G01B 11/24 — для измерения контуров или кривых
418713
Номер патента: 418713
Опубликовано: 05.03.1974
МПК: G01B 11/24
Метки: 418713
...например длямалогабаритньгх редукторов и редукторов, неимеющих свободных концов валов.Цель изобретения - создание универсального способа измерения также и мертвого ходазубчатых редукторов, который обеспечивал быболее высокую точность контроля.Для этого каждый из преобразователейустанавливают по нормали к рабочей поверхности зуба входного и выходного колес, пофазовому рассогласованию сигналов, с которых при реверсе редуктора судят о величинемертвого хода. На фиг. 1 изображена схема устройства длякинематической погрешности зубчатого редуктора по предлагаемому способу; на фиг.2 - диаграмма сигналов фотоэлектрических пре образователей.Способ контроля кинематической погрешности зубчатого редуктора заключается в следующем.На входное 1...
418714
Номер патента: 418714
Опубликовано: 05.03.1974
МПК: G01B 11/14, G01B 11/24, G01B 11/26 ...
Метки: 418714
...к выходу которого подключен индикатор, а. диафрагма одного из преобразователей имеет дополнительную щель, расположенную на заданном расстоянии от первой щели.На чертеже схематично изображено предлагаемое устройство для поэлементного контроля зубчатых колес.Оно содержит два экстремальных фотоэлектрических преобразователя 1 и 2, диафрагму 3 с двумя щелями 4 и 5, электронный блок 6, индикатор 7 и контролируемое колесо 8.Устройство работает следующим образом.Экстремальные фотоэлектрические преобразователи, расстояние между которыми равно Е, настраивают одним из известных способов на контроль выбранного параметра (например, на контроль разности соседних окружных шагов). При вращении колеса 8 с преобразователей 1 и 2 снимаются сигналы в и...
Прибор для комплексного одпопрофильного контроля зубчатых передач
Номер патента: 420872
Опубликовано: 25.03.1974
Авторы: Гродзенский, Гущин, Изобретени, Московский, Шукурбеков
МПК: G01B 11/24, G01D 5/30
Метки: зубчатых, комплексного, одпопрофильного, передач, прибор
...лцнешеи и дисков, онц связашя между собой гибкими лентами 10.Обрц о 11, сна оправку 1, планетарно обкатывается вокруг контролируемого колеса 12, жестко насаженного на оправку 7. Колесо 11 участвует одновременно в двух вращатсльцых движениях: вокруг осц оправки 7 вместе с поводком 5, приводимым в двцкеццс от электродвигателя 13, посредством релейной передачи и вокруг своей осц, благодаря тому, что линейка 9, находящаяся в планетарном движении, обкатывает без скольжения диск 8 ц перемещается относительно позодка 5, вызывая поворот оправки 1. Если в процессе обката в контролируемой паре отсутствует погрешность передаточного отношения, то контролируемое колесо вместе с оправкой 7 остается неподвижным. В случае наличия погрешности...
Устройство для измерения профиля ребра магнитной ленты
Номер патента: 422950
Опубликовано: 05.04.1974
Авторы: Виткуте, Дайнаускас
МПК: G01B 11/24
Метки: ленты, магнитной, профиля, ребра
...содержит два чувствительныхэлемента 1 и 2, соединенных с блоком 3 вычитания через формирователи 4 и 5 сигнала,пропорционального перемещению, пер пенди кулярному направлению движения ма ленты б. Чувствительный элемент 1 в в виде фотоэлемента, установленного ребра движущейся магнитной ленты стороны магнитной ленты 6, противопо чувствительному элементу 1, установл точник 7 света и конденсор 8. Чувстви элемент 2 сопряжен с магнитной лен выполнен в виде воспроизводящей ма головки, рабочий зазор которой расп под острым углом к направлению дв магнитной ленты б, обозначенному н же стрелкой А,Измерение профиля ребра магнитной ленты 6 производят в процессе движения последней в направлении стрелки А, При этом с выхода формирователя 4...
Оптико-электронный профилоскоп
Номер патента: 426142
Опубликовано: 30.04.1974
Авторы: Ивашевский, Карташев
МПК: G01B 11/24, G01B 11/30, G01D 5/39 ...
Метки: оптико-электронный, профилоскоп
...отклоняющими пластинами, а генера 20 тор 10 - с горизонтально отклоняющимиЭТЛ 1. Для регистрации среднего значениявысот неровностей устройство включает в себя регистратор 11 с показывающим прибором12. С целью визуального контроля формы из 25 меряемой поверхности профилоскоп содержитдополнительную оптическую систему, включающую полупрозрачное зеркало 13, обьектив14, сетку 15 и окуляр 16,Профилоскоп работает следующим образом.30 Источником света является светящийся круг426142 Составитель В. КлимовТехред 3. Тараненко Юрков ректор В, Петрова акто.1551 Тираж 760ственного комитета Совета Министделам изобретений и открытийва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Заказ 2696/5ЦНИИП ПодписССР суд и МоТипография, пр. Сапунова, 2 на экране ЭТЛ 1....
Устройство для контроля износа футеровки
Номер патента: 444051
Опубликовано: 25.09.1974
Авторы: Вертман, Глазов, Голятин, Калинников, Карнаухов
МПК: C21B 7/06, C21C 5/44, G01B 11/24 ...
...наклоне базы корпуса к оси штанги под углом от 0 до 60, Горловина конвертера перекрыта экраном 4, установленным в фиксированном положении относительно конвертера 5 1 и служащим для защиты оператора от излучения и для отсчета расстояния. Кроме того, экран 4 служит для крепления электропривода 5 с датчиком положения 6. Штанга 3 на холодном конце имеет окуляр 7, соединенныйумя световодами 8 с объективами 9, уставленными с постоянной базой в корпусе 2.Окуляр имеет датчик положения 10. Датчики 6 и 1 О соединены с входом блока 11 преобразования сигналов, выход которого соединен со 5 вторичным прибором 12.Для измерения степени износа футеровкиэкран 4 устанавливают в строго фиксированное положение относительно конвертера 1 перед вводом его в...
Интерферометр для контроля формы поверхности выпуклых сферических поверхностей линз большого диаметра
Номер патента: 448347
Опубликовано: 30.10.1974
Авторы: Дикань, Лазарева, Либер, Пуряев
МПК: G01B 11/24, G01B 9/02
Метки: большого, выпуклых, диаметра, интерферометр, линз, поверхностей, поверхности, сферических, формы
...или фотографирования интерференционной каю ртины и экран 8 или фотопленку для осковское ордена Ленина и ордена Трудового Краснонамени высшее техническое училище им. Н.Э.Бауманарасногорскиф механический Завод448347 31.егистрации интерференционной картины.Линзу 9 с контролируемой поверхностью К устанавливают между компенсатором и эталонным сферическим зеркалом.lНа фиг.2 показано: У -изображение точки Р , .построенное толькоИкомпенсатором 5; У -изображение точки Р ,построенное компенсатоом и первой поверхностью линзы 9;и С-центры кривизны соответственно контролируемой поверхности линзы 9 и эталонного сферического зеркала б .Точки У,Си С должны быть с овмещены.Интерферометр работает следующим образом.Лучи, выходящие из объектива...
Устройство для контроля формы параболической поверхности
Номер патента: 450077
Опубликовано: 15.11.1974
Автор: Пуряев
МПК: G01B 11/24
Метки: параболической, поверхности, формы
...устройства.Устройство содержит исто ическое измерительное устролимационный окуляр или о ) пентапризмы 3, устанавлив тричные зоны контролируемои детали, плоско- параллельную пластинку 4.Перекрытие шкалы окуляра 2 или точечнаядиафрагма, освещенная источником света, сов мещена с фокусом Р контролируемой параболической поверхности 5.Устройство работает следующим образом.Лучи света, отраженные от контролируемойповерхности 5, идут параллельно оптической 10 оси и попадают на пентапризмы 3, а затем -на зеркальную пластинку 4, установленную перпендикулярно падающим лучам. После отражения от нее лучи света повторяют свой путь в обратном направлении и возвращают ся в фокус Р, что контролируется с помощьюокуляра 2.Пентапризмы перемещаются в...
Устройство для контроля плоскопараллельности непрозрачных деталей
Номер патента: 451904
Опубликовано: 30.11.1974
Авторы: Дзюбенко, Паранюк, Шевцов
МПК: G01B 11/24
Метки: непрозрачных, плоскопараллельности
...позиционнофщчувствительный фотопрйемник 11, точечную диафрагму 12 источника,: конденсор 13,источник 14 света, электронную схему 15 измерений и блок 16 документирования результатов измерений.Фотоприемник 1 1 и Фочечная диафрагма 12 установлены в фокальных плоскос . тях объектива .9.Диски 4, 5 механизма модуляции имеют различное количество прозрачных щелей, поэтому при одинаковой угловой скорости вращения они модулируют свето. вые потоки с различными частотами КИспытуемая деталь 1 крепится в узле 2 между дисками 4, 5 механизма модуляции таким образом, что нормали кконтролируемым поверкностям А и Бприблизительно параллельны оптической оси б,объектива 9 фотоэлектрического угломераСветовой поток источника 14 светапри помощи конденсора 13...
Способ контроля размера сечения правильных многогранных стержней
Номер патента: 456137
Опубликовано: 05.01.1975
Авторы: Кругов, Курбатов, Фридлянд
МПК: G01B 11/24, G02B 26/10
Метки: многогранных, правильных, размера, сечения, стержней
...стержень 7,Способ осуществляется следующим образом. От источника света лучи, прошедшие объектив 2, идут параллельно его оптической оси через диафрагму 3 в систему подвижных призм 4. Параллельный световой лоток сначала отклоняется входной призмой от первоначального направления и направляется на стер жень под некоторым углом, в зависимости отформы стержня (квадратный стержень - угол 45, шестигранный - 60, восьмигранный - 67,5 и т. д,), затем выходной призмой световой поток возвращается в первоначаль ное направление (по оптической оси системы)и собирается объективом 5 на фотоприемнике.Контролируемый стержень располагают между призмами в месте пересечения отклоненного светового потока с оптической осью.й 0 Плоскость, проходящая через одну...
Способ контроля формы вогнутых асферических поверхностей
Номер патента: 473049
Опубликовано: 05.06.1975
Авторы: Лозбенев, Орлов, Соловьев, Цеснек, Юров
МПК: G01B 11/24, G01B 9/08
Метки: асферических, вогнутых, поверхностей, формы
...в частности к контролю формы вогнутых асферических поверхностей.По основному авт. св,267084 известен способ контроля формы вогнутых асферических поверхностей.Этот способ имеет сравнительно невысокую точность измерений.Целью изобретения является повышение точности и объективности контроля. Это достигается тем, что изображения прямоугольной диафрагмы автоколлимационной трубы проецируют на фотокатод телевизионной трубки через маску, площадь щели которой симметрично возрастает по обе стороны от оптической оси,На фиг, 1 показан вариант фотоэлектрического устройства для реализации предлагаемого способа; на фиг. 2 - выходная часть оптического измерительного тракта и фотокатод телевизионной трубки телекамеры.Фотоэлектрическое устройство содержит...
Способ автоколлимационного контроля вогнутых оптических поверхностей
Номер патента: 480904
Опубликовано: 15.08.1975
Авторы: Горшков, Подобрянский
МПК: G01B 11/24, G01B 9/08
Метки: автоколлимационного, вогнутых, оптических, поверхностей
...ус поверх целью осковское ордена Ленина высшее техническо Изобретение отностехнике, а именно кционного контроляверхностей,Известен способ автоколлимационного контроля вогнутых оптических поверхностей с использованием автоколлимационной зрительной трубы, подвижных пентапризм, плоского зеркала, установленного в фокусе контролируемой поверхности, заключающийся в том, что напрягают световые лучи в симметричные зоны контролируемой поверхности с помощью подвижных пентапризм и наблюдают отклонение лучей от первоначального направления.Однако эти способы не позволяют контролировать вогнутые поверхности, имеющие различные запальные фокусные расстояния.Предлагаемый способ отличается от известных тем, что сначала плоское зеркало устанавливают в...
Устройство для измерения отклонения формы поверхности
Номер патента: 480905
Опубликовано: 15.08.1975
МПК: G01B 11/24, G01D 5/26
Метки: отклонения, поверхности, формы
...объективов, размещенных под углом, например 90, друг к другу с возможностью перемещения перпендикулярно стеклянному брусу.Такое выполнение устройства позволяет повысить точность измерения.На фиг. 1 изображено предлагаемое уст ройство; на фиг. 2 - то же, поперечный ра рез.Устройство для измерения отклонения формы поверхности содержит корпус 1 с направляющими, каретку 2 с измерительным штифтом 3, на котором закреплена голодка, выполненная в виде проектирующего 4 и измерительного 5 микрообъектов, два тубусных объектива б, 7, стеклянный брус 8 с эталонной поверхностью и измерительный блок 9, причем микрообъективы 4, 5 размещены под углом 90 один относительно другого и имеют возможность перемещаться перпендикулярно стеклянному брусу...
Устройство для измерения стабельности магнитной ленты
Номер патента: 482622
Опубликовано: 30.08.1975
МПК: G01B 11/24, G01D 5/28
Метки: ленты, магнитной, стабельности
...сабельности магнитной ленты, которое обеспечивало бы уменьшение погрешности измерения,Это достигается тем, что в предлагаемоеустройство введена снабженная отражаютцей 20поверхностью эластичная лента, сопряженнаяс выступами подвижного элемента, размещенного в отверстии направляющего элемента, иукрепленная своими концами на корпусе свозможностью отражения светового луча на 25шкалу. ройства. Предлагаемое устройство содержит также снабженную отражающей поверхностью эластичную ленту 8, укрепленную своими концами на корпусе и сопряженную с выступами подвижного элемента. Эластичная лента смонтирована с возможностью отражения на шкалу 9 светового луча 10, который формируется источником светового луча, в состав которого входит источник...
Прибор для контроля эвольвентных поверхностей
Номер патента: 491818
Опубликовано: 15.11.1975
МПК: G01B 11/24, G01B 5/20
Метки: поверхностей, прибор, эвольвентных
...поворот эвольвентнона тот же угол. При этом линей, взаимодействуя через посреддя 4 с контролируемым кулаком тся в своих прямолинейных нана некоторую величину.тсутствия погрешности контролииля при надлежащем выборе веаровая картина, образованная ами, будет оставаться неподвиж 491818цой отцоситс,ьцо стойки. Ео сеовцс выцол 5 стс 5 при равесВс(Гсов -наггде г. -- угол давления,г и г- - рд;иусы основных окружцостсйсоотвстствсццо эвольвсцтногорастра ц контролируемого кулак,од. - вслцчццд шагов соответствсццолицейчатого и эвольвецтцогорастров.Таким образом, настройка эвольвецтомера ца заданпьц радиус основной окружности контролируемого кулака осуществляется установкой угла х, вычисленного в соответствии с равенством (1). Все остальные...
Устройство для контроля толщины и плоскопараллельности кристаллических пластин
Номер патента: 500466
Опубликовано: 25.01.1976
Авторы: Домышев, Садохин, Скоморовский
МПК: G01B 11/06, G01B 11/24, G02B 27/28 ...
Метки: кристаллических, пластин, плоскопараллельности, толщины
...непосредственно технике, предназначено для контроля толщи на полироввпьнике, ны 0 плоскопвраллельности кристаллических Для этого предлагаемое устройство снабь. пластин и,может использоваться в проиэводст жено кристаллическим клином, установленньм ве, занятом Изготовлением интерференпионно 5 зв объективом коллиматора перед лолирова ,поляриэационных фильтров.ником, и нлоским зеркалом, закрепленнымИзвестно устройство для контроля нлосв иолироввльнике так, что плоскость зе квла наклонена к оптической оси объектива Копарвллельных пластин, содержащее источ, коллиматорв на угол, обеспечивающий ник монохроматического света, точечную диафр у, обеспечивающий рвзвФ- ,рагму, объектив коллимвтора; пробное стек,6 дение иэображений точечкой див вгмы...
Устройство для контроля оптических поверхностей крупногабаритных деталей
Номер патента: 503125
Опубликовано: 15.02.1976
Авторы: Коломийцева, Константиновская
МПК: G01B 11/24
Метки: крупногабаритных, оптических, поверхностей
...и сократить габариты и юстировку всего 10 устройства.На чертеже представлена схема предлагаемого уст 1 ройства.Устройство содержит автоколлпмацнонныйузел 1, поворотное зеркало 2, блок 3 пробного 15 стекла и вспомогательного объектива, стойку4 с направляющей и контролируемой деталью и кронштейн 5.Работает устройство следующим образом.Пучок лучей из автоколлпмацнонного узла 20 1 поворотным зеркалом 2 направляется на блок3. Вспомогательный объектив вместе с пробным стеклом создаст в центре кривизны контролируемой поверхности изображение точечной диафрагмы узла 1. С автоколлимацпон ным изображением точечной диафрагмы совмещен зрачок приемника (фотоаппарата).В процессе контроля блок пробного стекла с объективом перемещается...
Устройство для контроля отклонений поверхности от заданной формы
Номер патента: 504079
Опубликовано: 25.02.1976
МПК: G01B 11/24, G01D 5/26
Метки: заданной, отклонений, поверхности, формы
...оптическими или механическими способами с высокой точностью, причем профиль эталона может быть, и сложным. Эталон в виде шелевой диафрагмы позволяет упростить конструкциКЕустройства и повысить точность измере ний,На фиг. 1 представлена схема устройства, на фиг. 2 - схема контроля отклонений поверхности от прямолинейности.Устройство (содержит станину 1, на. которэй закреплены направляющие, эталон,выполненный в виде шелевой диафрагмы 2,и мотопривод для перемещения каретки 3.На каретке 3 укреплены микрообъектив 4,тубусный объектив 5, фотодатчик 6 и пружинный подвес с ощупывающим штифтом 7,связанный с микрообъективом 4.Предметная плоскость микрообъектива4 совмешена с ттлоскостью щелевой диафрагмы заданной формы, укрепленной встанине 1....
Способ измерения параметров механизма
Номер патента: 506758
Опубликовано: 15.03.1976
МПК: G01B 11/24, G01B 9/021
Метки: механизма, параметров
...объектный пучки 4, 8 заняли в пространстве положение, обусловленное при синтезе.Поворачивают голограмму 2 относительнооси звена 1 и находят такое поло жение голограммы, когда одно из закодированных в ней изображений ведомого звена точно совпадает с изображением реального ведомого звена 3. Только в этом положении наблюдается интерференционная полоса 25 бесконечной ширины на фоне изображенияобъекта.Закрепляют голограмму на звене 1 в этомположении и отмечают на диаграмме нулевую точку - начало отсчета.30 Вращают ведущее звено 1 вместе с голограммой до тех пор, пока не появится следую506758 тавитель В. Мартынов Текред О. Кудинова Корректоры: Н. Ау и И, озняковска Редакто озжечков Тираж 854 Совета Министров и открытийская наб., д. 45...
Устройство для контроля полированных пластин
Номер патента: 507771
Опубликовано: 25.03.1976
Авторы: Гвоздевский, Иванов, Савлук, Щевелев
МПК: G01B 11/24, G01B 11/30, G01B 9/02 ...
Метки: пластин, полированных
...расположен над полупроэрачным зеркалом так, что его горизонтальная плоскость служит опорой для контролируемой пластины,В предлагаемом устройстве эталонный25 ический клин закреплен постоянно, акбгерентное излучение направлено через него, коллиматор и полупрозрачное зеркало на поверхность контролируемой пласти,ны, вплотную прилегающей к горизонталь ной поверхности клина, Такое взаимное расположение частей устройства, а также расположение контролируемой пластины по отношению к эталонному клину позволяет устранить операцию по выставлению оптического клина в процессе контроля, и, следовательно, повысить производительность контроля., На чертеже изображено описываемое уст; ройство.Оно содержит источник когерентного из 5 лучения-лазер 1,...
Устройство для контроля профиля вогнутых оптических поверхностей
Номер патента: 516904
Опубликовано: 05.06.1976
Автор: Юров
МПК: G01B 11/24, G01D 5/39
Метки: вогнутых, оптических, поверхностей, профиля
...знак отклонения контролируемого профиля. Сигнал знака, сформированный определителем 5, и видеоимпульсы, возникающие на выходе телекамеры 2, поступают в вычислительный блок 4,Блок 4 определяет среднюю длину светового индекса путем подсчета видеоимпульч.сов с учетом знака, поступаюшего из оп.ределителя 5, по полученной длине вычисляет погрешность профиля при каждом положении пентапризм 13, 14 и управляетприводом 16 перемещения пентапризм 13,14. Кроме того, блок 4 вырабатываетнеобходимые сигналы управления телекамерой. 2 и определителем 5. Формула изобретения Устройство для контроля профиля вогнутых оптических поверхностей, содержащееи автоколлимационный аберрометр с осветителем и приводом, приемнорегистрируюшее телевизионное...
Интерферометр для контроля формы плоских полированных поверхностей
Номер патента: 518622
Опубликовано: 25.06.1976
МПК: G01B 11/24, G01B 9/02
Метки: интерферометр, плоских, поверхностей, полированных, формы
...пластину 8, нижняя поверхность которой является образцовой. Интерферендионные пучки (от образцовой поверхности плас тины 8 и контролируемой поверхности детали 15) возврашаются назад на.параболлоид 7 и, вследствие небольшого смешения входной диафрагмы 5 с оптической оси нарабол/ ланда (смещаются прибди;.нтельно на 30 не- сколько в старо. у) попадая нд центральнуючасть сф:рического зеркала 9, обраэукт на его поверхности изображение 5 диафрагмы 5, которое снова наблюдательной системой 10 переносится в следующую плоскость, давая изображение 5, Вблизи этой плоскости наиходится глю наблюдателя.Сферическая отражающая поверхность зеркала О выполняет роль оптического элемены (коллектива), пригибающего. все отражаю:.:;не:я от него наклонные лучи...
Устройство для измерения погрешности профиля эвольвентной поверхности детали
Номер патента: 518623
Опубликовано: 25.06.1976
Авторы: Гафанович, Гацкалова, Прусихин
МПК: G01B 11/24, G01B 9/02
Метки: детали, поверхности, погрешности, профиля, эвольвентной
...9 жесткозакреплена на сбшей оси с диском 1 преоб- фйразователя перемещений.Свет от источника 7 попадает на светоделитель 4, после чего половина луча, отразившись от эталонного зеркала 5 и отсветоделителя 4, попадает в объектив 6. ВВторая половина луча отклоняется светоделителем 4 в сторону полупрозрачногозеркала 3 и контролируемой детали 9, аотразившись от них и пройдя светоделитель,попадает также в объектив 6. При этом Япервая и вторая половина луча интерферируют, а результат интерференции в видеполос наблюдается визуально.Чтобы отличить одну систему интерференционных полос от другой, их ориентируют по-разному, Необходимую ориентировку полос можно получить юстировочныммикроперемешением полупрозрачного зеркала 3,В начале работы...
Способ контроля асферических поверхностей
Номер патента: 520509
Опубликовано: 05.07.1976
Авторы: Горелик, Мондрус, Французов
МПК: G01B 11/24
Метки: асферических, поверхностей
...способом производят следующим образом,Контактирующий элемент 1 устанааливают на подвижной Оси 2 поворота которую ориентируют перпендикулярно меридиальной плоскости контролируемой поверхности детали 3. В пропессе контроля н= прерывно поворачивают контактирующий элемент 1 вокруг Оси 2 поворота дс касания с контролируемым профилем детали 3, ЗЕ Автоколлиматор 4 перемешают вместе с осью 2 так, чтобы его оптическая осьвсегда находилась в меридиальнсй плоскости. При этом ось 2 перемещают по траектории, представляющей собой подэру.з контрс- И лируемого профиля относительно рассчитанной точки А, расположенной в меридианальной пл Оскости. Оптическую ось автоколлиматора 4 постоянноо ориентируют так, чтобы она всегда гересекала точку А и ось 2...
Автоколлимационный способ контроля профиля выпуклых криволинейных поверхностей
Номер патента: 520510
Опубликовано: 05.07.1976
Авторы: Горелик, Маренков, Мондрус, Плотников
МПК: G01B 11/24
Метки: автоколлимационный, выпуклых, криволинейных, поверхностей, профиля
...который поворачивают, нами, который измеряют оптической систе.вокруг оси, проходящей через точку, отно,мой, судят 0 периметрах контролируемогорительно которой определаена нодара, и ; М 1 профиля.520510,Источникп информийи, принятые во вниме тин 5 под углом, дополняющим до прямогогугол, спомощью, которого получена изоптичекая кривая проверяемого профиля,Предложенный способ дает возможность,35контролировать автоколлимационным метоние при экспертизе:1, Авт. св.138797 по кл, 001 В 11/242от 1961 г.2, Авт. св,241024, покл.Ъ 01 И 11/24от 1969 г. ЦНИИ аказ 4232/203 Тираж 8 11 П писноР Л "Патент", г, Ужго Филиа 3 фСущность изобретения поясняется чер- дом поверхносом етежом,ости как второго, так и болеевысоких порядков,Контроль...
Интерферометр для контроля качества выпуклых гиперболических зеркал телескопа кассегрена
Номер патента: 523274
Опубликовано: 30.07.1976
Автор: Пуряев
МПК: G01B 11/24, G01B 9/02
Метки: выпуклых, гиперболических, зеркал, интерферометр, кассегрена, качества, телескопа
...фокусы контролируемой гиперболической поверхности, С - центр кривизны вогнутой полупрозрачной поверхности линзы 2,Лучи, выходящие из лазерного источника света 5, фокусируются линзой 4 в точку Р, являющуюся передним фокусом выпуклой поверхности линзы 2, поэтому внутри линзы лучи света идут параллельно оптической оси. Так как радиусы сферических поверхностей линзы одинаковы и точка Р совмещена с точкой Р то после выхода из линзы лучи света отражаются от гиперболической поверхности, падают нормально на вогнутую поверхность линзы 2 и после отражения от нее повторяют свой путь в обратном направлении. Лучи, выходящие из рабочей и эталонной ветвей, интерферируют между собой,Заключение о качестве контролируемой поверхности делают по виду...
Интеферометр для исследования качества поверхностей и аберраций крупногабаритных оптических элементов и прозрачных неоднород ностей
Номер патента: 529362
Опубликовано: 25.09.1976
Авторы: Астахова, Духопел, Федина
МПК: G01B 11/24, G01B 11/30, G01B 9/02 ...
Метки: аберраций, интеферометр, исследования, качества, крупногабаритных, неоднород, ностей, оптических, поверхностей, прозрачных, элементов
...в в-.оо,л 1 г, апионпой схеме сов. 1 стн с исслецус п зеркалом 7 н устанавливается, в .;а: и:сстот контролируемого объекта,;,.цоо; цг",та.-.кривизны сферического зеркала, либо в фо -кусе исследуемого объектива,Работает интерферометр слецуюшим образом.25Параллельный световой пучок монохроматического света направляется на объектив 1, фокус которого совмещен с отражающей поверхностью зеркала 5. После выхода из объектива пучок света светопелителем 2 део ЭО лится на два пучка - рабочии и опорныи. Рабочий пучок, пройдя светопелитель 2, с помощью зеркала 3 и светоделителя 4 направляется на исследуемое сферическое зеркало 7. Опорный пучок после отражения от светоделителя 2 попадает на линзу 6, а,затемЗВ зеркалом 5 направляется на зеркало...
Оптический плоскомер
Номер патента: 529365
Опубликовано: 25.09.1976
МПК: G01B 11/24
Метки: оптический, плоскомер
...муфтой, связывающей оба корпуса. Это поз,воляет увеличить точность, повысить надеж-ность ц удобства измерений.На чертеже изображен преплагаемый плосомер. Он содержит основание 1, в котором азмешен диск 2 и внешний корпус 3, кото ый вращается нв основании ц опорном щарикопопщцпццке 4. В корпусе установлены окуляр 5, зашитное стекло 6, головка 7 пф)зопв отсчетногс мпкровицта прибора и поодковая муфта 8. При помоши этой муфтЬт лсушествляется одновременное вращение и торого корпуса 9, в котором размещены пентапрцзма 10, оптический компенсатор 11 бъектцв-вксикоц 12, микрообъектив 13 и ,етка 1 4. Основание 1 цесет также арреть, 529365 руюшее устройство, состояшее из многозаходного винта 15 и рукоятки 16.Для измерения плоскомер устанавливают на...
Способ бесконтактного измерения окружного шага зубчатых колес
Номер патента: 533817
Опубликовано: 30.10.1976
Авторы: Скрибанов, Харизоменов
МПК: G01B 11/14, G01B 11/24
Метки: бесконтактного, зубчатых, колес, окружного, шага
...первым зубьями колеса;-- величинь; рассогласования по фазе между импульсами с частотами 1, и .в в момент появления сигналов с фотоэлектрич е с к о г о91 12 9: При вращении колеса,11 на выходе фотоэлектрического датчика б появляется последовательность импульсов, которые характеризуют величину окружного шага колеса.Основным требованием работы данного устройства является равномерность вращения колеса, что обеспечивается точностью задающей частоты , образцового генератора.Задание скорости осуществляется импульсами опорной частоты 1 которые подаются на вход блока 8 стабилизации скорости, на другой вход подаются импульсы обратной связи с частотойдатчика 2 угловых перемещений.Рабочим режимом устройства является синхронный режим работы, когда...
Интерферометр радиального сдвига
Номер патента: 534644
Опубликовано: 05.11.1976
Авторы: Ларионов, Лукин, Мустафин, Рафиков
МПК: G01B 11/24, G01B 9/021
Метки: интерферометр, радиального, сдвига
...интерференционной картины к внешним воздействиям, например 5 вибрациям, обусловленная тем, что эталонные и рабочие ветви разделены,Наиболее близким по технической сущности к предложенному изобретению являеъся интерферометр радиального сдвига, содержащий установленные последовательно иеточник света, оптическую систему, осуществляющую деление исследуемого волнового фронта на два и их относительный радиальный сдвигирегистрирующий блок. Опти кого интерферометра выстемы зеркал, полупрозразовых элементов 2.кая система производитлны только в радиальном534644 Составитель В. Горшковактор Н. Вирко Техред М. Левицкая Корректо екмар 64 Подписное комитета Совета Министр ретений и открытий 5, Раушская наб., д. 4/5 ов СССР филиал ППП Патент, г....