H01J 49/26 — масс-спектрометры или разделительные трубки

Номер патента: 894819

Опубликовано: 30.12.1981

Авторы: Дешкевич, Фомин

МПК: H01J 49/26

Метки: коллекторное, масс-спектрометра

...и два дополнительных, расположенных перед ним и образующихприемную щель, меньшую, чем входная,введено два элемента, обладающихэлектрострикционнымн свойствами, каждый иэ которых электрически и механически жестко соединен с одним издополнительных коллекторов, например,пьезокристаллами,Пьезокристаллы выбраны и установлены таким образом, чтобы прикладываемое к ним электрическое поле уменьшало их геометрические размеры в направленни поперек приемной щели коллекторного устройства. 25На фиг, 1 изображен вид предлагаемого коллекторного устройства со стороны ионного луча; на фиг. 2 - егоразрез по линии А-А.Коллекторное устройство имеетвходную диафрагму со щелью 1, два дополнительных. коллектора 2 и З,электрически н механически...

Номер патента: 900348

Опубликовано: 23.01.1982

Автор: Савосин

МПК: H01J 49/26

Метки: ввода, масс-спектрометр, образцов

...валом 7 с напрессованным подшипником 8 качения, барабанустановлен в подшипниках9 качения и монтируется на фланце 10 рабочей камеры, а привод перемещения держателей монтируется на корпусе 11 рабочей камеры, сильфон 4 одним концом закреплен накорпусе 11 рабочей камеры, а другим - напромежуточном валике 12 в виде цилиндрической цапфы, расположенным в пазу жесткой муфты 6. Ведущий вал 3 имеет изогнутую часть, которая размещена в опоре внутри промежуточного валика 12, угол поворотабарабана 1 ограничен двумя фиксаторами 13,расположенными на разном расстоянии отцентра барабана 1 и жестким упором 14,закрепленным на фланце 1 О рабочей камеры. В конструкцию барабана. входит промежуточная гильза 15 и торрированная пружина сжатия...

Номер патента: 905916

Опубликовано: 15.02.1982

Авторы: Агафонов, Кузьмичев, Фаерман

МПК: H01J 49/26

Метки: ввода, веществ, воздухе, контейнер, масс-спектрометр, неустойчивых

...и вакуумном шлюзе, куда помещается контейнер, в результате чего не требуется применение специального устройства для его вскрытия.Выбор величины зазора обусловлен тем., что при величине зазора (5 мкм самопроизвольное вскрытие контейнера может быть затруднено попаданием в зазор микрочастиц, а также необходима повышенная точность при изготовлении контейнера,. при величине зазора р 50 мкм повышается возможность проникновения воздуха,. что нежелательно при анализе ве .ществ, неустойчивых на воздухе. При 40 4550 55 нарушении отношения длины контейнера к внешнему диаметру внутреннейцилиндрической емкости 13=2-6, контейнер самопроизвольно не открывается, и повышается возможность проникновения воздуха в контейнер. Выбор толщины стенок в...

Номер патента: 951476

Опубликовано: 15.08.1982

Авторы: Александров, Олейников, Сысоев

МПК: H01J 49/26

Метки: анализа, веществ, высокомолекулярных, масс-спектрометрический

...амплитудой, обеспечивающими сохранение в облати накопления высокомолекулярных ионови удаление ионов фона,На время действия последовательностимпульсов электрического поля отключают пучок ионизирующих электронов.На чертеже приведены графики,поясняющие способ.Процедура вывода фоновых ионов изобласти накопления заключается в следуюшем.Под воздействием пары разнополярныимпульсов электрического поля эаряженая частица, первоначально покоящаяся,смешается вдоль направления импульсного поля на величинуХщ,пропорциональнуюамплитуде напряженности поля, Ее ско=рость по окончанию воздействия пары им-пульсов равна нулю. Величину импульсаэлектрического поля выбирают таким обОразом, чтобы ионы фона были удалены запределы области ионообраэования на...

Номер патента: 966792

Опубликовано: 15.10.1982

Автор: Григоров

МПК: H01J 49/26

Метки: анализа, количеств, органических, поверхности, следовых, соединений, твердых, тел

...давле ние в вакуумной камере составляет 5 хх 10 9 мм. рт. ст. Парциальное давление паров органических соединений не превышает 10ммрт,ст. В этих условиях на поверхности исследовавшихся образцов находятся молекулы органических соединений, адсорбированные в следовых количествах из состава остаточных газов вакуумной камеры масс-спектрометра, в концентрации, не превы. шавшей одного монослоя. Результаты исследований приведены в табли. Отсутствие среди ионов, приведенных втаблице, масс с номерами 2, 18, 28 и 32свидетельствует, что адсорбированные моле.куны водорода, воды, азота и кислородасоответственно не десорбируютая в ионнойформе. Кроме того, не наблюдаются в масс. спектрах ионы с массами 48, 52, 56, 59,64 и 27 а.е,м.,...

Номер патента: 983827

Опубликовано: 23.12.1982

Авторы: Кабаченко, Тарантин

МПК: H01J 49/26

Метки: анализа, вещества, масс-спектрального

...в ионном источнике ионизируют исследуемое вещество и измеряют спектр массовых чисел, путем изменения режима ионизации в источнике ионов раздельно получают однозаряд 25 ные и двухзарядные ионы и раздельно измеряют спектры масс однозарядных и двухзарядных ионов и путем сравнения полученных масс-спектрограмм определяют раздельное содержание элементов зо и комплексных соединений, имеющих одинаковые массовые числа.Для этого используют экспериментальную закономерность, заключающуюся в том, что отношения выходов двух зарядных молекулярных ионов к выходам однозарядных ионов одних и тех же комплексных и молекулярных соединений существенно меньше, в 20-30 раз ) аналогичных отношений выходов атомар О ных ионов.Предлагаемый способ...

Номер патента: 983828

Опубликовано: 23.12.1982

Авторы: Пушкина, Слуцкий

МПК: H01J 49/26

Метки: калибровки, масс-спектрометра, медицинского

...образцовой газовой смесиатмосферного воздуха, калибровку по СО 1 Опроводят по альвеолярному воздуху, причемчувствительность по СО устанавливаютиз условия постоянства суммы концентрации (парциальных давлений) всех газов навдохе и выходе. 15В основу способа положена неизменностьсуммы концентраций (парциальных давлений) всех газовых компонентов в процессе дыхания вследствие постоянства суммарного давления. При дыхательном коэффициенте, равном единице, изменение концентрации СО равно изменению концентрации 02,и концентрации остальных газовых компонентов остаются неизменнымиот входа и выходу. При отклонении этого 25коэффициента от единицы концентрацииостальных газовых компонентов меняютсяв ту или другую сторону на величину раэницы между...

Номер патента: 983829

Опубликовано: 23.12.1982

Авторы: Поволоцкая, Танцырев

МПК: H01J 49/26

Метки: анализа, веществ, масс-спектрометрического, молекулярных, нелетучих

...молекулярными ионами ъ -аланина, Н + ИН (СН )2 СО 2 Н 3, цифрой Й пик протонированных молекулярных ионов глицерина Н + СНОН(СН ОН)2 3+, цифрой 5 - пик протонировайных молекулярных ионов валина 1 Н + (СН З) к фСН СНИН 2 . СО 2 Н 3+, цифрой 6 - пик протонированных молекулярных ионов 0 - лизинаН + ИН (СН),СНЙ Нх х СОН 3 и цифрой 7 - пик протонированных молекулярных ионов- аргинина Н + МНС(МН) . МН(СН 2) х х СН(НН)СО Й 3. П р и м е р 1, Иишень приготавливают следующим образом. Навеску сухого валина растворяют в глицерине.Концентрация валина в глицерине составляет 0,75 вес.Ф. Полученный раствор наносят на никелевую подложку слоем, 0,3 мм. Подложку с раствором вводят в масс-спектрометр. Записьмасс-спектра производят при следующих условиях:...

Номер патента: 983830

Опубликовано: 23.12.1982

Авторы: Агафонов, Бессмертная, Фаерман

МПК: H01J 49/26

Метки: анализа, веществ, летучих, масс-спектрометрического, накопительная, ячейка

...4 ионного источника. Внутри ее коаксиально укреплена спомощью изолятора с отверстиями 5 стеклянная трубка 6, покрытая проводящимслоем 7, на поверхности которого выращены иглообразные полупроводниковые45монокристаллы 8, длина которых в 210 раз меньше зазора между трубками 1и 6, Исследуемый газ пропускают череззазор между трубками 1 и 6,; при этомна поверхности полупроводниковых микро Овыступов 8 происходит сорбция менее.летучих компонентов смеси. Периодическиосуществляют электрический разряд между усами и электродом (трубкой 1); подавая на них по токовводам 9 разностьпотенциалов в несколько киловольт. Приэтом под действием электрического разряда за время Т полупроводниковые усы 0нагреваются, а накопленные на них вещества испаряются,...

Номер патента: 985846

Опубликовано: 30.12.1982

Авторы: Андрианов, Задорожный, Юдин

МПК: H01J 49/26

Метки: масс-спектрометр

...подключен вход усилителя 7 управления током катода, источник 8 переменного тока, откоторого залитан управляемый преобразователь 9 переменного напряжения в постоянное, управляющий вход которого соединен с выходом усилителя 7 управления током катода 10 ионнзацнонной камеры 11.Устройство работает следующим обре=ч ЗОМеУсилитель 1 сравнивает падение напряжения на измерительном элементе 2 обусловленное протекающим через него током эмиссии катода 10, с потенциалом источника 3 опорного напряжения,45С помощью переменного резистора изме рительного элемента 2 осуществляется ручная регулировка рабочего тока термсьлектронной эмиссии.Ускоренные с помощью ионизирующего 5 О напряжения электроны попадают на ионизационную камеру 11, а часть электронов,...

Номер патента: 1015455

Опубликовано: 30.04.1983

Авторы: Кузьмин, Ланин, Павленко, Раков, Яковлев

МПК: H01J 49/26

Метки: исследования, молекулярных, пучков

...и, кроме того, непроизводительные потери времени, связанныес подготовкой ЭВМ к работе и ее тестированием.Цель изобретения - повышение чув-,ствительности и уменьшение объемаоборудования.Поставленная цель достигаетсятем, что в устройство для исследования молекулярных пучков, содержащее Формирователь пучка, прерыватель с приводом, массоспектрометр,генератор, формирователь сигналови самописец, введены нормализаторимпульсов, реверсивный "счетчик ионовс узлом управления реверсом, индикатор, цифро-аналоговый преобразователь, счетчик периодов модуляции с индикатором и цифро-аналоговым преобразователем, делительноеустройство и пульт. управления, приэтом вход узла программного управления формирователя сигналов соединен с пультом...

Номер патента: 1043763

Опубликовано: 23.09.1983

Авторы: Держиев, Журавлев, Рамендик, Трофимов

МПК: H01J 49/26

Метки: искровом, источнике, масс-спектрометра, пробоя, стабилизации

...ионов, а один из входов исполнительного механизма 35 соединен также с выходом управления бпока зациты от. короткого замыкания электродов искрового источника ионов 3 3.Однако это устройство имеет малую 4 О помехозацищенность и сложность наладки, а использование амплитудного детектора в качестве датчика числа пробоев не позволяет надежно отли,чить единичный пробой от его отсут.- ствия, поэтому работа устройства воз,можна только при больших амплитудах радиоимпульса.Целью изобретения является расширение диапазона амплитуд радио- импульса, обеспечиваюцее возможность 50 работы при одном пробое в импульсе,. повышение устойчивости регулировання и упроцение настройки.Поставленная цель достигается тем, что устройство стабилизации на пряжения...

Номер патента: 1053186

Опубликовано: 07.11.1983

Автор: Тесленко

МПК: H01J 49/26

Метки: газа, концентрации

...этого образца. Наложение масс-спектра десорбированиого продукта на спектр исследуемогообразца не поддается учету. Осложнения возникают. при анализе всех кис. лородсодержащих соединений,Наиболер близкимк предлагаемомуявляется масс-спектрометр, в которомего датчик состоит иэ последовательно расположенных ионного источника,анализатора и коллектора конов, рас"положенных в вакуумной камере 121 . 65 Однако в процессе работы на анодеионного источника и электродаханализатора образуются. палупроводнико"вые пленки, которые приводят к потере чувствительности прибора. Длявосстановления необходимо механическое удаление пленок. Адсорбированные на поверхностях электродов гази,напускаемые в процессе газового анализа, обладают памятью, что приводит к...

Номер патента: 1075331

Опубликовано: 23.02.1984

Автор: Коляда

МПК: H01J 49/26

Метки: вторичной, ионно-ионной, компонент, коэффициентов, образца, полупроводникового, эмиссии

...измерения коэффициентов ВИИЭ компонент образца из полу. проводникового материала.Поставленная цель достигается тем, что согласно способу определения коэффициентов вторичной ионно-ионной эмиссии компонент образца из полупроводникового материала, в котором производят ионную и температурную очистку поверхности образца в условиях высокого вакуума, напускают активный по отношению к поверхности образца газ и измеряют токи первичных и вторичных ионов, проводимость поверхности образца поддерживают заданной путем изменения температуры в диапазоне, в пределах которого происходит адсорбция активного газа.Активность поверхности полупроводников по отношению к газовой среде тесным образом связана с электронной структурой его поверхности и с ее...

Номер патента: 1078502

Опубликовано: 07.03.1984

Авторы: Коляда, Нагорная, Черепин

МПК: H01J 49/26

Метки: вторичной, значения, ионно-ионной, компонент-поверхности, коэффициентов, относительного, твердых, тел, эмиссии

...при постоянном значении тока ионов первичного пучка ионное легирование производят тем же пучком первичных ионов с энергией, превышающей энергию ионов первичного пучка при распылении, при этом длительность масс-анализа устанавливают больше времени прекращения спада тока вторичных ионов с массой, соответствующей массе ионов первичного пучка.На фиг. 1 - 4 представлены варианты масс-спектров и временные зависимости токов (в.и.и.э.).При проведении масс-анализа происходит распыление ионнолегированного слоя, поэтому в спектре в.и.и.э., снятом в момент времени 0 ТсТ, наблюдаются вторичные токи компонент А (пики А, А, Аз, А 4) и вторичный ток 1-, который складывается из двух составляющих - вторичного тока 1 от ионов первичного пучка, легирующих...

Номер патента: 1086481

Опубликовано: 15.04.1984

Авторы: Григорьев, Носик, Провоторов

МПК: H01J 49/26

Метки: ионный, коллектор, масс-спектрометра

...коплектор не позволяетполностью предотвратить эмиссию вторичных частиц через входную щель в связис тем, что иэ-за ограниченности габаритов не представляется возможным сделать угол между направляющей потока ионов и дном коллектора достаточно малымфБель изобретения - уменьшение эмиосии вторичньпс заряженных частиц черезвходной канал.Бель достигается тем, что в коплекторе ионов масс-спектрометра, выполненной в виде проводящего полого теле с прямо- З 0 .угольным входным каналом для ввода анализируемых частиц, полое тело выполнено в виде кругового цилиндра, а входной канал распопожен вдоль образующей цилиндра так, что его внешняя стенка сопряЗ 5 жена с цилиндрической поверхностью причем диаметр цилиндра д,его длина . и ширина щели у...

Номер патента: 1100656

Опубликовано: 30.06.1984

Авторы: Аникин, Жуков, Киреев, Черепин

МПК: H01J 49/26

Метки: вторичной, идентификации, ионной, масс-спектрометрии, пиков, соединений, химических, элементов, эмиссии

...массой, если же это отношение не зависит от температуры, то ионы с меньшей массой являются осколком молекулы и в образце отсутствуют31.Недостатками этого способа являются:узкая область применения, так как он позволяет идентифицировать толькоВпики, соответствующие ионам, образовавшимся в результате диссоциации более сложной молекулы,усложнение установки за счет применения дополнительного устройства для нагревания образцов и регистрации температурной зависимости вторичных ионов;увеличение времени проведения анализа, что приводит к повышенным требованиям на стабильность экспериментальных условий.Цель изобретения - повышение точности и упрощение анализа. Поставленная цель достигается тем, что согласно способу идентификации циклов...

Номер патента: 1138855

Опубликовано: 07.02.1985

Авторы: Васильев, Дубинский, Костюченко, Косячков, Макеева, Ченакин, Черепин

МПК: H01J 49/26

Метки: анализа, масс-спектрометрического, послойного, твердых, тел

...концентрацией С данного эле мента в анализируемом слое Сев= щ,д /Ч а " К йе (2) гдето;- минимальный регистрируемыйток вторичных ионов,- степень ионизации (отношение числа вторичных ионовк общему числу распыленныхчастиц)- коэффициент пропускания прибора.Известен способ послойного анализа, заключающиися в распылении поверхности пучком ускоренных ионов споследующим масс-спектрометрическиманализом выбитых вторичных ионов ЯОднако этот способ не позволяетполучать высокое послойное разрешение при высокой концентрационнойчувствительности и локальности.55Наиболее близким к изобретениюявляется способ послойного анализа,заключающийся в расфокусировке первичного пучка ионов аргона, при этомскорость расопыпения объекта уменьшается до 0,5 А/с, в...

Номер патента: 1171870

Опубликовано: 07.08.1985

Авторы: Чупахин, Этингер

МПК: H01J 49/26

Метки: анализа, воды, масс-спектрометрического, особой, степени, чистоты

...примесей, перераспределение примесей между поверхностью и объемом пробы; при низних температурах менее вероятно испарение легколетучих примесей. Следовательно, после сублимации на поверхности оставшейся части пробы сконцентрируются примеси из всего сублимированного объема,Коэффициент, концентрирования равен отношению сублимированного объема к объему, используемому при масс-спектрометрическом анализе. Искровая масс-спектрометрия позволяет при анализе снимать слой пробы толщиной до 10 мкм. Сублимируя часть пробы толщиной 1 см, можно получить коэффициент концентрирования более 1000. Концентрация примесей в объеме пробы всегда в 100 - 1000 раз меньше поверхностной концентрации по всем элементам. Так как подложкой для концентрата примесей...

Номер патента: 1188808

Опубликовано: 30.10.1985

Авторы: Барбашев, Власюк, Пристер

МПК: H01J 49/26

Метки: анализа, вторичных, ионов, масс-спектрометрии, методом, мишеней, непроводящих, подготовки, порошкообразных

...ей способность сохранять форму при любой ориентации35в пространстве. Полученная такимобразом дисперсная система наноситсятонким (Ь=0.2 - 2 мм) слоем на проводящую подложку, которая химическис ней не взаимодействует.Интервал толщин Ь=0,2 - 2 мм выбран из следующих соображений. ПриЬс 0,2 мм дисперсная система быстрораспыляется (при энергии первичныхионов аргона, равной 10 кэВ, скоростьраспыления доходит до 1 мм(ч) и ужечерез 10-15 мин масс-спектр состоитв основном из пиков, соответствующихматериалу подложки, При слое, большем 2 мм, начинает сказываться зарядка поверхности, которая ведет к ис,"кажению масс-спектра.Для того, чтобы при малых толщинах масс-спектр подложки не наклады. -вался на масс-спектр исследуемого55общества, ее средний...

Номер патента: 1190427

Опубликовано: 07.11.1985

Авторы: Кернер, Орджоникидзе, Парулава

МПК: H01J 49/26

Метки: изотопной, концентрации, массо-спектрометрического, метаноле, углерода

...линии устраняется вымораживанием метанола непосредственно в ампуле напуска притемпературе не более -64 С с послеЗОдующей ее откачкой до остаточногодавления газов не более 3.10 Э Па.Принимаются ввиду следующиеусловия.Изотопная концентрация углерода35при фрагментации не меняется, поэтому все фрагменты. метанола сохраняют исходные изотопные концентрации углерода и отношения:нсн о" эсн,он "фон,он,40ц 2 СНО осНОН СНОН= сопят (1),Интенсивности ионных токов молекулярных, фрагментных и протонированных изотопных форм пропорцио - 45нальны произведениям вероятностейих образования иа концентрациисоответствующих изотопов.С помощью этих условий и экспериментально фиксированных интенсивностей пиков ионных токов с массовыми числами 31 и 34...

Номер патента: 1201920

Опубликовано: 30.12.1985

Авторы: Коляда, Комаров, Ташлыков, Ченакин

МПК: G01N 27/62, H01J 49/26

Метки: анализа, веществ, послойного, твердых

...энергии ионно-лучевогоФлегирования, при котором разрешаетсямаксимум каналированных ионов (Е 2)с этой энергией и максимум неканали 35рованных ионов с максимальной энергией (Е 4) (см. фиг,2, энергии Еп иЕ 4При распылении поверхности ионнолегированного вещества наблюдается40 максимум потоков вторичных ионов,обусловленный окислением поверхности и насыщением ее ионами первичногопучка, После распыления слоя (обычно толщиной 500-1000 А) параметры45 потоков вторичных ионов стабилизируются. Следовательно, первый максимум распределения эталонного элемента должен находиться на глубинене меньшей этого слоя 81,.1201920 арасположен на глубине 1350 А. Такимобразом, расстояние между экстремумами и, соответственно, разрешениепо глубине составляет 250...

Номер патента: 1205208

Опубликовано: 15.01.1986

Авторы: Амелина, Аристархова, Волков, Гутенко

МПК: H01J 49/26

Метки: анализа, ионов, методом, низких, обратно, поверхности, рассеянных, спектроскопии, энергий

...пушки, а величины й и В постоянные, то Е 1 определяется еез равенстваЕ, (, ГЕ,-Е (3)где С - постоянная для данной конструкции,Для того чтобы награвлять на по верхность исследуемого объекта поочередно пучки ионов разного сорта ( .е , е , Хг и т.д.1, необходи+мо с помощью источника 19 изменять величину ,Р ступенчато согласно формуле (3и как показано нафиг, 2 б, а также с учетом величин масс ионов и ускоряющее напряжение 13 пушки, чтобы обеспечить про хождение через Фильтр ионов одногосорта, при изменениях ускоряющего напряжения, на управляющий вход источника 19 поступает выходное напряжение из источника 17, изменяющее 0 с помощью делителя в источнике 9 согласно формуле ( 3). В простейшем случае на управляющий вход источника 19 подается...

Номер патента: 1211645

Опубликовано: 15.02.1986

Авторы: Васильев, Коляда, Нагорная, Черепин

МПК: G01N 27/62, H01J 49/26

Метки: вторичной, ионной, компонентов, коэффициентов, образца, эмиссии

...очиЗ 5 щают поверхность от загрязнений,возникающих при контакте поверхности образца с окружающей средой впроцессе пробоподготовки и вакуумирования. После этого с помощью на гревателя с источником питания произ.водят кратковременный 1-2 минразогрев до 800 С для термическогообезгаживания поверхности образца.После остывания образца в камеру 45 напускают из баллонов с редукторамиактивную по отношению к железу газовую смесь - водород и азот, устанавливая парциальные давлениясоответственно 9 1 О и 3 10 Па.50 Выбор в качестве активного газаазотно-водородной смеси обусловлентем, что в зависимости от темпеО 15 20 25 ния определяется по значению токавторичных ионов в реперной (экстремальной) точке.Тип соединения опреде:,лением активного...

Номер патента: 1215144

Опубликовано: 28.02.1986

Авторы: Аристархова, Волков, Толстогузов

МПК: H01J 49/26

Метки: ионов, низких, обратно, рассеянных, спектрометр, энергий

...выставляется в фокус анализатора с помощью подвижного держателя 1,Сталкиваясь с атомами внешнегомонослоя поьерхности образца 2, ионыпервичного пучка в результате упругого парного соударения рассеиваются в разные стороны. Рассеянные ионы,прошедшие через входную щель во внут реннем цилиндре 5 анализатора 3 впространство между электродами. 4и 5, разделяются по энергиям. Ионыс определенной энергией, траекториикоторых ограничены крайними траекториями по всему азимуту, проходятчерез выходную щель внутреннегоэлектрода 5 и фокусируются в отверстие выходной диафрагмы 6 анализатора 3.Пройдя через отверстие диафрагмы 6, ионы, двигаясь в эквипотен-.:циальном пространстве по прямолинейным траекториям, попадают на коллектор 7, Далее импульсы...

Номер патента: 1221689

Опубликовано: 30.03.1986

Авторы: Аминев, Трошков, Шестаков

МПК: G01N 27/62, H01J 49/26

Метки: аэрозолей, воздухе, изучения, искусственных, распространения

...619ОктавинилоктасилсесквиоксанДекавинилдекасилсесквиоксан 735Декаэтилдекасилсесквиоксан 781Способ реализуют следующим образом.Помеченный веществом метки материал аэрозоля диспергируют в воздух. Пробоотбор осуществляют аспирацией воздуха через фильтры. Вещество-метку экстрагируют с фильтров, экстракт упаривают на подложке, подложку вво дят в устройство ввода и определяютколичество метки с помощью массспектрометра в режиме ионизации элек тронным ударом.Вещество регистрируют по одному 10 из высокомолекулярных интенсивныхионов с записью ионного тока на самописце, Измеряют площадь пика полезного сигнала и рассчитывают содержание метки на фильтре по фор муле: М = КоБК,где М - количество метки, г,Ко -...

Номер патента: 1224855

Опубликовано: 15.04.1986

Авторы: Васильев, Емельянинков, Коляда, Черепин

МПК: G01N 27/62, H01J 49/26

Метки: анализа, веществ, количественного, послойного, твердых

...анализа можноповысить, если для этих целей использовать отношение потоков одноатомныхк полиатомным ионам, поскольку частично сократятся погрешности, связанныес.нестабильностью условий анализа исредств измерений.ЮБомбардировка твердого вещества 2 О пучками первичных ионов может производиться как раздельно (в этомслучае для суждения о концентрацияхиспользуют потоки вторичных ионов,. создаваемые вторым пучком), так и 2 совместно (в этом случае используютротоки вторичных ионов, создаваемыеодновременно обоими пучками)Распыление твердого вещества пучком первичных ионов с Б 1 снижаетточность послойного анализа ввидунеблагоприятного воздействия бомбардировки на состояние поверхности, в .связи с чем влияние этого пучка минимизируют...

Номер патента: 1226554

Опубликовано: 23.04.1986

Авторы: Васильев, Коляда, Черепин, Швецов

МПК: G01N 27/62, H01J 49/26

Метки: анализа, веществ, масс-спектрометрического, твердых

...меньшечем знаменатель зависит от состоянияповерхности в связи с чем 1 характеризует состояние поверхности, аизменение его - изменение состояния поверхности, чтс учитывают при получении и обработке результатов анализа и что является технической сущностью изобретения,В масс-спектрометрии вторичныхионов, ионном легировании, катодномраспылении материалов и других областях техники широко применяют пучки ионов различной массы и энергии,Изменяя последнюю достигают различных глубин проникновения ионов, скоростей распыления, выходов ионов илиизлучений из мишеней и т.д. Предлагаемый способ существенно отличается отизвестных тем, что позволяет контролировать состояние поверхности твердого вещества путем учета специфических особенностей...

Номер патента: 1228160

Опубликовано: 30.04.1986

Авторы: Газиев, Каратаев, Мамырин, Мельник, Петренко

МПК: G01N 27/62, H01J 49/26

Метки: аэрозоле, иодистого, серебра

...ана лиза.Температура сушки готового комплексного соединенияАд 1 + К 13 вдиапазоне 100-120 С обусловлена оптимальной скоростью процесса. Ниже 10 100 С сушка нецелесообразна, таккак увеличивается время процесса.При более высоких температурах возможно разложение комплексного соединения. Использование смеси для ана лиза без сушки ведет к сильному газоотделению и нарушению вакуума вмасс-спектрометре.Полученное таким способом комплек"сное соединение ГАдТ + КТ 1 дает масс+ 20 спектр, содержащий линии ионов АдКТ,Таким образом, каждый из признаковявляется необходимым, а все вместеони достаточны для повышения чувствительности.На чертеже представлены эависи 101 1 ф Фмости полного тока линии АК"К 1от времени нагрева проб комплексов(АТ + К 11 с...

Номер патента: 1239766

Опубликовано: 23.06.1986

Авторы: Воинов, Елкин

МПК: H01J 49/26

Метки: захвата, масс-спектров, резонансного, электронов

...спектр ПЗЭ в виде проекций кривых эффективного выхода (КЭВ),В предлагаемом способе по сравнению с известным ионизация осуществляется пучком электронов с кажущимся широким распределением эпектронных энергий, что и обеспечивает измерение интенсивности ионного тока для иона любой массы в максимуме его КЭВ.На фиг.1 изображена запись масс- спектра на бумагу, протягиваемую одновременно с разверткой поля элек - тромагнита которая регистрирует ве/личину ионного тока как проекцию ХЭВИ на фиг,2 и 3 - масс-спектры анализируемых веществ.Наибольшая скорость магнитной развертки достигается при равенстве наименьшего времени развертки вершины пика одной массы наименьшему периоду сканирования энергий электронов Т который определяется произведением...