H01J 49/26 — масс-спектрометры или разделительные трубки

Страница 4

Контейнер для ввода в масс-спектрометр веществ, неустойчивых на воздухе

Загрузка...

Номер патента: 1239767

Опубликовано: 23.06.1986

Авторы: Агафонов, Фаерман

МПК: H01J 49/04, H01J 49/26

Метки: ввода, веществ, воздухе, контейнер, масс-спектрометр, неустойчивых

...надежности за счет уменьшения влияниявозможного перекоса цилиндрическихчастей крьппки и корпуса, а такжеза счет создания потока паров лету Очей жидкости, предотвращающего попа"дание воздуха в корпус контейнера иобеспечивающего необходимое давление для надежного сбрасывания крышкипри откачке камеры шлюза масс-спектрометра.На Фиг,1 и 2 представлен контейнер для ввода в масс-спектрометрвеществ, неустойчивых на воздухе,Контейнер содержит корпус 1 и крышОку 2, снабженную дополнительной емкостью 3. В корпус, выполненный изкварца и снабженный устройством 4для его крепления, вплавлена проволока нагревателя 5. Дополнительная емкость 3 крьппки 2 содержит инертнуюк исследуемому веществу жидкостьб, Исследуемое вещество 7 помещают вкорпусе 1...

Способ масс-спектрометрического анализа микропримесей гелия и водорода в тяжелых газах

Загрузка...

Номер патента: 1257726

Опубликовано: 15.09.1986

Авторы: Герасимов, Гершаник, Есипов, Ляликова

МПК: H01J 49/26

Метки: анализа, водорода, газах, гелия, масс-спектрометрического, микропримесей, тяжелых

...может быть на несколько порядков вьппе. Действительно, в первые моменты времени после подачи анализируемого газа в ионный источник попадают молекулы только легкого компонента газовой смеси. Молекулы тяже; 30 35 40 45 лых компонентов при этом еще находятся в объеме пористой перегородки.Основное условие практического осуществления предлагаемого способа состоит в достаточно большом времени прохождения газа через пористую перегородку с тем, чтобы успеть до появления в ионном источнике тяжелолетучего компонента определить содержащая легколетучего компонента и перекрыть затем поток анализируемой смеси вприбор. Если расход основного компонента газовой смеси через пористую перегородку в 100 раэ превышает пропускную способность...

Способ анализа содержания компонентов твердых веществ

Загрузка...

Номер патента: 1262594

Опубликовано: 07.10.1986

Авторы: Коляда, Нагорная, Ченакин, Черепин

МПК: G01N 27/62, H01J 49/26

Метки: анализа, веществ, компонентов, содержания, твердых

...обусловленной влияниями легирования и внутреннего стандарта,Переменную составляющую потока вторичных ионов внутреннего стандарта получают отфильтрованием постоянной составляющей, Обе составляющие потока ионов с заданной массой измеряют одновременно,Предлагаемый способ анализа по принципу действия относится к дифференциальному методу измерений, основанному на сравнении исследуемой и стандартной величин. Дифференциальчныи метод в предлагаемом способе реализуется благодаря легированию твердого вещества внутренним стандартом в виде параллельных равноотстоящих полос и соизмеримости ширины полослегирования и расстояния между поло1262 55Способ анализа содержания компонентов твердых веществ, заключающийся в легировании твердого вещества сами...

Способ масс-спектрометрического анализа микропримесей в газах

Загрузка...

Номер патента: 1265889

Опубликовано: 23.10.1986

Авторы: Миркаримов, Пашкин, Пожаров, Хабибуллаев

МПК: G01N 27/62, H01J 49/26

Метки: анализа, газах, масс-спектрометрического, микропримесей

...и температура ней трального газа, электронная температура, концентрация заряженных частиц). Верхний предел ограничен искажениями измеряемых ионных токов,возникающими при столкновении между 15 ионами и нейтральными частицами впотоке газа через отверстие в выходной диафрагме масс-спектрометра.Конкретное значение давления внутри указанного интервала выбирается 20 исходя из того, что наибольшую точность дают измерения при Лл ре-рогде Л - характерный размер ЭРК (сточностью до постоянногокоэффициента, определяемогогеометрией ЭРК);Э - коэффициент диффузии йоново50при.единице давления.В этом случае оптимальное давлениеанализируемой смеси равно Э с Л хгде=1/1 сх- характерное времяреакциииона-реа-.гента с микропри-месью, с;к - константа...

Способ масс-спектрометрического анализа химических соединений

Загрузка...

Номер патента: 1270814

Опубликовано: 15.11.1986

Авторы: Александров, Галль, Краснов, Куснер, Николаев, Шкуров

МПК: H01J 49/26

Метки: анализа, масс-спектрометрического, соединений, химических

...органических .молекул, содержащие наряду с осколочными, молекулярные и квазимолекулярные ионы. Недостатками всех лере". численных методов-аналогов являются сложность обязательной стадии подготовки образца, низкая чувствитель:ность используемой аппаратуры, исключительная трудоемкость расшифровки масс-спектров, невозможность упНедостатки данного способа - невозможность получения масс-спектра молекулы, необходимого для установления ее структуры, а также низкая чувствительность метода, приводящая к необходимости использования больших количеств раствора аналивируе мых веществ ( 1 мл и более). Цель изобретения - повьппение точ. ности идентификации, расширение аналитических возможностей и увеличение чувствительности,Поставленная цель...

Способ вторично-ионной масс-спектрометрии твердого тела

Загрузка...

Номер патента: 708794

Опубликовано: 15.11.1986

Авторы: Арифов, Джемилев, Курбанов

МПК: G01N 27/62, H01J 49/26

Метки: вторично-ионной, масс-спектрометрии, твердого, тела

...элемента пропорционально амплитуде вторичногоионного тока.На фиг. 4 показана зависимостьраспределения по тощине слоев литияс эквивалентной толщиной 0,35, 0,72 40и 1,3 монослоя от времени бомбардировки ионами неона с энергией 13 кэВи плотностью тока на мишень 0,5х 0, 109 А/см . 1 ак видно,для представ-ленных кривых характерно экспоненци-. 45альное уменьшение интенсивности ионов 1 Эти результаты свидетельствуют о том, что осажденный слой лития присутствует только на поверхности пленки меди. Особенно это хорошо наблюдается для слоя с эквивалентной толщиной 0,35 монослоя. Однако дпя кривых 11 и 111 (эквивалентнаятолщина 0,72 и 1,3 монослоя) выходионов перестает меняться приблизительно после 200 и 340 с бомбардиров.ки соответственно,...

Устройство для ввода неполярных органических примесей из растворов в масс-спектрометр

Загрузка...

Номер патента: 1274029

Опубликовано: 30.11.1986

Авторы: Маньковский, Пругер, Ривлин, Штейнберг

МПК: H01J 49/26

Метки: ввода, масс-спектрометр, неполярных, органических, примесей, растворов

...бензола к измерению ацетона.Использование заявляемого способа позволит повысить контроль качества 30 очищенной воды, сбрасываемой в водоем, и тем самым обеспечить нормальную работу очистных сооружений. Формула изобретения35 разом.Дроба вводится в проточную ячейку 1 и через мембрану 2 направляетсяк масс в спектромет.Металлический шток 4 через пластинку из пористого тефлона 5 в зависимости от состава пробы растягивает мембрану до необходимой проницаемости.П Р и м е р. Проведен в лабораторных условиях анализ ацетона и бензола - веществ, часто встречающихся встоках промпредприятий в количествах 1-100 мг/л,По данным источника, выбранногов качестве прототипа, проницаемостьйсиликоновой резины по ацетону в 10раз хуже, чем по бензолу,Для...

Способ детектирования атомарного водорода

Загрузка...

Номер патента: 1282238

Опубликовано: 07.01.1987

Авторы: Муждаба, Светлов, Сидоров

МПК: G01N 27/02, H01J 49/26

Метки: атомарного, водорода, детектирования

...порядка 10Па, Состав остаточных газов и паров воды контролируется масс-спектрометром, который одновременно служит для регистрации молекул образующегося при измерении гидрида.Атомарный водород образуется при диссоциации молекул водорода при возбуждении высокочастотного газового разряда генератором высокой частоты. С помощью коллиматора образуется поток, состоящий из молекулярного и атомарного водорода, на пути которого помещается кварцевая пластинка с нанесенным на ней слоем селена.На фиг, 1 представлена спектрограмма, характеризующая рабочий вакуум (10Па) без наличия потока воздуха; на фиг. 2 - спектрограмма, соответствующая потоку молекулярного водорода, при котором вакуум в системе становится 10Па; на фиг. 3 - спектрограмма,...

Массэнергоанализатор

Загрузка...

Номер патента: 1290431

Опубликовано: 15.02.1987

Авторы: Волков, Михайлов, Сливков

МПК: H01J 49/26

Метки: массэнергоанализатор

...динамический диапазон по энергии 10 . Таким образом, магнитное поле круглых полюсов хорошо сочетается с предложенной системой электростатического отклонения, позволяя реализовать заложенные в ней возмож -ности.Для улучшения параметров прибора можно выбрать отличный от нуля угол ю, входа пучка ионов в анализатор.Это позволяет при этом же зазоре 1 увеличить отклонение Е , а следовательно улучшить разрешение.Действительно, если пучок входит в отклоняющие пластины с длиной К, и зазором 3 Е, почти касаясь одной из пластин, и выходит, почти касаясь другой, угол выхода пучка из пластин определяется соотношением Если пучок входит в ту же систему наклонно под углом с( у края верхней пластины, испытывая отклонение в направлении Е,...

Способ калибровки энергетической шкалы энергомасс анализатора вторичных ионов

Загрузка...

Номер патента: 1292071

Опубликовано: 23.02.1987

Авторы: Коваль, Литвинов, Физгеер

МПК: G01N 27/62, H01J 49/26

Метки: анализатора, вторичных, ионов, калибровки, шкалы, энергетической, энергомасс

...наблюдалось при различных температурах мишени и при различных парциальных давлениях химически активных газов в камере мишени (т.е. при различном физико-химическом состоянии поверхности).На чертеже приведены пронормированные по максимуму интенсивности энергетические спектрометры некоторых вторичных ионов, выбитых с поверхности различных материалов, и энергетический спектр термоионов калия.Энергетические спектры ионов К эмитируемых при нагревании различных.мишеней, и вторичных ионов Аг, выбитых из этих мишений, практически совпадают, хотя и не полностью идентичны (спектр; термоинов симметричен относительно положения макс,спектр вторичных ионов аргона имеет"хвост" в область больших энергий,что указывает на более сложный механизм...

Способ количественного определения меркаптанов

Загрузка...

Номер патента: 1330674

Опубликовано: 15.08.1987

Авторы: Вольцов, Ляпина, Парфенова, Толстиков, Фурлей, Хвостенко, Шмаков

МПК: H01J 49/26

Метки: количественного, меркаптанов

...чувствительность принята чувствитель.10 15 20 ность масс-спектрометра К =1 к образованию иона (. Н; - из бензола, Ц иинтенсивно ти пиков характерисотических ионов меркаптана и бензола,К и К - коэффициенты относительной1 ьчувствительност масс-спектрометрак образованию характеристических отрицательных ионэв меркаптаном и бензолом, М М и 1,1 о - соответственно их молекупярная масса и плотность,Масс-спектры отрицательных ионовиндивидуальных меркаптанов, модельных, искусственных смесей и природных продуктов получали на масс-спектрометре МХ, приспособленномдля регистрации отрицательных ионовс помощью изменения полярности системы регистрации, электрического и магнитных полей, при осуществлении развертки шкалы энергии электронов от0 до...

Устройство для ввода газа в анализатор масс-спектрометра

Загрузка...

Номер патента: 1336136

Опубликовано: 07.09.1987

Авторы: Иванова, Пудов, Сурков

МПК: H01J 49/26

Метки: анализатор, ввода, газа, масс-спектрометра

...временныехарактеристики предлагаемой системыввоДа определяются следующими расчетами,Расчет коэффициента обогащения.Коэффициент обогащения определяется отношением концентраций нейтральных компонент в газе, прошедшем систему ввода и поступившем в нее. Количество газа Я, поступающего в устройство ввода через натекатель с проводимостью Н, из среды с давлениемР , равно01 РоНКоличество газа Я 2, проходящегочерез ограничительный канал 8 с нро"водимостью 02где П - проведимость прямого ка пилляра.Количество газа Я , проходящего по прямому капилляру поглотителя 9ПЭ ЯЭ - О,Н +П 2 Э Количество газа Я на выходе изФпоглотителя СО 2О 2О=ЯП +Нгде С н - концентрация нейтральных газов в смеси.Полное количество газа, поступающего в смесительную камеру,...

Способ анализа примесей в газах

Загрузка...

Номер патента: 1337934

Опубликовано: 15.09.1987

Авторы: Буряков, Крылов, Солдатов

МПК: G01N 27/62, H01J 49/26

Метки: анализа, газах, примесей

...формы, тоуравнение (6) имеет вид ЧА = --- -(с Е - г. Е, (7) К, ++ Подставляя условия (8) и (9) вуравнение (7) можно получить ЧЙ =К, (Е + 3 Е Е , - 2 Е, ) . (10) Чтобы найти максимум значения Чй,нужно продифференцировать и приравнятьнулю уравнение (10);+6 Ебг - 0 (11) Корнями этого квадратного уравнения являются величины а отношение этих корней 3+ф: -- - -.= 2+.ГЗ= 3 73. (13)Е 3 -13уТаким образом, согласно предлагае мому способу, заключающемуся в иониэации исследуемого газа, разделении образовавшихся ионов в электрическом поле, отборе и регистрации ионов при воздействии на них переменным периодическим несимметричным по полярности электрическим полем, отношение амплитуд образующего поля выбирают равным 3,73. где Е+, Е -...

Способ измерения парциального давления кислорода

Загрузка...

Номер патента: 1387072

Опубликовано: 07.04.1988

Авторы: Вовк, Рудный, Сидоров, Сорокин

МПК: G01N 27/62, H01J 49/26

Метки: давления, кислорода, парциального

...добавку хромата калия. Проводят два опыта сразным количеством добавки: н первом эксперименте на 150 мг На,О Б 10,35взято 10 мг К СгО, что составляет2,05 мол,Ж, но втором случае на130 мг НаО БО - 1,5 мг К Сг 04,что составляет О, 36 мол.7., Веществатщательно перетирают н агатовойступке, смесь помещают н эффуэионную камеру, нагревают до 1200-1344 КВ насыщенном паре появляются ионы,СгОСтО которые регистрируют массспектрометром. Через отношение эа"45регистрирон анных ионных токов рассчитывают отношения давления ионовР(СгО) 1(СгО ) М(СгО)3Р (СгО ) 1 (Сг 04 ) М(СгО )50гпе Р - парциапьное давление ионов;1 - измеряемый ионный ток;М - молекулярный вес ионов.По ионин-молекулярному равновесию55Сгк + 1/2 О = Сгпрассчитываю парциальное даял....

Устройство ввода для масс-спектрометрического анализа веществ, разделенных методами жидкостной и тонкослойной хроматографии

Загрузка...

Номер патента: 1458905

Опубликовано: 15.02.1989

Авторы: Коваль, Соловей, Танцырев, Шкурдода

МПК: H01J 49/26

Метки: анализа, ввода, веществ, жидкостной, масс-спектрометрического, методами, разделенных, тонкослойной, хроматографии

...цилиндрическую поверхность,что в совокупности с сальником (непоказан) обеспечивает его вращение и 35перемещение относительно корпуса безнарушения вакуума в масс-спектрометре. На конце штока вмонтирован изолятор 4, на котором закреплена цилиндрическая обойма с винтовой канав кой 5. Шток 3 имеет резьбу 6, шаг которой равен шагу винтовой канавки наобойме. Реэьбовая часть штока 3 ввинчена в корпус 1. В приборе имеетсяисточник 7 первичных ионов, камера 8 45перезарядки, вытягивающие линзы 9,Устройство работает следующим образом,В винтовую канавку 5 штока 3 укладывается отрезок ленты или полоскаиэ гибкого материала, на которой нанесены анализируемые вещества. Затемшток 3 ввинчивается в корпус 1, Производится откачка воздуха иэ...

Способ энерго-масс-спектрометрического анализа вторичных ионов и устройство для энергомасспектрометрического анализа вторичных ионов

Загрузка...

Номер патента: 1460747

Опубликовано: 23.02.1989

Авторы: Кузьмин, Саченко

МПК: H01J 49/26, H01J 49/44

Метки: анализа, вторичных, ионов, энерго-масс-спектрометрического, энергомасспектрометрического

...движения черезэнергоанализатор мешающих высокоэнергетических частиц и излучений,а также нейтральной компоненты, корпус 23 масс-анализатора, которыйобычно имеет тот же потенциал, чтои потенциал на оси масс-анализатора, экран 24 энергоанализатора, потенциал которого райен потенциалу анализируемого образца, источник 25 электрического напряжения постоянногс тока, через который средняя точка парабазного выхода высокочастотного генератора соединена с образцом.Работа устройства происходит сле дующим образом.СЖокусированный пучок первичных ионов высокой энергии, обычно 1 О кэв, направляется на поверхность анализируемого образца, Возникающие 15 в области бомбардировки продукты вторичного излучения, в том числе вторичные ионы, интенсивность...

Приемное устройство масс-сепаратора

Загрузка...

Номер патента: 699956

Опубликовано: 15.04.1989

Автор: Попов

МПК: B01D 59/44, H01J 49/26

Метки: масс-сепаратора, приемное

...короткоживущих нуклидов пу 5 тем одновременного измерения излучений нескольких близких по массе изотопов отдельными, детекторами, повышения чувствигельности и снижения фона за счет удаления друг от друга ис.следуемых источников. Цель достигается тем, что приемное устройство выполнено в виде ленты, навитой на цилиндр, образующая которого расположена в фокальной плоскости масс-сепаратора, причем шаг намотки ленты выбран в соответствии с дисперсией масс-сепаратора, а диаметр цилиндра соответствует заданному расстоянию между детекторами для измерения излучений соседних изотопов.На чертеже дана схема, поясняющая принцип работы приемного устройства масс-сепаратора.На схеме показаны боковая поверхность 1 цилиндра, расположенная в фокальной...

Способ ввода жидких и газообразных образцов в камеру ионизации масс-спектрометра

Загрузка...

Номер патента: 1490693

Опубликовано: 30.06.1989

Авторы: Белан, Коган, Полякова, Токарев, Фальковская

МПК: H01J 49/26

Метки: ввода, газообразных, жидких, ионизации, камеру, масс-спектрометра, образцов

...патока является значение критерия Рейнольдса К= ЙЧУ/1, где й - диаметр капилляра; Ч - скорость течения, р - плотность; 1 - динамическая вязкость газа. Для цилиндрического капилляра диаметром 0,25 мм с объемной скоростью протекания газа 1-5 мл/мин значение критерия Рейнольдса много меньше 2300, что указывает на строго ламинарный массовый режим протекания газа через капилляр.Время, которое требуется для протекания газа через капилляр длиной 1, выражается формулой(2)учитывая формулы (1) и (2), а также критерий ламинарности потока и условия нормальной работы масс-спектрометра (вакуум не хуже 1 О торр), можно вычислить оптимальные условия работы капилляра. Результаты таких оценок следующие; с 1 = (0,25-0,4) мм;1 = (0,5-3) м; Ч = (20-80)...

Способ определения содержания водорода в газах

Загрузка...

Номер патента: 1499202

Опубликовано: 07.08.1989

Авторы: Золотых, Носик, Провоторов

МПК: G01N 27/62, H01J 49/26

Метки: водорода, газах, содержания

...кислорода с водородом ( о 01 Н) накладывается на изотопный пик чО 10 в результате чего вызывается смещение величин / 10, д"О в сторону обогащения тяжелым изотопом;.. х и,и.-- . х и,и,.ЧмО Н 100 Ж вЧ 01Ч 1 о 01 Н 1 10037 фОП р и м е р. Определение количества связанного водорода в газе 801.В каналы 3 и 4 напускной системы масс-спектрометра вводится строго одинаковое количество газа 0, которое вызывает напряжение в регистри- . рующей системе масс-спектрометра 7101 10 В, и записываются 1110 и Р"О, значения которых должны быть равны О. Затем в канал 5 вводится5 149двуокись серы, содержание которойсоставляет 103 от ОВ т.е, Чэ 1 В.Такое содержание серы обусловлено выбором линейного участка изменения/0 и 422 "0 от количества вводимогов О газа,80...

Способ определения концентрации редкого изотопа

Загрузка...

Номер патента: 1504688

Опубликовано: 30.08.1989

Авторы: Кудрявцев, Летохов, Петрунин

МПК: H01J 49/26

Метки: изотопа, концентрации, редкого

...этого изотопа связана с интерференцией от ионов с близкой массой Н+ и Н 11 и рассеянЭных ионов от изотопа,:гелий, Это ограничивает минимально детектируемую относительную концентрацию на уровне 10 - 10Для радикальногоувеличения диапазона детектируемых отношений концентраций за выходной щелью устанавливается перезарядная ячейка с парами калия, В результате перезарядки ионов гелия на парах калия образуются атомы гелия в мета- стабильных 278- и 2 ъ 8-состояниях. Известно, что 3/4 атомов после переза; ". рядки находятся в триплетном 2 8"состоянии. Поэтому изотопически селективное возбуждение выгодно осуществлять по триплетной системе уровней фиг,2) Массовый изотопический сдвиг в спектрах поглощения гелия составляет 1,45 см на...

Устройство для определения параметров масс-спектральных линий в условиях быстрых разверток

Загрузка...

Номер патента: 1522319

Опубликовано: 15.11.1989

Авторы: Иванов, Ланин, Филатов, Янкевич

МПК: H01J 49/26

Метки: быстрых, линий, масс-спектральных, параметров, разверток, условиях

...через который по сигналу от блока 22 программного управления устройством осуществляется запуск развертки массспектрометра. Одновременно с анализируемым веществом в источник ионов вводится эталонное вещество, Перед запуском развертки от ЭВМ 19 производится установка величины порога в дискриминаторе 17 и в зависимости от разрешения спектрометра и скорости развертки в блоке 21 синхронизации выбирается частота тактовых сигналов опроса преобразователя 7 массы и аналого-цифрового преобразователя 9 интенсивности.По этим сигналам отсчеты интенсивности аналого-цифрового преобразователя 9 поступают в пороговый дискриматор 17, который, сравнивая полученное значение интенсивности с кодом порога установленным предвари 40:2(; Е)Е, +Р 5...

Способ масс-спектрального количественного определения содержания углерода в многокомпонентных твердых материалах

Загрузка...

Номер патента: 1536454

Опубликовано: 15.01.1990

Авторы: Бибиков, Голякевич, Походня, Швачко

МПК: G01R 7/16, H01J 49/26

Метки: количественного, масс-спектрального, материалах, многокомпонентных, содержания, твердых, углерода

...из времяпролетного масс-спектрометра МСХи камеры с высокотемпературной ячейкой. Вакуум не ниже 210 Па создавался в установке беэмасляной системой откачки, причем камера ячейки откачивалась отдельным насосом.Ячейка, изготовленная из молибдена, нагревалась до 1000 С тепловым излучением кольцевого катода, а до более высокой температуры - электройной бомбардировкой.Для калибровки масс-спектрометра до двуокиси углерода в камеру источника с помощью вентиля тонкой регулировки добавляли СО и определяли зависимости интенсивности линии СОе от давления СО. Величина чувствительности масс-спектрометра по СОд находилась в пределах (48) 10 л Па/мм шкапы.Аналогичным образом калибровался прибор по окиси углерода, а измеренная чувствительность была...

Способ определения концентрации веществ в растворах

Загрузка...

Номер патента: 1536455

Опубликовано: 15.01.1990

Авторы: Борисов, Гюльбадамов, Сысоев

МПК: H01J 49/26

Метки: веществ, концентрации, растворах

...МИс источникомионов с электронным ударом. Анализзаключался в определении абсолютныхконцентраций веществ, входящих в исследуемый водный раствор.. Генерация аэрозольных частиц производилась с помощью аэрозольного медицинского ингалятора АИпутем диспергирования водного раствора МС 1, .РЬЯНО и ЯсИОэ в статическую камеру.Полученные аэрозольные частицы, содержащие 1,С 1, РЪИОз и ЯсИО, с помощью одноступенчатого импактора осаждали на подложку испарителя источника ионов либо на контрольнуюподложку. В качестве контрольной подложки использовался масс-чувствительный пьезорезонансный датчик с собственной частотой 8 ИГц, что позволяетпроводить измерение массы осадка винтервале 10 -10 г. Объемный рас ход воздуха через импактор составлял5 х 10 м /с,...

Способ определения глубины выгорания горючего в твэле ядерного реактора

Загрузка...

Номер патента: 1333147

Опубликовано: 07.02.1990

Авторы: Кузнецов, Попов

МПК: H01J 49/26

Метки: выгорания, глубины, горючего, реактора, твэле, ядерного

...необходимо отсепари.- ровать 2,2-10 атомов цезия,1 Эраспадающегося с периодом Т 1 = 30 лет, Если принять эффективность сепарации цезия " 1 Х то в ионном ис 15точнике должно быть 2,2 10 атомов цезия, Приняв делимость цезия 6 Х, можно определить, что для получения -10 отсчетов распада цезия,вес образца, отработанного урана должен составлять 1 мг, Для получения под пиком цезия 129 0,4 10 отсчетов7за 1 ч экспозиции, необходимо активировать образец урана весом 0,5 г в течение - 80 ч, Сечение образования цезия 129 1 м, бари, эффективность регистрацииЗХ, Точность определения количества цезияопределяется точностью измерения числа атомов цезия29 который можно определить с: точностью Х с помощью Ое(Ы)-де-, т ектора.Таким образом,...

Способ измерения парциального давления фтора

Загрузка...

Номер патента: 1566277

Опубликовано: 23.05.1990

Авторы: Коробов, Кузнецов, Сидоров

МПК: G01N 27/62, H01J 49/26

Метки: давления, парциального, фтора

...систему внодят добавкукомплексных соединений щелочных металлов, Затем нагревают систему вэффузионной камере и измеряют отношение давлений образованных отрицательных ионон, по которым проводятрасчет парциального давления Фторапо ион-молекулярному равновесию. шения давлений образованных отрицательных ионов, по которым проводят расчет парциального давления Фтора по ион-молекулярному равновесию типа МУ= МР+ Е,Введение в систему добавок комплексных соединений щелочных металлов с высшими Фторидами переходных металлов дает возможность образовать орицател ионы= КцР, + 2 Р рассчитывают парциаль"но е давл ени е фтор а 11тВцР )М(КцР ) Р Формул а изобретения РР 6 = РгР + 2 Р рассчитывают парциальное давлениефтора Р(Р)Т(РсРб)М(РеР) фТ(РгР)М(Р 7 Р )1...

Способ диагностики компенсации заряда в ионных пучках магнитного сепаратора

Загрузка...

Номер патента: 1580456

Опубликовано: 23.07.1990

Авторы: Дацко, Земсков, Стукан, Шишленко

МПК: H01J 49/26

Метки: диагностики, заряда, ионных, компенсации, магнитного, пучках, сепаратора

...на это защитным увеличением потенциала, 15".) 5635 40 45 50 то зя счет отсоса электронов потенциал объема пучка достигнет значенийзондирующего импульса, т.е. 25 В. Ноэто кяк ряз тот максимальньп (пороговый) потенциал пространства пучка,который дает предел возможности использовать изотопные пучки в целяхкачественного разделения изотопов в магнитных сепараторах.Воздействие импульса осуществляют на пучок в его начальном участке с плотной пучковой. плазмой, Это обусловлено темчто, как показали первые испытания предлагаемого способа, в плотности тока и,токе быстрых ионов генерирует плотная пучковая плазма, сконцентрированная на его начальном участке (там, где пучок интенсивно ионизует неионизованный пар источника при выходе его...

Способ измерения потерь энергии в бинарных ядерных реакциях

Загрузка...

Номер патента: 1594626

Опубликовано: 23.09.1990

Автор: Тарантин

МПК: H01J 49/26

Метки: бинарных, потерь, реакциях, энергии, ядерных

...= ДРз/Р- подлежащая измерениюотносительная дисперсность продуктов ядерныхреакций по импульсам,обусловленная поглощением в реакции энергии 10Ц и возбуждением Е продуктов бинарной ядернойреакции А + А = А +3+ А , где А - массовыечисла компонентов бинарной реакции;й Я Я 1Е),ф - относительная дис4персность продуктовядерных реакций,обусловленная дисперсностью о бомбардирующихчастиц, которая вычисляется исходя из кинематики ядерной реакции изаконов сохранения импульсов и энергии численьно Рможет быть определена экспериментальноили по формуле Р дР Р в ./ - где Р 1 ДР Р ф 3 3Р - импульсы первичныхи вторичных частиц(это соотношение,используя законы сохранения энергии иимпульса, можно выразить через А 1,АА,А, ЯиЕ),В формулах (1) и (3)...

Способ измерения объема полостей в твердых образцах

Загрузка...

Номер патента: 1594627

Опубликовано: 23.09.1990

Авторы: Зуев, Скрябин

МПК: H01J 49/26

Метки: образцах, объема, полостей, твердых

...зависимость парциального давления аналогично алпроксимируют функцией видаР = А ехр(-К 1) - ехр(-Кг),где А г - нормировочный множитель.Изменение количества выделенного газа приводит лишь к необходимости изменения Аг. К 1 и К г остаются неизменными.Измерение К, и К для разработанной установки осуществляется при выделении иэ образца азота, Лазерная экстракция осуществляется путем воздействия сфокусированным лазерным7 импульсом плотностью мощности 10 10 ) Вт/см на поверхность твердого образца. При этом происходят плавление и кипение локального участка поверхности, сопровождающиеся интенсивным гаэовыделением. В качестве материала, содержащего азот,выбрано нитридотитановое покрытие на керамической основе. Зкстракция азота иэ покрытия под...

Способ диагностики фазовых переходов 1-го рода в монокристаллах

Загрузка...

Номер патента: 1597963

Опубликовано: 07.10.1990

Авторы: Герчиков, Кузьминов, Панеш, Симонов

МПК: H01J 49/26

Метки: 1-го, диагностики, монокристаллах, переходов, рода, фазовых

...зависимости зй,/а 1=(Т), температура максимума которого (820 К) соответствует температуре перехода типа жидкость в кристалл в аргоновых пузырьках.Эксперименты, проведенные на % (100), показали, что при В+)6 10 ион/см- на кривых зависимости эН,/а 1=(Т) появляется один пик (пик В), температура максимума которого (840 К) равна температуре перехода жидкость - кристалл в пузырьках аргона, размещенных в решетке никеля. Пик А на И не наблюдается, что связано с отсутствием ФП 1-го рода в Л в исследуемом интервале температур.Хплга 7 лю т,гобд=бли Юб бремя, Т, К (ставитель В. КащеевА. Кравчук Кор99 Под по изобретениям и отк - 35, Раушская наб. инат Патент, г. Ужг Редактор И. ШуллаЗаказ 3060 Техред Типаж ектор С. Шевкунисноеытиям при ГКНТ СССРд....

Источник ионов с поверхностной ионизацией

Загрузка...

Номер патента: 1597964

Опубликовано: 07.10.1990

Автор: Евстифеев

МПК: H01J 49/26

Метки: ионизацией, ионов, источник, поверхностной

...ленты накала на втором этапе (Йг) В ЭВМ 5 вычисляетсяВготношение - и сравнивается с заданным,Воопределяемым или из анализа эталонной пробы, проводимого по обычной методике, но с контролем отношения сопротивлений, или исходя из формулы 10 конденсаторами на входе. В состав устрой 20 25 30 35 40 45 50 55 где а (Тг) - температурный коэффициент удельного сопротивления материала ленты накала 2 с учетом распределения температуры по ленте, 1/К;Тг - температура ленты в месте нанесения пробы, соответствующая проводимой методике анализа, К,При достижении отношения заданной величины по команде с ЗВМ 5 в устройстве 4 управления формируются сигналы, при которых останавливается развертка сигнала на первом его выходе, сигнал на втором выходе...