Визуальный способ оценки шероховатости
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
Всс,с,Ватен гно-". л;" ч ., ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советски Социалистически РеспубликК АВТОРСКОМУ СВйДЕТЕЛЬСТВУ Зависимое от авт. свидетельства-4 Ъ 12/05 аявлено 18.Х 11.1967 ( 1205146/25-2 рисоединением заявки1 ПК С 01 Приоритет Комитет по делам зобретвний и открытийбликовано 10.11.1969. Бюллетеньа опубликования описания 15 Л 11.196 ри Совете Министр Авторыизобретен Н. Чарков и Г.нер Заявител ИЗУАЛЬНЫЙ СПОСОБ ОЦЕНКИ ШЕРОХОВАТОС П редмет пзобьный способ сцен поверхностей, отлиоолее быстрой оц ах 9 - 12 классов ч ени Визуал плоских с целью в предел ки шероховатости чаюшийгя тем, что. нки шероховатости истогы, на контро 30 Известен визуальный способ оценки шврохсватосги плоских поверхностей, состоящий в том, что контролируемая поверхность сравнивается с поверхностью эталонного образца. Этот способ целесообразен для поверхностей не выше 9-го класса чистоты, в противном случае будет иметь место ошибка оценки шероховатости,Предлагаемый способ отличается от известного тем, что, с целью более быстрой оценки шероховатости в пределах 9 - 12 классов чистоты, на контролируегмую поверхность накладывают плоское стекло и затем по интенсивности окраски возникающей при этом интерференционной картины оценивают класс чистоты поверхности.Способ осуществляется следующим образом.Плоскопараллельная стеклянная пластина накладывается на контролируемую поверхность, при этом образуется воздушный клин и наблюдается интерференционная картина, которая возникает только при наличии шероховатости, соответствующей 9 классу чистоты и выше.Это явление объясняется оптическими свойствами поверхности: при классе чистоты по. всрхности ниже 9 рассеивание отраженных интерферирующих лучей так велико, что визуально нельзя увидеть и оценить интерференционную картину на поверхности детали. При повышении класса чистоты поверхностиизменяется (уменьшается) рассеивание интерферпрующих лучей и в связи с этим заметно изменяется яркость интерференционной кар т 1 и 1111 гри 9 классе чистоты появляется неяркаякартина интерфернции при определенной плоскости поверхности. При более высоком классе частоты поверхности яркость окраски10 интерференционной картины меняется, Болеевысокому классу чистоты соответствует более яркая интсрфсренционная картина. При опр- деленном навыке можно вполне объективно произвестразделение повсрхности на разные 15 классы.Описываемый способ предназначен преждевсего для использования на рабочих местах.Это нобходимо, например, для того, чтобы каждый раз при обработке не х станавливать 20 вздели на нзмерительный прибор, т, е.,дляпредварительной оценки. Способ не требует ссздания каких-либо новых измерительных средств, расширяет область применения существующих.238798 Составитель Л. Лобзова Техред А. А. Камышннкова Корректор 3. И. Чванкина Редактор Г, Гончарова Заказ 1580,12 Тираж 480 Подписное ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Москва, 1 еитр, ир. Серова, д, 4 Типография, пр. Сапунова, 2,1 ируемую поверхность накладыва 1 от плоское стекло и по интенсивности окраски, возннкаюьце 1 прн это.11 интерферецционно 111 картиныОЦЕНИВгнОт КЛЦСС ИИСтстЫ ПОВСрХНОСт 11.
СмотретьЗаявка
1205146
Н. Н. Марков, Г. Б. Кайнер
МПК / Метки
МПК: G01B 11/30
Метки: визуальный, оценки, шероховатости
Опубликовано: 01.01.1969
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-238798-vizualnyjj-sposob-ocenki-sherokhovatosti.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Визуальный способ оценки шероховатости</a>
Способ отделочно-упрочняющей обработки поверхности деталей из стали аустенитного класса
Номер патента: 1124044
Опубликовано: 15.11.1984
Авторы: Гапонкин, Качалов, Комаров
МПК: C21D 1/78, C21D 6/02, C21D 6/04, C21D 7/08, C23F 1/00
Метки: аустенитного, класса, отделочно-упрочняющей, поверхности, стали
...засчет деформационного упрочнения аустенита и его мартенситных превращений при термическом воздействии, замораживании 1 .Недостаток способа - снижениечистоты обработанной поверхности на2-3 класса сравнительно с выглаживанйем при комнатной температуре,чем уменьшается износостойкость трущихся уплотнительных поверхностейдеталей криогенных установок и повышается длительность их приработки.Указанный недостаток объясняетсятем, что органические вещества,входящие в.состав смазочно-охлаждающей жидкости и содержащиеся в планкена поверхности детали после предыдущих операций механической обработки,при низких температурах замерзают и твердеют, При выглаживанииохлажденных деталей твердые частицыдействуют на поверхность как абразив, что, кроме...
Способ оценки шероховатости поверхности
Номер патента: 678276
Опубликовано: 05.08.1979
Авторы: Дерюгин, Осовицкий, Сотин, Цветаев, Цеснек, Челяев
МПК: G01B 11/30
Метки: оценки, поверхности, шероховатости
...кривым, находятфункцию спектральной плотности шерохова.тостей поверхностей,Сущность способа заключается в том, чтосвет от когерентного источника 1 многократно678276 ЩфЯПИ Заказ 4542/27 866 Подписио Филиал ППП "Патент", г, Ужгород, ул, Проектная, 4 3рассеивается на шероховатостях исследуемой поверхности, являющейся частью оптического волновода, и излучается в виде узкой дуги. Оптический волновод может быть образован с нанесенным на ее основание закритическим шоем связи, диэлектрической пленкой на исследуемой поверхности и самой поверхностью, Диэлектрической пленкой на исследуемой по верхности может служить жидкость с большим показателем преломления (например, нитробен. 10 , эол), или легко смываемая органическая плен. ка...
Способ оценки шероховатости поверхности в процессе резания
Номер патента: 872052
Опубликовано: 15.10.1981
Авторы: Астапов, Морозов, Шантин
МПК: B23B 49/00
Метки: оценки, поверхности, процессе, резания, шероховатости
...виброакустического сигнала, которую выделяют с постоянной времени, согласованной с длительностью ударных импульсов, сопровождающих процесс формирования поверхности. Учитывая, что значения параметровшероховатости определяют при соответствующих величинах базовых длин, инФормацию о шероховатости получаютфильтрацией огибающей внброакустичес"кого сигнала на частоте, соответствующей базовой длине,На фиг. 1 представлена блок-схема,поясняющая данный способ(в качествепараметра огибающей виброакустического сигнала использовано ее среднее значение, соответствующее параметру й по ГОСТ 2789-73), на фиг,2последовательность преобразованиясигнала (на осях ординат обозначенывыходные сигналы соответствующйхблоков, указанных на Фиг. 1).Устройство...
Способ оценки шероховатости контактных поверхностей
Номер патента: 966490
Опубликовано: 15.10.1982
Авторы: Бавин, Головач, Мельник, Михайленко, Райко
МПК: G01B 7/34
Метки: контактных, оценки, поверхностей, шероховатости
...нии относительно сложного электриИзобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано, в частности, для определения шероховатости контактных поверхностей металлических тел пар трения.Среди известных способов определения шероховатости преобладают щуповые методы контроля, основанные на использовании индуктивных, пьезоэлектрических или Фотоэлектрических датчиков.Известен способ оптического измерения шероховатости поверхностей. основанный на посылке на эту повеохность по крайней мере двух дискретных световых лучей от двух источников света через собирающую оптическую систему. Один из этих лучей фокусируется перед поверхностью, а другой - позади нее. Отражение лучей регистрируют фотоэлектрическим...
Способ определения чистоты поверхности подложки для тонкопленочных резисторов
Номер патента: 1101475
Опубликовано: 07.07.1984
Автор: Ряхин
МПК: C23C 13/00
Метки: поверхности, подложки, резисторов, тонкопленочных, чистоты
...оценки результата визуального контроля, в связи с чем достоверность получаемых результатов мала. Кроме того, способ неприменим к гидрофобным по верхностям. цветовой окраски чистых и загрязненных участков поверхности.Фиг. 1-4 иллюстрируют достоверность определения чистоты поверхности контрольных подложек согласно предлагаемому способу.П р и м е р. Определение чистоты поверхности проводилось на подложках из керамического материала М, применяемых в производстве основных типов тонкопленочных цилиндрических резисторов: МЛТ, ОМЛТ, С 2-13, С 2-14, С 2-29 В, С 2-36, С 2-50 и др. Керамические подложки специально загрязнялись различными способами для возможности оценки объективности предлагаемого способа.Анализируемые цилиндрические...
Предыдущий патент: Стенд для угловых и линейных измерений
Следующий патент: Способ контроля параметров отверстий
Случайный патент: Скважинная штанговая насосная установка