G01B 11/22 — для измерения глубины

Номер патента: 81664

Опубликовано: 01.01.1949

МПК: G01B 11/22, G01N 3/46

Метки: 81664

...на упругой пластинке 7; пластинку нагружают съемным грузом 8. На стержне 6 закреплен груз 9 постоянного веса и стерженек 10, на нижнем конце которого прикреплена кожаная подушка 11; перед началом испытания стержень с подушкой опускают в чашку в центре диска и набирают на поверхность подушки абразив.Радиальное направление царапин на испытываемой пластинке достигается посредством направляющей вилки 12 н фиксатора 18.Для нанесения царапины шнурок 14, прикрепленный к металлическому стержню, снимают с крючка 15, набирают абразив, стерженек вставляют в прорезь направляющей вилки, подушку с аоразивом опускают и протягивают по поверхности испытываемой пластинки от края диска до упора в чашку.Сменный груз 8 применяют при испытании материалов...

Номер патента: 134886

Опубликовано: 01.01.1961

Авторы: Огнева, Ухорский

МПК: G01B 11/22

Метки: глубокого, обнаружения, отверстия, прибор, прямолинейности

...собой гибкой связью 3. В цанге 1 помещен фотодиод 4 с диафрагмой 6, центр отверстия 6 которой находится на осицанги 1 Вся поверхность фотодиода 4, за исключением центральной окружности, диаметр которой равен диаметру отверстия 6, затемнена,В цанге 2 помещены осветитель 7, собирающая 8 и фокусирующая9 линзы. Линза 9 фокусирует световой поток, падающий на поверхностьфотодиода 4,При установке прибора в прямолинеиное отверстие оси цанг 1 и 2,центр отверстия 6 и фокус линзы 9 располагаются на одной оси, световое пятно попадает на незатемненную центральную окружность поверхности фотодиода 4, в цепи которого протекает ток.При установке прибора в отверстие, имеющее криволинейность,световое пятно попадает на затемненную часть поверхности...

Номер патента: 179955

Опубликовано: 01.01.1966

МПК: G01B 11/22

Метки: 179955

...плоскости так, чтобы изображения марок совпали с противоположными поверхностями, например с правыми стенками деталей. После этого изображения обеих марок, полученные в результате отражения пучков лучей от двух одноименных поверхностей, проектируют в общее поле зрения и по расстоянию между этими изображениями определяют разность размеров сравниваемых деталей.На чертеже изображена схема осуществления предлагаемого способа.Контролируемую деталь 1 и образцовую деталь 2 устанавливают так, чтобы изображения марок 3 и 4, даваемые обьективами б и б, совпадали с левыми (или правыми) стецками деталей. Из ооъектцвов 7 и Ь выходят параллельные пучки лучей, которые с помощью зеркала 9 ц полупрозрачной пластинки 10 соединяются и надаот ца...

Номер патента: 233938

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Бухарев, Моначенков

МПК: G01B 11/04, G01B 11/22

Метки: измерительного, линейных, микроскопа, оптический, помощью, размеров

...в разрезе. ен измерительныи еталь с измеряемь ми м отОсуществляется предлагаемый схтикроскопе следующим образом,б н Известен опти нейных размеро микроскопа. Предлагаемый ся от известного длины сквозных формообразующ рах для искусст ось тубуса изм полагают под у верстия, измеря верстия, последо начала и конца окулярного мик деляют длину отспособ отличает- целью измерения например длины верстий в фильеокна, оптическую микроскопа расизмеряемого отобразующей отовмещая кромки с риской шкалы роскопа, и опре- формуле Изделие 1 с отверстие необходимо измерить, уста метный столик 2 микрос ось тубуса 4 которого со меряемого отверстия неко мер 30, и совмещают пос и конец отверстия с риск го микрометра 5.По показаниям шкалы винта б...

Номер патента: 364880

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Жарков, Новиков, Перевозкин

МПК: G01B 11/22

Метки: глубины, обезуглероженного

...нных рядом лежащих енного слоя последована фотоэлектрический и записывают характер Величина фототока будет ичеству структурно-свособ позволяет определять енного слоя и характер я углерода по глубине ых сталях. изобретения глубины обезуглерожений приготовление метала и исследование его под ющийся тем, что, с целью ышения точности измерепроектируют увеличен- ения слоя на фотоэлектизлучения, преобразуют алы и записывают измеИзобретение относится к области изысканияспособов контроля качества стали, в частности способов определения обезуглероживаниястали,Известен способ измерения глубины обезуглероженного слоя в конструкционных углеродистых сталях, заключающийся в приготовлении металлографического шлифа, травлении и исследовании его под...

Номер патента: 769319

Опубликовано: 07.10.1980

Автор: Полещук

МПК: G01B 11/22

Метки: автоматической, излучения, светового, фокусировки

...поток от излучателя 1 (лазера) расширяется коллиматором 2 и поступает через свстодслитсль 3 к фокусирующему объективу 4. В фокальной плоскост этого объсктпва расположена рабочая поверхность 5. Отра)кенный от поверхности 5 световой поток направляется объект;вом 4 через призму к приемному объскт 5 Ву 6. Последовательно с объективом 6 располо жена под углом к оптической оси оптическая (стеклянная) пластина 7, перекрывающая часть светового потока. Часть светового потока, минующая пластину 7, фокусируется и фокальиой плоскости объсктива (,1,руга 5 часть, прошедшая пластину 7, фокусируется в иной плоскосги (на чертеже эти плоскости отмечены штриховыми линиями). Расстояние между плос КОС 5) И 1)ОКУСИРОВКП ОООИХ СВСТОВЫХ ПО-...

Номер патента: 777410

Опубликовано: 07.11.1980

Авторы: Кеткович, Маслов, Новиков

МПК: G01B 11/22

Метки: внутреннего, дефектов, оптических, отражения, поверхностей, полированных, полного, углом

...с помощью коллимационной опигческой системы 2 формируют узкий параллельный пучок лучей, который разделяют,на два полупрозрачной пластиной 8. Ответвленный пучок лучей преломляют на плоском зеркале 4 и ооа пучка направляют сквозь узкополосные светофильтры б, б перпендикулярно поверхности боковой грани призмы 12. Если на этой грани отсутствует поверхностный трещиноватый слой, то оба пучка преодолевают травницу раздела воздух - стекло:и распрострачяются в прямом,направлении до отражающей грани призмы 12, на которую оба луча падают под углом р=р, где 13 - угол между гранями призмы 12 по ходу лучей. Так как выполняется условие р=агс зп1где и 1 и 1 и - спектральный поиказатель преломления материала призмы, то оба луча претерпевают...

Номер патента: 1348638

Опубликовано: 30.10.1987

Автор: Самсонов

МПК: G01B 11/02, G01B 11/22, G01B 11/24 ...

Метки: линейных, объекта, размеров

...образом.Объект 6 с контролируемой поверх 25 ностью освещают лазером 1. За счет этого формируют волновое поле от объекта 6. Например, интерферируют падающие и отраженные от объекта 6 лучи, дифрагируют падающие лучи при малых размерах объекта 6.С помощью первой линзы 2 осуществляют прямое Фурье-преобразование пространственного волнового поля от объекта 6. Помещая в преобразованное 35 волновое поле частотную маску 3, реализуют свертку Фурье-образа волнового поля от объекта 6 с частотной маской 3. Вторая линза 4 осуществляет обратное фурье-преобразование прост ранственного волнового поля, прошедточку в фокусе линзы 4. Таким образом, степень соответствия волновогополя от объекта эталонному можнопроверять по максимальной амплитудеволнового...