Русаловская

Номер патента: 1260786

Опубликовано: 30.09.1986

Авторы: Волейник, Минеева, Русаловская

МПК: G01N 23/225

Метки: анализа, локального, микрорентгеноспектрального, образцов

...метки и, перемещая образец, регистрируют интенсивность выбранной линии до появления всплеска интенсивности, что свидетельствует о попадании под электронный зонд выбранного для анализа участка. Вьдерживая образец в найденной позиции, а при необходимости, меняя режим работы микроанализатора и параметры зонда, добиваются полного испарения вещества метки, о чем свидетельствует падение интенсивности выбранной линии до уровня фона. После этого приступают к проведению рентгеноспектрального анализа.П р и м е р. Проведение локального микрорентгеноспектрального анализа поверхности образца из титанового шлака в просвечивающем электронном микроскопе с микроанализатором ЭММА. Диаметр образца 3 мм, толщина 1 мм. На участок образца, выбранный...