G01N — Исследование или анализ материалов путем определения их химических или физических свойств

Страница 1987

Устройство для контроля качества поверхности полупроводниковых подложек

Загрузка...

Номер патента: 1105022

Опубликовано: 27.09.2013

Авторы: Гурский, Кутилов, Покрышкин, Сигалов

МПК: G01N 21/47, G01N 21/88

Метки: качества, поверхности, подложек, полупроводниковых

Устройство для контроля качества поверхности полупроводниковых подложек, содержащее смонтированный на станине предметный столик, расположенные на одной оптической оси лазер, коллиматор и полупрозрачное зеркало, видикон и видеоконтрольное устройство, отличающееся тем, что, с целью повышения производительности и улучшения качества контроля, оно дополнительно снабжено механизмом разделения потоков, состоящим из штыревых фиксаторов, пневматического сопла и светочувствительных датчиков положения полупроводниковой подложки, блоком импульсов запуска, генератором развертки, ключом, видеоусилителем, первым компаратором, задатчиком уровня срабатывания первого компаратора, первым счетным...

Двухкристальный монохроматор синхротронного рентгеновского излучения

Загрузка...

Номер патента: 1790311

Опубликовано: 27.09.2013

Авторы: Заико, Клишанец, Мокульский, Райко, Румак, Сакун, Сапожников

МПК: G01N 23/207, G21K 1/06

Метки: двухкристальный, излучения, монохроматор, рентгеновского, синхротронного

Двухкристальный монохроматор синхротронного рентгеновского излучения, содержащий основание с опорной базовой плитой, платформу, снабженную осью наклона и двумя взаимно перпендикулярными направляющими линейного перемещения с установленными на них входными и выходными кристаллодержателями для кристаллов-монохроматоров, отличающийся тем, что, с целью ускорения юстировки и повышения радиационной безопасности, устройство содержит дополнительную платформу, установленную под основанием с возможностью поворота по ней основания вокруг вертикальной оси с помощью привода, узел наклона основания относительно горизонтальной оси, параллельной оси наклона платформы, выполненной в виде регулируемой по...

Способ определения концентрации -стабилизирующих элементов внедрения в твердых растворах титановых сплавов

Загрузка...

Номер патента: 1462981

Опубликовано: 27.11.2013

Авторы: Беляева, Бодяко, Гордиенко, Дымовский, Шатый, Шипко

МПК: G01N 13/00

Метки: внедрения, концентрации, растворах, сплавов, стабилизирующих, твердых, титановых, элементов

Способ определения концентрации -стабилизирующих элементов внедрения в твердых растворах титановых сплавов по глубине диффузионной зоны, включающий нагрев и охлаждение образца с диффузионной зоной, приготовление микрошлифа, послойный анализ, отличающийся тем, что, с целью упрощения процесса определения путем исключения операций послойного химического анализа, нагрев ведут в защитной атмосфере до температуры, превышающей температуру полного полиморфного превращения, и охлаждают со скоростью, обеспечивающей формирование пластинчатой -превращенной структуры...

Способ определения глубины термодиффузионных слоев на титановых сплавах

Загрузка...

Номер патента: 1356735

Опубликовано: 27.11.2013

Авторы: Бодяко, Гордиенко, Дымовский, Шатый, Шипко

МПК: G01N 33/20

Метки: глубины, слоев, сплавах, термодиффузионных, титановых

1. Способ определения глубины термодиффузионных слоев на титановых сплавах, включающий насыщение этих сплавов -стабилизирующими элементами внедрения, приготовление микрошлифа и измерение глубины термодиффузионного слоя, отличающийся тем, что, с целью снижения трудоемкости и увеличения точности определения, после насыщения проводят дополнительный нагрев со скоростью 5-25°С/с до температуры полного завершения ( +

Способ выявления микроструктуры в быстрорежущих и инструментальных сталях

Загрузка...

Номер патента: 1455853

Опубликовано: 20.12.2013

Авторы: Астапчик, Бабушкин, Голубев

МПК: G01N 1/32

Метки: быстрорежущих, выявления, инструментальных, микроструктуры, сталях

Способ выявления микроструктуры в быстрорежущих и инструментальных сталях, включающий шлифование, полирование и химическое травление, отличающийся тем, что, с целью повышения качества выявления карбидной фазы, поверхность образца после шлифования подвергают импульсному лазерному облучению с плотностью энергии излучения в пятне фокусировки (0,8-2)·102 Дж/см2.

Способ диагностики злокачественных новообразований

Загрузка...

Номер патента: 1294109

Опубликовано: 27.02.2014

Авторы: Коленкина, Липовко-Половинец

МПК: G01N 33/48

Метки: диагностики, злокачественных, новообразований

Способ диагностики злокачественных новообразований путем биофизического исследования крови, отличающийся тем, что, с целью ускорения способа, у больных определяют удельное акустическое сопротивление цитратной крови и при величине этого показателя менее 1,58·106 и более 1,61·106 Па·с/м диагностируют заболевание.