Ширкунов

Номер патента: 1415053

Опубликовано: 07.08.1988

Авторы: Богатырев, Вяткин, Соколов, Спешков, Ширкунов

МПК: G01B 11/12

Метки: глубоких, отверстий, параметров

...в измеряемомотверстии с помощью роликов 18, Измерительные рамки 9 и 1 О подключены ксумматору 19 и дифференциальному усииндицируется на индикаторе 22, Разностный сигнал рамок пропорционален измеряемой непрямолинейности и индицируется иа индикаторе 23, 1 ил,лителю 20 отсчетного узла, а фотоэлектрический датчик 3 - к усилителю 21 рассогласования, к выходу которого подключен следящий электродвига" тель 6. К выходу сумматора 19 подсоединен индикатор 22 измеряемых диаметров, а к выходу дифференциального усилителя 20 - индикатор 23 измеряемой непрямолинейности.Устройство работает следующим образом. Источник 1 света материализует своии лучом прямую, относительно которой определяется непрямолинейность измеряемого отверстия. Корпус 2, опираясь...