Косячков
Позиционер образца
Номер патента: 1661867
Опубликовано: 07.07.1991
Авторы: Косячков, Черепин
МПК: H01J 37/20
Метки: образца, позиционер
...противоположного по знаку напряжения относительно обычно заземленного внутреннего электрода приводит к изгибу 5 пьеэокерамической трубки в направлении Х и У в зависимости от того, какая пара из электродов находится под напряжением. Если это напряжение пилообразное и синхронно прикладывается ко всем четырем 10 пьезокерамическим трубкам таким образом, что последние изгибаются в одну и ту же сторону, например вдоль оси Х, то в фазе медленного линейного нарастания напряжения плоская пластина, жестко связанная 15 с верхними концами пьезокерамических трубок, и каретка, свободно размещенная на пластине, перемещаются в направлении Х. Сила трения покоя каретки удерживает ее от перемещения относительно пластины, В 20 фазе скачкообразного спадания...
Способ анализа атомной структуры поверхности
Номер патента: 1582098
Опубликовано: 30.07.1990
Авторы: Косячков, Трилецкий, Черепин
МПК: G01N 23/203
Метки: анализа, атомной, поверхности, структуры
...комбинат Патент, г. Ужгород, ул. Гагарина, 1 О,(111), равное 4,47 А, что хорошо соответствует объемному значению 4,44 А в этом же направлении, Ошибка при определении д составляет 0,03 А при точности определения критического угла скольжения 0,25.При исследовании атомной структуры поверхности Мв (111) известным способом из-за неопределенности в выборе уровня нахождения критического угла скольжения 0,5 - 0,9 от максимальной интенсивности ,значение а, (170) меняется от 49 до 52, При этом возникает неопределенность в измерении д,+0,2 А. При измерении того же расстояния предлагаемым способом с учегом того, что точность определения критических углов скольжения составляет 0,25, ,из-за неопределенности в выборе уровня в...
Способ анализа поверхности твердого тела
Номер патента: 1548726
Опубликовано: 07.03.1990
Авторы: Косячков, Трилецкий, Черепин
МПК: G01N 23/203
Метки: анализа, поверхности, твердого, тела
...ГКНТ СССР( ) Институт металлофизики АУССР(56) Патент СНА У 3480774, кл, 25049,5, 1 969.Н, ЧегЬее 1 ег а 1, Мераг 1 че Ьусгояеп акоп Гогшасхоп Ьу Ьас 1 ясаггег.прйгош Яо 1 Ы ЯцгГасея ЯигГ Ясе. 1980,чо 1, 95, И 2-3, р, 380-390,бретение относитс ских методов иссл ел, а более конкре рассеяния медленмой для структуронцентрапионного го анализа повер бретения - снижение степеия анализ ируемой пове рхносервичных ионов беэ снижетельности анализа.изобретения заключаетсяании в качестве первичныхательно заряженных ионов и его изотопов.е р, Проводили анализ пористаллического вольфрам образец помещали в свермную камеру и выставляли ЛИЗА ПОВГРКИОСТИ ТВЕР ия медленных ионов структурного, элеционного и физико-х мического анализа поверхности твердо3...
Устройство для исследования поверхности твердого тела
Номер патента: 1324079
Опубликовано: 15.07.1987
Авторы: Исьянов, Косячков, Черепин, Яцук
МПК: H01J 37/20
Метки: исследования, поверхности, твердого, тела
...84 и 85 стоек 79 и 80 соединен с карданным валом 11, В полом валу 73 установлен цггифт 86, имеюший направление в пазу 87 ступицы 1 и в пазу 88 полого вала 72. С полым налом 72 соединена рейка 89, находящаяся в зацеплении с удлиненной цилиндрической шестерней 46., а с полым валом 73 соединена планка 90 с рейкой 91, находящаяся н зацеплении с шестерней 53 вала 52 вилки 50. На кронп:тейпах 92 и 93 через подшипники 94 и 95 закреплсн червячный вал 96, соединенный с карл-ппым валом 13.Устройство работает следуюш,им обраС помощью фланца 1 устройство для исследования поверхности твердого тела герметично подсоедин 5 пот к снерхвысоконакуумной камере. От ввода нрашения 4 через карданный нал 8 приводится во вращение ходовой винт 22, который...
Энерго-массанализатор
Номер патента: 1265890
Опубликовано: 23.10.1986
Авторы: Голиков, Косячков, Черепин
МПК: H01J 49/32, H01J 49/44
Метки: энерго-массанализатор
...поверхностью ионы или электроны проходят через систему 5 коллимирующих и замедляющих электродов, ограничивающих угол отбора частиц, определяя тем самым угловое разрешение анализа, и через входную щель 7 внутреннего электрода 6 попадают в энерго анализатор. В последнем частицыподвергаются анализу по энергии в поле соответствующей конфигурации, образованном внутренним электродом 6 и двумя симметричными электрически 40 разъединенными частями 9 и 10 внешнего электрода. Выходящие через выходную щель 8 внутреннего электрода 6 энергоанализатора частицы проходят через входную щель 13, прорезан; 45 ную во внутренней пластине 11 плос" кого конденсатора. При анализе электронов разность потенциалов на плас" тинах 11 и 12 плоского...
Способ масс-спектрометрического послойного анализа твердых тел
Номер патента: 1138855
Опубликовано: 07.02.1985
Авторы: Васильев, Дубинский, Костюченко, Косячков, Макеева, Ченакин, Черепин
МПК: H01J 49/26
Метки: анализа, масс-спектрометрического, послойного, твердых, тел
...концентрацией С данного эле мента в анализируемом слое Сев= щ,д /Ч а " К йе (2) гдето;- минимальный регистрируемыйток вторичных ионов,- степень ионизации (отношение числа вторичных ионовк общему числу распыленныхчастиц)- коэффициент пропускания прибора.Известен способ послойного анализа, заключающиися в распылении поверхности пучком ускоренных ионов споследующим масс-спектрометрическиманализом выбитых вторичных ионов ЯОднако этот способ не позволяетполучать высокое послойное разрешение при высокой концентрационнойчувствительности и локальности.55Наиболее близким к изобретениюявляется способ послойного анализа,заключающийся в расфокусировке первичного пучка ионов аргона, при этомскорость расопыпения объекта уменьшается до 0,5 А/с, в...
Энерго-массанализатор
Номер патента: 957317
Опубликовано: 07.09.1982
Авторы: Косячков, Черепин
МПК: H01J 49/32
Метки: энерго-массанализатор
...систему 3 фокусировки пучка ионовна исследуемый образец 4, расположенныепо ходу пучка анализируемых частиц коллимирующую и замедляющую систему 5, установленную на входе полусферического энергоанализатора 6, отклоняющее устройство 7, выполненное, например, в виде плоского конденсатора, и установленное на выходе энергоанализатора 6. За отклоняющим устройством 7 по ходу движения анализируемых частиц расположен массанализатор 8 и детектор 9 ионов. Управляемый извне манипулятор 1 О осуществляет поворот образца 4 на любой угол относительно направления падения пучка бомбардирующих ионов.Коллимирующая и замедляющая система 5, энергоанализатор 6 и отклоняющее устройство 7 механически жестко связаны между собой и размещены на поворотной...
Способ модифицирования чугуна
Номер патента: 603667
Опубликовано: 25.04.1978
Авторы: Ващенко, Косячков, Лузан
МПК: C21C 1/00
Метки: модифицирования, чугуна
...процесса модцфцццровацця,Таким образом, время от цачапа реакции модпфиццрованця (С" 1 до достижения минимально необходимого содержанияостаточного л 1 агнця в метапле резко сокращается, ц эффектцвцость внутрцформенцогомодцфцццрованця металла повышается,П р ц и е р 1, Сфероцдцзцруюшее модиФцццровацце чугуна прц отливке заготовок цаправпяюшцх втулок клапанов дизель-компрессора массой 44 кг осуществляют непосредственно в питейной Форме. Реакционную камеру загружают модификатором в два приемац ццжццй слой - мопотая лигатура ЖКМК 6 (723%,ЧД 0,32 Са, 61,75 51, остальное-жепезо), верхний слой-механическая смесь, состоящая цз 15% порошкового магния МПФ 1; 70;, дробпецого Ферросипицця ФС 45 и 15% флюса ФФС. Прц общем расходе прцсадка, равчом 1,0%...