Способ определения суммарной площади активных структур пористой поверхности
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 236023
Авторы: Зубаков, Щербаковский
Текст
Союз Советских Социалистических Республикс 3 ЦСП МОС ОТ с 1)Т, Си )СТСГ 1 ЬСТ 13 с,с Здявссио 60,1.1967 З 0 З 8 З,Л 8-10) л. 4"), 12,05 12;, 12Комитет по лел изобретен при Соае и аткрыти М 313 нстрова яитс,ПОСОЕ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СУЧЧАРНОЙ ПЛОЩАДИ АКТИВНЫХ СТРУКТУР ПОРИСТОЙ ПОВЕРХНОСТИ,Г) - Ф. + сс. л - О Изобретение относптс к оптическм м,т- ддм исследован 1 качества повср.постей.Известивс мсто.ы, с ользуемыс;ля эт- ГО, ОСПн сиЬС па:3 с рспп 1 1 оэффц ц СП ГЗ ПРОЦУСКс 1 П 51 (ОТРЯ Ж СП 5 ) с 1 КТЦВН 1 М Ц, С Г 1 Г 51- 5 мц ид исдт;вс и сем негативом спим,)м) целиком, ис ооеспсчивдют высокой точи;т:1 Цз.1 СРСНИ 51 ПЛОИс 1,С 11 с 1 КТЦ 3 НЬ 1. СТРТКТ Р ЦО- веркности, особенно прп неравномернык;,): ост 51 к фонд. 10Г 1 О П р Сд Л с Г с С . О:5С ц 0 СО 0 М С де;1 Ь Ю П и Ь- цстц 51 точности определения плошадей актив ньк стРктУР ис) фоне л 0005 51;)кости, помимо цзмерс ия коэф 1)иццсптов свстопроп 3 ска пи (Отрдткен;я) активными структ) рами:всего 15 НЕГДТЦВс 1 (СНЦ Кс )НОГ 1 ЧЕННОГО В )ЕЗ1 ЬсТС фотогрдфцровянп цсслелсемой повсркпост определяют коэфф:циент светопро:ус к;п (ОТРЯЖс 1 ЦИ 51) П,)0:СЖУТКОВ МЕЖДУ ДКЦ 13 НЬ 3 П Стр) КТ 5 рс 1 МП и Срс 113 Н:Вс 110 Т ЕГО С КОЭффцц:Сц О ТДМЦ СВЕТОП РОГУСКс 1 НИ 5 ЯКТЦВНЫ:;ЕТЯЛСй И всего негатива снимка) в целом.Наиболее эффективен предлагаемый сО,О ПРЦ ОЦРЕЛЕ 1 СНи КасССТ 3 с 1 ПОВСР.НОСТЕ 1 Ц 1:1- фо 3 альнь. кР Оц, с 10 Р 13 НВОВ, ПО чцзовсЛьпь, ЦИСТРУХ 1 СНТОВ)т;1;с СПОСОООЗ О РСЛСС 5 СТС 5 СМХМЯРпс 151 И.10 ЦД,1 Ь ЯКТ 3 Н 11:; СТРМКТМ) ПО Отношению ко всей площади путем чдиесеи на цсследусмуо поверхность вещества с вь)- СИХ КОЭфиЦЦСНТОМ 51 РКОСТЦ, Нс 1 ПР:МОР ССР ЦОКЦСЛОГО 1)ДРЦ 51 С ПОСЛСДМЮШЦ 1 )ОТОГОРс 1)ироваццем сс. с 1)отогрсфический снимок такой :Оверности состоит из большого чсл;1 )и)- т чск;1 рсположеннь. свстлык и тсмнь); лстдлеи.Часть деталей соответствует рдочей (дкТЦВН)и) П 10 ШД.и, И КОЭффИЦИСНТ ПРОНСКс НП 5 фОТОГРс)фцсССКО 0 СНЦ.1 КД НД ПРОЗРс 1 НОИ Ц.1510 ЖКС (3 СГЯТИЗЕ) 13 МЕСТД;, СООТВЕТСТВУЮ- иПи Этц.;1 стсЗЛ 5. ОООЗНс 1 ЧЯ 10 Т Т. ДрГс 3 часть деталей соответствует порам повсркио- СТЦ, КОЭффицИЕНТ П)ОПУСКс 1 НЦ 51 СНИМКД и ЭТЦ; .; С. ТсХ 0 ОЗНД Чс Ют Т.ПОЗ.ЩДЮТ СНЦ:5101, Нс) ПУТИ ПУсКд СВЕТЯ;10- стдточно большого сечения, который освсщдет :)ичцтсльную часть его поверности 5) мощностью Фь Фо Обозцдчд 10 т моц 1 ность Все:; лУ- ец, ПсЛс 101 ЦИ:ф Нд:ССТЯ, СООТВЕТСТ 13 МЮИ:1 ПО- рдм, оошдя плоцтадь которых на снимке 5; Ф;, - мощность лучей, падаюши ид соотвстствующ:с раоочсй поверхности места, общая площадь которых на снимке - 5.Т. ( Р с 00 с 5( ( и КТИ Бис 15 ) ИЛИИ 3.1 э ИОР ИСТИ И 013 ГРКИОСТИ ССТЬ ДОЛ 1 ССИ:013(Р.НОГТИ, 33 - 5 ИС 5 ГЦ(5 От КОЭфНИСИТс 001 ЦС 10 И;)ОП( 01(с 1- и 51 Бес 1 НОГ)кнОсти и коэфинст 05 ипо(.Кс 35 Т 11 Г, С( С 5(.Т;(ЫК 11 ТСС.Т(в Г(ГИСЧИТ( НЯ,ОСТЯТОЧНО ООГИнИК ИЛОЦЯ 35 К 5 О КСКИЧССГ 50,Гт(гС 1 О;(ИИЯ(ОБЬЛ И ЗН 351 СООтнйисис Ь и сс 1:.сслсгусл 01 Нл 01 ц 3,и (Л сСНТЯ (.Н 1 ЛКс), .Г КО 13111 с,1 ТЬ Рс 1001(10 с)КТ(БНЛ Ю) (ЛОБ 3:Ь ВСГЙ И:5 ЛСЛ 031 ИО)С",).(:- НОСТИ.В Ч с 1 сТ 1 ИИ.(: СЛ У Чс 151.;С 51 Ь, 10 Л Ч с 110 1 11 ) с 1 - ЖЕНИ)1, СОГГ 1 сС 10 ЩИСС 51 С БРЯККОЙ. Т(1 К, СС 1 И ТГМ иИ С. .ГТЯ;1 3 ГнЛКс И(ИРОЗРЯЧНЬ, ТО:)"- Св ГСГИ ( ТОМ ЖС ИГ 10 ТНОСТЬ С:СТ:Ь;,; .(ТЛСи Л 13- ( с(53:)О,Т, сСИс,Ь с 5 ГТ,ИК МСС 1 И0110,)ИОН(.ЬИ( КОЭ(офЦ 1 СИТЛ ООИСГО И)ОИСК(ИИ)1 сИ21.Оир(.(.,1 сн(Г коэфи:иси; СОН.1 О;рои(- СКЯИ И СИ)К(1 ИРОИ 3130.И ГС 5 И 3 1(0,ГИЛ ЯТОБИОИ О ГОЛСР( ССКС 31 ЛС 1 сИОКО, СОс,)5 ЩСИ ИЗ КОГ 1 Г 3( с 1 С ,) 3 С С(3 С 111 С,1 С.(,;Г РЖ Я Ге( 5 с:1. Л- КОБ И фоОЭГ (.Лс ИТ 2 ( 010 С 1 ЬМСГ (О ("150(. ДСРЖЯГСЛЬ СОС ГО 1 3 РС 11 ТСРЯ И ИОД 53(Ж:ОИ, фиксиомслОЙ Б сскогик 1НО 10)к(.1:5 х Рал 1- КИ.,(13 КСИ.ЯЛЬОС 3 Я( СИС ДИ с 1 )1( 1",) (1 фо 10 - ЛСТРРУОЩЕГО СВСГО 130 ГО И,Кс (101 ЦИО("1110 ) О ОС ГЯ 1 3 1 1 1 В Я С 1 С 51 : 1 3Л 1 С 1 1 Ь 11 1 1 Л 1 3 .с(. 1 1(. Л0 : . И 0 И 1 3 5(.,.11 И: ,1 31 3 Л Гг Р 2 (.15 С 1 С Ь С 1 О И У 1. и КОГ 11 Ма ГОРЯ, Р(ЗЛСРс СБИЛ 1(с 1 Д:13 ЛСТ)3 ОИРс- БЫ фо 1 ОЭЛ СЛСГЯКОЭффИИИСс 1 Т ПРОИ(СКЯНИ 5 01.СгЬНЬ:К;( с - ;1 ЕЙ ЛОН СТ ОИРСДСГ 15 Т 1 эе 51 С ИОМОЦэ 10 Л 1: КРОфО- том стра. В(,1; 1;Н, )(и т,(,лжи, 0;)с.;(.л)1 ть,(,и(,огиныс р(Осу)15;сн; можно и;.):Вест 11,31 СГ 1) (151:РИЛ 1(.НС 3 И фОТОГРЯфИЧЕС 1(ИК ЛЯТЕИс 1 ЛО 3 И;1 НГИРОЗРс 1(1 НЫХ ИО 1,ОЖКс 1 КфоТ 01 Р(1(БИЧСС(35 0 ЛЗГЯ) . 11 РИ ЭТОЛ 15 ЛГСТО КО эффснт 015 ирОилскан;151 нс 0.Одил 0 НО;1 ьЗОБсТЬС)1 КОЭфИСНТ(М И ОТРсКСН 151,;ЗМ(. - )ГННМ 1 Б ТГ,; ЖГ, ТО И КОЭффИСНТЫ ИРС Л Г К(1 Н 5 ОИ И СИНН:К 13 ЫН 1( ЛС 1015(15 с.иосоо оп;.)сдсгсн:л суммар:ой площадиКИБИЬК СТР 1(ТЛР ИОРИСТОИ И 0.5(.Р.НО(.ТИ, НЯ.35) .(1 СР Р Я ОО 1(1:1 ГО Ис(,1;(Сс КОСТО ;Т) НКИИ фОВЯГ 1 энИ, (РЛГОВ( сОРс 1:3 1 Б 015 33 КЛОЧс Ю ЙГ и О 0 От)РОБЯ и 1.1 исГати ВЯ иссг 1 с,- (МОИ НО)СРЛЛНОСТ: ИС 1 СМ 0 РГ,;ГГ 1 СИ 51;ИфПЛ:5- : Ы.: КОЭф(1):1.ИС(Т 0:5 ГВСТОрОИЛГСКЯ.И 5 БССГО 40 ГНИМ КЯ И, С ТЯЛС Й СООТБ(ТСТВЛ ЮЦИК с КТИБНЬ 1 МГ:Р КтРЯЧ ОГ,1Ои 1 гС)1 тСЛ(, (ПО, С ЦЕЛЬ 0 :ОБЬ 11 С 1 И ТИ 1 НОСТ ОИР(,(,1 СН 5 ИЛОЩЯЛСИК ГИ и:1. сг Р 10 Л:) НЯ фОИЕ ГИ 0003 51 РКОС 1, , ; 1 () () Л :5 1 11( ( Э ф () : 1 :1 1 (. 1 1 Т С и С Т О 1 1 Р О1 Л С К с Н 1О . в 45 ,(с,(.От,.1 ирОлскмткО 5 л 1 сж л акти)нь 1311
СмотретьЗаявка
1130383
Зубаков, С. Щербаковский Ленинградское оптико механическое объединение
МПК / Метки
МПК: G01B 11/30
Метки: активных, площади, поверхности, пористой, структур, суммарной
Опубликовано: 01.01.1969
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-236023-sposob-opredeleniya-summarnojj-ploshhadi-aktivnykh-struktur-poristojj-poverkhnosti.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения суммарной площади активных структур пористой поверхности</a>
Предыдущий патент: Устройство для контроля толщины изделий
Следующий патент: 236024
Случайный патент: Гидравлическая стойка шахтной крепи