G01N — Исследование или анализ материалов путем определения их химических или физических свойств
Устройство для определения ранней стадии пассивации металлов
Номер патента: 1260767
Опубликовано: 30.09.1986
Авторы: Алтухов, Ломовской, Шаталов
МПК: G01N 17/00
Метки: металлов, пассивации, ранней, стадии
...жесткостью упругого высокодобротного торсиона 10.После снятия возбуждающего напряжения с тяговых электромагнитов 13колебательная система (упругий торсион 10 и трехкоординатный четырехплечный зажим 5 с исследуемым элект родом 2) совершают свободно затухающие крутильные колебания, относительно точки соприкосновения плоско 5 1 О 15 20 25 30 35 40 45 50 сти исследуемого электрода 2 со сферической опорой 6.Частота и степень затухания этихколебаний зависит от вязкоупругихсвойств торсиона 10, качества поверхности исследуемого электрода 2 и вязкости раствора электрода 7. Растворэлектролита представляет из себямаловязкую жидкость (значение вязкости .1= 10 Па с), практически не-3оказывающую влияния (при постоянстветемпературы) на ход...
Приспособление для испытания пластинчатых образцов на коррозию под напряжением
Номер патента: 1260768
Опубликовано: 30.09.1986
Авторы: Агроскин, Данчуков, Климова, Сенцова, Трофименко
МПК: G01N 17/00
Метки: испытания, коррозию, напряжением, образцов, пластинчатых
...обращены вовнутрь корпуса 1, и установленные с возможностью перемещения в плоскости, пер пендикулярной оси винтов 2 и 3. Винт 2 шарнирно соединен с тягой 16, а винт 3 " с тягой 17. Тяги 16 и 17 выполнены с последовательно расположенными на них. односторонними высту лами 18-.20 и 21-23 соответственно. Выступы 18-20 тяги 16 входят во впадины между выступами 21-23 тяги 17,Приспособление работает следующимЬбраэом,Испытуемые образцы .4 и 5, 6 и 7,8 и 9 попарно устанавливают в корпусе 1 на соответствующие поверхностиклиньев 10 и 11, 12 и 13, 14 и 15в зазоры между выступами 18 и 21, 19 зазорах между выступами на опорахпопарно устанавливают испытуемые образцы и винтами 2 и 3 перемещаюттяги 16 и 17 в противоположные стороны до обеспечения...
Устройство для определения адгезии металлических пленок
Номер патента: 1260769
Опубликовано: 30.09.1986
Авторы: Гавриленко, Палий, Рогачев
МПК: G01N 19/04
Метки: адгезии, металлических, пленок
...на держателе 2 и закрывают ею дно ванны 3. Ванну 3 заполняют гиротропной жидкостью 4. Включают источник 8 и приемник 10 поляризованного излучения и проводят юстировку оптической системы и проектирование оптического изображения поверхности раздела подложка металлическая пленка на поверхности датчиков матрицы 15 фотодиодов, Включают источник 5 ультразвуковых колебаний, концентратор 6 которого передает колебания гиротропной жидкости 3, под действием которой в металлической пленке 16 возникает нарушение ее сплошности и появляются зоны разрушения. При этом поток излу чения от ксеноновой лампы 13, пройдя через фокусирующую линзу 14 и поляризатор 11, попадает на полупрозрачное зеркало 9 и частично отражается а оставшаяся часть потока...
Устройство для определения адгезионных характеристик покрытия
Номер патента: 1260770
Опубликовано: 30.09.1986
Авторы: Валко, Матвеев, Покалицын, Пятыхин, Толстиков
МПК: G01N 19/04
Метки: адгезионных, покрытия, характеристик
...взаимодействия со вторым торцом 15 сильфона 10, измеритель 16 перемещения сильфона 10, установленный с воэможностью взаимодействия с подложкой 1 и вторым торцом 15 сильфона 10, и блок 17 управления, связанный с приводом 13 винта и пьезоэлементом 14. Кроме того, устройство содер жит пробку 18, установленную в отвер стии торца 15 сильфона 10. Блок 17 управления выполнен в виде электро- привода 19 и регистратора 20 с обрат ной связью.Устройство работает следующим образом. ьЙа поверхность подложки 1 наносятодним из известных способов испытуемое покрытие 3, заполняют сильфон 10 жидкостью 9 и заглушают отверстие сильфона 10 пробкой 18. Устанавливают между подложкой 1 торцом 16 сильфона 10 измеритель 16 перемеще ния сильфона 10,...
Способ измерения влажности
Номер патента: 1260771
Опубликовано: 30.09.1986
Автор: Лазутин
МПК: G01N 19/10
Метки: влажности
...обладал способностью к набуханию. Вследствие того, что это эЛемент измерительной цепи, это свойство должно быть стабильно во времени и не зависеть от внешних факторов.Наиболее перспективными для этой цели являются ионообменные смолы, некоторые полимеры и вещества животногопроисхождения: волос, кожа и т.д.Датчик, конструктивновыполненныйпо этому принципу, выгодно отличают На чертеже показан датчик для осуществления способа.Датчик состоит из подложки-корпуса 1, катушки 2, влагочувствительного вещества (ВВ) 3, защитной обо" лочки 4. Защитная оболочка закрывает катушку от контакта с ВВ для предотвращения коррозии. ВВ сплошным слоем покрывает каркас, непосредственно индуктивность и защитную оболочку над индуктивностью и...
Способ определения среднего по трассе показателя преломления воздуха
Номер патента: 1260772
Опубликовано: 30.09.1986
МПК: G01N 21/41
Метки: воздуха, показателя, преломления, среднего, трассе
...трассезначение показателя преломления воздуха, как среднее из егозначений, рассчитанных по метеопараьйтрам, которые измеряют -на концах11 трассы в момент времени йНа фиг.5 дана схема интерферометра для измерения угла полной реф"реакции., 1260772Интерферометр работает следующим образом.Излучение лазера 3 последовательно проходит поляроид 4, объектив 5, 6, диафрагму 7, пластинку 3 /2-8, поляроиды 9 и 10, диафрагму 11, пластинку /2-12, объектив 13, 14. Систе ма поляроидов и пластинок 9 /2 приводит к тому, что верхний и нижний пучки разделены и при интерференции 10 в точке 2 приема позволяют определить угол б, если измерить разность хода 3 интерферирующих лучей б = 3 /Ъ (Ъ - база интерферометра).Предложенный способ осуществляют 15...
Устройство для обнаружения дефектов в прозрачных тонкопленочных изделиях
Номер патента: 1260773
Опубликовано: 30.09.1986
Авторы: Балабанов, Ковтун, Куфтерина
МПК: G01N 21/45
Метки: дефектов, изделиях, обнаружения, прозрачных, тонкопленочных
...микропроцессором для автоматической обработки данных и расположен таким образом, чтобы его объектив был через одну из граней призмы 2 сфокусирован на исследуемую область изделия 6.Устройство работает следующимобразом. нанесенную на верхнюю поверхность пластины 3, которая разделяет на два потока равной:интенсивности.Первый из них, отразившись от ме" таллической пленки, затем испытывает полное внутреннее отражение от грани призмы ввода излучения 2 и затем при условии под угломМ290 пересекает исследуемое изделие 6 непосредственно у края пластины 3. Второй световой поток, проходя сквозь металлическую пленку попадает на нижнюю поверхность пластины 3 таким образом, что крайние лучи светового потока попадают строго на край ее нижней...
Интерференционный рефрактометр
Номер патента: 1260774
Опубликовано: 30.09.1986
МПК: G01N 21/45
Метки: интерференционный, рефрактометр
...образованный линзой 7 и перетяжкой 5. Излучение распространяется по световоду 1 к интерференционному датчйкуи отражается от плоского торца световода и от отражающего элемента 2.Отраженное излучение распространяется по световоду 1 и попадает наприемник 4 излучения. Разность ходалучей, отраженных от торца световода 1 и от отражающего элемента 2зависит от показателя преломлениявещества в зазоре между ними. Интенсивность излучения, попадающегона приемник 4 излучения, также зависит от показателя преломпениясреды в зазоре интерферометрическогодатчика, Схема 8 регистрации фиксирует изменение освещенности приемника 4 излучения.В примере конкретного выполнения(фиг. 2) источником излучения служитполупроводниковый лазер, Схема 8 ре"от...
Способ определения коэффициента поглощения вещества на светорассеивающих носителях
Номер патента: 1260775
Опубликовано: 30.09.1986
МПК: G01N 21/47
Метки: вещества, коэффициента, носителях, поглощения, светорассеивающих
...яют по формуле Резуль мула и з о б р е т е н и еленйя коэффициента ства на. светорассеи х, включающий изме- потоков, прошедших о пос Огло я вещ вающих носител рение световых 07 1 " 1 п,12Изобретение относится к оптическим измерениям коэффициента поглощения веществ, адсорбированных свето- рассеивающими носителями, хроматографической бумагой, тонкими слоями силикагеля или целлюлозы, и может быть использовано при определении количества вещества на хроматограммах, а также при регистрации спектров поглощения веществ, адсорбированных светорассеивающими носителями. Количественное измерение веществ и их спектров поглощения широко используется при биохимических исследова" ниях, в фармацевтической промьппленности, полиграфии, текстильной...
Устройство для измерения отражательной способности
Номер патента: 1260776
Опубликовано: 30.09.1986
МПК: G01N 21/55
Метки: отражательной, способности
...сферы,внутренняя поверхность его покрытадиффузно-отражающим покрытием, Штокб служит для передачи вращения отэлектродвигателя (не показан) к кассете или держателю. При нагреве(при охлаждении) образца кондуктивным путем со стороны обратной визируемой конструктивно предпочтительнее вращать кассету с излучателями.В этом случае держатель монтируетсяна стойке 7, в теле которой размещается нагреватель или движется охладитель. В случае лазерного нагрева(через окно 8) или измерениях прикомнатной температуре удобней схемас вращаюшимся образцом и неподвижнойкассетой. Для этого шток и кассета.разъединяются, стока 7 убирается идержатель крепится к штоку. Возможнытакже более простые варианты устройства, в которых один из элементов:кассета или...
Способ определения концентрации ароматических углеводородов
Номер патента: 1260777
Опубликовано: 30.09.1986
Авторы: Василевская, Козлова, Марушкевич, Никанович, Умрейко, Шкредова
МПК: G01N 21/64
Метки: ароматических, концентрации, углеводородов
...таблицы зависимости положения максимума "в спектре возбуждения люминесценции от концентрации, а сравнивают измеренные данные с данными таблицы и находят интервал концентрации, соответствующий восходящей или нисходящей ветви кривой градуировочного графика. На чертеже представлена зависимость интенсивности люминесценции(йри 3 = 265 нм), (т,е, в максимумепоглощения) от концентрации мезитиле.на. в гексане (длина волны регистра,ции Ъмакс рог= 288 нм),П р и м е р, Один из полученныхрастворов заливают в кварцевую кювету толщиной 1 см и устанавливают вкюветное отделение прибора Рса МК-П. При длине возбуждения, соответствующей основному максимуму поглощения, записывают спектр люминесценции гексанового раствора мезитилена данной...
Устройство для флуоресцентного анализа отдельных микрочастиц в потоке
Номер патента: 1260778
Опубликовано: 30.09.1986
МПК: G01N 21/64
Метки: анализа, микрочастиц, отдельных, потоке, флуоресцентного
...частиц пробы, Каналы 5 для поступления частиц пробы соединены с системами доставки б и 7 исследуемых объектов, проточная кювета 3, ,выполненная в виде трубки, суживающейся в капилляр с выходным отверстием 8, равным 80-100 мкм.Исследуемые частицы 9, приготовленные в виде взвеси, в результате давления, создаваемого устройством 7, поступают иэ системы доставки б по каналам 5 в проточную кювету 3. На выходе проточной камеры формируется струя 10, поочередно траспортирующая частицы в информационно-измеритель- ную зону. Свет, возбуждающий флуоресценцию от источника 1 с помощью поворотной призмы 2 направляется через оптическое окно 4 внутрь проточ ной кюветы по оси .струи 10. Далее вплоть до объема, где проводятся измерения, свет...
Способ определения физически связанной воды в глинистых фракциях осадочных пород
Номер патента: 1260779
Опубликовано: 30.09.1986
Авторы: Головин, Кучерук, Мельников, Моисеенко, Морозов
МПК: G01N 21/81
Метки: воды, глинистых, осадочных, пород, связанной, физически, фракциях
...физически связаннойводы в пробе;С- процентное содержание ка.олинита в пробе.Так как по закону Бугера-Ламберта-Беера оптическая плотность пробы пропорциональна концентрации исследуемого компонента и толщине пробы, то искомые концентрации могут быть представлены в виде3 1260 ние (3) можно выразить следующим об- разом(4) С = ( с Т + К) О,Формула изобретения 50 Способ определения физически связанной воды в глинистых фракциях осадочных пород, включающий измерение количественного содержания каолинита 55 и физически связанной воды в пробе исследуемой породы, по которым определяют содержание физически связанной 5 где с, К - некоторые постоянные коэффициенты.Для определения коэффициентов К и К проводят определение оптических плотностей...
Способ дефектоскопии оптических поверхностей
Номер патента: 1260780
Опубликовано: 30.09.1986
Автор: Томилин
МПК: G01N 21/91
Метки: дефектоскопии, оптических, поверхностей
...цветовой контраст визображении областей локальной деформации жидкого кристалла, а при увеличении слоя ЖК интерференция простонереализуется,Размеры деформированных областейЖК за счет его вязко-упругих свойств 40значительно больше размеров самихдефектов, что также повышает вероятвОсть их обнаружения.Слой ЖК снимается с контролируемойповерхности с помощью растворителей 45(ацетона, гептана и др.), которые ненарушают состояния самой поверхности.Поэтому предлагаемый способ относитсяк методам неразрушающего-контроля.Размеры выявляемых дефектов находятсяв зависимости от толщины нанесенногослоя ЖК, Чем тоньше слой ЖК, темменьше размеров дефектов, которыеудается визуализировать. Чем толще слой ЖК, тем больше возникают искажения и тем больше...
Устройство для контроля качества поверхности изделий и материалов
Номер патента: 1260781
Опубликовано: 30.09.1986
МПК: G01N 21/89
Метки: качества, поверхности
...импульсы 25 нормированной амплитуды с длительностью, равной длительности сигнала на соответствующем уровне УпорИмпульсы с выходов пороговых элементов 8 поступают на информационные входы стробируемого ЦАП 9. Стробируется работа ЦАП 9 импульсами, пос.тупающими на его управляющий вход с регулируемого по частоте генератора импульсов 10. Генератор импульсов 35 10 формирует импульсы Б (фиг. 2), По приходу очередного импульса Б на управляющий вход ЦАП 9 на его выходе фсФмируется импульс тока 1 цс длительностью равной длительнос ти импульса Б. и амплитудой, соответствующей количеству одновременно сработавших пороговых элементов 8 в момент наличия импульса Бг.Импульсы тока 1 ццпоступают на ин"45 формационный вход интегратора 12, . который...
Рентгеновский аппарат
Номер патента: 1260782
Опубликовано: 30.09.1986
Авторы: Блинов, Лейченко, Лясс, Муханов, Ставицкий
МПК: G01N 23/08
Метки: аппарат, рентгеновский
...введенного в исследуемый объект 15 изотопа, а анодный ток задают источни ком 3 таким образом, чтобы интенсивность рентгеновского излучения на выходе из объекта 15 была соизмерима синтенсивностью выходящего из негогамма-излучения. Это обеспечивает оди О,наковый режим работы гамма-камеры 4для обоих видов излучения. Фокусировка коллиматора 6 и гамма-камеры нафокус рентгеновской трубки 1 обеспечивает однозначную локализацию мест вы.15 хода гамма-излучения на траекторияхраспространения рентгеновского излучения, выделяемых каналами коллиматора 6.В наиболее простом режиме исследований трубка 1 и гамма-камера 4 пере мещаются линейным образом вдоль исследуемого объекта 15. В более сложном варианте добавляются и их ново"роты...
Градуировочная мера для рентгеновских рефлектометров и способ ее изготовления
Номер патента: 1260783
Опубликовано: 30.09.1986
Автор: Турянский
МПК: G01B 15/04, G01N 23/20
Метки: градуировочная, мера, рентгеновских, рефлектометров
...достаточно простыми средствами, и состоящими в нагреве рабочей поверхности потоком ультрафиолетового излучения до температуры 0,15-0,30 Тпл К, где Тпл К - температура плавления ниобата лития. В результате воздействия ультрафиолетового (УФ) излучения на поверхность монокристалла ниобата лития при указанных условиях облучения происходит монотонное снижение коэффициента зеркального отражения рентгеновских ,пучей приблизительно линейно от величины УФ-экспозиции, Наведенные изменения рельефа поверхности и связанные с ними значения коэффициента отражения сохраняются после повторного Нагрева поверхности градуировочной меры (без УФ-облучения) до 450 К, при экспонировании в потоке рентгеновского излучения с энергией 8 экВ7 ги плотностью 10...
Устройство для определения ориентации монокристаллического слитка
Номер патента: 1260784
Опубликовано: 30.09.1986
МПК: G01N 23/20
Метки: монокристаллического, ориентации, слитка
...заданной кристал" ую лографической плоскости, но параллель-1 О на главной оси вращения гониометра.Пересечения на торцах слитка слео- дов двух плоскостей, перпендикулярныхзаданной кристаллографической плоскости, являются точками выхода нормали15 к заданной кристаллографической плоскости на обоих плоских торцах слитка. поворачиваться вокруг главной оси вращения. независимо от приставки держателя слитка с помощью кольца 1 и хомутика 18. Положение хомутика фиксируется на кольце с помощью сто порного винта 19. Боковая поверхнос 20 неподвижной планки 14, к которой примыкает боковая поверхность подви ной планки 16, проходит через главн ось вращения гониометра. Положение подвижных планок 7 и 14 фиксируется на направляющих 6 и 15 с помощью ст...
Способ определения типа дислокаций в монокристаллах
Номер патента: 1260785
Опубликовано: 30.09.1986
МПК: G01N 23/225
Метки: дислокаций, монокристаллах, типа
...3, регистрирующее устройство 4, вакуумную колонну 5, держатель образца 6Определение типа дислокаций в кристаллах со структурой сфалерита проводят с помощью метода тока, индуцированного электронным зондом. Спбсоб заключается в следующем. Сканирующим электронным лучом 1 облучают монокристалл 6, в котором при этом генерируются электронно-дырочные пары, создающие ток. Полученный сигнал подается на операционный усилитель 3, после чего регистрируется, например, на оспиллоскопе, На усилитель 3 подается ток неравновесных носителей заряда, разделенных полем барьерной структуры, существующей вокруг ядра дислокаций.В качестве примера может служить определение типа дислокаций в образцах СаАз Сг 7 кристаллы которых имеют структуру сфалерита с...
Способ локального микрорентгеноспектрального анализа образцов
Номер патента: 1260786
Опубликовано: 30.09.1986
Авторы: Волейник, Минеева, Русаловская
МПК: G01N 23/225
Метки: анализа, локального, микрорентгеноспектрального, образцов
...метки и, перемещая образец, регистрируют интенсивность выбранной линии до появления всплеска интенсивности, что свидетельствует о попадании под электронный зонд выбранного для анализа участка. Вьдерживая образец в найденной позиции, а при необходимости, меняя режим работы микроанализатора и параметры зонда, добиваются полного испарения вещества метки, о чем свидетельствует падение интенсивности выбранной линии до уровня фона. После этого приступают к проведению рентгеноспектрального анализа.П р и м е р. Проведение локального микрорентгеноспектрального анализа поверхности образца из титанового шлака в просвечивающем электронном микроскопе с микроанализатором ЭММА. Диаметр образца 3 мм, толщина 1 мм. На участок образца, выбранный...
Радиоспектрометр электронного парамагнитного резонанса
Номер патента: 1260787
Опубликовано: 30.09.1986
Авторы: Городишенин, Катушонок, Кудаленкин, Яновский
МПК: G01N 24/10
Метки: парамагнитного, радиоспектрометр, резонанса, электронного
...которого осуществляется регистрация сигнала ЭПР в каждом канале (при каждом фик.25 сированном значении модуляции магнитного поля), устанавливается задатчиком 7 времени развертки. Сигнал ЭПР на входе аналого-цифрового преобразователя 11 представляет собой гармонический сигнал с частотой зе амплитуда которого для каждоГгс дискретного значения индукциимагнитного поля пропорциональназначению первой производной линииспектра электронного парамагнитногорезонанса (эпюра 16), В результатестробирования аналого-цифрового преобразователя 11 выходными импульсами (эпюра 17) формирователя 14 ана-4 О лого-цифровой преобразователь 11осуществляет последовательное преобразование входного сигнала с пе 1риодом дискретизации 1 = - Такимобразом, для каждого...
Радиоспектрометр электронного парамагнитного резонанса
Номер патента: 1260788
Опубликовано: 30.09.1986
Авторы: Куликовских, Лапицкий, Ромбак, Яновский
МПК: G01N 24/10
Метки: парамагнитного, радиоспектрометр, резонанса, электронного
...линейно изменяющееся ступенчатое напряжение треугольной формы, амплитуда которого пропорциональна заданному значению амплитуды развертки, а число дискретных значений соответствует заданному числу каналов накопителя 8. Необходимая амплитуда развертки обеспечивается .установкой ширины канала накопителя 8 в соответствии с Формой и шириной регистрируемой линии спектра резонансного поглощения путем задания коэффициента усиления. первого усилителя 13 с регулируемым коэффициентом при помощи переключателя 15 формы и переключателя 16 ширины линии, причем переключатель 15 формы используется при изменении формы регистрируемой линии, а переключатель 16 ширины - при изменении ширины реГистрируемой линии.Компенсация изменения постоянной...
Способ определения времени ориентационной релаксации парамагнитных дипольных комплексов в кристаллах (его варианты)
Номер патента: 1260789
Опубликовано: 30.09.1986
Авторы: Важенин, Стариченко
МПК: G01N 24/10
Метки: варианты, времени, дипольных, его, комплексов, кристаллах, ориентационной, парамагнитных, релаксации
...образец второй импульс той же амплитуды и длительности, но другого знака, в результате чего образец переходит в другое монодоменное состояние, т. е. направление спонтанной поляризации (спонтанной деформации) изменится. Времена релаксации , которые можно измерять по временной зависимости интенсивности ЭПР- сигнала после второго импульса, ограничены неравенством т ) 3( (быстрее процессы искажены переориентацией доменов) . Для получения максимальной амплитуды временной зависимости интенсивности нужно, чтобы ко второму импульсу концентрации дипольных комплексов были практически равновесными. Это достигается при Т) Зт, Следовательно, длительности импульсов электрического поля (механического напряжения) и интервал между ними должны...
Неразрушающий способ определения механических свойств стали
Номер патента: 1260790
Опубликовано: 30.09.1986
Авторы: Афтандилянц, Бабыскин, Ефимов, Купыро, Тимофеев, Трапицын
МПК: G01N 25/02
Метки: механических, неразрушающий, свойств, стали
...углерод, как элемент, от которого в наибольшей степени зависят, свойства среднеуглеродистой стали.Факторы второй и третьей групп определялись по комплексограммам, показанным на чертеже, Каждая комплексограмма состоит из двух синхронных кривых; Я - температурная кривая охлаждения теплового центра образца; К - кривая электросопротивления, показывающая его изменение для теплового центра образца в процессе охлаждения, При рассмотрении кривой К выявляются характерные точки Н. И, С, У, Ф, К, которые обнаруживаются на каждой комплексограмме. Эти точки находятся визуально.Проецируя их на кривую О, получим одноименные точки на кривой охлаждения, Из шести точек на кривой К, только точка Н имеет надежную физическую интерпретацию.30 Лйис= 9 нЯи -...
Устройство для измерения температуры кристаллизации веществ
Номер патента: 1260791
Опубликовано: 30.09.1986
Авторы: Ажогин, Мовчан, Огородник
МПК: G01N 25/02
Метки: веществ, кристаллизации, температуры
...находился ниже уровня поверхности измеряемого материала.В исходном состоянии устройство отключено от источника охлаждающего воздуха. Внутренняя полость защитного кожуха 5 заполнена измеряемым раствором, уровень которого на 5 - 10 см выше верхней кромки стакана 2. Пробоотборник полностью за полнен измеряемой жидкостью.В начале цикла измерения охлаждающий воздух по патрубку 9 поступает в полость защитного кожуха 5 и через отверстия 8 вытесняет находящуюся там жидкость в окружающий объем. Давление охлаждающего воздуха подобрано так, чтобы обеспечивалось полное вытеснение раствора из полости защитного кожуха 5. После вытеснения жидкости воздух поступает непосредственно в окружающую устройство жидкость.Измеряемый раствор из верхней...
Способ определения температуры фазовых превращений твердых углеводородов и устройство для его осуществления
Номер патента: 1260792
Опубликовано: 30.09.1986
Авторы: Арсеньев, Гришин, Орлов
МПК: G01N 25/02
Метки: превращений, твердых, температуры, углеводородов, фазовых
...исследуемое вс,дество, а друой 7 соединен с регистратором ДЭС 2 ч содержит во внутренней части распределитель хладагента, термопары 8, запаянной в кварцевый капилляр, помещенный в исследуемое вещество 9.Нагревательный блок 1, выполненный в виде адиабатического калориметра с термостатом 5, обеспечивает возможность программируемого повышения температуры с заданной скоростью. Электроды 6 и 7 выполнены из дюралюминия в виде коаксиально расположенных стаканов с полусферическим дном, что обеспечивает направленную - радиальную кристаллизацию одного из них - 7. Заземленный электрод 6 крепится к нагревательному блоку резьбовым соединением, измерительный электрод 7 устанавливается в центрирующем отверстии крышки калориметра.Плавление,...
Устройство для дериватографического анализа
Номер патента: 1260793
Опубликовано: 30.09.1986
Авторы: Ким, Ключников, Пономарева, Угрюмова
МПК: G01N 25/02
Метки: анализа, дериватографического
...агрессивные газы.На чертеже представлена схема предлагаемого устройства,Устройство для дериватографическогоанализа содержит печь 1, весовой механизм 2, камеру 3 для проб с углублением 4 в донной части для термопары 5 10в чехле. Камера 3 закрывается герметичной крышкой 6 с подсоединенным газоотводящим каналом 7.Для подачи и вывода инертного газа впечное пространство в донной части печипредусмотрены входной 8 и выходной 9 патрубки.Устройство работает следующим образом.Исследуемое вещество помещается в камеру 3, которая закрывается герметичнойкрышкой 6. Камера 3 для проб устанавливается углублением 4 на чехол термо 2 Опары 5, который, в свою очередь являетсяподвижным плечом весового механизма 2.Конец газоотводящего канала 7 выведен...
Способ определения количественного состава насыщенного пара
Номер патента: 1260794
Опубликовано: 30.09.1986
МПК: G01N 25/02
Метки: количественного, насыщенного, пара, состава
...пара х;"(в частности на фиг.1, это точка 1, а состав исследуемого материала х;), таким образом, чтобы исследуемый материал находился в гетерогенном равновесии твердое-жидкость-пар, т. е, в области 5 Аа Вп 1;Ъ.По достижению температуры Т начинается направленный отбор насыщенного пара, который проводится следующим образом.Ампула откачивается до тех пор, пока дифференциальный сигнал на самописце, представляющий собой изменение температуры смеси относительно установленной температуры Т 1, не отклонится от нулевой линии АА 1 (фиг.2), отвечающей режиму диффузионного испарения (на этом участке давление в ампуле, создаваемое инертным газом, превышает давление насыщенного пара), до точки О, которая находится на участке АД, отвечающем...
Устройство для дифференциального термического анализа
Номер патента: 1260795
Опубликовано: 30.09.1986
Авторы: Егунов, Измалков, Осечкина
МПК: G01N 25/02
Метки: анализа, дифференциального, термического
...температуры на результаты термического анализа.На чертеже представлена схема устройства для дифференциального термического анализа (ДТА).Устройство содержит печь 1, измеритель тем пературы исследуемого образца 2, измеритель температуры эталонного образца 3, усилитель дифференциального сигнала датчиков 4, регистратор 5, измеритель температуры печи 6, чувствительный элемент которого расположен в зоне эталонного образца. Дифференциально включенные измерители 2 и 3 подключены ко входу усилителя а - а, выход усилителя в - вподключен к регистратору 5, который фиксирует сигнал, пропорциональный разности температур, в зависимости от времени или температуры одного из образцов (соответствующий участок электрической цепи на чертеже не...
Способ определения содержания углерода в металлах
Номер патента: 1260796
Опубликовано: 30.09.1986
Авторы: Иванова, Карпов, Натансон, Петров
МПК: G01N 25/14
Метки: металлах, содержания, углерода
...упругостью пара на содержание углерода.Цель изобретения - обеспечение возможности анализа металлов с высокой упругостью пара.Пример 1. Эксперимент проводят на установке Гиредмет-СМ 1, соединенной с масс-спектрометром ОМС. В качестве объекта анализа выбран свинец с установленным содержанием углерода (10 +-2).10мас.Я. В тигель загружают 30 г олова марки ХЧ. В загрузочное устройство прибора загружают 10 компактных проб свинца массой 0,5 - 1,5 г каждая.Экстракционную печь вакуумируют, расплавляют олово, окисляют ванну при 900 С и давлении кислорода 100 мм рт. ст, в течение 2 мин. Дегазацию расплава проводят в вакууме (110мм рт. ст. в течение 30 мин при той же температуре. Затем тем пературу расплава снижают до 500 С и измеряют величину...