G01N — Исследование или анализ материалов путем определения их химических или физических свойств
Устройство для контроля качества поверхности полупроводниковых подложек
Номер патента: 1105022
Опубликовано: 27.09.2013
Авторы: Гурский, Кутилов, Покрышкин, Сигалов
МПК: G01N 21/47, G01N 21/88
Метки: качества, поверхности, подложек, полупроводниковых
Устройство для контроля качества поверхности полупроводниковых подложек, содержащее смонтированный на станине предметный столик, расположенные на одной оптической оси лазер, коллиматор и полупрозрачное зеркало, видикон и видеоконтрольное устройство, отличающееся тем, что, с целью повышения производительности и улучшения качества контроля, оно дополнительно снабжено механизмом разделения потоков, состоящим из штыревых фиксаторов, пневматического сопла и светочувствительных датчиков положения полупроводниковой подложки, блоком импульсов запуска, генератором развертки, ключом, видеоусилителем, первым компаратором, задатчиком уровня срабатывания первого компаратора, первым счетным...
Двухкристальный монохроматор синхротронного рентгеновского излучения
Номер патента: 1790311
Опубликовано: 27.09.2013
Авторы: Заико, Клишанец, Мокульский, Райко, Румак, Сакун, Сапожников
МПК: G01N 23/207, G21K 1/06
Метки: двухкристальный, излучения, монохроматор, рентгеновского, синхротронного
Двухкристальный монохроматор синхротронного рентгеновского излучения, содержащий основание с опорной базовой плитой, платформу, снабженную осью наклона и двумя взаимно перпендикулярными направляющими линейного перемещения с установленными на них входными и выходными кристаллодержателями для кристаллов-монохроматоров, отличающийся тем, что, с целью ускорения юстировки и повышения радиационной безопасности, устройство содержит дополнительную платформу, установленную под основанием с возможностью поворота по ней основания вокруг вертикальной оси с помощью привода, узел наклона основания относительно горизонтальной оси, параллельной оси наклона платформы, выполненной в виде регулируемой по...
Способ определения концентрации -стабилизирующих элементов внедрения в твердых растворах титановых сплавов
Номер патента: 1462981
Опубликовано: 27.11.2013
Авторы: Беляева, Бодяко, Гордиенко, Дымовский, Шатый, Шипко
МПК: G01N 13/00
Метки: внедрения, концентрации, растворах, сплавов, стабилизирующих, твердых, титановых, элементов
Способ определения концентрации -стабилизирующих элементов внедрения в твердых растворах титановых сплавов по глубине диффузионной зоны, включающий нагрев и охлаждение образца с диффузионной зоной, приготовление микрошлифа, послойный анализ, отличающийся тем, что, с целью упрощения процесса определения путем исключения операций послойного химического анализа, нагрев ведут в защитной атмосфере до температуры, превышающей температуру полного полиморфного превращения, и охлаждают со скоростью, обеспечивающей формирование пластинчатой -превращенной структуры...
Способ определения глубины термодиффузионных слоев на титановых сплавах
Номер патента: 1356735
Опубликовано: 27.11.2013
Авторы: Бодяко, Гордиенко, Дымовский, Шатый, Шипко
МПК: G01N 33/20
Метки: глубины, слоев, сплавах, термодиффузионных, титановых
1. Способ определения глубины термодиффузионных слоев на титановых сплавах, включающий насыщение этих сплавов -стабилизирующими элементами внедрения, приготовление микрошлифа и измерение глубины термодиффузионного слоя, отличающийся тем, что, с целью снижения трудоемкости и увеличения точности определения, после насыщения проводят дополнительный нагрев со скоростью 5-25°С/с до температуры полного завершения ( +
Способ выявления микроструктуры в быстрорежущих и инструментальных сталях
Номер патента: 1455853
Опубликовано: 20.12.2013
Авторы: Астапчик, Бабушкин, Голубев
МПК: G01N 1/32
Метки: быстрорежущих, выявления, инструментальных, микроструктуры, сталях
Способ выявления микроструктуры в быстрорежущих и инструментальных сталях, включающий шлифование, полирование и химическое травление, отличающийся тем, что, с целью повышения качества выявления карбидной фазы, поверхность образца после шлифования подвергают импульсному лазерному облучению с плотностью энергии излучения в пятне фокусировки (0,8-2)·102 Дж/см2.
Устройство для отбора проб из двухфазных газовых потоков
Номер патента: 1324421
Опубликовано: 27.12.2013
МПК: G01N 1/22
Метки: газовых, двухфазных, отбора, потоков, проб
Способ диагностики злокачественных новообразований
Номер патента: 1294109
Опубликовано: 27.02.2014
Авторы: Коленкина, Липовко-Половинец
МПК: G01N 33/48
Метки: диагностики, злокачественных, новообразований
Способ диагностики злокачественных новообразований путем биофизического исследования крови, отличающийся тем, что, с целью ускорения способа, у больных определяют удельное акустическое сопротивление цитратной крови и при величине этого показателя менее 1,58·106 и более 1,61·106 Па·с/м диагностируют заболевание.