H01J 49/26 — масс-спектрометры или разделительные трубки

Номер патента: 175734

Опубликовано: 01.01.1965

МПК: G01N 23/00, H01J 49/26

Метки: аргона, количества, радиогенного

...что препятствует широкому использованию устройства в полевых лабораториях,Кроме того, в известном устройстве кальциевая печь расположена непосредственно в реакторе, в котором осуществляется плавление пробы. Поэтому после каждой плавки необходимо производить тщательную очистку всех деталей реактора от загрязнившего их кальция, который при перезарядке реактора поглощает влагу из атмосферного воздуха и сорбирует на своей поверхности различные газы. с з;.:, т Ю. Н. Антонов 3Г:л;,.0175734 Предмет изобрстсния Составитель Ю, В. Рощин дактор И. Г. Карпас Текред Т. П. Курилко Корректоры; Е. Д. Курдюмова н Г, П. Зиминказ 3569/3 Тираж 1100 Формат бум, 60 К 90,в Объем 0,21 изд. л. Цена 5 коп,Ц 11 РРПИ Государственного комитета по делам...

Номер патента: 183469

Опубликовано: 01.01.1966

МПК: B01D 59/44, G01N 27/62, H01J 49/26

Метки: 183469

...напуска при длительном измерении в стабильных условиях и тем самым повысить точность анализа. Разложение оксихлоридов в вакууме 20 происходит в основном за счет отщепления газообразного хлора, потери самого молибдена незначительны и после повторного хлорирования проба может быть использована повторно.Получение диоксидихлорида и окситетрахлорида даже в весьма малых количествах просто в методическом и аппаратурном отноше ниях и не требует значительных затрат времепи. Получение Мо 02 С 1, и МоОС 1, пз трехокиси молибдена (МоОа) или молибдатов аммозо ния и свинца (ИН 4)2 МоО, РЬ Мо 01) требуетЗаказ 227815 ТиРаж 1175 ФоРмат бУм. 60 К 90/з Объем 0,13 изд. л. ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий прп Совете Министров...

Номер патента: 184010

Опубликовано: 01.01.1966

Автор: Изобретен

МПК: H01J 49/26

Метки: анализа, ионов, массам

...интенсивности с последующим выводом ионов на 30 круговую траекторию, причем частоту модуПредлагаемый способ анализа ионов по массам представляет собой сочетание нескольких известных способов разделения ионов по массам: пространственного, статистического и частотно-избирательного, имеющее целью улучшение характеристик масс-спектрометрических приборов типа хронотрон.Способ отличается от известных тем, что одновременно с разделением ионов в магнитном поле вводимый поток ионов подвергают модуляции по интенсивности с последующим выводом ионов на круговую траекторию, причем частоту модуляции выбирают равной или кратной частоте вращения исследуемой мас. сы на круговой траектории. Способ позволяет накопить ионы в процессе регистрации.Сигнал...

Номер патента: 187385

Опубликовано: 01.01.1966

МПК: G01N 27/70, H01J 49/26

Метки: 187385

...ть Для того, чтобы в поле электромагнита 4 с частотой , равной, например, 500 кги, двигалась вместо массы т, масса т 2=йтнеобходимо изменить магнитное поле от величины Н, до Н,= = - йН,. 15Чтобы масса т двигалась по траектории с постоянным радиусом Ро, ее скорость должна стать равной Г. Для этого необходимо, чтобы на систему 8 вместо тормозящего напряжения Уподаваемого во время регистрации 20 массы т подавалось напряжение (/, определяемое из соотношения: 2 еУ, 2 еУ 2 2 еУ,Г Го= 2 (111)т т., Ьи, 25 откуда следует, что 02=1У.При неизменной частоте вращенияионов по круговой орбите постоянного радиуса Ро для смены регистрируемой массы т, на 30 т 2=Ьд, необходимо, чтобы величины Н и Ь, изменились до Н 2 и Г, согласно формулам (1). (Н,) и...

Номер патента: 177674

Опубликовано: 01.01.1966

Автор: Линник

МПК: G01N 27/62, H01J 49/26

Метки: анализа, ионов, массам

...ка 5 сигнала,менп ос.щ ствляют по закону а- , где пойрадуировке ии прибора; выбирается выходного с й ионов. остигаетсякаждой ма ала. при этом пределах ала датградуирован баний ионов зависимости сла колебан ря этому д ебаний ионов страции сиги ются при число коле линейной чика от чиБлагода цессе реги а и 6 выбирают при стоъ прибор2. Сп числолинейн чика от а.особ по п. 1, от.гичающай олебанпй ионов выбирают ой зависимости выходного с числа колебаний ионов. я тем, что в пределах гнала датинаково ы в про Данное изобретение относится к способам анализа ионов по массам с применением индикатора парциальных давлений фарвптрон.Известны способы анализа ионов по массам с применением фарвитрона, в которых изменение частоты ионизации от времени...

Номер патента: 190652

Опубликовано: 01.01.1967

Автор: Ионов

МПК: G01N 27/62, H01J 49/26

Метки: 360-градусной, двойной, двухступенчатый, ионных, лучей, масс-спектрометр, фокусировкой

...сферической аберрации второго порядка межполюсцый зазор в месте раздела дуацтов изменяется скачком, При этом для получения двойной фокусировки второго порядка по углам и первого порядка по разбросу энергии необходимо соблюдать следующее соотцошецие между напряженностями хагпитного поля и потецциалами, приложенными к дуацтам: На чертеже изоораткецы масс-спектрометр с 360-градусцой фокусировкой и траектории движения ионов в дуацтах,В межполюсцый зазор магнита 1 помещеныдва изолироваццых дуацта 2 и 3, разделенные узким зазором 4, Таким образом, межполюсцый зазор в месте раздела дуацтов изменяет ся скачком и отношение напряженностей магнитных полей в зазоре магнита равно корню квадратному цз обратного отношения потенциалов,...

Номер патента: 192484

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Есесшгг, Линник

МПК: G01N 27/70, H01J 49/26

Метки: анализа, масс-спектрлльного

...обратной связи, что позволяет упростить схему, так как отпадает, необходимость в генераторе высокой частоты, и,повысить стабильность измерений.На чертеже изображена блок-схема предлагаемого устройства.На выходном сигнальном электроде 1 датчика 2, ионизирующего исследуемый газ, появляются переменные напряжения, разделенные во времени для каждой массы. Амплитуды напряжений пропорциональны парциальным давлениям соответствующих масс. Питание датчика осуществляется от источыика 3 и генератора 4 меняющегося напряжения,Узкополосный фильтр 5 пропускает напряжение однои частоты, индуцируемое на сигнальном электроде ионами регистрируемоймассы, которое затем усиливается узкополос,ным высокочастотным усилителем 6.Выход усилителя соединен с...

Номер патента: 192978

Опубликовано: 01.01.1967

МПК: H01J 49/26, H05H 7/00

Метки: 192978

...нагрев стекла для уменьшения удельного сопротивления диэлектрика. Все известные сепараторы на металлических катоде и аноде не позволяли получить электростатическое поле больше 80 кв, сепараторы с покрытием диэлектрической пленкой и металлическим катодом позволяли повысить электростатическое поле до 100 - 120 кв, но работали надежно при этой напряженности до первых пробоев,Сепараторы с катодом из подогреваемого стекла также позволяли повысить электростатическое поле, но при этом в конструкцию вводили сепаратор подогревателей. Предложенная конструкция более проста,позволяет повысить величину рабочего напряжения электростатического поля, а таг(же экономичность электростатических сепараторов.В таком сепараторе катод выполнен из...

Номер патента: 193775

Опубликовано: 01.01.1967

МПК: G01N 27/60, H01J 49/26

Метки: времяпролетный, масс-спектрометр

...кривизны последних расположены по одну сторонуот центральной траектории, при отсутствииперефокусировки - по разные стороны отнес.Это позволяет устранить разброс по време.ни пролета ионов, вылетающих из модулятора под разными углами к центральной траек.торин.На чертеже изображено предлагаемое усгроиство.Оно состоит из модулятора 1,тростатических анализаторов 2, 34 между ними и детектора 5.Расстояние между анализаторами устанавливается таким, чтобы ионы с одинаковой энергией, вышедш а в опреде.ленный момент вр и на детектор одновременно,5 Предмет изобретения1. Времяпролетный масс-спектрометр, содержащий модулятор, детектор и электроста.тическпй анализатор, отлссчающийся тем, что,с целью устранения разброса по времени проО лета ионов,...

Номер патента: 198034

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Лгп, Мамырин

МПК: G01N 27/60, G01N 27/70, H01J 49/26 ...

Метки: времяпролетный, масс-спектрометр

...описываемый массспектрометр,Он состоит из ионнтродами 2 - Б, простртых конденсаторов 7,кий умножитель).Конденсаторы с зазорами дт и д к созда.ют тормозящие напряжения Бт и Ук. Время пролета в пространстве дрейфа и зазорес/т тем меньше, чем больше скорость иона.Время пролета в отражающем поле с зазоромдк, наоборот, при увеличении энергии ионовувеличивается, так как время движения до остановки иона пз закона изменения количестваУ РИ движения тГ= Ж будет 1= Г, гдеК К "к дик т - масса иона; д - заряд иона; Р - его скорость. Полное время движения в конденсаторе с/к будет 2.Таким образом, при определенном соотношенип параметров системы можно изменение времени пролета иона на пути 1.+Ут при изменении его энергии скомпенсировать...

Номер патента: 207463

Опубликовано: 01.01.1968

Автор: Линник

МПК: H01J 49/26

Метки: анализа, ионов, массам

...заключается в следующем. Пусть д-заряд ионов спределенной массы, образующийся в результате отдельного акта ионизации, а К - коэффициент прохождения ионов, т, с, число, показывающее какая часть ионов из общего количества проходит через анализатор масс при одном колебании. При этом после первого колебания к сигнальному электроду датчика приблизится Кд ионов, после второ д+д) К и т. д. В результате и актов ации и суюирований к сигнальному э ду приблизится уже пакет ионов с заряколебаний ионов того илн иного газа, пропорциональны зарядам ионов отдельных актов иопизации, т. е.,пропорциональны ,парциальным давлениям соответствующых газов.В статическом режиме, т, е. при суммирова. нии бесконечного числа элементарных пакетов д, Я...

Номер патента: 219863

Опубликовано: 01.01.1968

Авторы: Любимов, Сергеев

МПК: H01J 49/26

Метки: датчик, квадрупольного, масс-спектрометра

...Концы ст зуют для 5 деталей и мет изобретени ектрометра сктор ионов ем, что, с овки систеэлектродь ержней, из иэлектрпка рована. квадр ий исто личен рощен я выпо ых из асть к польного масс-спчник ионов, коллотличающийся тя точности центря конструкции,лнены в виде стт топлавкого доторых металлиз Датчик О содержащ и квадруп целью уве мы и уп квадрупол 5 готовленн средняя чЗависимое от авт. свидетельстваИзобретение относится к области масс- спектрального анализа. В известных датчиках квадрупольного типа квадруполь состоит из четырех металлических стержней, смонтированных на изоляторах.Отличие предложенного устройства в том, что электроды квадруполя выполнены в виде стержней из тугоплавкого диэлектрика, средняя часть которых металлизирована....

Номер патента: 221979

Опубликовано: 01.01.1968

Автор: Линник

МПК: H01J 49/26

Метки: анализа, ионов, массам

...высаживаются на электрод 3, так как при движении от электрода 5 к электроду 4 они проходят большую разность потенциалов, чем тормозящая разность лотенциалов между электродами 4 и 3.Для регистрации определенной массы т на электрод 3 подают короткие симметризующие импульсы с частотой следования. равной частоте колебаний ионов регистрируемой массыгде С - потенциал на центральном электроде;с - константа, определяемая геометриейпространства дрейфа;д - заряд иона.Ионы синхронной регистрируемой массы индуцируют на электроде б переменное напряжение, которое, как и в известном фарвитронном способе, с целью регистрации усиливается широкополосным усилителем. Для регистрации ионов другой массы изменяют частоту следования симметризующих импульсов до...

Номер патента: 257129

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Ивашкин, Слободенюк

МПК: G01N 27/62, H01J 49/26

Метки: анализатор, квадрупольного, масс-спектрометра

...случаях вообще невозможно,В предлагаемом анализаторе торцы стержней иеподвикно соединены посредством керамических деталей, играющих роль электрических изоляторов, с металлическими фиксато.5 рами, вставленными в калиброванные по месту расположения и форме отверстия плат.Платы с отверстиями для прохода ионов, являющиеся входной и выходной диафрагмами, жестко закреплены в строго определенных по ложен 11 ях на торцах корпуса, которь 1 Й придаетжесткость всей конструкции анализатора.Точность фиксации стержней в пространстведостигается путем обработки стержнеи и фиксаторов в сборе и выполнения калиброванных 15 отверстий и отверстий для прохода ионов вплатах с одного установа деталей на станке.Керамические летали не являются фиксаторами,...

Номер патента: 244694

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Бронштейн, Специальное

МПК: G01N 27/60, H01J 49/26

Метки: масс-спектрометр

...Плоский пакет ионов, образовавшийся,при:проходе электронного тока через ионизационную камеру, выталкивается из нее,полем Е возникающим при подаче ихопульсного напряжения /на сетку 5, в ускоряющий промежуток 1 между сетками 5 и б. Поле Е, в ускоряющем промежутке создается постоянным напряжением У, приложенным между сеткой б и землей. Пройдя ускоряющий промежуток, ионы входят в область разделения с энергиейеСу =е(БоЕ, +1 Е ),где е - заряд иона, 5 о и 1 - соответственно пути ионов в областях ионизации и ускорения.Благодаря линейному распределению сопротивления,по длине трубы 7 при подаче тормозного напряжения на ее торцы, затянутые сетками 6 и 8, внутри трубы возникаег коаксиальное электрическое поле Е, . Тормозное напряжение У, подается...

Номер патента: 254194

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Борнгардт, Галль, Могильницкий, Павленко

МПК: G01N 27/62, H01J 49/26

Метки: ссср

...О ХОЬМ Н 2 сС2 -Фт. е. увеличится в Лс раз,Например, если принять д=1, а ширину пучка ионов у коллимирующей решетки за 1000 д (что реально для существующих ионно-оптических систем источников ионов), то, пользуясь кодом ряд корней из простых чисел, можно установить 80 щелей. Соответственно разрешающая способность (или чувствительность) может быть увеличена в 80 раз (т. е. почти на два порядка).Описанная конструкция решеток (масок) может быть применена тогда, когда диапазон интенсивностей ионных пучков различных масс невелик (не более 25 при 80 щелях). Такое ограничение динамического диапазона объясняется тем, что каждый из ионных пучков создает на выходе масс-спектрометра за счет действия решеток не один пик напряжения, а множество....

Номер патента: 254867

Опубликовано: 01.01.1969

Автор: Специальное

МПК: G01N 27/62, H01J 49/26

Метки: анализа, масс-спектролетрического

...эффективная ширина пучка вдвое меньше (она равна ширине одного из двух элементарных пучков), а потому и основной пик Я(6) на фиг. 4 вдвое уже, чем пик на фиг. 2, То есть, в данном примере, для основного пика будет обеспечена вдвое большая разрешающая способность при той же чувствительности, что и в обычном случае.Можно вдвое выиграть (по основному пику) в чувствительности при той же разрешающей способности, если взять ширину элементарного пучка д вместо д/2, так как при этом эффективная ширина пучка такая же, как и в обычном случае (см. фиг, 2), а общая площадь сечения (она равна сумме площадей сечений элементарных пучков) вдвое больше, чем в обычном случае. Этот пример иллюстрирует фиг. 5. Между этими двумя крайними случаями...

Номер патента: 256337

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Галль, Менбаев, Специальное, Шерешевский

МПК: G01N 27/62, H01J 49/26

Метки: масс-спектрометр, призменный

...из ионизатора 1, коллиматорной электростатической 25 линзы 2, фокус которой располагается в непосредственной близости от отверстия диафрагмы перэого (заземленного) электрода 3, ионооптической, призмы 4 и электростатической фокусирующей (выходной) линзы 5. Посколь ку в призменном масс-спектрометре входное и выходное плечи масс-анализатора не связаны одно с другим условиями фокусировки, фокус. пое расстояние выходной электростатической линзы 5, в фокусе которой расположен приемник 6, может быть выбрано исходя из требуемой дисперсии.Сильное электрическое поле, создаваемое вблизи поверхности острия за счет разности потенциалов между диафрагмой электрода 3 и острием (нитью) ионизатора 1, вызывает ионизацию пробы. Телесный угол, в...

Номер патента: 256339

Опубликовано: 01.01.1969

Автор: Линник

МПК: H01J 49/26

Метки: анализа, ионов, массам

...чем попы церегпстрцрусмых мгсс рдскячцваЮТС 51 ДО ТЕХ ПОР, ПСКЗ ЦС В 1 СЗЖИВЗЮТС 51 ЦД Ого яиц 11 Вг 011 ис электрод) и р остр 1 цстВ я дрейфя, т. с. уддлются цз дцдлцздтора масс.Од.дко при опрсдслснцых пдрдметрзх квадрупольного поля попсрсчцыс колебдцця ионов анализируемой мдссы ограничены, ионы соВсршдот продОлжцтслыьс продолыые колеОдцпя В зцализзт 01 с асс. В этом сл 1 зс попы могут быть нзкоплсны в колеблющемся пакете для повышения чувствитсльцостц и зарегц. стрпров аы. П яр ямстры регистрируемых ПОПОВ ДОЛТКЦЫ М;10 ВЛСГВОР 5 ТЬ СТДОИЛЬЦОММ ИЗ рсшсццй урзвцсццй Мятьс, которые опцсыва ОТ ПОДООЦЫС ДВЦЖСЦП 51 ЗЯОЯЖСЦЦЫХ ЯСТИЦ.Рсшсци 1РЗВцсци 51 1 дтье В 001 цсм Видс отцосггельцо координаты х перпендикулярно оси анализатора масс имеет...

Номер патента: 260277

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Артамонов, Бродский, Менбаев

МПК: H01J 49/26

Метки: масс-спектрометр, призменный

...приемника б ионов, расположенного в фокусе системы, состоящей из выходной линзы 4 и зеркала 5. Параметры конно-оптического зеркала 5 рассчитывают, исходя из условий компенсации сферической аберрации.В известных призменных масс-спектромеграх для увеличения разрешающей силы необходимо увеличивать фокусное расстояние фокусирующей (выходной) линзы, что приводит к увеличению габаритов прибора.Предложенный 1 призменный масс-спектрометр при тех же разрешениях имеет значительно меньшее выходное плечо (как минимум, в 4 раза), так как эффективная плоскость отражения 7 находится за зеркалом 5 на расстоянии, большем или равном расстоянию между приемником б и зеркалом б. Расстояние от эффективной плоскости отражения 7 до плоскости мнимого изображения...

Номер патента: 284412

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Зенкин, Матвеев, Мргильченко, Шеретов

МПК: G01N 27/60, H01J 49/26

Метки: анализа, ионов, квадрупольном, масс-спектрометре

...от точки д, кточке д по прямой ОБ, то при этом 6 вначале уменьшается, проходит через минимум и при приближении к точке д вновь увел 11 чпвается (на границах зоны стабильности бсо ).25 (Под Лподразумевается максимальнсе отклонение от оси по любой координате.Минималыным значение 6 будет для ионов,рабочая точка которых является точкой пересечения соответствующих изо-Д-ливий совме щенных зон стабильности (па ч ртеуке эта281412 Составитель Н, АлимоваТехред Л. Я, Левина едактор Г, Рыба 1(орректор Н, Л. Бронская Заказ 6069 Тираж 480ЦИИИПИ Ь;огяитета по делам изобретений и открытий прн СоветМосква, Ж, Раушская наб д. 4/5 Подписноеиннстров СССР агорская типография кривая показана пунктиром, а точка, соответствующая бя, обозначена как д...

Номер патента: 285322

Опубликовано: 01.01.1970

МПК: G01N 27/60, H01J 49/26

Метки: 285322

...электродов состоит из цилиндрических изоляторов и изоляционной обоймы, на цилиндрической внутренней поверхности которой полеобразующие электроды фиксируются последовательно чередующимися с ними цилиндричеяторами, которые соприкасаютсяющим с внутренней поверхностью ой обоймы и со смежными элект285322 Предмет изобретения ставитель Н. В. АлимоваТехред Т. П. Курилко Корректор Л. В. Юши Редактор Б. Б. то Заказ 377118 Тираж 480ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете МинМосква, Ж, Раушская наб., д. 4/5 одписнов ССС ипографня, пр, Сапунов щим с внутренней поверхностью обоймы и сосмежными электродами,Как известно, радиус полеобразующих электродов в квадрупольном масс-спектрометре с полеобразующими электродами круглого...

Номер патента: 286330

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Занский, Зенкин, Матвеев, Могильченко, Шеретов

МПК: G01N 27/60, H01J 49/26

Метки: анализа, ионов, квадрупольном, масс-спектрометре, накоплением

...объ еме анализатора и медленно уходят на электроды, что снижает разрешающую способность и увеличивает время анализа.Целью изобретения является повышение разрешающей способности и быстродействия 20 способа анализа ионов в масс-спектрометре.Предлагаемый способ отличается тем, что ионизацию анализируемого газа осуществляют в рабочем объеме датчика на расстоянии от центра системы. 25Поток ионизирующих частиц вводят в объем датчика, представляющего собой полый цилиндр, в виде отдельных лучей или под углом к осп системы, Поток ионизирующих частиц можно отклонять от центра системы с помо- ЗО щью магнитного поля.Поскольку ионы нестабильной массы, образуемые вдали от центра системы, быстрее уходят на электроды, предлагаемый способ позволяет...

Номер патента: 288399

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Кузьмин, Могильницкий, Специальное

МПК: G01N 27/60, H01J 49/26

Метки: линий, масс, массовых, спектральных, спектрометрах, чисел

...чисел в широком диапазоне, однако он требует привлечения большой универ,сальной вычислительной машины с запоминающим устройством объемом порядка 4096;(24 бцт,Предлагаемый способ измерения массовых чисел отличается тем, что в процессе записи масс-спектра исследуемого вещества в массспектрометр вводят одновременно эталонное вещество, модулированное по давлению; постоянный и переменный сигналы в цепи регистрации масс-спектрометра (постоянный - от исследуемого вещестза, переменный - от эталонного) разделяют с помощью фильтров и определяют шкалу массовых чисел на основе теоретического значения разности молекулярных весов линий масс-спектра эталонного вещества. Прц этом масс-спектр исследуемого вещества не загрязнен лцниямп эталонного....

Номер патента: 288400

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Зенкин, Могильченко, Шеретов

МПК: H01J 49/26

Метки: вытягивающий, квадрупольного, масс-спектрометра, накоплением, электрод

...как оца опредслястся геометрией электродов, ц ионы выходят цз объема датчика, двигаясь В той же плоскости, Плоскости движения ионов радцальцыс, т, с. оцц проходят через ось симметрии. 1 ШСЦИС счсции Дости- чектроый гиальцые ет при ой точ- рактием са- вывода Выт масс-с ЛЯЮШ 1 ция, о шеция собцос сквозц Предлагаемое изобретецие относится к области масс-спектрометрического анализа.Известен вытягивающий электрод квадрупольцого масс-спектрометра с накоплением. Для вытягивания ионов, накопленных в объеме анализатора, имеется отверстие, закрытое сеткой. В такой коцструкции коэффициент вывода иоццого потока ограничен коллимирующим действием выводцого отверстия и сетки. С другой стороны коллимирующее отверстие ограничивает область объема...

Номер патента: 301164

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Арецка, Галль, Зьков, Кельман, Якушев

МПК: G01N 27/60, H01J 49/26

Метки: ij•lt, tsis, линзавсесоюзнаяпатстйп, уиг"марsirt, электростатическая, ••iбмьио

...под потен с/з, в каждом из электродов шириной Ь и высотой д ая электродов, обращенные Электэлектрот./ь Узны щелФу,з трех иалами ырезапричем друг к Цель изобретения заключается в получении высококачественной фокусировки лучка заряженных частиц в одном направлении с уменьшенными аберрациями,Отличием предлагаемого устройства является то, что края электродов, обращенные друг к другу, искривлены по дугам концентрических окружностей, лежащих в плоскостях, параллельных,плоскости симметрии поля. по дугахт концеи гь гз, с центраетственно,етричны относительно плолельной щелям и проходя- едины (средняя плоскость)поле, также симметричное плоскости, Ось Е направлеоптической оси линзы, Чисх потенциалы, расстояние ривизны и величина радиутродов...

Номер патента: 319285

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Украинский, Фурсов, Чупахин

МПК: H01J 49/26

Метки: высокочастотного, искрового, параметров, разряда, стабилизации

...масс-,спектрометра, по,которому электроды из исследуемого материала по мере их обгорания перемещаются, посредством винтовой передачи вручную. Недостатками этого способа являются низкая воопроизводимость и точность результатов изза значительного изменения напряжения пробоя в;процессе анализа вследствие изменения зазора между электродами при их обгорании. Кроме того, затруднен контроль режима искрового Разряда.Цель изобретения - повышение воспроизводимости и точности результатов анализа, а также упрощение оослуживания массиспектрометра.Для этого напряжение пробоя между электрода(ми в искровом ионном источнике массспектрометра стабилизируют посредством изменения зазора между ними, для чего используют сигнал, несущий информацию об...

Номер патента: 337142

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Кун, Физиологии

МПК: G01N 27/60, H01J 49/26

Метки: ионов, масс, органическихсоединений

...1 оиона в масс-спектре.В предлагаемом способе, с целью получения отдельных ионов фрагментов, выделенныйс помощью магнитного масс-анализатора,поток ионов определенной массы направляют на 15электронную линзу, на которую подают плавно меняющееся напряжение, регистрируютизменяющийся от этого поток ионов и поположению на диаграмме пиков родительского и дочернего иона судят о массе дочернего 20иона, а по отношению высот этих пиков - овероятности его образования.При использовании в качестве масс-анализатора секторного магнитного поля заслуживает особого внимания рассмотрение участка 1 Бтраектории между выходом из магнитногополя и коллектором ионов, Так как на ланном участке магнитные и электрические, поляпрактически отсутствуют, ионы движутся...

Номер патента: 843027

Опубликовано: 30.06.1981

Авторы: Богданов, Тер-Акопьян

МПК: H01J 49/26

Метки: масс-спектрометр

...система состоит из двухили более дипольных магнитов и одной или более квадрупольнйх электронных линз, причем изображение, создавае" мое этой системой, служит для диспергирующей системы в качестве объектной щели источника.Союз Советских Соцнапистических Республик(23) Приоритет . -Государственный комитет СССР ло делам изобретений и открытий(71) Заявитель 54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОСАЖДЕНИЯ СЛОЕВ ИЗ ГАЗОВОЙ ФАЗЫ Изобретение относится к изготовлению установок для осаждения слоев из парогазовой фазы с лучистым нагревом и может быть использовано в производстве полупроводниковых приборов и интегральных схем для проведения процессов эпитаксиального наращивания кремния,. нитрида кремния, низкотемнературного осаждения леги. рованных слоев 810 и...

Номер патента: 858147

Опубликовано: 23.08.1981

Авторы: Агафонов, Капульский, Фаерман

МПК: H01J 49/26

Метки: анализа, газов, масс-спектрометрического, накопительная, паров, ячейка

...тока, их температура Т в течениевремени т достигала величины, при которой адсорбированные вещества испарилисьбы полностью, Величина температуры Топределяется адсорбционными свойствами 55концентрируемого вещества, а времяхарактеристиками применяемого масс-анализатора, Для приборов с магнитным массанализатором Т может быть в пределахот 0,01 до 0,1 сек, а с динамическим10 5-10 сек.Параметры одной из испытанных накопительнык ячеек, давшей наилучший эффект, следующие.Плошадь покрытая микровыступами,600 мм; плотность расположения микро".с,выступов 110 см; расстояние между 6пластинами 1 мм; средняя длина микровыступов 60 мкм; напряжение между пластинами при напуске гелия при давлении-510 мм рт.ст, при разрядном токе 1 мА 4,5 кВ;...