Способ определения чистоты обработки поверхности изделия

250465 ОПИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических РеспубликЗависимое от авт. свидетельстваЗаявлено 20.т,1968 ( 1240806/25-28)с присоединением заявкиПриоритетОпубликовано 12.Л 1.1969, Бюллетень26Дата опубликования описания 19,1.1970 1(л. 42 Ь, 12/02 ПК 60 Комитет по делам изобретений и открытийИЯ ЧИСТОТЫ ОБРАБОТКИСТИ ИЗДЕЛИЯ ПОСОБ ОПРЕДЕЛ ПОВЕРХИзвестен способ определения чистоты обработки поверхности изделия, заключающийся в том, что поверхность контролируемого изделия освещают, сравнивают интенсивность излучений, отраженных от поверхности изделия зер кально и диффузно, и по соотношению этих интенсивностей определяют чистоту обработки поверхности изделия.Предлагаемый способ отличается от известного тем, что сначала получают голограмму 10 контролируемого изделия, производят освещение поверхности изделия, накладывая на поверхность изделия в восстановленное с голограммы его действительное изображение, и регистрируют при этом интенсивность зеркально тч и диффузно отраженного от поверхности изделия излучения, затем изменяют взаимное расположение изделия и его,действительного изображения на величину, большую, чем средняя высота микронеровностей поверхности, реги стрируют интенсивность зеркально отраженного от поверхности изделия излучения и по соотношению этих интенсивностей определяют чистоту обработки поверхностей.Это повышает чувствительность и универ сальность способа.На фиг. 1 изображена принципиальная оптическая схема получения голограммы изделия; на фиг. 2 - схем а регистрации зер кальво и диффузно отраженного излучения при перво начальном взаимном расположении деиствительного изображения изделия и самого изделия; на фиг. 3 - схема регистрации зеркально отраженного излучения при измененном взаимном расположении действительного изображения изделия и самого изделия.Определение чистоты обработки поверхности изделия согласно предложенному способу пр оиз водят следующим обр азом.Пространственно когерентное монохроматическое излучение, например луч лазера 1 (фиг. 1), расширяют линзой 2, получая так называемый пучок 8 подсветки, и направляют на поверхность изделия 4. На пути излучения, отраженного от поверхности изделия, как зеркально - 5, так и диффузно - б, ставят фотопластинку 7. Чтобы записать на фотопластинку 7 голограмму изделия, на нее направляют луч 8 лазера, не взаимодействующий с изделием, так называемый опорный пучок. Затем получают голограмму изделия, производя фотообработку фотопластинки без смещения ее из первоначального положения,После этого освещают голограмму (фиг. 2 и 3) опорным пучком 8, в результате чего на поверхность изделия накладывают его действительное изображение, По закону обратного хода лучей излучение, отраженное от поверхности изделия, будет сфокусировано в той же точке, в которой был сфокусирован луч под250465 светки, Вместо линзы 2 ставят детектор 9, регистрирующий интенсивность излучения. При сохранении первоначального взаимного расположения действительного изображения изделия и самого изделия в точке а сфокусируется излучение, отраженное как зеркально, так и диффузно от поверхности изделия в телесном угле, перекрываемом голограммой, Если теперь взаимное расположение изделия и его действительного изображения изменить на величину, большую, чем средняя высота микро- неровностей ловерхности, то вблизи точки а будет сфокусирована только та часть излучения, которая отражена от поверхности изделия зеркально (фиг. 3).Сравнивая интенсивность излучений, зафиксированную детектором 9, в первом и во втором случае, определяют чистоту обработки поверхности изделия. Предмет изобретенияСпособ определения чистоты обработки поверхности изделия, заключающийся в том, что г. I Составитель В. Иванова Техред А, А. Камышникова Корректор Л. В. Юшина фанась едакт Тираж 480 Подписноебретепий и открытий при Совете Министров СССР -35, Раушская наб., д. 4/5 Сапунова,ипография аказ 3559/6 ЦНИИПИ Комитета по делам Москвосвещают поверхность контролируемого изделия, сравнивают интенсивность излучений, отраженных от поверхности изделия зеркально и диффузно, и по соотношению этих интенсивно стей определяют чистоту обработки поверхности изделия, отличающийся тем, что, с целью повышения чувствительности и универсальности способа, сначала получают голограмму контролируемого изделия, производят освеще ние поверхности изделия, накладывая на поверхность изделия восстановленное с голограммы его действительное изображение, и регистрируют при этом интенсивность зеркально и диффузно отраженного от поверхности изде лия излучения, затем изменяют взаимное расположение изделия и его действительного изображения на величину, большую, чем средняя высота микронеровностей поверхности, регистрируют интенсивность зеркально отраженно го от поверхности изделия излучения и посоотношению этих интенсивностей определяют чистоту обработки поверхностей.