G01B 11/24 — для измерения контуров или кривых

Номер патента: 1388712

Опубликовано: 15.04.1988

Авторы: Бархударов, Лорецян, Петросян

МПК: G01B 11/24, G02B 27/54

Метки: антенных, неполированных, отражателей, поверхностей

...чертеже изображена принципиальная схема предлагаемого устройства.Устройство содержит осветительный блок в виде двух параллельно установ ленных лазеров 1 и 2 соответственно видимого и инфракрасного диапазонов волн, проекционную систему в виде последовательно установленных вогнутого сферического зеркала 3 с цент ральным отверстием, выпуклого сферического зеркала 4, ориентированного так, что его выпуклая поверхность обращена к вогнутой поверхности вогнутого сферического зеркала 3, плоско го зеркала 5, установленного в фокальной плоскости вогнутого сферического зеркала 3, набора диафрагм 6, установленньм в плоскости промежуточного изображения осветительного бло ка, и прямолинейного ножа 7 Фуко,установленного в той же плоскости, и...

Номер патента: 1397723

Опубликовано: 23.05.1988

Авторы: Королев, Сенаторов

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: асферической, кривизны, поверхности

...на фиг. 3 -наблюдаемая интерференционная картина.Схема контроля содержит высокоточное плоскопараллельное эталонноепробное стекло 1, проверяемую цилиндрическую деталь 2, оптически койтактирующую со стеклом 1 по линиям 3и 4 и так дальше в процессе обкатывания по стеклу 1, и регистрирующийпРибор 5,Способ осуществляют следующим образом,Приводят контролируемую деталь 2в оптический контакт с пробным стеклом 1 и наблюдают интерференционнуюкартину между ними, по которой судят 30о кривизне контролируемой поверхности.Затем обкатывают контролируемую цилиндрическую поверхность детали 2 попроЬному стеклу 1, сохраняя оптический контакт вдоль образующей цилинд 35рической поверхности, При оЬкатке науголлиния контакта перемещаетсяиз положения 3 в...

Номер патента: 1397724

Опубликовано: 23.05.1988

Авторы: Горшков, Дроздов, Пуряев

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02, G02B 17/08 ...

Метки: астрономических, зеркал, компенсатор, поверхности, телескопов, формы

...1 и положительный 2мениск и двояковыпуклую линзу 3,На чертеже обозначены: С, -центркривизны при вершине контролируемойповерхности зеркала 4; Р, - заднийпараксиальный Аокус компенсатора,совмещенный с точкой С,; а и Ь - воздушные промежутки,ф разделяющие соответственно мениски 1,2 и мениск 2,линзу 3, Б - задний Аокальный отрезок компенсатора, г - вершинный радиус кривизны контролируемой поверхности зеркала 4.Компенсатор работает следующимобразом. 30Пучок параллельных лучей поступает на аАокальный мениск 1, после этого параксиальные лучи идут строгопараллельно оптической оси, а крайние образуют сходящийся пучок лучей.Положительный мениск 2 преобразуетпоступающий на него пучок лучей всходящийся. Двояковыпуклая линза 3преобразует падающий...

Номер патента: 1401268

Опубликовано: 07.06.1988

Авторы: Смирнов, Чудов

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: двухкоординатное, измерительное

...также два блока 12вычисления контролируемых координат иблок 13 вычисления поправок, входы которо го электрически связаны с выходами фотоприемников 11, а выходы - с входами блоков 12. Вторые входы блоков 12 электрически связаны с выходами фотоприемников 14,служащими для регистрации интерференционных картин в интерферометрах 8,Устройство работает следующим образом.При перемещении узла 3 измерительныйнаконечник измерительной головки,4 скользит по контролируемой поверхности объекта 5, благодаря чему перемещается узел 2.Величины продольных перемещений узлов 2и 3 измеряются с помощью соответствующихинтерферометров Майкельсона 8. Сигнал,несущий информацию о величинах перемещения узлов, поступает на вход соответствующего блока 12...

Номер патента: 1404814

Опубликовано: 23.06.1988

Авторы: Луис, Островский, Рейнганд

МПК: G01B 11/24, G01B 9/025, G02B 27/50 ...

Метки: голографический, градиента, карты, контурной, объекта, поверхности, рельефа

...4 кюветы 3); Лх - сдвиг объекта 6 параллельно плоскости окна 4 кюветы 3, 20Способ осуществляется следующим образом,Изготавливают (например, снятием контактного отпечатка) окно 4 кюветы 3 с рельефом на внутренней поверхности, обратным 25 рельефу объекта 6. Объект 6 помещают в кювету 3, заполняют кювету 3 иммерсионной средой, смешают объект 6 относительно окна 4 кюветы 3 параллельно его наружной поверхности, экспонируют голограмму объекта 7, используя фотопластинку 2, изменяют 30 показатель преломления иммерсионной среды, вторично экспонируют голограмму и получают контурную карту градиента рельефа поверхности объекта 6 путем освещения голограммы. Разность фаз волн Лгр, рассеянных одной и той же точкой объекта 6 во время первой и второй...

Номер патента: 1409863

Опубликовано: 15.07.1988

Авторы: Гоман, Чухлиб, Шестаков, Юдицкий

МПК: G01B 11/24

Метки: геометрических, параметров, пластин, поверхности, полупроводниковых

...1 Формируется фокусирующей системой 2 в пучок, который направляется зеркалами 3 и 4 на сканаторы 5 и б. При вращении сканаторов 5 и б пучок смещается параллельно своей оптической оси. Такимобразом, на выходе сканатора б формируется развертка в плоскости, перпендикулярной оси распространенияпучка,Пройдя сканатор б,пучок попадаетна третье зеркало 7 и направляетсяим на отрицательную сферическую линзу 8 и далее на конденсорную линзу 9.На выходе линзы 9 пучок отклоняетсяот оптической оси, попадает либо наполупроводниковую пластину 11 либона калибровочное кольцо 12 и отражается от них, Отразившись от пластины, пучок проходит линзы 9 и 8,зеркало 7, сканаторы б и 5, отраженный пучок смещается к оси распространения падающего пучка, однако...

Номер патента: 1416863

Опубликовано: 15.08.1988

Авторы: Абрамов, Коротынский

МПК: G01B 11/24

Метки: цилиндрических

...на корпусе со стороны, противоположной штанге 2, пентапризму 7, расположенную на датчике 6 с возможностью ее съема, датчик 8 угла поворота, три распорные штанги (фиг. 2) 9, 10 и 11, установленные на корпусе 1 с возможностью взаимодействия с деталью 5 через подпружиненные наконечники 12, 13 и 14, три 20 преобразователя 15, 16 и 17, вход каждого из которых соединен соответственно с датчиками 6 и 8 и 3, микропроцессор 18, выходы преобразователей 15, 16 и 1 соединены с входом микропроцессора. Позициями 19 и 20 обозначены линейки.Устройство работает следующим образом.Корпус 1 устанавливают внутри детали 5 и выравнивают параллельно его торцовой кромке по линейкам 19 и 20, Луч лазера 4 направляют на пентапризму 7, вращая которую...

Номер патента: 1421991

Опубликовано: 07.09.1988

Авторы: Комраков, Лазарева, Пуряев

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: асферической, линзы, поверхности, формы

...блок 1 формируетпучок лазерного излучения требуемой конфигурации, который после отражения от светоделителя 2 разделяется образцовой поверхностью пластины 3 на два пучка - объектный, который проходит через поверхность пластины 3, и опорный, который отражается от нее. Первоначально компенсатор 4 отсутствует и объектный пучок,проходит через иммерсионную жидкость 5,:контролируемую асферическую99 35 д 0 лируемой поверхностью линзы компен 45 где Ь - длина волны излучения;Х - допустимая погрешность формыконтролируемой поверхностилинзы50 вновь освещают контролируемую поверхность объектным световым пучком и регистрируют вторую интерферограмму , а корректировку интерферограммы выполняют вычитанием первой интерферо...

Номер патента: 1425437

Опубликовано: 23.09.1988

Авторы: Алипов, Назмеев, Феоктистов, Хуснутдинов

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: выпуклых, интерферометр, параболоидов

...фокусирующую оптическую снстему 2, диафрагму 3, объектив 4, светоделитель 5, двойное плоское зеркало 6, второй светоделитель 10, входной объектив 9 системы регистрации интерФеренционной картины, экран 11, афокальную систему, состоящую иэ линзовых компонентов 7 и 81 ил. плоских зеркал, расположенных под. 1углом 90 друг к другу, оптическую систему, выполненную афокальной и состоящую из двух положительных линзовых компонентов 7 и 8, расположенных по разные стороны светодетителя 5, систему (не чертеже не показана) регистрации интерференционной картины, включающую входной объектив 9, второй светоцелитель 10, экран 11.Интерферометр работает следующим образомСвет от источника 1 монохроматического излучения фокусирующей опти ческой...

Номер патента: 1427172

Опубликовано: 30.09.1988

Авторы: Панин, Сало

МПК: G01B 11/24

Метки: асферических, поверхностей

...9, установленным на большем плече рычага 6.Ведомое звено 2 связано с ползуном 8,установленным на меньшем плече рычага 6. Соотношение плеч каждого иэрычагов 6 и 7 выбрано иэ условия; 30 где -1,2,1,ш - длины соответственно меньшего и большего плеч рычагов. Устройство работает следующим образом, в виде двух разноплечих рычагов 6и 7, двух ползунов, установленных насоответствующих плечах рычага 6 с воэможностью перемещения вдоль него, икулачка 10, жестко закрепленного наоси качания ведущего звена 1. Рычаг 7 своим большим плечом взаимодействует с кулачком 10, а меньшим связан с ползуном 9, установленным на,большем плече рычага 6, ведомое звено 2 связано с ползуном 8, установленным на меньшем плече рычага 6, 1 ил. Проверяемую деталь 11...

Номер патента: 1430741

Опубликовано: 15.10.1988

Авторы: Вайль, Паненко

МПК: G01B 11/02, G01B 11/24, G02B 27/42 ...

Метки: анализатор, геометрических, параметров, френелевский

...обозначена), имеющей воэмойностьперемещения вдоль всей плоскости дифракционной картины и приводимой в движение приводом 8, микровинта 9, милли-)5метровой шкалы 10, нониусной линии11, фотоумножителя (ФЭУ) 12, а такжеблок регистрации, выполненный в видеграфопостроителя 13, электрически связанного с выходом сканирующего устройства.Оптический анализатор работаетследующим образом,Когерентный источник 1 излученияформирует поток излучения, которыйпри прохождении через микрообъектив2 и точечную диафрагму 3 становитсярасходящимся, При помещении контролируемой детали 14 в этот расходящийся поток на неподвижной щели 5 об- АОразуется дифракционная картина исследуемой детали, 11 ель 5 выделяетучасток дифракционной картины длясканирования,...

Номер патента: 1435935

Опубликовано: 07.11.1988

Авторы: Васильев, Хопов

МПК: G01B 11/02, G01B 11/24, G01B 9/02 ...

Метки: геометрических, объектов, отражающих, размеров

...запоминающего 50 устройства 13, информационные входы которого соединены с выходом датчика б.Способ осуществляется с помощью данного устройства следующим образом. 55Светоделительная пластина 2 разделяет излучение лазера 1 на два параллельных пучка и направляет их на объект 14, Компенсатор 3 непрерывно изменяет разность оптического пути этих пучков, Пучки света, отраженные от объекта 14, совмещаются при помощи интерферометра сдвига, состоящего из линз 7 и 8 и дифракционной решетки 9. Диафрагма 10 служит для увеличения среднего размера элементов спекл - структуры света, отраженного от диффузионного объекта 14, поскольку фаза каждого спекла является случайной величиной, входное окно фотоприемника 11 должно быть меньше его среднего...

Номер патента: 1451540

Опубликовано: 15.01.1989

Авторы: Арефьев, Илюхин, Старостенко

МПК: G01B 11/24, G02B 27/42

Метки: объекта, отклонений, прямолинейности

...Кирхгофа выражение для первого дифракционного минимума имеет видЬ ялп ч= Л,где Ь - ширина щели;Ц - фиксированный угол дифракции;1 - длина волны излучения.Следовательно, разность хода лучей, сходящихся в первом дифракционном минимуме, составляет 1, поэтомуЛК+КБ-Р 1,Ширина плоского фронта волны света для полуплоскости 5 равна Р 1 а следовательноРМ=ЛэЛК + КБ + РМ - В 1. = 2 ЛРМ+КМ= 2 Л,Учитывая, что РМ = Ь, яз.п У, аКИ = (Ь,-Ьс 84 ялп , получим условие первого минимума дифракции:2 Ъ, яхп г Ь, ялп Ф с 8 ц= 21.Б общем виде условие минимумов диФракции на щели с разнесенными полу- плоскостями определяют по формуле2 Ь ялпц - Ь ялпся= 2 шЛ,где ш =+1, +2, +3При поперечном смещении первойполуплоскости 4 щели, закрепленнойна измерительной марке 3,...

Номер патента: 1453167

Опубликовано: 23.01.1989

Автор: Шиляев

МПК: G01B 11/24, G01B 11/26

Метки: марка, прямолинейности

...поверхности конуса на одной линии и образуют четыре световодные линейки 9, цена деления которых равна расстоянию междуцентрами световодов. Целевой знакоптически взаимодействует с источником 10 коллимированного излучения н, они оба установлены на контролируе мом объекте 11,Контроль объекта осуществляется следующим образом.Марка устанавливается на контролируемом объекте вершиной конуса 2 в сторону источника 10 излучения, Ко нус 2 вводится вколимированный пучок источника излучения, которыи установлен неподвижно и параллельноплоскости контролируемого объекта,Максимальный диаметр конуса 2 долженбЫть больше диаметра светового пучка, т.е. весь диаметр пучка перекрывается конусом. Ориентирование осиконуса вдоль пучка лучей производится...

Номер патента: 1460599

Опубликовано: 23.02.1989

Авторы: Борисов, Логачев

МПК: G01B 11/02, G01B 11/24

Метки: легкодеформируемых, периметров, поперечных, сечений

...валиков ипо другую сторону от валиков относительно источника излучения, фото"приемник оптически связан с источником излучения через щелевую диафрагмуи винтовую прорезь цилиндра, а выходфотоприемника подключен к электроннойизмерительной схеме. ра 2 с винтовой прорезью, на которойнанесены масштабные метки, и фотоприемники 3, размещенные внутри цилиндра 2 источник 4 излучения, преобразователь 5 положения направляющих валикови электронную измерительную схему 6, к входам которой,подключены выходы фотоприемника 3 ипреобразователя 5. Источник 4 излучения предназначен для освещения валиков 1, которые установлены так, чтоих оси параллельны, а образующими ва"ликов 1 сформирована щеленая диафрагма в потоке излучения от источника 4.1460599...

Номер патента: 1490468

Опубликовано: 30.06.1989

Автор: Кайнер

МПК: G01B 11/24, G01B 9/08

Метки: одного, перехода, поверхности, профиля, участка

...менисков: по углам смачивания, по высоте сегмента мениска, по симметрии менисков, по идентичности кривизны их формы. Наиболее точной является оценка идентичности кривизны формы обоих менисков.Краевой угол смачивания жидкости с поверхностью твердого тела является стабильной характеристической величиной для данной пары смачивания: жидкость - твердое тело. На коротком участке контролируемой поверхности монотонной формы угол смачивания и кривизна обоих менисков столбика будут одинаковыми, следовательно, форма обоих менисков у контролируемой поверхности идентична,Изменение формы контролируемой поверхности в пределах длины столбика жидкости объективно обуславливает изменение кривизны мениска, что приводит к неидентичности формы обоих менисков...

Номер патента: 1504495

Опубликовано: 30.08.1989

Авторы: Большаков, Ильинская, Нагибина

МПК: G01B 11/24, G01B 9/021, G03H 1/04 ...

Метки: голографического, записи, оптического, поверхности, формы, элемента

...полос, 1 ОНа чертеже представлена оптическая схема получения голографического оптического элемента (ГОЭ), формирующего пространственную интерференционную сетку,Схема получения ГОЭ содержит источник 1 когерентного излучения, расположенные по ходу излучения фотоэатвор 2, коллиматор 3, светоделитель 4, расположенные в объектном 20пучке поворотное зеркало 5, и фотопластинку 6, на которую записываютГОЭ, и установленное в опорном пучке зеркало 7.Способ осуществляют следующим 25образом.Луч от источника 1 когерентногоизлучения проходит через фотоэатвор2, расширяется коллиматором 3 и падает на светоделитель 4, которыйформирует объектную и опорную волны.Объектной волной с помощью поворотного зеркала 5 освещают фотопластин"ку 6....

Номер патента: 1509657

Опубликовано: 23.09.1989

Авторы: Дроздов, Пуряев

МПК: G01B 11/24, G02B 17/08

Метки: астрономических, зеркал, компенсатор, поверхности, формы

...его задний 10 параксиальный фокус Р с точкой С,В таблице приведены параметры а,в и Я одного из конкретных примеров1выполнения компенсатора для случая 15контроля параболических зеркал сосветовым диаметром 0 и радиусом привершине г,Величина остаточных аберраций характеризуется амплитудой волновой аберрации 1 при двойном ходе лучей через компенсационную систему. 7 4Этот конкретный пример выполнения компенсатора с успехом может быть использован для контроля формы гиперболических и эллиптических зеркал,Формула изобретения Компенсатор для контроля формы поверхности астрономических зеркал, содержащий три компонента, первый из которых афокальный мениск, обращенный выпуклостью к контролируемому зеркалу, второй - положительная линза, третий...

Номер патента: 1515037

Опубликовано: 15.10.1989

Авторы: Назмеев, Феоктистов, Хуснутдинов

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: вогнутых, интерференционный, параболоидов

...от источника 1 фокусируют конденсором 2 в плоскость диафрагмы 3, установленной в фокусе объектива 5. Параллельный пучок, вьппедший иэ объектива 5, разделяют на два пучка с помощью светоделительной пластины 6. Один из пучков после отражения от эталонной поверхности пластины 6 направляют в объектив 5 и исПовышение точности контроля обеспечивается благодаря тому, что используются опорный и рабочий волновые фронты небольшого диаметра, которые могут быть сформированы с более высокой точностью, чем волновые фронты большего диаметра. Формула и э о б р е т е н и я Составитель В. Вахтедактор А. Огар Техред Л.Олийнык рректор А. Об Заказ 6215/40 ВНИИПИ Государственног 113035Подписное изобретениям и открытия Раушская наб д. 4/5Тираж 683 омитета...

Номер патента: 1523910

Опубликовано: 23.11.1989

Авторы: Гарипов, Махарашвили, Селезнев, Шваб

МПК: F16H 19/00, G01B 11/24

Метки: зубчатых, кинематической, передач, погрешности

...При поступлении кинематической погрешности происходит угловое смещение растровой решетки 20 относительно решетки 16 и световые импульсы источника 4 излучения поступа-.ют на фотоприемник 6. Далее сигнал фотоприемника 6 подается на детектор 9,в котором выделяется сигнал, пропорциональный угловому смещению дисковыхрешеток 16 и 21, т.е. кинематическойпогрешности,. Входной сигнал детектора 9 поступает на вторый вход сумматора 14,При неизменной скорости вращенияначального звена контролируемого ме"ханизма на первый вход сумматора 14сигнал от схемы 13 сравнения не поступает, так как в ней сравниваютсясигналы одинаковой частоты, поступающие от генератора 7 и усилителя 8.Поэтому выходной сигнал детектора 9 через сумматор 14 без из-.менения...

Номер патента: 1529038

Опубликовано: 15.12.1989

Авторы: Ахметдинов, Галиулин

МПК: G01B 11/24

Метки: поверхности, сложной

...6 объектапучком 10, сформированным светоделителями 2 и 4. При этом координата светового пятна на фотоприемнике 3, отраженного от поверхности пучка 12,меняется пропорционально изменениюкривизны поверхности Ь объекта, а координата светового пятна пучка 11 нафотоприемнике 3 меняется пропорционально положению сканирующего пучка10 в направлении движения платформы5. Изменение оси пучка 7 относительно первоначального положения источника 1 в процессе работы устройствафиксируется изменением положения светового пятна пучка 9 соосного с пучком 7 на фотоприемнике 3.Измерения поверхности 6 осуществляют следующим образом,Выбирают на поверхности Ь объектабазовую точку 0 и направляют переме 30щением платформы 5 и поворотом светоделителя 2 вокруг...

Номер патента: 1532809

Опубликовано: 30.12.1989

Авторы: Боборыкин, Васильченко, Кощеев, Левицкий, Павлов, Проскурин

МПК: G01B 11/24

Метки: бесконтактного, поверхности, формы

...в блок деши 5 Фратора 7, где происходит обработка и определяются угол Ч наклона поверхности и координаты т. С измеряемого сечения, которые регистрируются в блоке 8 индикации и записи. Перемещая 10 устройство вдоль направляющей 5, измеряют таким образом всю поверхность в заданном сечении.Величины отрезков а и Ь и их соотношение позволяют судить о Форме и 15 расположении измеряемой поверхности 6 при заданных фиксированных величинах базы В, угланаклона лучей и фокуса камеры Й, так как угол Ч наклона поверхности и ее удаление 1 однознач но связаны с указанными параметрами следующими зависимостями2ем25Ъ Устройство для бесконтактного из- мерения Формы поверхности, содержащее основание и установленные на нем источник оптического...

Номер патента: 1536197

Опубликовано: 15.01.1990

Авторы: Енукидзе, Уплисашвили

МПК: G01B 11/24, G01B 5/20

Метки: детали, зубьев, профиля

...в положениедля контроля выбранного участка профиля, включающий синусную линейку 1 с набором плоскопараллельных мер 2 и цилиндрическими штифтами 3, контурный шаблон 4, выполненный в виде клина с прорезью со снятой со стороны основания клина фаской, причем профиль прорези соответствует профилю двух впадин с правой и левой стороны зуба в конт 35 ролируемом сечении и расположен на наклонной поверхности клина, элемент базирования шаблона 4 относительно детали, предназначенный для установки на внешнем конусе колеса, выполненный в виде кольца 5 с заданным внутренним диаметром для данного типоразмера колеса, осветитель (не показан) и блок 6 оптического контроля, выполненный в виде измерительного микроскопа с ортогональными шкалами. Контурный...

Номер патента: 1538041

Опубликовано: 23.01.1990

Автор: Вирник

МПК: G01B 11/24

Метки: визуализации, контура, объекта, поперечного, сечения

...сечения совместятся с образцовым изображением,перенесенным с марки 13 на экран 9.Изображения образцового контура могут быть и непосредствейно нанесены:на экран 9, В этом случае соответствующий проекционный канал исключают;иэ конструкции.На фиг. 2 изображена принципиаль"ная схема (развертка) приемного канала предлагаемого устройства. Приемный канал состоит из последовательно установленных вдоль оси 17(фиг. 1) объектива 7, дополнительногообъектива 8 и экрана 9, При этомглавные плоскости 18 и 19 объектива7 пересекают его предметную плоскость5 и его плоскость 20 изображенияна одной и той же высоте Ь. В результате ось объектива 7 образуетс осью 17 угол 3.Предметная плоскость дополнитель-ного объектива 8 совмещена с плоскостью 20...

Номер патента: 1543224

Опубликовано: 15.02.1990

Авторы: Дворовкин, Кольцов, Кондратьев, Миронюк

МПК: G01B 11/24

Метки: объекта, отклонения, формы

...и с учетомПериодичности получаемой функциистроят зависимость периметра от углаповорота в пределах от 0 до 360Затем вместо эталонного объекта впределах той же окружности размещаютконтролируемый объект, определяютположение его характерных признаков,сравнивают его с положением характерных признаков эталонного образца и по результатам сравнения определяют угловую ориентацию контролируемого объекта. Далее по полученной зависимости периметра объекта от угла поворота (фиг. 2) определяют периметр эталонного объекта, который соответствует углу поворота контролируемого объекта. Одноьременнб с помощью матричной системы технического зрения определяют периметр контролируемого объекта и сравнивают его с полученным периметром эталонного объекта. Если...

Номер патента: 1545130

Опубликовано: 23.02.1990

Авторы: Дроздов, Пуряев

МПК: G01B 11/24, G02B 17/08

Метки: астрономических, зеркал, компенсатор, поверхности, формы

...с заданными параметраминеобходимо перемещением линз 1 и 3относительно неподвижной линзы 2 уста" новить расчетные значения воздушных промежутков а и Ь и перемещением компенсатора относительно контролируемой поверхности совместить его зад 1 ний параксиальный Фокус Г, с .точ" кой С,.Параметры а и Ь компенсатора при контроле параболических поверхностей приведены в табл.1 и 2, гиперболических с эксцентриситетом е=1,1 - в табл.3, эллиптических с е = 0,9 - в табл.1. В табл.1 - 4 приведены значения световых диаметров 0 и вершинных радиусов г контролируемых асферицеских поверхностей, а также значения амплитуды волновой аберрации 1 при двойном ходе лучей через компенсационную систему.Из таблиц видно, цто компенсатор позволяет контролировать...

Номер патента: 1545131

Опубликовано: 23.02.1990

Авторы: Дроздов, Пуряев

МПК: G01B 11/24, G02B 17/08

Метки: астрономических, зеркал, компенсатор, поверхности, формы

...сходящийся пучок лучей. Положительная менисковая линза 2 преобраГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМПРИ ГКНТ СССР 1(56),Авторское свидетельство СССР Р 1397724, кл, С 01 В 11/24, 1987. (54) КОМПЕНСАТОР ДЛЯ КОНТРОЛЯ ФОРМЫ ПОВЕРХНОСТИ АСТРОНОМИЧЕСКИХ ЗЕРКАЛ (57) Изобретение относится к оптическому приборостроению и предназначено для контроля формы поверхности вогнутых асферических зеркал крупных телескопов интерфервнционным методом. С целью повышения точности контроля, упрощения конструкции и уменьшенияИзобретение относится к оптическому приборостроению и предназначенодля контроля формы поверхности вогнутых асферических зеркал крупных телескопов интерференционным методом.Целью изобретения является расширение диапазона...

Номер патента: 1548663

Опубликовано: 07.03.1990

Авторы: Никитин, Удалов

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: вращения, интерферометр, оптических, поверхностей

...вокруг центра кривизны образцовой сферическойповерхности. Отклонение профиляконтролируемой детали определяется как разность измеренного по Фотографии порядка интерференции на любом репере с расчетным для этого репера (табличным) значением. 3 ил. рых нанесены реперы в виде частей(дуг) концентричных колец,Интерферометр работает следующимобразом.Контролируемую деталь 8 устанавливают на поворотном столе 1 и центрируют так, что ее ось симметрии совпадает с осью вращения стола 1, ацентр кривизны средней зоны совпадает с центром кривизны образцовойсферической поверхности, Параллель,ный пучок света от лазера 3 проходит объектив 4 и формирует в егоФокусе точечный источник света, Осветительный. объектив 6 с помощью светоделителя 5 проектирует...

Номер патента: 1548665

Опубликовано: 07.03.1990

Автор: Степин

МПК: G01B 11/24

Метки: детали, поверхности, формы

...измерительного средства 7. Засыпают между деталью 1 и шаблоном 3 одноразмерные шарики 4 которые благодаря подобранным углам с и р под действием силы тяжести контактируют беззазор 55 но между собой, шаблоном 3 и деталью 1, Центры кривизны шариков 4 располагаются на линии, эквидистантной профилю контролируемого сечения. Кроме того, при контроле сферических и асферических поверхностей перемещают шарики 4 упором 5 до тех пор, пока центр кривизны шарика 5 не совместится с осью 2 вращения. Профиль сечения контролируемой поверхности определяют с помощью измерительного средства 7, на-пример автоколлимационного микроскопа, путем фокусировки его на центры кривизны шариков 4, перемещения его параллельно плоскости шаблона 3 и отсчета при этом...

Номер патента: 1551989

Опубликовано: 23.03.1990

Автор: Гусев

МПК: G01B 11/24, G01B 9/021

Метки: зеркальных, отражателей, отражающей, поверхности, формы

...и парлельной плоскости фотопластинки 8, 1551989М СМ.1 ЛС Г1-56 ва величПу а. Перед третьей экспозицией зеркальный отражатель .6 смещается на величину а симметрично относительно своего первоначального по 5 ложения и так далее, причем перед каждой последующей экспозицией величина перемещения кратна величине а.При восстановлении записи проявленную фотопластинку освещают плоской когерентной волной от источника, используемого при записи, и в фокаль" ной плоскости линзы, установленной за Фотопластинкой, получают картину периодически чередующихся узких интерференционных полос, По результатам измерения периода повторения аХ опре-. деляется радиус кривизны сферического зеркала К = 2 аХ 1/Ю ), где 1 - расстояние от плоскости, проходящей...