитель 3 и зеркалами 10 и 11 направляется на голограммный компенсатор 9. 66Часть излучения восстанавливает с компенсатора 9 волну а 1 сравнения, а другая часть возвращается плоским зеркалом 12 вновь на компенсатор 9 и восстанавливает волну, идентичную 65 волне а, но распространяющуюся впротивоположном ей направлении.Волна, идентичная волне а, проходит проекционный объектив 8, положительную оптическую систему 7 ипадает на контролируемую поверхность13 по нормалям к ней,Отразившись от поверхности 13,волна проходит элементы 7 и 8 рабо-чей ветви интерферометра, а...

Номер патента: 1002828

Опубликовано: 07.03.1983

Авторы: Соловьев, Щеглов

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02, G02B 26/12 ...

Метки: зеркал, формы

...12установлена диафрагма 16, имеющаясвободу перемещения по двум направлениям в своей плоскости.Устройство работает следующимобразом,Лазер, образованный глухим плоским зеркалом 1, активным элементом2 и полупрозрачным зеркалом 3, генерирует в полосе усиления активногоэлемента 2 на частоте, определяемоймгновенным значением длины оптичес. кого резонатора и скоростью ее,изменения.При вращении барабана 5 уголковыеотражатели 4, поочередно попадающиев оптический тракт лазера, т.е. отрезок оптической оси лазера, заключенный между зеркалами 1 и 3, периодически изменяют длину оптического резонатора, вызывая тем самым частотную 1002828 4ъюдулвцию лазерного излучения по некоторому пилообразному закону (кривая 17 изменения частотной модуляциина...

Номер патента: 1017923

Опубликовано: 15.05.1983

Авторы: Лукин, Маврин, Мустафин, Рафиков, Топоркова

МПК: G01B 11/24, G01B 9/021, G02B 5/32 ...

Метки: асферических, поверхностей

...что и не позволяет использовать его для контроля одновременно двух сечений торической поверхности, 65 Цель изобретения - возможность контроля неосесимметричных поверхностей, преимущественно торических.Поставленная цель достигается тем, что в устройстве для контроля асферических поверхностей, содержащем последовательно расположенные моно- хроматический источник света, коллиматор и светоделитель, делящий световой поток на две ветви, зеркало, установленное в одной ветви, голограммный компенсатор, установленный в другой ветви, и регистрирующий блок, голограммный компенсатор выполнен в виде осевой голограммы сферического волнового Фронта с радиусом кривизны Р, равным в плоскости голограммыЙВ - Й 5 Р=" 2 с возможностью установки ее...

Номер патента: 1024706

Опубликовано: 23.06.1983

Авторы: Контиевский, Липовецкий, Хуснутдинов

МПК: G01B 11/24, G01B 9/04

Метки: асферических, поверхностей, прибор, формы

...10, Компенсатор 15 можетбыть выполнен, например, в виде линзы, перемещаемой перпендикулярно оптической оси 00, микрометренным вин.том.Функцию проекционной системы выполняют следующйе детали автоколлимационного микроскопа 7: источник 8 излучения, конденсатор 9, марка 10, светоделитель 11 и объектив 12, Функцию оптической системы измерения направления отражаемых контролируемой поверхностью, лучей выполняют (по хо3 102ду отражаемых контролируемой поверхностью 3 лучей) объектив. 12, светоделитель 11, компенсатор 15, сетка 13и окуляр 14.Автоколлимационный микроскоп 7установлен с возможностью перемещениявдоль его оптической оси 00 подополнительной направляющей 6, скоторой жестко связана диафрагма 16.Центр диафрагмы 16 совмещен с опти" .ческой...

Номер патента: 1026007

Опубликовано: 30.06.1983

Авторы: Ванюрихин, Демчук, Зайцев

МПК: G01B 11/24, G01B 11/26

Метки: неплоскостности

...связаны с входамиустройства 5 обработки информации. 65 Способ осуществляют следующим образом.С помощью автоколлиматора 4 подаютна контролируемый объект 2 (в данномслучае трехгранную призму) коллимированное излучение. При отражении отодной из поверхностей контролируемогообъекта 2 в фокальной плоскости автоколлиматора 4 получают изображениеего излучающей щели. При вращенииконтролируемого объекта 2 на выходеавтоколлиматора 4 получают электрические сигналы, параметры которых зависят от параметров поверхностей6-8 контролируемого Объекта 2. Нафиг. 2 а (импульс б) показана формасигнала на выходе автоколлиматора 4,полученного от плоской поверхностиб призмы 2 (цифры над импульсами означают номер грани призмы 2, от которой получен импульс). В этом...

Номер патента: 1033861

Опубликовано: 07.08.1983

Авторы: Боровков, Голод, Скворцов, Сойту, Стогов

МПК: G01B 11/24

Метки: линейка, неплоскостности, непрямолинейности, оптическая, поверхности

...8 и размещенную между первым и вторым уголковыми концевыми отражателями 5 и 6, оптический блок, установленный на каретке 7 и выполненный.в виде отражателей 9 и 10, например прямоугольных призм с крышей БкРо, ориентированных противоположно один другому, афокальную систему, расположенную над оптическим блоком и 1 р выполненную в виде телеобъективов Ии 12, главные плоскости. Ни Нкоторых вынесены. в зону измерейия, и уголковый отражатель 13 с двумя отражающими гранями а и ь, установленный под вторым концевым уголковым отражателем 6, и ребро которого при рабочем угле 90 ф параллельно контролируемой поверхности 8. Задающий и приемный блоки .1 и 3 соответственно расположены у первого концевого уголкового отражателя 5, а марка 2 задающего...

Номер патента: 1044969

Опубликовано: 30.09.1983

Автор: Пуряев

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: оптических, поверхностей, профиля

...пучок параллельных лучей света. перпендикулярно плоскости, проходящей через измеряемый профиль по верхности, так, чтобы одна часть пучка лучей света отражалась от поверхности, а другая часть пучка лучей света проходила мимо нее, наблюдают интерференционную картину, б 5 возникающую в результате взаимодействия лучей света, отраженных от .поверхности и прошедших мимо нее, и по параметрам этой картины судят о профиле поверхности.На фиг.1 изображена принципиальная схема устройства, реализующего предлагаемый способ измерения профиля оптических поверхностей; на Фиг 2 - устройство, вид сверху на Фиг.З - схема преобразования ийтерференционной картины в случае измерения профиля сферической поверхности с радиусом В и центром С кривизны," на...

Номер патента: 1046606

Опубликовано: 07.10.1983

Авторы: Касаткин, Лысенко, Скворцов, Сойту

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: интерферометр, неплоскостности, непрямолинейности, поверхностей

...с воэможностью наклона к оптической оси.Кроме того, оптический блок отклонения светового пучка выполнен в виде плоского зеркала, жестко связанного с Формирователем и установленного под углом 45 ф к оптической оси.Кроме того, оптический блок отклонения светового пучка вйполнен в виде двух вращающихся друг относительно друга оптических клиньев.На Фиг. 1 изображена принципиальная схема интерферометра для измере" ния неплоскостности и непрямолинейности поверхностей; на Фиг, 2 - принципиальная схема интерферометра в случае выполнения оптического блока отклонения светового пучка в виде плоского зеркала, жестко связанного с Формирователем, вид сверху.Интерферометр (Фиг. 1) содержит монохроматический источник света, напрмер лазер 1,...

Номер патента: 1065684

Опубликовано: 07.01.1984

Авторы: Бубис, Ган, Кузнецов, Робачевская, Флейшер

МПК: G01B 11/24, G01B 9/021, G02B 27/54 ...

Метки: интерферометр, оптических, поверхностей

...бинарную фазавуюсинтезированную голограмму б, рас-.положенную перед светоделителем 5в другой ветви, наблюдательную систему, включающую объектив 7 с пере"менным фокусном расстоянием,объектив 8 и окуляр 9, прямалиней"нцй ножфуко, установленныйс возможностью йрадольпого и поперечного перемещения относительноосн наблюдательной системц..Иитерферометр работает следующим образом.Пучок света ат манохроматического 1 источника света, собираетсяв.:точкулинзой.2 в плоскости однойиз сменнцх диафрагм набора 4. Лнн"эой 3 формируется точечный источ них света в виде точки О в центрекривиэнц поверхности а светоделителя 5, выполненного в виде при; М змеина-линзового блока. Поверхностьа является эталонной поверхностью интерферометра. На поверхности а...

Номер патента: 1068699

Опубликовано: 23.01.1984

Авторы: Лазарева, Пуряев

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: интерферометр, линз, поверхностей, сферических, формы

...диапазона параметров конт-, ролируемых поверхностей и повышение точности контроля.Поставленная цель достигается тем что интерферометр для контроля Формы сферических поверхностей линз,содержащий последовательно расположенные источник монохроматическогосвета, фаэовую четвертьволновую пластинку, телескопическую систему и Фокусирующий объектив, образующие осветительную ветвь, компенсатор иэталонное сферическое зеркало, образующие рабочую ветвь, и наблюдательную систему, снабжен расположенной между фокусирующим объективоми компенсатором линзой, поверхностькоторой, обращенная к компенсатору,выполнена плоской, а другая поверхность - выпуклой апланатической,линза установлена так, что нормальк плоской поверхности линзы составляет с...

Номер патента: 1084597

Опубликовано: 07.04.1984

Авторы: Бубис, Кузнецов, Плошкин, Хорошкеев

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: вогнутых, вращения, интерферометр, эллипсоидов

...что интерферометр для контроля вогнутых эллипсоидов вращения, содержащий монохроматический источник света, оптическую систему, формирующую точечное изображение источника света, и светоделитель, делящий световой пучок на две ветви, зеркало с эталонной поверхностью, установленное в одной ветви, и наблюдательную систему, снабжен последовательно расположенными за оптической системой диафрагмой, установленной в плоскости точечного изображения источника света,и выпуклым сферическим зеркалом с центральным отверстием, сферическое зеркало установлено так, что центр его кривизны и диафрагма находятся с одной стороны. относительно выпуклой поверхности этого зеркала.На чертеже изображена принципиальная схема интерферометра для контроля вогнутых...

Номер патента: 1096491

Опубликовано: 07.06.1984

Авторы: Попов, Седов, Урывский

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02, G02B 26/08 ...

Метки: неплоскостности, поверхностей

...измерения параметров движения зеркала н блоке 2 сканирования, снетоделитель 11 ксллимирующую линзу 12 Зеркала 13 и 14 установлены на выходе источника 1 излучения для излома оптической оси, Сканирующее зеркало 15 блока 2 сканирования (фиг,1) установлено в Фокусе линзы 16, Зеркало 17 для формирования рабочего гучка устанавливается н параллельном пучке нг выходе линзы 16. Снетоделитель 11 установлен в Фокусе линз 18 - 20 и 12, Блок определения конца сканирования состоит из свето- делителя 21 и фотоприемника 22. Линзы 23 и 24, в фокусе которьх установлен светоделитель 25, а также зеркала 26 и 27, Фильтры 28 и 29, и Фотоприемники 30 и 31 образуют в совокупности регистров 4 (Фиг. 1).нокупности регистратор 4 (фиг. 1). Один из двух олокон...

Номер патента: 1100497

Опубликовано: 30.06.1984

Авторы: Голиков, Гурари, Прытков

МПК: G01B 11/24, G01B 11/255, G01B 9/021 ...

Метки: геометрических, зеркальных, оптических, параметров, элементов

...расположенных источника 1 когерентного излучения, светоделителя2, связанного оптически с системой 3формирования опорного пучка излученияи системой формирования предметногопучка излучения, включающее блок 4освещения и сигнальный канал, состоящий из отражателя 5, рассеивателя 6и регистратора 7 излучения.Отражатель 5 установлен на подвижной каретке механизма 8 пространственного сдвига. В устройство введенасистема дополнительных отражающихэлементов 9, расположенных перед отражателем 5 и выполненных в виде тонких пластинок из отражающего материала, например металлической фольги,внедренных в толщу прозрачной пластины, на которой рассеиватель 6получен матировкой одной из ее поверхностей, Допустимо расположениеотражающих элементов 9...

Номер патента: 1100499

Опубликовано: 30.06.1984

Авторы: Булатов, Грицун, Маслов, Протасевич, Шайхутдинов

МПК: G01B 11/24, G01B 11/30, G01N 35/00 ...

Метки: неразрушающего, ротор, технологический

...транспортного диска, излучатель 99 ьи фотогриемник, установленные надтранспортным диском, снабжен двумязеркалами, установленными над транспортным диском у его центра, и зеркалами, закрепленными на роторе попарносимметрично относительного каждогоиз узлов базирования, рабочие поверхности всех зеркал выполнены в видеэллиптических цилиндров и ориентированы так, что их образующие параллельные оси вращения транспортногодиска, первые фокусы всех зеркалсовмещены с осью вращения транспортного диска, во вторых фокусах зеркал,установленных над транспортным дискомрасположены соответственно излучательи фотоприемник, а вторые Фокусы каждого из зеркал, закрепленных относительно узлов базирования, расположены вобласти размещения на соответствующемузле...

Номер патента: 1104362

Опубликовано: 23.07.1984

Авторы: Вячин, Мамонов

МПК: G01B 11/24, G01B 9/021

Метки: интерферометр, качества, оптических, поверхностей

...от контролируемой поверхности. На чертеже изображена оптическаясхема интерферометра для контролякачества оптических поверхностей.Интерферометр содержит монохроматический источник 1 света, телескопическую систему 2 и светоделитель3, делящий световой поток на двеветви, микрообъектив 4, прямоугольнуюпризму 5, объектив 6, сферическоезеркало 7, установленное так, чтоцентр кривизны его совпадает с задней фокальной плоскостью объектива6, опорный оптический элемент 8,плоское зеркало 9, голограмму 10,объектив 11, диафрагму 12 и регистратор 13.Объектив 6 может быть выполненв виде двояковыпуклой линзы 14 имениска 15, обращенного вогнутостьюк двояковыпуклой линзе 14,Описываемый интерферометр работает следующим образом.Предварительно производят...

Номер патента: 1109581

Опубликовано: 23.08.1984

Автор: Лорецян

МПК: G01B 11/24, G02B 27/62

Метки: антенны, зеркала, сферического, элементов, юстировки

...визирной трубы (световогопятна от источника светового луча),опора которой перпендикулярна линиивизирования и установлена на отъюстированном и юстируемом элементахСЗА 21.Известный способ юстировки элементов СЗА достаточно сложен вследствиенеобходимости применения для юстировки по каждому направлению разных Щприборов, а юстировка в угловом направлении дополнительно связана с большим объемом вычислительных работ.Целью изобретения является упрошение процесса юстировки,Указанная цель достигается тем,что согласно способу юстировки элементов сферического зеркала антенныСЗА ), заключающемуся в выставлениипервого элемента СЗА на расстоянии,равном радиусу СЗА от центра СЗА, отмеченного ва экране, и в поочереднойюстировке радиального и...

Номер патента: 1113670

Опубликовано: 15.09.1984

Авторы: Зверев, Иванова, Кирилловский, Орлов

МПК: G01B 11/24, G02B 17/08

Метки: оптических, плоских, поверхностей

...и сферическогозеркала связано зависимостьюг, = 1,5 - 2 г =. 0,05 - 0,1/гз/,гд г, и к,-радиусы кривизны соответственно первой и второй поверхностеймениска;Г, радиус кривизны сферическогозеркала,р, .стояние д между мениском и сферичм зеркалом составляет0,4 Г,(ОЦ "0.5 Г 1х ггройство содержит расположенные наодной оптической оси точечный тест-объект,линзовый корректор и вогнутое сферическое.зеркало. Линзовый корректор выполнен в 1 О 15 20 25 30 35 40 45 50 55 виде отрицательного мениска, обращенноговогнутой поверхностью к сферическому зеркалу, Тест-объект совмещен с фокусом мениска и сферического зеркала.Устройство работает следующим образом.Линзовый корректор строит мнимое изображение точечного тест-объекта в фокусесферического зеркала,...

Номер патента: 1120162

Опубликовано: 23.10.1984

Авторы: Моисеев, Пилтакян

МПК: G01B 11/24

Метки: волн, морских, профиля

...составляющейволны может приводить к искажениюизмеряемой длины луча), а также из-зазависимости от состояния водной поверхности.Целью изобретения является повышение точности измерения.Поставленная цель достигается тем,что согласИв способу измерения профиля морскихволн, заключающемуся в том,что. направляют на поверхность волны 40световой луч и определяют профильволны, проектируют в плоскость изображения пятно рассеяния световоголуча на поверхности волны, определяютперемещение резкого края изображенияэтого пятна, по которому судят о профиле волны.На чертеже представлена схема, реализующая способ измерения профиляморских волн.50На схеме указаны источник 1 светового излучения, поверхность 2 морской 62 2волны, пятно 3 рассеяния на...

Номер патента: 1153235

Опубликовано: 30.04.1985

Автор: Пуряев

МПК: G01B 11/24, G02B 17/08

Метки: астрономических, зеркал, качества, компенсатор

...гиперболических,параболических и эллиптических, содержащемдве положительные линзы, обе линзы выполнены плоско-выпуклыми и обращены выпук.лыми поверхностями друг к другу.45 Ужгород, ул. Проектная, 4 На чертеже изображена оптическая схемакомпенсатора при ,онтроле качества астроно.мических зеркал.Компенсатор содержит две плоско-выпуклые 50линзы 1 и 2, выпуклые поверхности которыхобращены друг к другу, поэтому обе наруж.ные поверхности компенсатора плоские, Точеч.ный источник 3 света расположен в переднемфокусе Рс линзы 1, а задний Рз линзы 2 5совмещен с центром кривизны Сконтроли.ВНИИПИ Заказ 249 б 35Филиал ППП "Патент", г,2руемого зеркала 4 и с параксиальньсм изоб.ражснием Л источника 3 света,оКомпенсатор лействует следующим...

Номер патента: 1173182

Опубликовано: 15.08.1985

Автор: Кайнер

МПК: G01B 11/24

Метки: поверхностей, прилегания

...г.ужгород, ул,Проектная 4 117318Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано, например, для контроля прилеганкя поверхностей деталей, в частности, при комплексном контроле конусов.Целью изобретения является повышение точности контроля.При комплексном контроле конусов- способ реализуеИя следующим обра О, .л "ф."элбаНа поверхность одной из сопрягае- Г, мых деталей наносят любой слой жидкости,поэволяю 1 цей получить интерференциодную картину, например, керосйн (может быть использован и бензин). Жидкость быстро испаряется, ипри строго определенной толщине слояпоявляются интерференционные полосы,которые позволяют точно, до 0,1 мкм, 20оценить толщину этого слоя (в общемслучае достаточно только...

Номер патента: 1180687

Опубликовано: 23.09.1985

Авторы: Ахлестин, Желдак

МПК: B21B 38/00, G01B 11/24

Метки: границ, контакта, поверхности

...15 кольцевой валок 1 с матовой поверхностью 2, ролик 3, имеющий прозрачную вставку 4, выполненную в виде сегмента, плоская грань которого наклонена к оси ролика на угол, равный 45 , источник 5 излучения и регистрирующий прибор 6, например киноаппарат. Зазор 7.между валком и роликом заполняют имерсионной жидкОстью. Кроме того 25 устройство содержит объект 8 прокатки, вал 9, предназначенный для установки на него неподвижно вал- - ка с возможностью перемещения вдоль него ролика 3, подшипники 10, Фиксатор 11, предназначенный для исключения поворота ролика, уплотнитель 12 и вид зоны контакта 13. строиство работает следую Заполняют зазор между валком и роликом имерсионной жидкостью.Приводят во вращение валки 1, обеспечивая фрикционный...

Номер патента: 1186941

Опубликовано: 23.10.1985

Авторы: Гребенюк, Жуков, Островский, Шевченко

МПК: G01B 11/24, G01C 3/10

Метки: расстояний

...ордена Ленина политехнический институт им, Ленинского комсомола и Брестский инженерно- строительный институт(54)(57) УСТРОЙСТВО РАССТОЯНИЙ, содержаще новленный с возможнос вокруг своей оси, рас корпусе источник излу вательно установленные по ходу излу-. чения два плоских зеркала, обращенных отражающиьат поверхностями одно к другому, коллиматор, расположенный между плоскими зеркалами, пентаприэму, установленную с возможностью перемещения вдоль оптической оси, приспособление для отсчета перемещения с движком, соединенньи с пента- призмой, зрительную трубу и вторую пентапризму, расположенную в верхней части поля зрения зрительной трубы, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что с целью повышения проиэводис тельности, оно снабжено третьей Я...

Номер патента: 1186942

Опубликовано: 23.10.1985

Авторы: Елисеев, Панков, Рюхин, Шишлов

МПК: G01B 11/24

Метки: бесконтактного, поверхностей, полированных, профиля

...к выходам датчика 4 линейного перемещения платформы 2, датчика 11 угла поворота платформы 2 и датчика 13 перемещения. На узел 1 базирования устанавливается измеряемая оптическая деталь 42.Устройство работает следующим образом (Фиг.З).В исходном положении измеряемая деталь 42 установлена так, что опти-. ческая ось фотоэлектрического автоколлиматора 7 совпадает с нормалью к поверхности измеряемой детали 42 в точке А (добиваются перемещением поперечной 14 и продольной 15 кареток, при этом показания индикатора нулевые, Затем замыкают ключ 41, при этом механизм 12 перемещения платформы 2 перемещает оптический датчик, установленный на платформе 2, в сторону измеряемой детали 42 до тех пор, пока точка пересечения оптических осей...

Номер патента: 1195329

Опубликовано: 30.11.1985

Авторы: Барадокас, Баракаускас, Даукша, Кудрявцев

МПК: G01B 11/24, G01D 13/02, G03C 5/29 ...

Метки: мер, процесса, проявления, растровых, шкал

...ул.Проектная,4 111Изобретение относится к фотолитографии, а именно к способам проявления, и может быть использовано при изготовлении прецизионных растровых шкалЦель изобретения - повышение точности контроля процесса проявления,На чертеже оказана структурно- функциональная схема устройства для осуществления способа.Устройство содержит лазер 1, кювету 2 с проявителем, в которой размещена заготовка 3 растровой меры, два фотоприемника 4, расположенные в направлении первого и более высокого порядка спектра, две схемы 5 поиска экстремумов и схему 6 совпадения.Предлагаемый способ реализуется следующим образом.В процессе проявления слоя фото-резиста, нанесенного на шкалу растровой меры, образуется фазовая реш 6 тка, на которой...

Номер патента: 1219917

Опубликовано: 23.03.1986

Авторы: Дрибнюк, Семив, Сколоздра, Тюпа

МПК: G01B 11/24

Метки: вогнутых, оптических, поверхностей, формы

...поверхностей,На чертеже изображена принципиальная схема устройства, реализующая способ.Устройство содержит источник 1 параллельного пучка излучения, например лазер, диафрагму 2, угломер 3, связанный с плоским зеркалом 4, и приспособление 5 для установки и юстировки контролируемого иэделия 6,Предлагаемый способ осуществляют следующим образом.Контролируемое изделие 6 устанавливают на приспособлении 5 для установки и юстировки контролируемого изделия таким образом, чтобы оптическая ось отражателя была параллельна световому пучку источника 1 излучения. Параллельный. световой пучок от источника излучения попада- ет на диафрагму 2, формирующий узкий пучок лучей и направляется на контролируемую зону изделия 6, отразившись от нее, попадает на...

Номер патента: 1223033

Опубликовано: 07.04.1986

Авторы: Боровой, Витриченко, Ивонин, Кабанов, Пушной, Седин

МПК: G01B 11/24, G01M 11/00, G02B 27/46 ...

Метки: качества, оптических, систем

...пространству в частотной плоскости производится в случае использования нескольких пар приемников и в случае перемещения одной пары фотоприемников с сохранением симметрии их расположения в плоскости анализа. Такое перемещение фотоприемников может быть реализовано, например, последовательным опросом элементов матрицы ПЗС. В качестве блока 7 сравнения и блока 8 вычисления дисперсии можно использовать процессор, собранный на интегральных схемах. Время получения результата ограничивается в этом случае скоростью оцифровки сигнала и быстродействием блокови 8.В частотной плоскости получается двухмерное распределение интенсивности (фиг. 4), представляющее собойв фиксированный момент времени набор ярких пятен с темными промежутками между ними,...

Номер патента: 1244481

Опубликовано: 15.07.1986

Автор: Радченко

МПК: G01B 11/24

Метки: объекта, поверхности, формы

...началу отсчета, источникизмерения посылает зондирующие световыеимпульсы на поверхность исследуемого объекта 12.Излучение источника света имеет коллимированный пучок с малой апертурой, в результате чего на исследуемой поверхностиформируется световое пятно небольшого размера. Первоначально приемная оптическаясистема 2 и источник 1 излучения установлены так, что их оси пересекаются на оси 5,относительно которой происходит вращениекронштейна 6 с измерительной головкой.Приемная оптическая система 2 строит наповерхности фотоприемника 3 изображениесветового пятна, спроектированного источником излучения на контролируемую поверхность объекта 12. При изменении расстоя 5 10 15 20 25 30 35 40 45 ния от оси 5 до точки на поверхности...

Номер патента: 1245872

Опубликовано: 23.07.1986

Авторы: Гойко, Константиновская, Флейшер

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: интерферометр, крупногабаритных, оптических, поверхностей, формы

...по радиусу грузами и закреплен на кронштейне 8. Оптическийблок 1, зеркала 2 и 3, узел 4 сменных вспомогательных объективов в оправах, пробное стекло 5 объединеныобщим кронштейном 8, шарнирно закрепленным на рычаге разгрузочного механизма 10 и снабженным механизмом 9 ,10динамической балансировки, Рычаг, всвою очередь, закреплен на верхнейчасти стойки 11, на которой расположена каретка 6 со шпинделем 7 длякрепления контролируемой детали 13.Каретка 6 установлейа на направляющихи может с помощью механизма12 плавно перемещаться вдоль контролируемого диаметра детали 13. Кронштейн 8 находится в постоянном контакте с контролируемой деталью 13посредством трех опор, вмонтированных в оправу пробного стекла 5.Интерферометр работает...

Номер патента: 1245877

Опубликовано: 23.07.1986

Авторы: Захидов, Клычев

МПК: G01B 11/24

Метки: зеркала, сферичности

...потоком от источника с заданным угловым радиусоми энергетической яркостью, анализируют излучение, отраженное от объекта, и определяют сАеричность,о т 11 л и ч а ю щ и й с я тем, что, сцелью упрощения способа и повышенияточности определения сферичности,устанавливают плоскую мишень на заданном расстоянии от контролируемого 20 объекта производят анализ отраженного излучения по максимальной освещенности в центре светового пятна наплоской мишени, а сферичность зеркала определяют по Аормулегде с -1- (ч - " - )2К БЧз 30 где в Е4 ИГ,. Составитель А,Гордеевактор А,Козориз Техред М.Ходанич Корректор М,Шарош Тираж 670 Государственного елам изобретений Москва, Ж, Рау 85/3 НИИП по 3035исн ка митета С открытий кая наб. зводственно-полиграфическое...

Номер патента: 1249322

Опубликовано: 07.08.1986

Автор: Тарханов

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: выпуклых, интерферометр, оптических, поверхностей, сферических, формы

...11, установлен ные в рабочей ветви, и регистратор 12 интерференционной картины,Столик 10 установлен на опоре 13 с возможностью наклона относительно центра 14, совпадающего с задним фокусом объектива 5 эталонной ветви. Эталонная деталь 8 установлена на столик 10 и расположена на оси пучка между объективом 9 и его фокусом в рабочей ветви, Плоскость зеркала 7 находится на пересечении осей рабочей и эталонной ветвей, Опора 13 помещена на основании 15.Интерферометр работает следующим образом.Перед началом контроля в столик 10 устанавливают детали 8 и 11 со сферическими выпуклыми поверхностями. Затем центры кривизны поверхностей совмещают с центром вращения столика 10 и задними фокусами объективов 9 и 5. Источник 1 монохроматического света и...