Пызин

Устройство для определения внутренних напряжений в объекте

Загрузка...

Номер патента: 1640538

Опубликовано: 07.04.1991

Авторы: Бахтин, Задорин, Игнатьев, Пызин, Тросман

МПК: G01B 11/16

Метки: внутренних, напряжений, объекте

...во включенном состоянии, что приводит к преобразованию излучения во вторую гармонику, Далее излучение видимого диапазона проходит через тепловой фильтр 4, обеспечивающий защиту регистрирующей среды, и микрообьектив 5, размещенные на основании узла 3 крепления, введенного с помощью системы смещения, выполненной в виде электромагнита, на оптическую ось устройства. Микрообьектив 5 при этом установлен на расстоянии от линзы б, равном ее фокусному расстоянию. Следовательно, микрообьектив 5 и линза 6 обеспечивают преобразование излучения в коллимированное световое поле, Далее с помощью светоделителя 7 и полупрозрачных зеркал 8 и 9 осуществляется создание двух одинаковых пучков освещения поверхностей эталонного и контролируемого объектов...

Способ получения интерферрограммы при контроле изменения состояния объекта

Загрузка...

Номер патента: 1499110

Опубликовано: 07.08.1989

Авторы: Артеменко, Плохов, Пызин, Речкалов

МПК: G01B 9/021

Метки: изменения, интерферрограммы, контроле, объекта, состояния

...обработки фотопластины спеклограммы недеформированного и деформированного состояний представляют собой транспаранты с коэффициентами амплитудного пропускания Ги7 соотнетствец но. с,=1, А ехр(-д 4 17 ыу/Л)т В,1 рой экспозициях, можно записать вез ид П = А хр-д 4 И(у+Ау) /Л 1;П = А ехр4 УН(у+А у) /Л .1где верхние индексы указывают соответственно на первую и вторую экспозиции, соответствующие недеформировацному и деформированному состоянию объекта. Спеклограммы регистрируют на фотопластине 5.После проявления фотопластины 5 ее коэффициент амплитудного пропускания имеет вид+1 Л ехр-18 Г(с(у+ду)/Я, (5) Из сравнения выражений (3) и (5) видно, что чувствительность нозрастат вдвое.Вновь записанную спеклограмму обрабатывают с помощью...

Спекл-интерферометр

Загрузка...

Номер патента: 1471065

Опубликовано: 07.04.1989

Авторы: Артеменко, Плохов, Пызин, Речкалов

МПК: G01B 9/021

Метки: спекл-интерферометр

...3 и 4 диафрагмы 2 соответственно, и фоторегистратор 9, накоторый линза 1 фокусирует излуче-,ние, прошедшее через отверстия 3 и4; позицией 10 обозначен исследуемый 35объект, для точки 11 которого интерФерометр обладает повышенной чувствительностью, а позицией 12 - освещающий объект 11 пучок когерентного излучения, 40 Спекл-интерферометрработает следующим образом,Система освещения обеспечивает .освещение в направлении окрестности 45исследуемой точки 11 объекта 10, расположенной на месте пересеченияобъекта с оптической осью интерферометра, Так как исследуемая окрестность мала, то возможно использование нерасширенного лазерного пучка,Часть излучения, рассеянного объектом, попадает на зеркала 7 и 8 и направляется нми через отверстия 3 и 4с...

Способ определения относительных перемещений

Загрузка...

Номер патента: 1366874

Опубликовано: 15.01.1988

Авторы: Артеменко, Козлов, Пызин, Речкалов, Ушаков

МПК: G01B 9/021

Метки: относительных, перемещений

...изображения объекта 4 в первоначальном состоянии, затем фотопластинку 3 вынимают, подвергают фотохимической обработке и устанавливают в позиционер5 блока В оптической фильтрации. Освещают спеклограмму на фотопластинке3 плоской волной когерентного излучения и в восстановленной световойволне осуществляют посредством фильтра 8 в фокальной плоскости линзы 6 пространственную фильтрацию, выделяя один отдельный дифракционный порядок.После оптической фильтрации восстановленные соседнимц участками спеклограммы волны направляют в интерферометр С сдвига, в котором система 9осуществляет сдвиг световых волн,приводящий к совмещению в плоскости 4 2регистрирующей среды 10 волн, восстановленных соседними участкамиспеклограммы. Затем первую...

Интерферометр сдвига

Загрузка...

Номер патента: 1352196

Опубликовано: 15.11.1987

Авторы: Артеменко, Козлов, Пызин, Ушаков

МПК: G01B 9/021

Метки: интерферометр, сдвига

...проведения одноступенцатого процесса непосредственных интерференционных измерений вторых пространственных производных гт функции перемещений. 10На чертеже представлена принципиальная оптическая схема интерферометра сдвига. Интерферомстр сдвига содержит источник когерентного излучения 1 на чертеже не15 пгказан), каналосвещения, опорную ветвь 2. Канал освещения образован расши. рителсм пучка, коллимируюрцей линзой и преобразователем волнового фронта, оптицески сопряженным через полупрозрацное 20 зеркало 3 с объектом 4 и сдвинутым по пространственным координатам в своей плоскости 1 а велицинУ ЛьКроме того, устройство содержит билинзу 5, фотопластинку 6 для записи голограммы, блск оптическои постранс гвенной фильтрации, образованньй...