G01B 9/10 — гониометры для измерения углов между поверхностями
Прибор для проверки пирамидальности граней шлифовальных призм
Номер патента: 26097
Опубликовано: 30.04.1932
Автор: Муравейский
МПК: G01B 9/10, G02B 21/26
Метки: граней, пирамидальности, прибор, призм, проверки, шлифовальных
...трубы б на столике 11 в сменном гнезде 7, Призма опирается одной своей плоскостью на нож 8 и острие 8, а с другой только на нож.Столик 11 притягивается к основанию 15 пружиной 13, действующей на становой винт 14, и может по необходимости изменять положение с помощью микро- метрических винтов 12.Труба 6 связана с основанием 1 средством неподвижной стойки 16 а изобретени ликовано 30 апреля 1932 года. мутика 17, могущего перемещаться по стойке вниз и вверх кремальерой 19.Гнездо 7 устанавливают по эталонной призме, так что отражающая гипотенузная плоскость занимает перпендикулярное положение к главной оптической оси трубы, что определяется совпадением отраженного изображения шкалы с самой шкалой.На установленное гнездо помещают...
Микроскоп для гониометрического исследования кристаллов
Номер патента: 71565
Опубликовано: 01.01.1948
Автор: Аршинов
МПК: G01B 9/04, G01B 9/10, G02B 21/00 ...
Метки: гониометрического, исследования, кристаллов, микроскоп
Микроскоп с оптическим микрометром
Номер патента: 89423
Опубликовано: 01.01.1950
Автор: Грейм
МПК: G01B 11/26, G01B 9/04, G01B 9/10, G02B 21/00 ...
Метки: микрометром, микроскоп, оптическим
...части которго иа резьое укрег(л(и оп,ектиц ц о)грац, я к )ерки и части тякске иякритс)г ог,;5(р 3. 1)ггутргг г)ор)г)(") ря ил)кеиа цо;(и по(- Рпвац)(с(55 ЦТУ.а (, СИЯОКЕН)а 5 )ОРТИОГ )0,(ЬКй 5.)1 иутр)г корпуса мик 1 нн кона, с )илью ицы)и(иг и точии ти отсч, рясиол(и)ичгь,и)е с(тк)г фггг. 21. ,(Тка 6 жестко скрч(лепя с ,и)-кярсллельно) яклогипнг и;гастинкои (. ткрлеииои цо итоги ")ИРИ :ВГЕР ИИГГ УГЛЯ НО)И)РаЧИВасте)Г )ОКРУГ ГИ(ЗИР(й ОСИ )КРСК)с. ;еткс 8 жестко укрплена ц корпусе.55;ДЯТЕЛЬ. )Рап(аГ )ТУЯГС 4 ЗЯ )И(.)ЬК)с А Заг)ОДт и)ТРИОя цли;кяйги)(йи(с(ктор сетки 8.,им рязд(леи на гр),;(ус,е;егге)пиг, (1 тс)гет угла оеретссг по градуи)ому ипригу:)им, зяте) )о)- сектору, с которым сюге)г(етг пгтр)г.с,.иога. тг, няко)и и, (о сетке 6,...
Фотогониометр
Номер патента: 122613
Опубликовано: 01.01.1959
МПК: G01B 9/10, G01C 1/00, G01D 9/40 ...
Метки: фотогониометр
...с кристаллоносцем.Фотокамера 4 расположена также соосно с кристаллоносцем и жестко сочленена с кольцом 5, Положение плоскости этого кольца, а следовательно, и оси фотокамеры, можно изменять при помощи трех винтов б.Фотокамера закрывается крышкой 7 с коллиматором 3. Фотопленкапомещена на внутренней и верхней торцовой поверхности фотокамеры 4.Гониометрическая головка 9 имеет три прямых хода: два в горизонтальной плоскости на прямых салазках и третий - по главной оси прибора, Соответственно в приборе имеются и три линейки с нониусами,дающими точность отсчета 0,05 - 0,1 лм, Если передвигать кристалл поочередно по трем прямым ходам и,при этом отмечать через зрительнуютрубу разницу отсчетов на нониусах, то можно обмерить весьма большуюзону...
Микрополяриметр для определения малых толщин пленок
Номер патента: 125060
Опубликовано: 01.01.1959
Авторы: Воропаева, Гаврилов, Дерягин, Зорин
МПК: G01B 9/10, G01J 4/00, G01N 21/21 ...
Метки: малых, микрополяриметр, пленок, толщин
...фиг. 2 и 3 - его конструкция.Для однозначного и быстрого измерения толщин пленок, превышающих длину волны света, пленку следует освещать лампочкой накаливания или вольтовой дугой и рассматривать отраженный свет через спектроскоп прямого зрения (при освещении параллельными лучами) или с помощью спектрального окуляра. В обоих случаях в спектре отраженного света будут видны темные полосы интерференции, по числу, поло125060жению и контрастности которых определяют толщину пленки, что достигается также комбинацией поляризационного микроскопа со спектральным окуляром,Микроскоп 1 имеет пластинку четверть волны и анализатор-поляроид с лимбом для отсчета углов поворота анализатора, расположенные перед объективом микроскопа. За окуляром...
Отражательный гониометр
Номер патента: 136061
Опубликовано: 01.01.1961
Авторы: Пулторак, Спиридонов
МПК: G01B 9/10
Метки: гониометр, отражательный
...4 и электронно-лучевой трубки 5 с большим врлснсм послесвечения.Устройство для зращения кристалла обеспечивает вращение крп сталла вокруг оси и наклон его вокруг центра вращения,Осмотр кристалла неподвижной парой коллиматор -- зрптсльн,1 я труба производится по малым кругам. Световой сигнал, отраженный От грани кристалла при его вращении, попадает на фотоэлемент, усиливается усилителем фототоков 3 и подсвечивает (или гасит) соответс 1- вующую точку на спиральной развертке электронно-лучевой трубки 5.Вращение и наклон кристалла и сшральная развертка электроннолучевой трубки взаимно синхронизован 1,13 б 061 Предмет изобретения Отражательный гониометр для измерения углов кристалла методом кругового осмотра парой коллиматор -...
197990
Номер патента: 197990
Опубликовано: 01.01.1967
Авторы: Контиевский, Татауров
МПК: G01B 9/10
Метки: 197990
...принципиальная схема описываемого гониометра в случае равенства эталонного угла контролируемому; на фиг. 2 - принципиальная схема гониометра в случае, когда эталонный угол дополняет контролируемый до 180.Параллельный пучок лучей из коллиматора 1 падает на грань 2 контролируемоцо угла А оптической детали 3. Отраженный от грани 2 параллельный пучок лучей отражается последовательно от граней 4 и 5 эталонного угла А и грани б контролируемой детали 3. После этого параллельный пучок лучей попадает в зрительную трубу 7, спабжепую устройством для отсчета углов (например, линзовым компенсатором или сеткой с деления мп).Разность между контролируемым углом Ли эталонным углом А определяется по величине смещения изображения сетки коллиматора 1,...
Автоматический дифрактометр с программным управлением для исследования монокристаллов
Номер патента: 219821
Опубликовано: 01.01.1968
Авторы: Борисов, Гуревич, Ком, Лубе, Маклаков, Миренский, Рогачев, Хейкер
МПК: G01B 9/10, G01N 23/207
Метки: автоматический, дифрактометр, исследования, монокристаллов, программным, управлением
...вр2, Дифрактоме тем, что, с целью дования кристал мени измерения ния времени изх раз по отношени 25 По основному авт. св.160866 известен автоматический дифрактометр с программным управлением для исследования монокристаллов, содержащий генераторное устройство с рентгеновской трубкой, систему автоматической регистрации и записи интенсивности рефлексов, блоки ввода программы и коммутации в гониометрическую систему, а также дискретные датчики углов поворота с циклическим кодом.П 1 редлагаемый дифрактометр отличается от известного тем, что содержит дополнительные блоки: блок памяти заданных крайних значений угловых интервалов колебаний кристалла и детектора излучения, счетчик числа этих колебаний и блок секундомера-задатчика времени...
238819
Номер патента: 238819
Опубликовано: 01.01.1969
Авторы: Зандин, Степин, Стожаров
МПК: G01B 9/10
Метки: 238819
...гониомстрс в осконстрмкц 1 с 1 юстировочных приспособлений столика. едмстный столик, ротн ю зрительдля отлета по то, с целью ис- ИЗгМСРС:1 ГГИ Тпжстолик закрсплснещснной внутри рительной трубы,ГонцоветРадуированю троч мб Ог нспсльзования р, содержа нный лимб с приспос чаюидсйсягон помет ов. пред на колон 1 стемы по щпп при повообленилра дриетный скс, разорота з ых предмет ст одвижно олой оси с с присоединением заявкиПриоритет Изобрстение относится к устройствам длякоитрол 1 Оптичсских издслий, точнее к Гониометрам,Известны гониомстры разнообразной конструкции, содержащие предметный столик с 5градуированным лимбом и поворотную зрительную трубу с приспособлением для отсчетапо лимбу,Для использования предлагаемого гониометра при...
266236
Номер патента: 266236
Опубликовано: 01.01.1970
Авторы: Богуславский, Шарова, Элиашбе
МПК: G01B 9/10, G01C 1/06, G02B 27/30 ...
Метки: 266236
...минус - в проти воположном случае. Эти интервалы времени измеряют при прохождении каждой пары смежных граней. Для повышения точности измерения описанный измерительный цикл позторяют в течение нескольких десятков полных 10 оборотов.Измеренные интервалы времени используют для расчета значений углов поверяемой призмы по следующим формулам: И тЛЛо,11;УЕ=1 =1 Да = а - азм =-и тДвахО по /и т(5)д Уют =1 тс 9 дсзм = -15ДватахтОф тгде Дв- максимальное отклонение скорости вращения от номиналь ного значения;аах - таах (Р 80) - максимальное отклонениеуглов призмы от установленного угла между фиксированными осями.25360 али и Величины )/ и т и ) т в знаменателяхформул (5) и (6) связаны с тем, что знаки Дв, и 1, не зависят друг от друга, так что...
Устройство для угловой ориентации объектов
Номер патента: 268676
Опубликовано: 01.01.1970
МПК: G01B 9/10, G01C 1/06
Метки: объектов, ориентации, угловой
...шкала О - ЗбО. На диске 19 установлена шестерня 21, обкатывающаяся по внутренним зубьям фланца 22, в котором вращается лимб 7.Под лимбами 8 и 9 расположены счетчики 23 и 24 их оборотов.На фланце 22 установлено зубчатое колесо 25, которое на подшипниках вращается в плоскости фланца 22 вокруг вертикальной оси гониометра. К зубчатому колесу 25 прикреплена стойка 2 б, на которой установлен держатель 27 счетчика квантов рентгеновского излучения или фотокассеты, Зубчатое колесо 25 находится в зацеплении с шестерней 28, насаженной на цилиндрическую ручку 29. Ручка 29 вращается в подшипнике, закрепленном в отверстии фланца 22. На зубчатом колесе 25 нанесена шкала О - ЗбО, деления которой можно наблюдать через окно 30 во фланце 22. Показания...
Оптический поляризационный гониометр
Номер патента: 270264
Опубликовано: 01.01.1970
Авторы: Болотич, Левинский, Николаев
МПК: G01B 9/10, G02B 27/28
Метки: гониометр, оптический, поляризационный
...Недостаток известных конструкций состоит в том, что каждая из них дает возможность работать лишь в одной из плоскостей.Целью изобретения является разработка конструкции гониометра, позволяющего производить работу в обеих плоскостях с возмож. ностью перехода от одной к другой без нарушения юстировки основных узлов.Эта цель достигается тем, что коллпматорная и зрительная трубы вмонтированы в отдельные вертикально расположенные круговые лимбы, и, кроме того, стойка зрительной трубы скреплена с горизонтально размещенным круговым лимбом.Применение предлагаемой конструкции дает возможность исследовать поверхностные окпсные пленки и оптические постоянные на об разцах сложной формы, на образцах, находящихся в прозрачных средах, на...
Фотогониометрическое устройство для определения координат граней кристаллов
Номер патента: 286284
Опубликовано: 01.01.1970
Авторы: Глазов, Ленинградский
МПК: G01B 9/10, G01C 11/02
Метки: граней, координат, кристаллов, фотогониометрическое
...на торце кристаллодержатсля б кристалла 8 с фокусом зеркала 8.Центрировка и юстировка кристалла 8 осу ществляются либо перемещением зеркала, либо приспособлением б. Для обеспечения точного совмещения кристалла с фокусом зеркала на оптической схеме 1 предусмотрен стопор 9, На фотопленку Р попадают только пзоб раисения граней после отражения от зеркала8. Все другие отражения, в частности после отражения от граней с тупыми утлами, попадают на заслонку 7,Если в случае использования только одно го параболического зеркала 8 на фотопленкуР попадают отражения от граней с полярным расстоянием 0 - 45-, то при использовании двух параболических зеркал Зи Т на светочувствительные покрытия Р и Р попадают отра жения от граней в пределах...
318807
Номер патента: 318807
Опубликовано: 01.01.1971
МПК: G01B 9/10
Метки: 318807
...призмы,Это отличие дает возможность измерять коллимационным методом углы монокристаллических призм,На чертеже представлена схема описываемого устройства.Насадка 1 надета на коллиматор 2 и содержит зеркала 3 и 4. Аналогичную насадку можно надевать и на зрительную трубу 5. Насадка смещает с помощью зеркал пучок лучей и направляет его под углом 75 - 80 на измеряемую поверхность призмы 6, установленной на предметном столике, Отраженный от грани призмы пучок направляется в зрительную трубу с помощью такой же насадки или непосредственно, для чего зрительная труба разворачивается на необходимый угол.При повороте стола гониометра каждаягрань призмы приводится в положение, параллельное 1 - 1, и затем производятся наведения с последующими...
363863
Номер патента: 363863
Опубликовано: 01.01.1973
МПК: G01B 9/10, G01C 1/00
Метки: 363863
...образом размещается ца столе 6, что лучи от автоколлиматора 8 попадают при вращении стола попеременно на боковые грани меры. При повороте меры для грани, более удаленной от оси вращения стола, автоколлимационное изображение смещается слабее относительно щели, чем для ближней грани, Другими словами, на выходе фотопреооразователя 9 получаются импульсы фототока разной длительности с максимумами, соответствующими нормальному падению светового пучка ца несимметрично расположенные боковые грани (см. последоватсльцость импульсов на фиг, 2, а).Промежутки времени между максимумами импульсов представляют собой временные эквиваленты углов р и у между перпендикулярами к боковым граням, определяющих искомый угол а:. Двходов ячейки 11...
Устройство для рентгенометрии
Номер патента: 381344
Опубликовано: 01.01.1973
МПК: A61B 6/00, G01B 9/10
Метки: рентгенометрии
...9 в защитном шланге,соединенного с системой 10 микрометрпческой передачи при помощи винтовой пары. Лимб 1 установлен на координатной пло 1 цадке 11, имеющей взаимно перпендикулярные риски 12 5 и круглый уровень 18.Устройство работает следующим образом.Для определения главного расстояния рентгеновского снимка устройство устанавливают на прикладную рамку кассеты сгереорентге новской установк таким образом, чтОбы риски 12 площадки 11 совпал с осями координат рамки. При этом точка пересечения рисок 12 совмещается с главной точкой снимка, Ориентировочно устанавливают устройство на дей ствительнып фокус (точка пересечения рисок12) рентгеновской трубки 8. С помощью системы 10 микрометрической передачи по цилиндрическому уровню 14 приводят...
Гониометр
Номер патента: 616530
Опубликовано: 25.07.1978
Авторы: Бирулин, Власенко, Спивак
МПК: G01B 9/10
Метки: гониометр
...нв рабочую 1 и контролируемую 16 камеры.При выипоченных стопорном устройстве 14 и переключающем устройстве 8 рабочую меру 1 разворачивают до такого положения, при котором автоколлимациоьное иэображение фаски призмы 4, отраженное, например, от нулевой грани рабочей меры 1, попадает на одну из боковых граней призмы 4. Информации об. атом появляется на табло индикаторного устройства 11. Далее закрепляют рабочую меру 1 стопорным устройством 14 й включают переключающее устройство 8 нв двигатель 10. Следжцая система 5,.8, 10, 12 и 13 разворачивает рабочую меру до тех пор, пока ввтоколлимационное иэображение фаски не совпадет с самой фаской (в этот момент разность между световыми потоками, отраженными от, боковых граней призмы 4,...
Фотоэлектрическое устройство для проверки угловых мер
Номер патента: 670801
Опубликовано: 30.06.1979
Авторы: Денисов, Погребецкий
МПК: G01B 9/10
Метки: мер, проверки, угловых, фотоэлектрическое
...устройство 14 и выходной блок 15. 5Работает устройство следующим образом.Поверяемую угловую меру 16 устанавливают на поворотный стол 1, который приводится во вращение приводом 2. В моменты 10 времени, когда отражающие поверхности меры А или Б попеременно становятся перпендикулярными к оптической оси автоколлиматора 3, отраженное от полированных поверхностей меры автоколлимационное 15 изображение марки возвращается в автоколлиматор и проходит по щели, установленный перед фотопреобразователем 4, при этом на выходе фотопреобразователя формируются колоколообразные импульсы фо тотока (см, фиг. 2 а), С выхода фотопреобразователя 4 колоколообразные импульсы поступают на первый вход компаратора 5, на второй его вход подается напряжение...
Автоматизированный гониометр
Номер патента: 1196685
Опубликовано: 07.12.1985
МПК: G01B 9/10
Метки: автоматизированный, гониометр
...граням контролируемого объекта 3, на выходе автоколлиматора 6 получают электрические сигналы, которые поступают на схему 12 совпадения. В моменты времени, когда непрозрачный экран 5 не перекрывает излучение, идущее от источника 9 5 10 15 20 25 30 35 40 к фотоприемнику 10, импульсы автоколлиматора 6 проходят на устройство 8.Кроме того, на устройство 8 поступают также импульсы от формирователя 7 импульсов селекции базовой грани и сигналы кольценого лазера 2, С помощью импульса селекции базовой грани устройство 8 выделяет импульс антоколлиматора б от базовой (отсчетной) грани, с приходом которого устройство 8 начинает подсчитывать количество периодов сигнала кольцевого лазера 2.Следующий импульс автоколлиматора 6 приводит к тому, что...
Оптический инверсор-гониометр
Номер патента: 1330458
Опубликовано: 15.08.1987
Автор: Уплисашвили
МПК: G01B 9/10
Метки: инверсор-гониометр, оптический
...изображен оптический инверсор-гониометр, общий вид.Оптический инверсор-гониометр содержит кристаллодержатели 1 и 2, закрепленные в телескопических стерж нях 3 и 4, в которые устанавливают контролируемый кристалл (не показав), штатив 5, оптическую трубу 6, коллиматор 7 и столик 8 с лимбом. На штативе 5 нанесена угломерная шкала. Штатив, одним концом соединен со столиком, а другим - шарнирно с оптической трубой. На трубе подвижно установлен коллиматор, помещенный в прорези, выполненной в штативе.Оптический инверсор-гониометр работает следующим образом.Предварительно устанавливают гониЬметр на листе бумаги, направляют параллельный пучок света с помощью трубы 6 на лист бумаги, а через коллиматор- на контролируемый кристалл (не показан),...
Фотогониограф
Номер патента: 1409860
Опубликовано: 15.07.1988
Авторы: Кожевников, Любалин
МПК: G01B 9/10
Метки: фотогониограф
...на поверхности корпуса 1.Вращают вал 3 с держателем 4 кристалла 5 и подводят нод пучок другуюмерку. С помощью винта 23 добиваются того, чтобы отраженные от мерки18 пучки приходили на одну горизонтальную риску корпуса 1 или экрана21 при снятом корпусе 1, а рефлексыот моноэдрической и диэдрическойграней мерки 18 находились на однойвертикали, причем моноэдрические грани должны быть параллельны оси вращения вала 3,Контроль внутренней поверхностипрофилированных кристаллов ведутобычно в прямоугольных координатах(Фиг,2). Кристалл 5 вращают, включаяпривод 24. Включают осветитель 9 инаправляют пучок светана поверхность кристалла 5. Наблюдают на корпусе 1 картину рефпексов и магнитными шпиньками 8 после остановки привода 24 отмечают место...
Гониометр для измерения кристаллов
Номер патента: 1415051
Опубликовано: 07.08.1988
Авторы: Горохова, Любалин, Третьяков
МПК: G01B 9/10
Метки: гониометр, кристаллов
...в кристаллодержателе 7 так, чтоодна иэ его осей параллельна оси вращения столика 2. Включают осветитель9 и задают им ось вращения столика 2.Перемещая каретку 6 по двум взаимноперпендикулярным направлениям, с помощью центрирующих салазок 4 центрируют измеряемую грань, приводя ее наось столика гониометра. После чеговключают второй осветитель 1 О и приводят его световой пучок на измеряемую грань кристалла 13 перемещая дуговой сектор 8.Перемещают измерительный узел(второй осветитель 10 и экран 11)вдоль дугового сектора 8 до.тех пор,пока центр световой картины, формируемой отраженным пучком осветителя5510 от контролируемой грани кристалла5, на экране 11 не совместится с егоцентром (центром отверстия, через которое работает осветитель),Ло...
Автоматический гониометр-спектрометр
Номер патента: 1495642
Опубликовано: 23.07.1989
Авторы: Виноградов, Демчук, Зайцев, Зозуля, Камелин, Тетера
МПК: G01B 9/10
Метки: автоматический, гониометр-спектрометр
...времени, когда перемещающееся изображение щели 25 совмещается с анализирующей щелью 26, на выходе фотоприемника 28, т. е. на выходе автоколлиматора 6, получают первый электрический импульс от базовой (зеркальной) грани призмы 3 (фиг. 4 б, импульс А,). При дальнейшем вращении призмы 3 на выходе фотоэлектрического автоколлиматора 6 получаютимпульс от непокрытой (гипотенузой) гранипризмы 3 (фиг. 4 б, импульс А), а затем10получают импульсы, например, А, А 4,обусловленные излучением со спектральными линиями спектрального источника 18 сдлиной волны Х и Х. соответственно (призма 3 в этом случае работает как диспергирующая) .15 Количество импульсов автоколлиматора,полученных от спектральных линий, однозначно определяется химическим...
Способ определения ориентации монокристаллов
Номер патента: 1522027
Опубликовано: 15.11.1989
Автор: Чередов
МПК: G01B 9/10
Метки: монокристаллов, ориентации
...Затем измеряют углы,являющиеся проекциями на плоскостисреза углов между линией пересеченияплоскостей спайности с плоскостьюсреза, и рассчитывают направляющиекосинусы плоскости среза, которые однозначно определяют ориентацию монокристалла. ности с плоскостью среза. Грани микровыбоинки являются кристаллографическими плоскостями, угол между которыми является известным углом спайности о, зависящим от спайности монокристалла по кубу (001) или по октаэдру (111) .Далее измеряют углы р, и р, являющиеся проекциями на плоскость сре за углов между линией пересечения -плоскостей спайности и линиямипересечения плоскостей спайности с плоскостью среза, путем последовательного совмещения риски объектива микроскопа с указанными...
Гониометр
Номер патента: 1747874
Опубликовано: 15.07.1992
Авторы: Иванова, Ратинский, Троицкий
МПК: G01B 9/10
Метки: гониометр
...линейного перемещейия 7 иустройством индикации 8, механизмом перемещения 10, дифференциального устройства 11, подключенного к переключающемуустройству 12, звукового индикатора 13,светового индикатора 14, исполнительногодвигателя 15, ручки 16 перемещения рабочей меры и червячной пары перемещениярабочей меры 17,Ось вращения рабочей меры 2 совмещена с механическим центром измеряемогоизделия 4, при этом отраженный от граниизделия 4 луч лазерного источника света 5попадает на фотоэлектронный призменныйанализатор 6,Отраженный луч лазерного источникасвета 5 совмещается по вертикали с центром фотоэлектронного призменного анализатора 6 при помощи ручки и рейки 9,Величина линейного перемещения фотоэлектронного призменного...
Устройство для изменения угла падения луча на образец
Номер патента: 1772609
Опубликовано: 30.10.1992
Авторы: Иванов, Летенко, Торчинский, Федорцов
МПК: G01B 9/10
Метки: изменения, луча, образец, падения, угла
...находится на оси нижнего шарнира пантографа. Устройство обеспечивает проведение измерений за время, больше 10 с.Существенным недостатком устройства, являющегося прототипом. является недостаточно высокая скорость измерений, на что указывают сами авторы устройства. Вчастности, с помощью устройства, выбранного о качестве прототипа, невозможно измерять толщину жидких пленок в процессе5 их растекания. Кроме того, использованиепантографа в качестве устройства. изменяющего угол падения луча на образец, и риводит к большим погрешностям измерения впроцессе эксплуатации, так как при измере 10 нии происходит механическое перемещение элементов пантографа, а также лазераи фотоприемника,Целью изобретения является повышение скорости и точности...
Прибор для определения геометрических характеристик и оптических свойств кристаллов
Номер патента: 1775597
Опубликовано: 15.11.1992
Авторы: Артемьев, Боцов, Дмитриева, Синай, Ушкало
МПК: G01B 9/10
Метки: геометрических, кристаллов, оптических, прибор, свойств, характеристик
...3 с параболическим отражателем 2, а также конструкция 5 10 15 20 25 30 35 40 шарнира, а второе - со второй пластиной посредством шарового шарнира, винтов с шаровыми наконечниками, установленных в торцевой стенке второго цилиндра параллельно его оси,На фиг,1 представлен прибор, общий вид; на фиг.2 - кристаллодержатель, вид сбоку; на фиг,3 - то же, вид сверху.Прибор для определения геометрических характеристик и оптических свойств кристаллов состоит иэ основания 1, параболического отражателя 2, осветителя 3, кассеты 4, кристаллодержателя 5, установленного по ходу пучка лучей осветителя 3 в центральном отверстии кассеты 4, фотопленки 6, Кристаллодержатель 5 выполнен в виде полого цилиндра 7, скрепленного с кассетой 4 так, что его ось...