Устройство для определения ориентации монокристаллического слитка

1260784 5 10 15 20 30 ность этой планки, к которой примыкает боковая поверхность подвижнойпланки 7, совпадает с базовой плоскостью приставки-держателя, Вращаяслиток вокруг собственной оси в приставке-держателе и вокруг оси гониометра вместе с приставкой-держателеми регистрируя максимум интенсивностиотражения, с помощью первой системы иразметчиков 8 и 17 определяют следыплоскости на обеих ТС, в которой лежит нормаль к ЗКП (на фиг,1 горизонтальная плоскость). Вторая системачерез неподвижную планку 14, кронштейн 13, кольцо 12, соосное с гони"ометром, и переходник 11 закрепляетсяна корпусе гониометра так, чтобы бо 1ковая поверхность неподвижной планки 1Изобретение относится к приборостроению, к оборудованию для рентгеноструктурного анализа и может быть использовано при калибровке и изготовлении ориентированного базового среза монокристаллических слитков,Цель изобретения - увеличение информативности при определении ориентации слитка произвольной формы благодаря определению на обоих торцо. вых поверхностях точек выхода нормали к заданной кристаллографической плоскости или следов пересечения с кристаллографической плоскостью.На фиг.1 схематически изображено предлагаемое устройство, вид сверху; на фиг,2 - вид А на фиг.1.Устройство содержит источник 1 рентгеновского излучения или источник видимого света, гониометр с кор-пусом 2, на котором установлена приставка-держатель 3 с базовой плоскостью 4, проходящей через главную .ось вращения гониометра, Сверху на приставке-держателе жестко закреплена неподвижная планка 5 и направляющая 6, на которой. установлена с воэможностью перемещения планка 7. Разметчик 8 следов пересечения плоскости, проходящей через слиток 9, с плоскими его торцами, устанавливается попе переменно на подвижной и неподвижной 16 была параллельна оси гониометра.Эта система вращением по кольцу 12вокруг гониометра устанавливаетсяперпендикулярно базовой плоскостиприставки-держателя, когда последняянаходится в рассчитанном угловом положении, соответствующем максимумуотражения от ЗКП. С помощью второйсистемы и разметчиков 8 и 17 прирегистрации максимума отражения отслитка определяют следы второй плоскости на обеих ТС, в которой лежитнормаль к ЗКП (на фиг.1 вертикальная плоскость). Точки пересечениядвух следов на каждом ТС определяютточки выхода одной и той же нормалик ЗКП, проходящей через весь слиток,2 ил. 2планках с возможностью перемещения по ним перпендикулярно направляющей, Серединная плоскость системы планок 5 и 7 и направляющей 6 (первая система) параллельна плоскости дифракции, т.е. перпендикулярна главной оси вращения гониометра. Боковая поверхность 10 неподвижной планки, к которой примыкает боковая поверхность подвижной планки, совпадает с базовой плоскостью 4 приставки держателя 3.К корпусу 2 гониометра с помощью переходника 11, кольца 12, через центр которого проходит главная ось вращения гониометра, и кронштейна 13 неподвижно закреплена планка 14 и направляющая 15, на которой установлена с возможностью перемещения подвижная планка 16. Разметчик 17 следов пересечения плоскости, проходящейчерез слиток, с плоскими его торцами, устанавливается попеременно на подвижной и неподвижной планКах с возможностью перемещения по ним перпендикулярно направляющей,Серединная плоскость системы плаонок 14 и 16 и направляющей 16 (вто.рая система) перпендикулярна плоскости дифракции, т.е, параллельна глав ной оси вращения гониометра. Вторая система планок и направляющих может12607844скости и главной оси вращения гониометра, на обоих торцах слитка.2 С помощью разметчика 17, перемещая его по неподвижной планке 14, апотом по подвижной планке 16 в направть лении, перпендикулярном направляющей15, проводят следы плоскости, котораятакже перпендикулярна заданной кристал" ую лографической плоскости, но параллель-1 О на главной оси вращения гониометра.Пересечения на торцах слитка слео- дов двух плоскостей, перпендикулярныхзаданной кристаллографической плоскости, являются точками выхода нормали15 к заданной кристаллографической плоскости на обоих плоских торцах слитка. поворачиваться вокруг главной оси вращения. независимо от приставки держателя слитка с помощью кольца 1 и хомутика 18. Положение хомутика фиксируется на кольце с помощью сто порного винта 19. Боковая поверхнос 20 неподвижной планки 14, к которой примыкает боковая поверхность подви ной планки 16, проходит через главн ось вращения гониометра. Положение подвижных планок 7 и 14 фиксируется на направляющих 6 и 15 с помощью ст порных винтов 21 и 22 соответственно Рентгеновский пучок, отраженный монокристаллическим слитком, регистрируется детектором рентгеновского излучения 23,Устройство работает следующим образом.Монокристаллический слиток 9 поме щают на приставку-держатель 3 и поджимают к базовой плоскости держателя с помощью подвижной планки 7, закрепляя последнюю на направляющей 6 стопорным винтом 21. 25 ДетеКтор излучения устанавливают на рассчитанный двойной брэгговский узел - 26, а базовую плоскость 4 держателя. - на рассчитанный уголЗО путем поворота держателя вокруг главной оси гониометра. Затем, вращая вторую систему планок 14 и 5 и направляющей 16 по кольцу 12 также вокруг главной оси гониометра, добиваются установки направляющей 16 подОуглом 90 С к базовой плоскости держателя, Направляют рентгеновский пучок на торец слитка, прижатый к базовой плоскости держателя.При определении точек выхода нормали к заданной кристаллографической плоскости на плоских торцах слитка произвольной формы производят вращение слитка вокруг оси, перпендикулярной базовой плоскости держателя, и вокруг главной оси гониометра, выводят заданную кристаллографическую плоскость в брэгговское положение, о чем свидетельствует максимальная интенсивность отраженного пучка, регистфдщемая датчиком излучения 23. С помощью разметчика 8, перемещая его по неподвижной планке 5, а потом по подвижной планке 7., в направлении,55 перпендикулярном направляющей 6, проводят следы плоскости, перпендикулярной заданной Кристаллографической пло При определении следов пересечения заданной кристаллографической плоскости, проходящей через весь.слиток, с плоскими его торцами, находят точки выхода на торцы слитка нормали к одной кристаллографической плоскости, перпендикулярной заданной, потом находят точки выхода на торцы слитка нормали к другой кристаллогра. фической плоскости, также перпендикулярной заданной, в соответствии с изложенным, а потом на каждом торце точки выходов двух нормалей соеди. няют прямой линией, Полученные таким образом прямые линии на обоих торцах слитка являются следами пересечения заданной кристаллографической плоскости с плоскими торцами слитка. Формула изобретения Устройство для определения ориентации монокристаллического слитка, содержащее источник электромагнитного излучения, гониометр, приставку- держатель слитка с базовой плоскостью, установленную на гониометре, при этом ось гониометра лежит в базовой плоскости, и разметчик, о тл и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью увеличения информативности при определении ориентации слитка произвольной формы, устройство содержит две взаимно перпендикулярные системы направляющих, неподвижных и подвиж. ных планок, установленных на приставке-держателе и на корпусе гониометра с возможностью перемещения подвижных планок по направляющим параллельно неподвижным планкам с последующей их фиксацией в каждой системе, при этом одна система через неподвижную план12 б 0784 Составитель Е.СидохинСегляник едакт ехред И.Ходанич ректор В.Бутяга Заказ 5220/41 Тираж 778 ВНИИПИ Государственного Комитета ССС по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб.4/5 роизводстненно-полиграфическое предприятие г У жгород, ул.Проекгная,ку закреплена на приставке-держателе с возможностью вращения вместе с ней вокруг оси гониометра, ее серединная1 плоскость перпендикулярна этой оси, вторая система установлена на корпусе гониометра с возможностью вращения вокруг оси гониометра независимо от приставки держателя, ее серединная плоскость параллельна этойоси; боковая поверхность неподвижнойпланки, к которой примыкает боковаяповерхность подвижной планки, совпадает с базовой плоскостью приставки-.держателя в первой системе и параллельна оси .гониометра во второйсистеме.