G01N 21/95 — характеризующееся материалом или формой исследуемого объекта

Номер патента: 219844

Опубликовано: 01.01.1968

Автор: Ггалй

МПК: G01N 21/95

Метки: дефектов, наличие, тонкостенных, труб

...19 и ослабитель 20 отраженного от поверхности потока излучения, Модулятор 5 выполнен с зеркальной поверхностью 21.Принцип работы предлагаемого устройства заключается в следующем.Пучок излучения от источника 1 попадает на полупрозрачное зеркало 18, причем небольшая часть пучка, отразившись от него, попадает на отражающее зеркало 19 и направляется на модулятор 5. Прошедшая через полупрозрачное зеркало основная часть219844 каз 2665/6 Тираж ЦНИИ ПИ Комитета по и открытий при Совете Москва, Центр, пр530 Подписноеделам изобретенийМинистров СССРСерова, д. 4 Типография, пр. Сапуно пучка фокусируется на поверхность контролируемого изделия 22 и нагревает его на малой площади. Отраженный от поверхности изделия поток излучения проходит через...

Номер патента: 282722

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Бекешке, Муравьев, Ощепков, Рыбалка, Упадышев

МПК: G01N 21/95

Метки: наличиедефектов, тонкостенных

...в токтролирусмого участка поток электромагпиасного диапазона ча верхности два приех которых фиксируют и Спссоо коталинке деф та поверхно тслпя напр :злучсния истанавливаютзлучения, од и начто изного стот, ника оток нтроля ктов, з ть кот вляют нфракр туп ним пз 25 О Известен способ неразрушающего контроля тонкостенных изделий по распределению тепловых полей поверхности, заключающийся в том, что на контролируемое изделие направляют потоки инфракрасного электромагнитно. го излучения, двумя поиемниками измеряктт потоки, отраженные от нагретого участка поверхности, и по отношению величин отраженных тепловых потоков фиксируют сигналы о дефектах, независимые от величины излучательной способности материала. Однако известный способ...

Номер патента: 292318

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Себасть, Федеративна

МПК: G01N 21/95

Метки: шариков

...8 втулки 7, установлены индикаторы 10 и прижимы 11. 1(роме того, устройство снабжено сортировочным блоком, связанным с барабаном н управляемым по сигналу от индикаторов 11. Сортпровочпй блок включает желоба 12 со стрслочными переводами 18 и сборниками 14, 15. Для размагничивания проконтролированпых шариков на входе сортировочного блока установлен электромагнит 16.Приводной орган в описываемом устройстве может б.1 ть выполнен также в видс бес- копсчпОЙ ДВ 11 куцсЙС 5 лсГГы 17 (см. фиг, 3 н 4), совершающей одновременно качатсльнос движение в и, перпендикулярном направленио основного движения.Работает устройство слсдуюпц 1 м образом.Г 1 ри включении шагового привода (на чертсках нс ГОказан) оарабапа 4 послсдпиЙ прсрывисто вращается...

Номер патента: 390422

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Амазасп, Афанасьева, Григор

МПК: G01N 21/95, H01L 21/66

Метки: выявления, дефектов, кристалла, поверхности, полупроводниковых, приборов

...изображения с усиленным или ослабленным контрастом.20 Длч получения видимого изображения используется световой сигнал, отраженный от поверхности объекта при сканировании светового зонда и регистрируемый фотоэлектронным умножителем.25 На чертеже изображена блок-схема устройства, где обозначены: 1 - телевизионная проекционная трубка; 2 в объектив; 3 - полупро водниковый прибор; 4 - видеоусилитель фотоответа; 5 в световод; б - фотоэлектронный 30 умнояитель (ФЭУ); 7 - видеоусилитель ФЭУ;390422 Составитель В. Громоедактор Б. Нанкина Техред Е. Борисова ейзерман Царькова рректоры: Ми аказ 30686ЦНИИПИ Изд.1734 Тираж 755 осударственного комитета Совета Минист по делам изобретений и открытий Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5одписное Типография,...

Номер патента: 407223

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Яковлев

МПК: G01N 21/95

Метки: дефектов, обнаружения, поверхности, шара

...системой, подключаемой к каналаы гнппнделя и стержня,Это позволяет повыоить надежность контроля, так как вакуумная система порочно удерживает шар в торце шпинделя. На чертеже изображе я установка,Она содержит шипиидель 1, стержень 2, пдольные сквозные каналы 3, контролируемыйшар 4, датчик 5 для фиисации дефектов, например фотоэлектрический,Установка работает следующ(им образом.Вместе со шпинделем 1 в горизонпальнойплоокосги вращается и контролируемый шар10 4, закрепленный на его торце с помощью вакуумной системы (на чертеже не показана),при этом датчик 5, установленный строго пооси шпинделя 1, перемещается в плоскости на90 до положения, обозначенного пунктиром, иконтролорует половину шара.Затем стержень 2 сближается с шатром, вего...

Номер патента: 375530

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Котровский, Мирошник, Никитин

МПК: G01N 21/95

Метки: изделиях, непрозрачных, обнаружения, отверстии, полых

...предлагаемое устройство в разрезе; на фиг. 2 - его принципиальная схема.Корпус 1 раздеотсека 3 и 4. В о лен перегородкои 2 на два тсеке 4 помещен фотоумножитель б, соединенный со светопроводом б.Последний расположен в отверстии перегородки 2 и служит держателем тубы 7, котораявставлена через отверстие в корпусе в отсек5 3 и надета на торцовый конец светопроводаб. В отсеке 3 расположены световые излучатели 8, Сигнальные лампы 9 и 10 вынесеныиз устройства.Устройство содержит реле 11 и 12, а также0 тумблер 13 и выключатель 14.Устройство работает следующим образом.При включении тумблера 13 загораетсялампа 9, сигнализирующая готовность уст 5 ройства к работе, после чего на светопровод бчерез отверстие в корпусе одевают контролируемую...

Номер патента: 623142

Опубликовано: 05.09.1978

Авторы: Дунаев, Сорокин, Шепелев

МПК: G01N 21/95

Метки: меридианной, развертки, шариков

...оси конуса и проходящей через точку касания шарика сконусом, диаметр окружности конуса ра 5вен диаметру сечения шарика,На фиг. 1 изображено устройство длямеридианной развертки шариков; на фиг, 3то же, вид сбоку; на фиг, 3 - осевое сечение одного иэ участков устройства. 1 ОУстройство для меридианной развертки шариков состоит из валика 1, имеющего участки 2, каждый участок представляет собой два усеченных конуса направленных меньшими основаниями друг к дру 15гу; валика 3, разделенного на участки 4,диаметр каждого участка равен диаметруконтролируемого шарика Я кулачка 6,пружины 7, ролика 8, электродвигателя9 и шестерен 10 и 11. 20В сечении А-А, проведенном черезточку .касания конуса и контролируемогбшарика 5, диаметр окружности...

Номер патента: 682285

Опубликовано: 30.08.1979

Авторы: Адольф, Харитонов

МПК: G01N 21/95

Метки: визуального, шаров

...днища кассеты ц шарнирным5 о 15 20 25 зо ;15 о креплением крышки 8 образуется щель цля сброса просмотренных шаров в желоб 7. По обе стороны кассеты 7 в панели 1 встроены два патрубка 18 с бортиками 19 для сброса бракованных шаров в сборник 20. На панели установлены блоки люминесцентных ламп 21 с защитными экранами 22 и 23 и охватывающая их жесткая светозащитная оболочка 24 со смотровым окном со шторками 25 и отверстиями для рук.Устройство работает следующим образом.Регулятор 5 выставляется на высоту, при которой шары беспрепятственно проходят под нижней его кромкой с укладкой в один слой. Ниже регулятора по ходу движения шаров в лотке 4 установлена дозирующая заслонка 6 с рукояткой, которая поворачивается относительно свосй оси и...

Номер патента: 798566

Опубликовано: 23.01.1981

Авторы: Закупин, Шипулин

МПК: G01N 21/95

Метки: bpa-щения, изделиях, обнаружения, поверхностныхдефектов, тел, форме

...неподвижного годного изделия, на фиг, 3 - типичное распределение амплитуды сигнала от биений.(кривая А) и шума поверхности кривая В по углу регистрации Ч (пунктирной линией показана экспериментальная индикатриса для данного видаизделий); на фиг, 4 - распределение 15отношения сигнал-шум для контролируемых дефектных изделий, на фиг. 5типичная зависимость отношения сигнал-шум от угла падения наклонногопучка света для различных видов по- Яверхностных дефектов,Способ осуществляется следующимобразом.На поверхность неподвижного год"ного изделия 1 направляют под углом д9 луч 2 света и, перемещая фотоприемник 3 по углу 4, Отсчитываемого от направления зеркального отражения, измеряют интенсивность отраженного света, строят индикатрисурассеяния и...

Номер патента: 798567

Опубликовано: 23.01.1981

Авторы: Гребенюк, Гребнев, Кречман, Суминов

МПК: G01N 21/95

Метки: вращения, дефектовповерхности, тел

...отраженных различными участками поверхности световых потоков. Цель изобретения - увеличение чувствительности контроля.Указанная цель достигается тем что в известном устройстве для контроля дефектов поверхности тел вращения, содержащем лазер, коллиматор, цилиндрическую линзу, оптические оси которых расположены нормально к поверхности тела вращения, Фотоприем" ники, установленные под.фиксированным углом к оптической оси лазера, блок обработки фотоэлектрической информации, фотоприемники разделены между собой светонепроницаемыми шторками и расположены под различными углами к оптической оси лазераНа Фиг. 1 изображена принципиальная оптическая схема предлагаемого устройства, на фиг. 2 показана оптическая схема устройства с тремя различными...

Номер патента: 1073645

Опубликовано: 15.02.1984

Автор: Шипулин

МПК: G01N 21/95

Метки: вращения, дефектов, поверхности, тел

...волоконные световоды, 40 расположенные между поверхностью тела вращения и фотоприемником, и регистрирующий прибор, содержит цилинд. рический блок, установленный между источником излучения и Фотоприемни ком, осветительные волоконные свето воды, расположенные между источником излучения и поверхностью тела вращения, при этом торцы осветительных волоконных световодов и приемных волоконных световодов, обращенные к поверхности тела вращения, соединены попарно и расположены по спирали на поверхности цилиндрического блока, а другие торцы световодов собрайы в два сплошных кольца, рас положенных соосно с цилиндрическим блоком и обращенных к источнику излучения и фотоприемнику, причем цилиндрический блок вместе со свето- водами выполнен с...

Номер патента: 1158908

Опубликовано: 30.05.1985

Авторы: Витман, Гребенюк, Гребнев, Кречман, Наумов, Суминов, Фигурин

МПК: G01N 21/95

Метки: вращения, дефектов, обнаружения, поверхности, тел

...невысокая надежность обнаружения и малая чувствительностьдоминирующих дефектов.Указанные недостатки связаны стем, что при определении угла установки приемника излучения,по отношению сигнал/шум которого судят окачестве контролируемой поверхности,ориентируются на минимум шумовогосигнала, т,е, минимум интенсивностиот бездефектной поверхности контролируемой детали. Такой подход иобусловливает недостатки способа.1Минимум интенсивности индикатрисы рассеяния от бездефектной поверхности, имеющий место на уровне точек перегиба ее ветвей, не однозначно обусловливает получение максимального отношения сигнал/шум в этойобласти при контроле всей совокупности дефектных деталей, так как каждой конкретной детали присущи своидефекты с...

Номер патента: 1275273

Опубликовано: 07.12.1986

Автор: Борзых

МПК: G01N 21/95

Метки: дефектов, поверхности

...предлагаемого способа,Схема содержит генератор 1 импульсов, распределитель 2 импульсов, подключенный к выходч. генератора 1 ипредставляющий собой, например, счетчик с дешифратором, светодиодную матрицу 3; подклйченную к вьгходам распределителя 2, выполненную в видечасти сферической поверхности и установленную так, что светодиоды обращены к контролируемой детали 4, а ихоси пересекаются в одной точке контролируемой поверхности, В схеме имеется объектив 5, ось которого проходит также через указанную точку и че 55рез центр матрицы 3. В плоскостиизображений объектива 5 установленаполевая диафрагма б а за ней - фото изобретения Фо рмул аСпособ контроля дефектов поверхности, заключающнйся в том, что контролируемой детали сообщают...

Номер патента: 1317337

Опубликовано: 15.06.1987

Авторы: Гуния, Новиков

МПК: G01N 21/95

Метки: дефектов, поверхности, фотоэлектрическое

...его коэффициента отражения, воспринимается фотоприемником 3, преобразующим оптический сигнал в электрический. Электрический сигнал с Фотоприемника 3, содержащий полезные сигналы и шум, усиливается усилителемпреобразуется в однополярный сигнал выпрямителем 5 и поступает на вход первого ключа 6. При наличии на управляющем входе первого ключа 6 импульса разрешения интегрирования Т., (первый оборот изделия) первый ключ 6 открыт, сигнал И,. с выхода выпрямителя 5 поступает на первый вход ком 45 50 55 оборотов изделия.ЗО По заднему фронту импульса Т за 1317337мутатора 13 и вход компаратора 11. Компаратор 1 сравнивает текущую амплитуду электрического сигнала 1, со среднестатистическим уровнем шума 11 Ц, . т контролируемых изделий 2, который...

Номер патента: 1442892

Опубликовано: 07.12.1988

Автор: Борзых

МПК: G01N 21/95

Метки: дефектов, поверхности

...результате сравнения выдвигают 1"и -потезу о 1 ринадлежности текущего набора разностей Определенному типу дефекта ч 11 и дают заключение об отсутствии дефекта на данном участке кочтролируемой поверхности, За время контроля всей поверхности раздельно подсчитывают количество Одинаковых гипотез, поступающих через каждый оборот детали, и группируют их для Определения размеров дефектов и их осевой координаты, Полученная информация может быть использована для сортировки деталей или для выявления систематического появления брака какого-либо вида,Таким Образом распознавание типов дефектов ведут путем сравнения наборов текущих разностей с эталонными наборами, которые можно рассматривать как сгектры пространственных частот рельеф,.а...

Номер патента: 1509694

Опубликовано: 23.09.1989

Авторы: Стерлигов, Суббота, Ширшов

МПК: G01N 21/95

Метки: дефектов, круглой, объектов, поверхности, регистрации, формы

...на фазовращатель 8 и блок 9 выделения абсолютной величчны сигнала после чего преобразует,ся в П, Для положительных значений 11: Ю А созиУказанный сигнал поступает на первый вход компаратора,. 11С выхода строчной развертки сигнал П поступает на блох 1 О вьще. - ления абсолютной величины сигнала ипреобразуется в 0 . Для положительных значений П :11АЕ(й)Указанный сигнал поступает на второй вход компаратора 11Поскольку в момент времени Й рсигналы П(с в) 11 к Асоз" сроние луча на объекте в этот момент времени обусловлено соответствующимисигналами 11 и Бс и определяется ототклонением луча от середины растра:а в направлении кадра х = -2 в 1 пякСС ь 1а в направлении строки у= 2 созькс ь35где А - амплитуда сигнала;Я- частота кадрового...