G01B 11/24 — для измерения контуров или кривых

Номер патента: 715932

Опубликовано: 15.02.1980

Авторы: Глухов, Кудрин, Лисин, Нетребко, Полухин

МПК: G01B 11/16, G01B 11/24, G01B 9/025 ...

Метки: голографической, интерферометрии, методом, объекта, перемещений, плоскости

...муаро.объекта, Выбирают два освещенных участка на алых полос, рассчитываемая по формуле, гдеголограмме так, чтобы прямая, соединяющая О а - измененное расстояние между освещенны их центры, была параллельна искомой компо- ми участками. В ряде задач механически доста.ненте перемещения, Восстанавливая действитель точно определить только одну компоненту перепое изображение объекта освещением голограм мещения.мы одновременно через оба участка, получают Таким образом, использование способа пози регистрируют картину, муаровыхполос. Затем 1 Б воляет рассчитывать каждую компоненту пере.для исследуемой точки объекта определяют по- мещения в плоскости объекта по одной картирядок муаровой полосы, которыйоднозначно не полос, а не по трем, как в...

Номер патента: 721672

Опубликовано: 15.03.1980

Авторы: Бейнарович, Ларионов, Лукин

МПК: G01B 11/24, G01B 9/021

Метки: выпуклых, голографический, оптических, поверхностей

...изготавливают ее нега 15 тивную копию, т,е. вогнутую поверхность. При изготовлении копии используют отвердевающую смолу, Между копией и оригиналом наносят разделительный слой из материала с высоким. коэффициентом отражения (например, слой меди), который при разделении копии и оригинала остается на вогнутой поверхности копии.При копировании дефекты, имеющие ся на выпуклой поверхности оригинала, подлежащего проверке, переносятся с обратным знаком на вогнутую поверхность копии, Затем поверхность негативной копии 2 освещают монохромати) ческим излучением от источника света 1, анализируют интерференционным или теневым методом отраженный от поверхности и трансформированный с помощью голограмма волновой Фронт. З 5При копировании...

Номер патента: 729440

Опубликовано: 25.04.1980

Авторы: Араев, Орлов

МПК: G01B 11/24

Метки: астрономических, асферических, бесконтактного, зеркал, крупногабаритных

...часть зондирующего светового пучка, несущегоиэображение марки, проходит черезнейтральный светофильтр 15, пентаприэму 16 и, отражаясь от поверхности ртутного жидкого зеркала 17,проходит в обратном направленииобъектив коллиматора 9, пентаприэму 5 и объектив 4. Далее она поступает в телескопическую систему 1, которая строит первое иэображение марки в плоскости шкалымикрометра 2, совпадающей с фокаль ной плоскостью телескопической системы 1.Для компенсации расхождения зондирующего пучка, часть которогонаправляется к ртутному зеркалу 17,светофильтру 15 придается расчетная оптическая сила, чтобы нартутное зеркало 17 падал и отражался от него параллельный пучоклучей.Другая часть. зондирующего светового пучка проходит светофильтр 11,...

Номер патента: 734502

Опубликовано: 15.05.1980

Авторы: Гусев, Потюхляев

МПК: G01B 11/24

Метки: неплоскостности

...чего угольники жестко соединены с металлическими трубками 14, 15, на концахкоторых запрессованы втулки 16, 17. Втулка 16 соединена с платой 18, которая с помощью пружин 19, 20, 21 и платы 22 подвешена к верхней крышке корпуса блока сустановленным на ней цилиндрическим уровнем 23. Втулка 17 соединена со штоком 24,опущенным в резервуар с демпфирующейжидкостью. Резервуар 25 установлен на нижней крышке блока, имеющей подъемные винты 26 и 27. Отсчетные узлы представляютсобой две тождественные каретки 28, 29, с экран-марками, выполненные в виде механической следящей системы на базе контактирующих с рельсом 30 роликов 31, 32.Основание каретки 33 закрепляется на концевой балке моста крана и включает в себя 26движок 34, направляющие 35, 36...

Номер патента: 739332

Опубликовано: 05.06.1980

Авторы: Андрющенко, Леденева

МПК: G01B 11/24

Метки: неровности, поверхности, фотоэлектрическое

...фотоприемники 2 и 3 расположены. напротив источника 1 света симметрично относительно его оптической оси таким образом, что эта оптичес,кая ось параллельна касательной к началу 20 перегиба транспортной ленты 8 на барабане 9.Устройство работает следующим образомеСветовой сигнал, поступаюшйй от источника 1 света на измерительный фото- приемник 2, модулируется по амплитуде количеством руды 10, находящейся на транспортере в зоне перегиба ленты 8.на барабане 9. Компенсационный фотоприемник: З 0 3 воспринимает световой поток источника 1 света без модуляции и обеспечивает автоматическую компенсацию измерения при изменении освещенности измерительного фотоприемника 2 от других внешних 35 источников света, Возникающая при наличии руды...

Номер патента: 741041

Опубликовано: 15.06.1980

Авторы: Кайнер, Ляховский

МПК: G01B 11/24, G01B 11/255, G01B 9/02 ...

Метки: интерферометр, криволинейных, майкельсона, поверхностей, типа

...саттестованной длиной.На фиг. 1 изображена оптическаясхема интерферометра типа Майкельсона для измерения криволинейных поверхностей; на фиг. 2 - то же, в процессеконтроля,Интерферометр содержит (фиг. 1)осветительную систему 1, светоделительный кубик 2 с зеркальной гранью3, образующей референтное зеркало,измерительную ветвь, включающую элемент, предназначенный для наложенияна измеряемую поверхность (фиг. 2)и выполненный в виде гибкого световода 4 с отражательным торцом 5; оптическую систему (окуляр 6), предназначенную для образования в плоскости иэображения интерференционной картины.Работает описываемый интерферометр следующим образом.5Гибкий световод 4 накладывается на измеряемую пов ерхнос ть 7 (фиг. 2) . Крепление световода 4 к...

Номер патента: 769320

Опубликовано: 07.10.1980

Автор: Кайнер

МПК: G01B 11/02, G01B 11/24, G01B 9/02 ...

Метки: интерференционный, криволинейными, линейных, объектов, оптически, поверхностями, прозрачных, размеров

...1 о)на известном расстоянии, причем коэффициент п 1 преломления жидкости выбирают отличающимся от коэффициента и, преломления материала измеряемого объекта на величину, достаточную для создания упомя,- нутой,разности хода. Эта величина определяется в каждом конкретном случае расчетным путем по известным зависимостямНаправление лучей обозначено на чертеже стрелками (вниз - от компаратора, вверх - к компаратору) .Измерение производится следующим образом.Получив в компараторе систему интерфврвнционных полос, определяют взаииное положение полос от лучей 1 О и лучей 1 ь По величине смещения полос определяют оптическую разность хода этих лучей, обусловленную тем, что один луч 1, проходит только через слой жидкости, а другой луч - через всю...

Номер патента: 769321

Опубликовано: 07.10.1980

Авторы: Бочкин, Захаров, Никифорова-Денисова

МПК: G01B 11/24, G01D 13/00

Метки: пластин, полупроводниковых, прогиба, фотоэлектрическое

...оправку 13, при этом пластина опирается на ребро лекальной линейки б, При наличии прогиба у контролируемой пластины между ее поверхностью и ребром ле,кальной линейки образуется щель. С генератора прямоугольного ,напряжения электронного блока 2 через регулировочные резисторы блока 1, соответствующий ключ излучающих диодов электронного блока 2 напряжение прямоугольной формы ультразвуковой частоты 1 поступает на один изизлучающих диодов.ВКаждый ключ по сигналу управления, поступающему с распределителя импульса электронного блока, последовательно подключает прямоугольное переменное напряжение с частотой к . соответствующему излучающему диоду 5. Каждый .из шести излучающих диодов. последовательно высвечивается - излучает поток,...

Номер патента: 777411

Опубликовано: 07.11.1980

Авторы: Голиков, Гурари, Сонин

МПК: G01B 11/24, G01B 9/021, G02B 27/28 ...

Метки: геометрических, зеркальных, оптических, параметров, элементов

...Иориентированы в плоскости пленки 12 поли мера перпенликулярно к плоскости поляризации поляризатора 2, а их наибольший ЗОразмер .(длина) Й находится в диапазоне0,1 ЗЛЙ -1,5 Л, где Л - длина, волны источника 1 когерентного излучения (лазера).Описываемое устройство работает следующим образом.35. Поток излучения от источника 1 когере 11 тного излучения преобразуется поляризатором 2 в поток линейно поляризованно, го йзлучения, который через светоделитель3, блок 4 освещения, рассеяватель8 и 40пластину 7, вынолненную из оптическиак "тивноговещества; подают на", отражательб,- на место которого в процессе измеренияустанавливают наследуемый зеркальныйоптический элемент. Отраженный " этйм. 45элементом- поток излучения через "йлас 1 ину7,...

Номер патента: 787892

Опубликовано: 15.12.1980

Авторы: Голиков, Прытков

МПК: G01B 11/24, G01B 9/021, G02B 27/28 ...

Метки: геометрических, зеркальных, оптических, параметров, элементов

...и другие элементы. В качестве регистратора 8 излучения используются фотопластинки, фототермопластинки и другие светочувствительныематериалы,Устройство работает следующим образом.Предварительно регулируют блок 4вращения плоскости поляризации так,чтобы он вращал плоскость поляризации источника 1 когерентного излучения на 90 . Поляризующий узел 9 ориОентируют таким образом, чтобы черезнего проходило только излучение,плоскость поляризации которого повернется на 90 О относительно плоскости. излучения.После, этого на регистраторе 8 излучения получают голограмму рассеивателя 7 с расположенными за ним отражателем б. Затем разворичивают отражатель б вокруг центра кривизныконтролируемой оптической поверхности и наблюдают через полученную...

Номер патента: 800627

Опубликовано: 30.01.1981

Авторы: Герловин, Филиппов

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: линз, поверхностишариковых, формы

...картина наблюдается с помощью окуляра б, Шариковая линза 7 помещается на опору, имеющую наклонную поворотную платформу 8 (фиг,2) с неподвижейными упорами 9, которые фиксируют положение центра шариковой линзы.Испытуемую шариковую линзу 7 помещают в лазерный интерферометр на опору, содержащую поворотную платформу 8 и упоры 9, определяющие положение шариковой линзы. Объектив 4 интерферометра фокусируют сначала на центр кривизны шариковой линзы, что наблюдается как стягивание в точку двух отраженных от шариковой линзыпучков, а затем приближают шариковую линзу к объективу 4, наблюдаяв окуляр б до тех пор, пока в плоскооти изображения не появится, интерференционная картина, содержащая2-5 колец, Затем поворотную платформу вращают,...

Номер патента: 802781

Опубликовано: 07.02.1981

Авторы: Блосфельд, Киваев, Элькинд

МПК: G01B 11/24, G02B 27/50

Метки: вогнутой, контурасечения, оптическихэлементов, поверхно-стью, прозрачных

...оси системы Формирования пучка.На чертеже представлена принципиальная схема предложенного уст-. ройства.Устройство состоит из источника 1 излучения, системы 2 Формирования пучка (конденсатора), резервуара 3 для иммерсионной жидкости, измеряемого оптического элемента 4, объектива 5 и экрана б регистрирующей системы.При измерении сечения оптический элемент 4 установлен в держатель, имеющий резервуар 3 для иммерсионной жидкости. Резервуар 3 выполнен ,иэ прозрачного материала и имеет две плоские и параллельные друг лру гу полированные грани.802781 формула изобретения Составитель А, Ванторинктор Т. Загребельная Тех е А Ач Ко екто С. Лекма твенного комитета ССС обретений и открытий Ж"35 Рй ская наб. акаэ 10600/53 ВНИИПИ Госуда по делам...

Номер патента: 847024

Опубликовано: 15.07.1981

Авторы: Власенко, Иванов, Овсиенко

МПК: G01B 11/24

Метки: криволинейных, по-верхностей

...поглощающих и зеркально отражающих поверхностей, обусловленная тем, что на них не образуется резко очерченного светового пятна.Цель изобретения - контроль Форьы поверхности раздела разноплотных сред.Указанная цель достигается тем, что в одну из сред вводят мелкодисперсные частицы.Сущность способа заключается в том, что, благодаря введению в одну из сред мелкодисперсных частиц, происходит визуализация поверхности раздела сред, Форма которой подлежит контролю. Способ осуществляется следующим образом.Сфокусированные лазерные пучки направляют под определенным углом на контролируемую поверхность. Угол межцу пучками и расстояние источника света от контролируемой поверхности847024 формула изобретения Составитель В.Рыков Редактор Т.Парфенова...

Номер патента: 847026

Опубликовано: 15.07.1981

Авторы: Голиков, Гурари, Прытков

МПК: G01B 11/24, G01B 11/255, G01B 9/021 ...

Метки: геометрическихпараметров, зеркальных, оптическихэлементов

...фокусного расстояния отражателя 5,причемрасстояние Ь от прямолинейного краяА рассеивателя б до оптической осиотражателя 5 меньше половины диаметра 0 отражателя 5. Регистратор 7 излучения расположен таким образом, чтоплоскость, проходящая через центррегистратора 7 излучения и прямолииейный край А рассеивателя б, составляет с этим рассеивателем угол с 6, величина которого находится в диапазонеот Ф/2 до .Устройство работает следующим 20образом.Поток излучения от источника 1кегерентного излучения через светоделитель 2, блок 4 освещения и рассеиватель б падают на отражатель 5, на рместо которого в процессе измеренияустанавливают исследуемый зеркальныйоптический элемент. Отраженный зеркальными элементом поток поступаетна регистратор б...

Номер патента: 853380

Опубликовано: 07.08.1981

Автор: Литвиненко

МПК: G01B 11/24

Метки: измененийформы, объектов

...светового луча непосредственно за узлом фиксации изображенияобъекта.На чертеже представлена схема устройства для контроля изменений формыобъектов.устройство содержит источник 1 света (лазер) и последовательно расположенные по ходу светового луча рас- р 5ширитель 2 пучка, узел Фиксации в виде фотографической пластинки 3 и диффузный рассеиватель 4.Устройство работает следующимобразом.ЗОЛуч света от источника света (лазера), расширенный с помощью расширителя 2 пучка, освещает контролируемыйобъект 5, Рассеянный контролируемымобъектом свет проходит через фотогра- З 5фнческую пластинку 3 и , отразившисьот диффузного рассеивателя, вновьпопадает на фотографическую пластинкус противоположной стороны.Контролируемый объект, рассеиваяпосылаейый на...

Номер патента: 868345

Опубликовано: 30.09.1981

Автор: Маслов

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: двухлучевой, интерферометр, поверхности, формы

...выходящий из коллиматора 2, падает на одну иэ поверхностей оптического светоделительного элемента 3 (призмы), проходит до эталонной поверхности 4, где разделяется на два волновых фронта, один из которых (опорный) отражается от эталонной поверхности 4, а второй (рабочий) проходит через линейчатую структуру растра 5,и достигает конролируемой поверхности 8, Лучи, формирующие эталонный волновой фронт (опорные), отражаются от поверхности 4 без усиления или ослабления на линейной структуре растра 5. Из прошедших лучей (рабочих) до контролируемой поверхности 8 доходят лишь те, которые приходятся на светлые промежутки между полосами растра. Отразившись от контролируемой поверхности, рабочие лучи отражаются в воздушном промежутке между...

Номер патента: 875209

Опубликовано: 23.10.1981

Авторы: Варнавский, Голод, Любомудров, Модель, Скворцов, Сойту, Трегуб

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: интерферометр, неплоскостности, непрямолинейности, поверхностей

...референтного световых лучей, выполненного в виде оптического клина.Часть. светового луча отражается от передней поверхности оптического клина и, образуя информационный световой луч, направляетея под углом о на конт- ролируемую поверхность 9, Другая часть светового луча проходит в оптический клин, отражается от его задней поверхности, выходит из оптического клина и, образуя референт ный световой луч, направляется параллельно контролируемой поверхности на отражатель б информационного и рефе" рентного световых лучей, выполненного в виде оптического клина. Отразив.шись от передней поверхности этогооптического клина референтный световой луч направляется в строго обратном направлении в формирователь 5 ,информационного и референтного световых...

Номер патента: 896399

Опубликовано: 07.01.1982

Автор: Солдатов

МПК: G01B 11/24, G02B 5/04

Метки: непрямолинейности, фотоэлектрическое

...к усилителям 10.Зеркало 4 расположено под углом 45к оси падаюшего на него пучка лучейнад входной гранью пентапризмы,Материал полупрозрачного покрытияпрямоугольной призмы выбран со спектральной полосой отражения, не совпадаю щей со спектральной полосой пропусканияматериала призмы Шмидта. Вместо полупрозрачного покрытия можно использо 35вать зеркальное покрытие, нанесенноекольцами ипи полосами на гипотенузнуюгрань и занимающее половину ее плоша 99 4ди. Полоса пропускания каждого из избирательных светофильтров 8 согласованасо спектральным составом соответствующего зеркально-симметричного пучка лучейот пентапризмы 5. Толщины светофильтров 8 выбираются из условияравенствасигналов с обоих приемников 9 излучения. Вместо пентапризмы 5...

Номер патента: 911143

Опубликовано: 07.03.1982

Авторы: Зверев, Орлов

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: интерферометр, плоских, поверхностей, формы, шлифованных

...из него пучка лучей принимает значение, равное интенсивности зеркальной составляющей (изменение ин-, тенсивности происходит эа счет изменения коэффициентов отражения зеркал отражателя 5, обусловленного изменением углов падения на них пуч ка лучей при повороте отражателя 5).Предлагаемое устройство позволяет также оценить и среднюю высоту микронеровностей 1 Ср контролируемой 20 поверхности 9. Для этого пучок лучей, поступающий в отражатель 5, перекрывают непрозрачным экраном (экран показан пунктиром), а платФорму 7 поворачивают в положение,при 25 котором интенсивность. зеркальной составляющей близка к нуле, Затем измеряют угол 1 о падения пучка лучей на контролируемую поверхность 9, а величину средней высоты иикронеров ностей Ьср...

Номер патента: 911144

Опубликовано: 07.03.1982

Авторы: Вячин, Мамонов, Шандин

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: выпуклых, интерферометр, поверхностей, сферических, формы

...его лучей осветительную систему 2, све тоделитель 3, выпукло-вогнутую менисковую линзу 4 и регистратор 5 интерференционной картины, Регистратор 5 оптически сопрягается через свето- делитель 3 с контролируемой поверх з ностью 6, ориентируемой концентрично вогнутой поверхности менисковой линзы 4.Менисковая линза 4 выполнена положительной, а на обе ее поверхности нанесено светоделительное покрытие.Интерферометр работает следующимобразом.Источнйк 1 и осветительная система 2 формируют сферический волновой фронт, который проходит светоделитель 3, преломляется выпуклой поверх. ностью менисковой линзы 4, последовательно отражается от светоделитель- ных, нанесенных на ее вогнутую и выпуклую поверхности, и распространяется по нормалям к...

Номер патента: 911150

Опубликовано: 07.03.1982

Авторы: Горшков, Пуряев

МПК: G01B 11/24

Метки: автоколлимационный, асферических, вогнутых, крупногабаритных, оптических, поверхностей, формы

...поверхности Э. При выполнении этого условия указанный пу" 10 чок лучей отражается от выпуклого зеркала, вновь направляется на контролируемую поверхность Э и далее в автоколлиматор . При .перемещении зеркального блока 2 в направлении 15 оптической оси автоколпиматора 1 изображение его диафрагмы в поле зрения не смещается с оптической оси в том случае, если отсутствует ошибка формы поверхности. В противном слу чае автоколлимационный ход лучей нарушается и изображение диафрагмы смещается в поле зрения , а это смещение измеряют отсчетным устройством автоколлиматора 1, например. 2 винтовым окулярным микрометром, и оп ределяют затем ошибки изготовления поверхности.При перемещении зеркального блока 2 поворачивают отражающий эле- З 0 мент...

Номер патента: 935704

Опубликовано: 15.06.1982

Авторы: Горшков, Кряхтунов, Лозбенев, Пуряев, Фомин

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: интерферометре, крупногабаритных, лазерном, неравноплечем, оптических, поверхности, формы

...покрытие), нанесенной на одну из поверхностей линз корректора (вид А наФиг. 1); на фиг. 3 , 4, 5 - изменение величины локальной деформацииволнового фронта при прохождении имрабочей ветви установки, схема которой приведена на фиг. 1,Способ реализуется следующимобразом.Создают от лазерного источникасвета с помощью оптических элемен"тов 2 интерферометра опорный (нафиг, 1 не показан)и сферическийволновой фронт 3, Преобразуют последний с помощью корректора 4 волновогофронта в асферический волновой фронт 5,форма которого, совпадает с теоретической формой контролируемой поверхности 6. При прохождении волнового фронта через оптическую систему корректора 4 его локально деформируют с помощью оптической фазовой неоднородности 7,...

Номер патента: 974114

Опубликовано: 15.11.1982

Авторы: Вишняков, Зюзин, Кирсанов, Кошкин, Морданов, Николаенко, Чагин

МПК: B07C 5/02, B07C 5/10, G01B 11/24 ...

Метки: выдачи, ориентированной

...и мех браковки изделия, а осве системы обоих блоков рас по одну сторону от контр изделия.На чертеже представлена схема ройства.Устройст ачи деталей содержит дваРующих блока, включающих оные системы в виде двух ос1,2 и двух конденсоров 3,4, ррирующие системы в виде шаблона 5негатива и шаблона б позитива, двухобъектов 7,8 и двух фотодатчиков9 и 10, дв ханиэмов 11 и 12 разбраковки и я и контролируемое иэделие 13Устройство работает следующим образом.Контролируемет на позицию кток от двух освчерез два конде и З 0 руемое изделие974114 Формула изобретения филиал ППП "Патент г.ужгород, ул.Прое ая,6, Происходит сравнение контролируемого изделия 13 сначала с шаблоном,в результате чего часть светового потока проходит через щели,...

Номер патента: 974115

Опубликовано: 15.11.1982

Авторы: Лещев, Никифоров

МПК: G01B 11/24, G01B 9/08

Метки: линз, цилиндрических

...производительности и удобства контроля;Поставленная цель достигается тем,15что в устройстве для контроля цилиндрических линз, содержащем основание,стойку, установленную на основаниии автоколлиматор, установленный настойке и состоящий из последователь Оно расположенных объектива, призмы иокулярной части, окулярная часть выполнена в виде координатного столика, несущего угломерную окулярнуюголовку, оптическая ось которой параллельна визирной оси автоколлиматора.На фиг. 1 изображена принципиальная схема устройства для контроля цилиндрических линз на фиг, 2 - ко- Зрординатный,столйк.Устройство содержит основание 1,стойку 2, установленную на основании1, автоколлиматор, состоящий из последовательно расположенных объектива 3, призмы 4,...

Номер патента: 974116

Опубликовано: 15.11.1982

Авторы: Близнюк, Штандель

МПК: G01B 11/24

Метки: аберраций, величины, вогнутых, зональных, параболоидных, поверхностей

...микроскоп 7 иливидеоконтрольный блок 8 и проекционный объектив 9. Подвижный конец ВОЭзакреплен на поворотной оправе б таким образом, что плоскость его прием ного торца совмещена с осью вращенияповоротной оправы б. Пентаприэма 3связана через механизм 10, например,кулачковый, с поворотной оправой б,Угол 9 поворота поворотной оправы б сВОЭ и координата у перемещения пентапризмы 3 связаны между собой соотношениемЧ1 Р - = ргде Г - паРаметр образующей параболы контролируемого изделияотражателя(Р=2 Х, где- фокусное расстояние в мм.).В устройство входит также приспособление 11 для установки и юстировки контролируемого изделия 12. 55Устройство рабоает следующим образом.Контролируемое изделие 12 устанавливают на приспособление 11 для установки...

Номер патента: 974117

Опубликовано: 15.11.1982

Авторы: Голиков, Гурари, Прытков

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02, G02B 27/28 ...

Метки: оптических, поверхностей

...4 и 9 - параллельны.При такой ориентировке поляроидовчерез одно из отверстий диаФрагмыбв котором установлены поляроид7 и блок 8 вращения плоскости поляризации ) проходит только свет, отразившийся от рассеивателя 3, а свет,отраженный поверхностью детали 11,гасится. В то же время, через второеотверстие диафрагмы 6 проходит свет, 15отраженный как рассеивателем 3, таки деталью 11,Затем записывают на пространственном модуляторе 10 излучения голограмму контролируемой детали 11 в ее исходном положении. При записи голограммы опорным пучком является свет,прошедший через поляроид 7 и блок 8вращения плоскости поляризации, апредметным пучком - свет, прошедший 25через поляроид 9.После записи голограммы перемещаютдеталь 11 так, чтобы центр...

Номер патента: 977942

Опубликовано: 30.11.1982

Авторы: Горшков, Лавритов, Пуряев, Фомин

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: выпуклых, интерферометр, крупногабаритных, линз, поверхностей, сферических, формы

...объектив 6, компенсатор 7, основную иммерсионную линзу 8, образованнуюжндкоетью,заполняющей простран Иство между контролируемой линзой 9 н ком-пенсатором 7,и эталонное сферическое зер. кало 10, дополнительную иммерсионную линзу 11, установленную между светоотделительным элементом 4 и компенсатором з . 7 и образованную жидкостью с показателем преломления; отличным от показателя преломления основной иммерсионной линзы 8,линзу 12 и иммерсионную камеру 13, Контролируемая линза 9 устанавливается ) 55 в верхней части иммерсионной камеры 13 таким образом, что ее контролируемая поверхность К концентрична эталонной поверхности Э эталонного сферического, зеркала 10, Линза 3.2 установлена в нижней час 40 ти имерсионной камеры 13 и в месте с...

Номер патента: 977946

Опубликовано: 30.11.1982

Авторы: Бакеркин, Кондратов, Кореньков

МПК: G01B 11/24, G02B 27/54

Метки: автоколлимационное, оптических, поверхностей, теневое, формы

...одинаковые размеры и конфигурацию,рабочего сечения и представляют со бой, негативные отображения друг друга.Кроме того одна иэ диафрагм выполнена в виде непрозрачного шарика, а другая - в виде экрана с круглым отверстием, представляющим собой рабочее сече Онйе диаметр которого равен диаметру шарика.На фиг. 1 изображена принципиальнаясхема автоколлимационного теневого уст-,ройства для контроля формы поверхностейоптических деталей; на фиг. 2-5 - варианты выполнения диафрагм,Устройство содержит осветитель 1 ипоследовательно расположенную по ходуаветовых лучей задающую диафрагму 2, уополупрозрачную пластину 3, анализирующую диафрагму 4 и регистрирующий блок5, обрабатывающий теневую картину отповерхности. контролируемой...

Номер патента: 983454

Опубликовано: 23.12.1982

Автор: Седельников

МПК: G01B 11/02, G01B 11/24

Метки: объектов, размеров, формы

...причемсуммарное время контроля, его трудой )О емкость и стоимость будут меньшимипо сравнению с известными методами,К числу дополнительных преимуществможно отнести и то, что по сравнению с известными интерференционны 5 ми, где результат регистрируемой интерференции происходит в пространстве, здесь требуются меньшие объемыдля аппаратуры, так как наблюдаемаяинтерференция происходит в точке,соответствующей расположению приемной антенны. Последнее обстоятельство может быть особенно полезным приконтроле крупногабаритных деталейили объектов с ограниченным доступом. формула изобретения ВНИИ Заказ 9890/46 Тираж 614 Подписн Филиал ППП "Патент",г. Ужгород, ул.Проектная,4 спектры сигналов, отраженных от контролируемого и эталонного объектов,На...

Номер патента: 987378

Опубликовано: 07.01.1983

Автор: Комраков

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: интерферометр, оптических, поверхностей, формы

...(фиг, 3), отражающая поверхность зеркала 5 вогнутая сферическая, при контроле выпуклой гиперболической 50 поверхности (фиг. 2).Интерферометр работает следующим образом.Излучение лазера 1 проходит микро- объектив 2, светоделитель 3 и фокусируется объективом 4 в точку на поверхности со светоделительным покрытием центральной эоны зеркала 5. Часть излучения отражается светоделительным покрытием зеркала 5 в обратном направлении и представляет собой волновой фронт сравнения. Другая часть проходит светоделительное покрытие, отражается от контролируемой поверхности 7 и падает на зеркало 5 по нормалям к его отражающей поверхности. Отражающая поверхностьзеркала 5 возвращает излучение вновьна контролируемую поверхность 7, после отраженич...