Двухлучевой интерферометр

Номер патента: 607098

Автор: Хрипунов

ZIP архив

Текст

4 бплтин О Л И С АЪиЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ Своз Советских Социалистических республик) 3.639048 Л 8-2 присоединением заявки3) Приоритет 1 еоудвротвенный номнтет Зовете Инннотров СССР ао делам нзобретеннй н открытей(45) Вата опубликования описази 72) Автор изобретения П, К. Хрип(71) Заявнтел нкский т осупарствепиый ун йиуимтщЮН ИНТ 1 .йИзобретение относится к оптическим нри- на поверхность АД под углом, большим угла борам, предназначенным. для определения по- полного внутреннего отражеивя, При прохожказателя преломления газов, жидкостей и твер- денни внутри пластины 1 луч йретерпевает .дых веществ, многократное внутреннее отражение на поверхИзвестны двухлучевые иитерферометры с иостях АД и ВС, Падая на срезанную под плоскопараллельнымн пластинами 111. ф углом,6 зеркальную поверхность ДС, луч отНаиболее близким техническим решением к рвжается от. этой поверхности, выходит из изобретению является двухлучевой ннтерферо- пластины 1 в направлении СВ, н падает. иа метр, содержащий две плоскопараллельиые зеркалъиуео поверхность ДС пластины ц. пластины, на одну из которых падает входящий Для увелнчеаия и выравнивания интенснв пучоклучей, а с выхода другой снимается щ:костей лучей 0 и 08 на торцовые поверхинтерферирующнй пучок лучей 121. Однако . ности АВ и ДС, пластин 1 и 11 соответствеи усгройство известных интерферометров сложно, но наносят полупрозрачное зеркальное покрыЦель изобретения - упрощение устройства, тие, Луч 08, отразившись от поверхности АВ Цель достигается тем, что в предлагаемом под углом е, йадает на зеркальную поверх. интерферометре каждая из пластин выполне-ность А,В,. Пройдя в пластине 11 ту же опна со скошенными торцами, и обе пластины 1 ф тическую длину нуги, что и в пластине 1, луч установлены так,. что вошедшие в них лучи ннтерфернрует с лучом, отраженным от поверх- претерпевают до своего выхода многократное ности ДС, в направлении ОЯполное внутреннее отражение.На чертеже изображена схема предлагаемо- двухлучщвой интерферометр позволяет прн го двухлучевого интерферометрафв одинаковой с известным интерферометром ЖаЛуч МО падает на торцовую поверхность лина величине разведения интерферирующнх АВ плоскопараллельной пластины под углом лучей уменьпевть толщину пластин, что, в свою 1. Часть луча отражается от поверхности АВ очередь, позволяет значительно снизить трепод углом г = , а другая часть проходит в бования к степени однородности материала пределы пластины в среду с показателем пре- пластин и повысить устойчивость интерференломления и, преломляясь под углом г н папая ф цяояной картины н точность измерений,607098 формула изобретения в,Соколя Составитель Сехред О. Лутокраж 872 Редактор Еаказ 2570 ковчнк нного конитета Со и изобретений иа, Ж, Раушскаяатентъ, г. Ужгород НИИП та Ми тнрыти наб.,ул. ПрГосударствпо дела 035, Моска л ППП сП г илн Двухлучевой иитерферометр, содержащий две плоскопараллельные пластины, на одну из которых. надает входящий пучок лучей, а с выхода другойснимается интерферирующий пучок лучей, отличающийся тем, что, с целью упрощения устройства, каждая из пластин выполнена со скошенными торцами, и обе пластины установлены так, что вошедшие в них лучи претерпевают до своего выхода многократное полное внутреннее отражение. Источники информации, принятые во внимание прн экспертизе:1, Королев Ф, А, Спектроскопия высокой. . разрешающей силы. М, 953, с, 52, рис, 88.2, Шишловский А. А. Прикладная физическая оптика.М., Физматгиз, 1961, с. 176, рис. 138. Корректор Н. ТупицПодписноеистров СССР4 Фектная, Ф

Смотреть

Заявка

1639046, 29.03.1971

ТАДЖИКСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ

ХРИПУНОВ ПЕТР КОНСТАНТИНОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01B 3/02

Метки: двухлучевой, интерферометр

Опубликовано: 15.05.1978

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-607098-dvukhluchevojj-interferometr.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Двухлучевой интерферометр</a>

Похожие патенты