Устройство для измерения параметров глубоких отверстий

Номер патента: 1415053

Авторы: Богатырев, Вяткин, Соколов, Спешков, Ширкунов

ZIP архив

Текст

СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИН 09) (11) 15053 А 1) 4 С О В 1/ ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕ АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ.8)тельство СССР11/12. 980.льство СССР11/26, 1975 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ГЛУБОКИХ ОТВЕРСТИЙ(57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано дпя измерения непрямолинейности и диаметра глубоких отверстий,Целью изобретения является расширение функциональных возможностей устройства за счет обеспечения одновременности измерений непрямолинейностии диаметра контролируемого отверстия.Источник 1 света реализует прямую,относительно которой определяется не"прямолинейность. Корпус 2 на роликах18 перемещается в отверстии. Фотоэлектрический датчик 3 выдает сигналрассогласования, усиливаемый усилителем 21, и электродвигатель 6 переме"щает каретку 4 с датчиком 3 до нулевого сигнала с выхода датчика, Приэтом перемещается магнитопровод 8 от"носительно измерительных рамок 9, 10 двходящих в зазор магнитопровода, Рам- Жки 9, 10 жестко связаны с измеритель1415053 5 10 ными стержнями 11, 12, контактирующи"ми с контролируемой поверхностью отверстия. Суммарный сигнал с рамокпропорционален диаметру отверстия и Изобретение относится к измери"тельной технике и может бытьжпользовано для измерения непрямолинейнос"ти и диаметра глубоких отверстий, например, направляющих люнетов горизонтально-расточных станков,Цель изобретения - расширениефункциональных возможностей устройства за счет обеспечения одновременности измерений непрямолинейности идиаметра отверстий и повышение точности измерений за счет исключениявлияния погрешности центрированияустройства в измеряемом отверстии.На чертеже показана схема устройства,Устройство содержит источник 1света, например газовый лазер, корпус 2, фотоэлектрический датчик 3,закрепленный на каретке 4, установленной в корпусе 2 на плоских пружинах 5 и подвижной в направлении,перпендикулярном базовой плоскости,механизи перемещения каретки, состоящий иэ реверсивного следящего электродвигателя 6 с эксцентриковым кулачком 7, закрепленным на валу электродвигателя, иагнитопровод 8 измерите"ля линейных перемещений, жестко свя"занный с фотоэлектрическим датчиком3, входящие в рабочий зазор магнитопровода 8 измерительные раики 9 и 10,жестко связанные с измерительнымистержнями 1 и 12 с помощью планок 13и 14,закрепленных в корпусе 2 наплоских пружинах 15 и 16. Под действием пружины измерительные стержни 11и 12 постоянно контактируют с поверхностью измеряемого отверстия в диаметрально противоположных точках. Каретка постоянно поджимается к эксцентрикоаому кулачку 7 пружиной 17.Корпус 2 центрируется в измеряемомотверстии с помощью роликов 18, Измерительные рамки 9 и 1 О подключены ксумматору 19 и дифференциальному усииндицируется на индикаторе 22, Разностный сигнал рамок пропорционален измеряемой непрямолинейности и индицируется иа индикаторе 23, 1 ил,лителю 20 отсчетного узла, а фотоэлектрический датчик 3 - к усилителю 21 рассогласования, к выходу которого подключен следящий электродвига" тель 6. К выходу сумматора 19 подсоединен индикатор 22 измеряемых диаметров, а к выходу дифференциального усилителя 20 - индикатор 23 измеряемой непрямолинейности.Устройство работает следующим образом. Источник 1 света материализует своии лучом прямую, относительно которой определяется непрямолинейность измеряемого отверстия. Корпус 2, опираясь на ролики 18, перемещается по измеряемому отверстию. Луч источника света, попадая на фотоэлектрический датчик 3, вызывает сигнал рассогласования, который усиливается усилителем 21 и электродвигатель 6 перемещает каретку 4 с фотоэлектрическим датчи- . ком 3 до тех пор, пока сигнал с фото-. электрического датчика не станет равныи нуло. Вместе с фотоэлектрическим датчикои 3 перемещается и магнито" провод 8 измерителя линейных перемещений, при этом изменяется величина сигналов, идущих с измерительных рамок 9 и 10, входящих в рабочий зазор магнитопровода 8. Так как измерительные рамки 9 и 10 жестко связаны с измерительными стержнями 11 и 12, постоянно контактирующими с поверхностью измеряемого отверстия,то суммарный сигнал, снимаемый с этих рамок пропорционален изменению диаметра измеряемого отверстия, а разность в смещениях обеих рамок относительно магнитопровода 8 пропорциональна смещению фотоэлектгического датчика 3 15 20 25 30 35 40 относительно центра положениях этих рамок, который определяется положени 45 ем контактирующих с поверхностью измеряемого отверстия измерительных-1415053 стержней 11 и 12, т,евеличине измеряемой непрямолинейности. формула изобретения Составитель 3).ПетраковскийТехред А.Кравчук Корректор Н.Король Редактор Н. Рогулич Заказ 3861/36 Тираж 680 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб д. 4/5Производственно-полиграфическое предприятие, г, Ужгород, ул. Проектная, 4 Устройство для измерения параметров глубоких отверстий, содержащее источник света, фотоэлектрический датчик, установленный в корпусе на каретке, подвижной в направлении, перпендикулярном базовой плоскости, размещенный на каретке измеритель линейных перемещений, реверсивный следящий электродвигатель, кинематичес-. ки связанный с измерителем перемещений с помощью эксцентрикового кулачка, закрепленного на валу. двигателя, .усилитель рассогласования, включенный мвкду фотоэлектрическим датчиком и реверсивным электродвигателем, отсчетный узел, подключенный к выходудатчика перемещений, о т л и ч а ющ е е с я тем, что, с целью расширения функциональных возможностейустройства и повышения точности изме"рений, измеритель линейных перемещений выполнен в виде магнитопровода, 10 жестко связанного с фотоэлектрическим датчиком, и двух измерительныхрамок, размещенных в зазоре магнитопровода и кинематически связанных спомощью подпружиненных стержней скорпусом, отсчетный узел выполнен ввиде параллельно подключенных к измерительным рамкам сумматора, дифферен. циального усилителя и связанных с ними соответственно индикаторов изме"ряемых диаметра и непрямолинейиости,

Смотреть

Заявка

3974524, 11.11.1985

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ В-8772

СОКОЛОВ АЛЕКСЕЙ ВАЛЕРИАНОВИЧ, ВЯТКИН МИХАИЛ ДМИТРИЕВИЧ, ШИРКУНОВ АНДРЕЙ АНАТОЛЬЕВИЧ, СПЕШКОВ ВИТАЛИЙ ГЕННАДЬЕВИЧ, БОГАТЫРЕВ ВИКТОР ВАСИЛЬЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01B 11/12

Метки: глубоких, отверстий, параметров

Опубликовано: 07.08.1988

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-1415053-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-parametrov-glubokikh-otverstijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения параметров глубоких отверстий</a>

Похожие патенты