Способ бесконтактного измерения профиля полированных асферических поверхностей вращения

Номер патента: 1348640

Автор: Чунин

ZIP архив

Текст

/24, 1961. рхности 4. Отра здает в нимое льной СУДАРСТБЕКНЫИ КОМИТЕТ СССРО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ ОПИСАНИЕ ИЗОБ А ВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТ(54) СПОСОБ БЕСКОНТАКТНОГО ИЗМЕРЕНИЯПРОФИЛЯ ПОЛИРОВАННЫХ АСФЕРИЧЕСКИХПОВЕРХНОСТЕЙ ВРАЩЕНИЯ(57) Изобретение относится к измерительной технике. Цель изобретенияизмерение профиля поверхностей большой крутизны, обе фокальиые точкикоторых находятся внутри измеряемой пверхности типа выпуклого эллипсоида илвогнутого гиперболоида, Луч света отисточника 1 проекционной системой собъективом 2 направляется в находящуюся внутри измеряемои пов 3 ее первую фокальную точку женный от поверхности луч с ее второй фокальной точке 5 изображение, которое положи линзой 6 переносится на шкалу 7 отсчетной наблюдательной системы и рассматривается через окуляр 8 глазом 9наблюдателя. Для обеспечения последовательной засветки участков измеряемой крутой поверхности проекционнуюсистему поворачивают в направлении,укаэанном стрелкой А, вокрут оси,проходящей через первую фокальнуюточку 7 поверхности 3. Для наблюдения отраженных пучков наблюдательнуюсистему с линзой поворачивают вокругоси, проходящей через вторую фокальную точку 5 поверхности 3, в направлении, указанном стрелкой Б. Такоевращение обеспечивает измерение отклонений формы асферической поверх- Жности при большой ее крутизне, когдаапертурный угол д , образованный край- ф фними положениями отраженных от неепучков, превышает апертурный угол 3,объектива наблюдательной системы. Приэтом предел измерения по крутизнеоможет достигать 90 и более. При измерении вогнутых поверхностей произ- СОводится встречное вращение систем. 14 йЬ00Заказ 5178/39 Тираж 676 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Производственно-полиграфическое предприятие, г, Ужгород, ул. Проектная, 4 1Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного измерения профиля полированных асферических поверхностей вращения.Цель изобретения - измерение профиля поверхностей большой крутизны (50-60 , до 90), обе фокальные точки которых находятся внутри измеряемой поверхности типа выпуклого эллипсоида или вогнутого гиперболоида.На чертеже изображена принципиальная схема реализации способа.Луч света от источника 1 проекционной системой (не показана) с объективом 2 направляется в находящуюся внутри измеряемой поверхности 3 ее первую фокальную точку 4. Отраженный от поверхности луч создает в ее второй фокальной точке 5 мнимое изображение, которое положительной линзой 6 переносится на шкалу 7 отсчетной наблюдательной системы (не показана) и рассматривается через окуляр 825 глазом 9 наблюдателя.Для обеспечения последовательной засветки участков измеряемой крутой поверхности проекционную систему поворачивают в направлении, указанном стрелкой А, вокруг оси, проходящей через первую фокальную точку 4 поверхности 3. Для наблюдения отраженных пучков наблюдательную систему с линзой 6 поворачивают вокруг оси, проходящей через вторую фокальную точку 5 поверхности 3, в направлении,укаэанном стрелкой В. Такое вращение обеспечивает измерение откло 40 2нений формы асферической поверхности при большой ее крутизне, когда апертурный уголск, образованный крайними положениями отраженных от нее пучков, превышает апертурный угол 8 объектива наблюдательной системы. При этом предел измерения по крутизне ограничивается только конструктивным решением реализуемого устройства и может достигать 90 и более. При измерении вогнутых поверхностей производится встречное вращение систем. Формула изобретения Способ бесконтактного измерения профиля полированных асферических поверхностей вращения, заключающийся в том, что сканируют поверхность оптическим лучом так, что луч или его продолжение проходит через первую фокальную точку поверхности, и определяют угловые отклонения участков поверхности от заданного профиля по шкале отсчетной наблюдательной системы, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью измерения профиля поверхностей большой крутизны, обе фокальные точки которых находятся внутри измеряемой поверхности типа выпуклого эллипсоида или вогнутого гиперболоида, переносят изображение второй фокальной точки поверхности с помощью положительной линзы на шкалу отсчетной наблюдательной системы и эту систему с линзой поворачивают вокруг оси, проходящей через вторую фокальную точку поверхности.

Смотреть

Заявка

4074491, 31.01.1986

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Р-6681

ЧУНИН БОРИС АЛЕКСЕЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01B 11/24

Метки: асферических, бесконтактного, вращения, поверхностей, полированных, профиля

Опубликовано: 30.10.1987

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-1348640-sposob-beskontaktnogo-izmereniya-profilya-polirovannykh-asfericheskikh-poverkhnostejj-vrashheniya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ бесконтактного измерения профиля полированных асферических поверхностей вращения</a>

Похожие патенты