G01B 11/24 — для измерения контуров или кривых

Номер патента: 1551991

Опубликовано: 23.03.1990

Автор: Вирник

МПК: G01B 11/24

Метки: криволинейной, поверхности, профиля

...за счет удаления светоделителя. Излучение от источника излучения пос- тупает в сканатор, который осуществляет перемещение излучения, Далее злучение попадает на входной торец призмы Дове, где делится на два пуч- ка. Один из них идет на объект. с исследуемой поверхностью, отражается от нее, проходит объектив и попадает на фотоприемник, Туда же попадает и второй пучок, 1 ил тив 4. На чертеже изображен ос исследуемой поверхностью.Устройство работает следующи Коллимированное излучение источни ка 1 излучения поступает в сканатор 2, который осущетсвляет параллельное перемещение излучения в плоскости сканирования. Далее излучение попадает на входной торец призмы 3 Дове, где делится на два пучка. Оди из пучков идет на объект 6 с...

Номер патента: 1562687

Опубликовано: 07.05.1990

Автор: Клева

МПК: G01B 11/24, G01B 9/025, G02B 27/52 ...

Метки: объекта, поверхности, формы

...схема, реализующая способ определения формы поверхности. Схема содержит кювету 1 с плоской стеклянной стенкой 2, помещенные в кювету 1 исследуемый объект 3 и контрольный объект 4, светоделитель 5, формирующий из коллимированного пучка 6 копучки, зеркалои фотоаппарат 9ерферограммы.об осуществляется следующимметодом двух экспозиций, заполняя кювету перед первой и второй экспозициями жидкостями с различным коэффициентом преломления. 511 осле фотохимической обработки фотопластинку 8 с записанным голографическим изображением устанавливают на прежнее место в оптической схеме, убирают светоделитель 5 и Фотоаппара том 9 регистрируют интерферограмму одовременно для поверхностей исследуеМого 3 и контрольного 4 объектов. ПоЛучают фотографию...

Номер патента: 1566207

Опубликовано: 23.05.1990

Авторы: Пуряев, Турчков

МПК: G01B 11/24

Метки: асферических, оптических, поверхностей

...плоскости контролируемого профиля 2.Способ осуществляется следующим образом,,Устанавливают контактирующий элемент 1 с отражающей полированной гшоской поверхностью с возможностью поворота вокруг оси О, и перемещения поконтролируемому профилю 2 при постоянном с ним контакте, посылают на отра"жаюптую поверхность контактирующегоэлементасветовой пучок. Отражевньй1566207 Сост авит ель В, Ко стюченк оРедактор Н,Бобкова Техред Л. Олийнык ктор М, Мак сими Заказ 1215 Подпис Тираж 4 Н о изобретениям и открытиям при ГКНТ ССС35, Раушская наб., д. 4/5 Государственного комитет113035, Москва,оизводственно-издательский комбинат Патент", г.ужгород, ул. Гагарина пучок принимают автоколлиматором 3, имеющим ось О поворота, параллельную оси 01...

Номер патента: 1569640

Опубликовано: 07.06.1990

Авторы: Близнюк, Немтинов, Штандель, Щерба

МПК: G01B 11/24, G02B 27/28

Метки: оптических, формы, элементов

...пространственно-временного сигнала в электрический временъ МОД ной сигнал (фототок) на частоте Ч так, что(й) сс сов (2 и 1+Ь),где Ес = Я, - Ч" .Измерение разности фаз осуществляется фазовым детектором 12, на один вход которбго поступает опорный гар МОД монический сигнал с частотой 1и фазой и с задающего генератора 13,.тоа на другой - входной сигнал д(С), снимаемый с приемника 10 излучения. Фазовый детектор 12 вырабатывает напряжение, величина которого пропорциональна разности фаз Ьч -сравниваемых электрических сигналов.Фо рмула изобретения11. Способ контроля формы оптических элементов, заключающийся в том, что формируют два световых пучка, про модулированных по фазе с разными временными частотамии 1, один из2 которых направляют на...

Номер патента: 1573342

Опубликовано: 23.06.1990

Авторы: Пимшин, Хорошилов, Хорошилова

МПК: G01B 11/24, G02B 5/04

Метки: прямолинейности

...3 совмещены в одном блоке.Устройство работает следующим образом.Передающая станция размещается на начальной точке створа 8, где .центрируется с.помощью центровочного шарика, приводится в рабочее положе-, ние и ориентируется на конечный пункт створа 9, где размещается регистратор 7, Луч от лазерного излучателя 1 проходит через коллиматор 2 и попа" дает на оптическую систему из прямоугольных призм 4"6. При этом одна часть световых лучей, отражаясь от зеркальной диагонали нижней призмы 5, выходит .перпендикулярно падающему лучу и направляется на поворотную зонную марку 3. Другая часть световых лучей падает на прямоугольную призму 6, проходит .через нее, попадает с обратной стороны на зеркальную диагональ прямоугольной призмы 4 и,...

Номер патента: 1373083

Опубликовано: 30.06.1990

Авторы: Баранова, Савинов, Чарский, Шматок

МПК: G01B 11/24

Метки: кривизны, стержневых, твэлов, фотоэлектрическое

...ную базу 4, диафрагму 5, объектив 6, и Фотоприемник 7 излучения, электронный блок 8, корректирующий узел Фотоприемник 9 и шаговый транспортер 1 О с подвижными гребенками 11.Пиафрагма 5 выполнена в виде диска с эталонной щелью 12 по форме эталона-калибра и с отверстием 13 для35 коррекции контроля.Работает устройство следующим образом.1Твэл 14 с помощью подвижных гребенокшагового транспортера 10 40 кладут на установочную базу 4, которая представляет собой калиброванную треугольную призму, по длине равную длине твэла 14 с прямоугольным пазом при вершине, который использует ся для освещения фотоприемника 9. Параллельный поток света от лазера 1 модулируется по амплитуде модулятором 2 и расширяется коллиматором 3 так, что диаметр...

Номер патента: 1581999

Опубликовано: 30.07.1990

Авторы: Бархударов, Лорецян

МПК: G01B 11/24, G02B 27/62, H01Q 15/16 ...

Метки: антенны, составной, сферической, юстировки

...которое.конденсатор потерял при подключениик металлическому шарику 7. Это напряжение пропорционально заряду, перетекшему из конденсатора 1 к шарику7, в то же время заряд распределяет,ся по поверхности шарика, следовательно, чем больше площадь поверхности шарика 7, тем больший заряд. он накапливает, тем меньше остаточное,напряжение на конденсаторе 1,Если; с помощью эталонных шариков, укоторых площадь поверхности известна, проградуировать вольтметр в единицах площади, то он будет показывать непосредственно площадь поверхности измеряемых объектов,Предлагаемым способом можно изме,рить также площадь поверхности тел,имеющих сложную форму, Измереннаяпри этом площадь является эффективной площадью, которую необходимознать при гальванообработке,...

Номер патента: 1586667

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Карагезян, Комиссаров, Налетов

МПК: A43D 1/02, G01B 11/24

Метки: бесконтактного, голени, поверхности, стопы

...27 только при прохождении освещенных участков изображения. В момент действия сигнала О Э ВМ производит запись текущего состояния счетчика сигнала А, После считывания изображения в памяти ЭВМ остаются значения чисел счетчика сигнала А или иначе говоря адреса освещенных элементов матрицы 21, Эти адреса освещенных элементов обозначим и, гп, где- индекс освещенных элементов.После завершения действия сигнала А ЭВМ вырабатывает сигналг, и процедура полностью повторяется для другой стороны поверхности стопы, Следующий сигнал Ез сопровождается изменением программы работы ЭВМ, Это изменение состоит в действии сигнала О. Для каждой строки изображения сравнивают текущий сигнал О с его предыдущим значением и регистрацию содержимого счетчика адреса...

Номер патента: 1589045

Опубликовано: 30.08.1990

Авторы: Калбазов, Калбазова

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: плоскостности, прозрачных

...источника 1 излучения направляют зеркалом 2 на объектив 3. Пройдя оптический клин 7, излучение попадает на объектив 4 колпиматора, затем на клиновидную пластину 5 и контролируемую деталь 9. Излучение, отражаемое от контролируемой детали 9 и эталонной 25 30 35 40 45 50 оптический клин, отклоняется от он тической оси и совершает круговое движение на экране 6. В результате чего параэитные интерфереиционные картины и участки с неравномерностью освещения, связанные с дифракцией когерентного излучения, на неизбежных загрязнениях оптических элементов, получают круговое перемещение .в плоскости экрана и при вращении клина с частотой более 24 Гц раэепгваются и становятся невидимыми, а исследуемая интерференционная картина остается при этом...

Номер патента: 1608425

Опубликовано: 23.11.1990

Авторы: Бирман, Гроссман, Седельников

МПК: G01B 11/24, G02B 27/28

Метки: бесконтактного, профиля

...7 и 8,объективы 9 и 10, диафрагмы 11 и 12и попадают на фотоприемники 13 и 14,Поляризационные фильтры 7 и 8 установлены так, чтобы пропускать лучи,поляризованные во взаимно перпендикулярных направлениях.Зависимость сигналов с фотоприемников. 13 и 14 от У-координаты поверхности при закрытой диафрагме 15 представлена на фиг. 2 а. Нулевой уровеньсигнала на выходе блока 19 сравнениясоответствует нахождению измеряемойдетали 5 в фокальной плоскости объектива 3. На фиг. 2 б представлена зависимость сигнала на выходе блока 19сравнения от координаты У поверхностидетали 5. Устанавливая координаты Хи Е и перемещая деталь 5 в направлении оси У, добиваются равенства нулюсигнала на выходе блока 19 сравненияи, таким образом, грубо...

Номер патента: 1612207

Опубликовано: 07.12.1990

Авторы: Боборыкин, Васильченко, Кирьяков, Колов, Левицкий, Павлов, Проскурин

МПК: G01B 11/24

Метки: контуров, криволинейных, крупногабаритных, наружных, объектов, поверхностей

Номер патента: 1613853

Опубликовано: 15.12.1990

Авторы: Дроздов, Пуряев

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02, G02B 17/08 ...

Метки: астрономических, волнового, зеркал, компенсации, поверхности, формы, фронта

...лучи создают волновой Фронт, несущий информацию о погрешности. контролируемой поверхности зеркала,.и .на выходе из компенсатора попадают в анализатор волнового Фронта, например интерферометр (не показан),. На основании анализа выходящего из компенсатора еолнового фронта делают вывод о качестве изготовления контролируемой 25 поверхности зеркала. При настройке компенсатора на контроль асферического зеркала с заданными параметрами необходимо перемещением менисков 3 и 4 друг относительно друга и неподвижно установленной двояковыпуклой линзы установить расчетные значения воздушных промежутков С ии совместить изображение источника света с точкой СПо схемах, изображенным на фиг. 2 и 3, способ осуществляют следующимобразом.Источник 1 света...

Номер патента: 1619020

Опубликовано: 07.01.1991

Авторы: Боборыкин, Васильченко, Кощеев, Левицкий, Проскурин

МПК: G01B 11/24

Метки: профиля, сечений

...при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул, Гагарина, 101 Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в авиа- и судостроении.Цель изобретения - повышение точности контроля и обеспечение воэможности 5 контроля протяженных объектов.На чертеже изображена схема реализации способа контроля профилей сечений,Для контролируемого объекта 1 формируют секущую плоскость 2, в которой 10 производят контроль профиля сечения, В плоскости 2 на кривой пересечения с поверхностью контролируемого объекта 1 наносят реперные точкичислом не менее трех и измеряют расстояние Х между ними. Да лее выбирают произвольным образом точку 3, лежащую вне контура...

Номер патента: 1626083

Опубликовано: 07.02.1991

Авторы: Немченок, Полонин, Савилова

МПК: G01B 11/24, G01B 9/021

Метки: пластин, формы

...регистратора голограммы, Наложение объектного и опорного пучков создает интерференционное поле в плоскостирегистратора 9. Запись этого поля представляет собой голограмму эталонной плоскости. Затем вместо эталонной пластинына игольчатые опоры 13 помещается контролируемая пластина, Восстановленное опорным пучком изображение эталонной плоскости накладывается на освещенную поверхность пластины, в результате чего происходит интерференционное сравнение контролируемой пластины с эталонной плоскостью - наблюдается интерференционная картина в режиме реального времени, Если зарегистрировать отраженное от пластины излучение, то будет записана двухэкспозиционная голограмма. Длянепосредственного визуального наблюдения интерференционной...

Номер патента: 1627828

Опубликовано: 15.02.1991

Автор: Степин

МПК: G01B 11/24

Метки: вращения, поверхности, формы

...Оси поворота бязировочцо- ГО СТОЛха С ВЛЗМЛЖЦОСтЬЮ СМЕЩЕНИЯвдоль оси егл си;метрии, измерительный няклцешик 3, выплгсненцый сферичесюм и скреплеццый сл штоком 2, измеритеп:, 4 11 еремегения, скрепленный со птока. 2.Способ осугествляют следующим образом.Контролируемую деталь 5 устанавливают ця бязирлвлчный столик так, чтобы центр кривизны сферической контролируемои детали 5 или Оптическая ось, если контролируемая деталь 5 ясферическая, совпадали с осью поворота базирлвлчнлго столика, ПРИ ЭТ ОМ КСсЦТРЛ.Ь ЦЕНТРИРОВаЦИЛпроводят с 1 сзмлцеэю явтлкОллпмя 1 И 111 н ногс. микроскопа 1. Зягем вводят вконтакт с поверхностью контрочируемой детали 5 измерительный наконечник 3 и снимают отсчет по измерителю 4 перемещения. После легл базировочцый...

Номер патента: 1627829

Опубликовано: 15.02.1991

Авторы: Феоктистов, Хуснутдинов

МПК: G01B 11/24

Метки: асферических, второго, интерферометр, поверхностей, порядка

...Световой размер лвтоколлимлционного зеркала мажет быть огрлтнтчен в осевомнаправлении (показано пунктиром нафт;г.2 и 3) по ходу луча от наружнойсветовой зотттт контролируемой летали. 30ИнтерАер(.тетр работает следуоттобразо;т,Пу тт;тт,:учей (стятг. 1) источника 1монохромлтического излучения собираются конценсорот 2 на дилАрагме 3,проходят через светоделитель 4 и объектив 5, Параллельные пучки частично отражаются светоделителем 6 ичастично проходят его. Частично отражающая поверхность светоделителя 6 40является эталонной плоскостью, Аормттруюгтетт опорный пучок лучей интерферомтра. При контроле эллипсоидовпучки, частттчно прошедшие светоделитель 6, попадают в объектив 7, и 45пройдя длльтттттт Аокус Б, после отражения от элпипсоида...

Номер патента: 1629749

Опубликовано: 23.02.1991

Авторы: Рачковский, Рубанов, Танин

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: поверхности, рельефа

...среду для освещения объекта;да - сдвиг фазы;г - расстояние от поверхности резонансной среды до точки объекта;. пи 1, ки - действительная и мнимая части комплексного показателя преломления.Ффереционной кар ьтате интерфе(4) Таким образом, койтраст Р связан с абсолютным рельефом поверхности. Соответственно, расстояние между интерференционными полосами указывает на относительную ра 3 ность между точками поверхности объекта, а контраст этих полос характеризует абсолютную удаленность соответствующих точек объекта от границы раздела поглощающая среда - окружающая среда. Составитель В.БахтинТехред М,Моргентал Корректор М.Шароши Редактор Н,Бобкова Заказ 431 Тираж 387 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям...

Номер патента: 1640540

Опубликовано: 07.04.1991

Авторы: Андреев, Михайлов, Морозов

МПК: G01B 11/24

Метки: излучения, площадок, приемников, размеров, чувствительных

...модулятора изображение чувствительной площадки попадает на зеркальный сектор 5 модулятора, дополнительно на чувствительную площадку направляется излучение самой чувствительной площадки, автоколлимированное с помощью зеркального модулятора.В связи с тем, что температура стекла модулятора определяется температурой окружающей среды, а температура чувствительной площадки приемника температурой хладагента, на чувствительную площадку приемника от зеркального сектора 5 модулятора падает поток, во много разменьше, чем от сектора 6 беэ зеркального покрытия, 8 результате этого на выходе приемника 3 создается переменный сигнал с частотой, пропорциональной скорости вращения диска модулятора и количеству секторов. 8 том случае, когда угловой...

Номер патента: 1645809

Опубликовано: 30.04.1991

Автор: Гусев

МПК: G01B 11/24, G01B 9/04

Метки: качества, линз, объективов

...оптической оси на вели, чины, удовлетворяющие соотношениюа = -Ь, где а - величина сдвина матовогостекла 8; Ь - величины сдвиГа узла 10 крепления контролируемого объекта, После проявления и закрепления фотопластинки 12восстанавливают голограмму и с помощью обьектива 14 с апертурной диафрагмой 13, установленных на расстоянии11 = 1 г. От голог 9 аммы, ст 9 оят изо11бражение зрачка контролируемогообъектав плоскости регистратора интерферограммы 15 и регистрируют интерферограммусдвига при проведении пространственнойфильтрации с помощью апертурной диафрагмы 13, по которой осуществляют контроль качества исследуемого объекта,По сравнению с прототипом предлагаемый способ позволяет повысить чувствительность контроля. Так как...

Номер патента: 1647215

Опубликовано: 07.05.1991

Автор: Гусев

МПК: G01B 11/24, G01B 9/021

Метки: интерферограммы, плоскостности, прозрачных

...изображение пердней грани контролируемого обьекта 3плоскости фотопластинки 6.Способ осуществляют следующим обрВ сигнальном канале диффузноянного когерентного излучения из бпропускают через контронтролиробьект 3 и с помощью обьектива 5 напластинке 6 с использованием оппучка, поступающего на нее из блокаписывают одновременно голограммуЗаказ 1645 Тираж 396 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035. Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент". г. Ужгород, ул.Гагарина, 101 сированного изображения передней грани контролируемого объекта 3 и голограмму Фурье его задней грани. Перед записью второй экспозиции с помощью механизма 4 сдвига и поворота осуществляют...

Номер патента: 1649260

Опубликовано: 15.05.1991

Авторы: Курибко, Селезнев

МПК: G01B 11/24

Метки: асферических, вращения, второго, оптических, поверхностей, порядка

...на фигурах имеютсяФ У%обозначения; Мь, 11Иволновые Фронты пучков, соответст венно однократно отраженного от поверхности 7, отраженного от отражателя 8 с инвертированием,. двукратпоотраженного от поверхности 7 с инвертированием перед повторным отражением.Контроль оптических поверхностейосуществляют следующим образом,С помощьв источника 1 монохроматн"ческого излучения, осветительной системы 2 и сменного объектива 5 освещают сквозь эталонную поверхность б контролируемую поверхность 7 гомоцен- трическим монохроматическим пучком излучения с Фронтом Ч с центром кривизны в точке . 1, которув совмещают с геометрическим Фокусом Р контролируемой поверхности 7 взаимными перемещениями и наклонами устройства к поверхности 7. 11 ри этом получают...

Номер патента: 1649261

Опубликовано: 15.05.1991

Авторы: Никитин, Пимшин, Хорошилов

МПК: G01B 11/24

Метки: отклонений, прямолинейности

...экрана наблюдательного микроскопа 2, каждая часть луча отклоняетсяот оптической оси на величину 2 Ь,а взаимное отклонение частей луча равно 4 Ь. 2 ил. во также содержит марку, выполненную иэ двух зеркал 11 и 12, установленных под углом 90 друг к другу, котоорые могут при помощи микровинта 3 перемещаться вдоль направляющей 14.Устройство работает следующим образом.На начальнув точку конструкции устанавливают устройство для контроля отклонений от прямолинейности, плоскостности, приводят его в рабочее положение, На конечной точке конструкции устанавливают марку, приводят ее в рабочее положение. Затем марку и устройство взаимно ориентируют и зануливают отсчет, Этому соответствует, то, что лазер б излучает узконаправленный световой...

Номер патента: 1651095

Опубликовано: 23.05.1991

Авторы: Недужко, Стринадко, Ушенко

МПК: G01B 11/24

Метки: поверхности, формы

...отраженной волны в каждой точке сканирования, можно однозначно найти уравнение формы исследуемой поверхности по следующему алгоритму: х=хо-хОр =(6) О У=Ро 9 ъ (4) В ситуации, когда поверхность шероховатая, осуществляя с помощью проекционного обьектива и полевой диафрагмы, расположенной в его фокусе, операцию выделения регулярного зеркально отраженного пучка из диффузно рассеянного, можно однозначно определить величину е 1, а следовательно, и форму всей поверхности.Устройство, реализующее способ, работает следующим образом.На вход устройства поступает излучение одномодового лазера Л Г(источник 1 излучения), Четвертьволновая пластинка 2 ориентируется таким образом, чтобы ее ось наибольшей скорости составляла угол 45 относительно...

Номер патента: 1651096

Опубликовано: 23.05.1991

Авторы: Носков, Скоков, Соснов, Трифонов

МПК: G01B 11/24

Метки: интерференционного, оптических, поверхности, прецизионных, формы

...1 наблюдают световое иэображение интерферограммы. Наблюдение интерферограммы осуществляется при освещении ее коллимированным пучком под углом у, удовлетворяющим условию а с у (а + ф где а- предельный угол диффузного рассеяния фотоэмульсии,ф - передний апертурный угол оптической системы, При таких условиях освещения объектив 1 регистрирует картину, подобную интерферограмме 2, однако максимумы интенсивности расположены в два раза чаще - в областях перехода от темной полосы к светлой.Этот факт объясняется следующим.Известно, что пропущенный экспонированной и проявленной фотопленкой свет содержит две составляющие: регулярную, сохранившую первоначальное направление распространения, и диффузную, направление распространения которой...

Номер патента: 1656320

Опубликовано: 15.06.1991

Авторы: Глуговский, Довбуш, Стринадко

МПК: G01B 11/24

Метки: поверхности, формы

...на ЭВМ и ЯРПредварительно регистрируют голограмму 3 в схеме, изображенной на фиг.1. Направляют соосно и навстречу друг другу два опорных пучка П 1 и П 2, нормально к ним ось волнового фронта рабочего пучка Пг, экспонируют и проводят фотохимическую обработку, Затем голограмму устанавливают в устройство (фиг,2), на вход которого поступает излучение от источника 1 когерентного излучения. Расширитель 2 формирует плоскую волну, которая по направлению совпадает с волной Пг (фиг.1), существовавшей при записи голограммы, Зта волна восстанавливает из голограммы сферическую волну, распространяющуюся в направлении диафрагмы 4, и ей сопряженную, распространяющуюся в направлении анализатора 7, а также недифрагированную волну, распространяющуюся в...

Номер патента: 1657947

Опубликовано: 23.06.1991

Автор: Феоктистов

МПК: G01B 11/24

Метки: асферических, второго, интерферометр, поверхностей, порядка

...точка - предмет А 1 поверхности 9 совмещена с фокусом Е 7 объектива 7, где формируется изображение диафрагмы 3. При установке контролируемого эллипсоида его ближний фокус Е 1 совмещается с вершиной поверхности 10, а его дальний фокус Ег - с изображением А 2 этой поверхности, При контроле выпуклых и вогнутых гиперболоидов (фиг. 2) апланатическая линза 8 устанавливается между объективом 7 и его фокусом Ет в сходящемся пучке лучей. Первая поверхность 9 линзы 8 в этом случае выпуклая, вторая поверхность 10 - вогнутая, Линза 8 установлена в положение, при котором апланатическая точка - предмет А поверхности 9 совмещена с фокусом Ет объектива 7. При установке выпуклого контролируемого гиперболоида его ближний фокус Е 2...

Номер патента: 1666920

Опубликовано: 30.07.1991

Авторы: Кожин, Котляр, Мирзабеков, Хаимов, Храбров

МПК: G01B 11/24

Метки: износа, лопаток, паровых, рабочих, турбин, эрозионного

...В проточную часть между направляющими 7 и рабочими 8 лопатками вводят эндоскоп 1 и располагают его по отсчетным шкалам координатника 5 так, чтобы приемная часть 15 эндоскопа располагалась в исследуемой зоне входных кромок рабочих лопаток, При вращении ротора, в тот момент, когда входная кромка соответствующей лопатки занимает необходимое для измерения по ложение относительно приемной части эндоскопа 1, в датчике 6, ориентированном по периферийной кромке лопатки со стороны ее выходной кромки возникает импульс, который усиливается схемой синхронизации и 25 подается на управляющий вход системы поджига импульсного источника 3. Импульсный источник 3 формирует на поверхности лопатки 8 зону 9 с четко очерченными границами. Эти границы являются...

Номер патента: 1670378

Опубликовано: 15.08.1991

Автор: Гусев

МПК: G01B 11/24, G01B 9/025, G01M 11/00 ...

Метки: волнового, фронта

...ил,3, фотопластинку 5 и блок 6 формирования опорного пучкаСпособ реализуется следующим образом,Излучение с контролируемым волновым фронтом из блока 1 его формирования направляется на матовое стекло 2 На фотопластинке 5 с помощью объектива 4 с апертурной диафрагмой 3, предназначенной для исключения волновых аберраций объектива 4, с внеосевой плоской опорной волной, сформированной в блоке 6, записывается голограмма сфокусированного изображения матового стекла 2 эа время первой экспозиции. Перед второй экспозицией, например, с помощью поворота зеркал, находящихся в блоках 1, 6, изменяется угол освещения матового стекла 2 и угол1670378 зпа =,и(зп 01 - зп%). 25 Составитель В,Бахтинэктор С.Никитина Техред М,Моргентал Корректор М.Демчик...

Номер патента: 1670390

Опубликовано: 15.08.1991

Авторы: Бубис, Долик, Образцов, Подоба, Серегин, Федина

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: интерферометра, кривизны, оптических, поверхностей, помощью, радиусов, сравнения, сферических

...пластинку 5 рассеивается, образуя расходящийся рабочий пучок, который освещает образцовое зеркало 6 и контролируемые зеркала 7 и 8. Отразившись от всех зеркал, рабочий пучок возвращается к рассеивающей пластинке 5, проходит через нее и интерферирует с опорной сферической волной. Интерферометр 1 перемещают к центру кривизны образцового зеркала до появления на его поверхности прямых интерференционных полос, Подвижками контролируемых зеркал 7 и 8 выравнивают длины хода опорного пучка и частей рабочего пучка для каждой поверхности до появления на всех поверхностях в белом свете интерференционных полос максимально возможного контраста с одинаковой частотой и ориентацией. После этой операции контролируемые поверхности пересекают...

Номер патента: 1670391

Опубликовано: 15.08.1991

Авторы: Кондратов, Контиевский

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02, G02B 17/08 ...

Метки: вогнутых, интерференционный, поверхностей, цилиндрических

...проектируют в фокальную плоскость объектива 4. Оптический элемент 5 выполняют в виде пластины толщиной б. определяемой из соотношенияб - Я(19,81054 п - 53 02046 п + 58, - 32,34114 п + 9,05130 п - 1,01889 пб), где В - радиус кривизны цилиндрической поверхности 8;и - показатель преломления материала оптического элемента 5,Оптический элемент 5 устанавливают между фокальной линией 9 контролируемойповерхности 8 и самой поверхностью 8, Эталонную поверхность 6 оптического элемента 5 совмещают с фокальной линией 9 контролируемой поверхности 8.Эталонную поверхность 6 оптического элемента 5 и контролируемую поверхность 8 детали 7 освещают вышедшим из объектива 4 параллельным пучком лучей, перпендикулярных эталонной поверхности 6.Между линзой 2 и...