Патенты с меткой «энергий»

Радиатор вторичного излучения частиц вьсоких энергий

Загрузка...

Номер патента: 304532

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Лорик, Шихл

МПК: G01T 1/28

Метки: вторичного, вьсоких, излучения, радиатор, частиц, энергий

...цз пластин определенной толщины, расположенных плоскопараллельно и на определенных расстояниях одна от другой. Недостаток известных радиаторов заключается в том, что для получения достатоного количества квантов для эффективной регистрации частиц и измерения их энергии, необходим набор из большого числа слоев. Так, напризтер, для получения 10 квантов необходим набор из 5 10 т пластин. Кроме того, изготовление светосцльцых детскторов требует использования радиаторов с большой площадью. Увсличецие толщины каждого слоя для обеспечения мехаццчеокой прочности приводит к увсличенио поглощения излучецных квантов в самом наборе и к непомерному увеличению толп;ицы набора. Так, например, при толщине слоя в 0,5 мм, толщина набора из 5 10 пластин...

Адаптивный спектрометр заряженных частиц малых энергий

Загрузка...

Номер патента: 425058

Опубликовано: 25.04.1974

Авторы: Коваленко, Поленов

МПК: G01J 1/36

Метки: адаптивный, заряженных, малых, спектрометр, частиц, энергий

...напряжения подаваемого на пластины электростатичеакого анализатора, через цифро-аналоговый преобразователь так, что устанавливается минимальная величина чувствительности. Если вб за интервал между импульсами сброса, поступающими с задающего генератора, последний триггер узла триггеров не успел изменить своего состояния, то также не изменит своего состояния Ю-триггер, и ивопульс с задающего ЗО генератара пропускается схемой сравнения наузел пересчета. При изменении состояния триггеров узла пересчета через дешифратор и коммутатор осуществляется переключение потенциалов на вспомогательных электродах, повышающее чувствительность спектрометра. Указанная последовательность действий будет продолжаться до тех пор, пока чувствительность...

Устройство для облучения опухолей глазной орбиты электронами высоких энергий

Загрузка...

Номер патента: 553768

Опубликовано: 05.10.1977

Авторы: Дмитров, Мардынский, Никитенко, Скоропад

МПК: A61N 5/10

Метки: высоких, глазной, облучения, опухолей, орбиты, электронами, энергий

...тканеэквивалентного материала толщиной 3 аб,5 смс цилиндрическим отверстнет, соосньвтс пучком электронов, стальные теневойэкран 2 и гайку 3, посредством котоО рой экран крепится к фиксатору 4, выполненному в виде тонкостенной пластинки и служащему для фиксации теневого экрана 2 в отверстии.Облучение пациента производится в5 положении лежа, на спине. Болюс 1 накладывают на облучаемую поверхностьтела 5, При этсы ось отверстия должна совпадать с оптической осью глаза 6. В отверстие псмещают теневойВ вырви 2, фиксированный поарсдствОМРайНН 3 В ФИНСатОРУ 4. ЦООЛЕДНИй ПОмтаантвтоя ка поаарЙкость болюса 1 ОоЮТОРОНЫ НадаюЩего ПуЧка 7 элФКТРОнрв,Перемейэя фиксатор 4 вместо с твне 35 вви экраном 2 а горизонтальной плоскости добиваются совмещения...

Спектрометр заряженных частиц малых энергий

Загрузка...

Номер патента: 577849

Опубликовано: 05.12.1978

Авторы: Коваленко, Поленов

МПК: H01J 39/34

Метки: заряженных, малых, спектрометр, частиц, энергий

...тания электродовчерез устройство 7 коммутации. При этом Мэнергия регистрируемых частиц определяется величиной подаваемого на электродыанализатора 1 напряжения, С направлений,на которые ориентированы секторы 10, ноне подключены к источнику 6 питания, за-Иряженные частицы малых энергий регистрироваться не будут.При попеременном подсоединении различных секторов 10 части 8 электродаанализатора 1 через устройство 7 комму- Бтации к источнику 6 питания измеряютсяраспределения потоков заряженных частицмалых энергий,Таким образом, выполнение электродатороидальной формы из двух частей и Псекторов и введение устройства коммутации позволяет вместо П детекторов и Прегистраторов использовать один детектори один регистратор. Это, в свою...

Измеритель отношения энергий импульсных акустических сигналов исследуемых объектов

Загрузка...

Номер патента: 739344

Опубликовано: 05.06.1980

Авторы: Бухало, Драбич, Федорив

МПК: G01H 1/00

Метки: акустических, измеритель, импульсных, исследуемых, объектов, отношения, сигналов, энергий

...20, к незвземпенному электроду второго интегрирующегоконденсатора 18 и к выходу кввдратора9 разрядной цепи, входы нормально разомкнутых электронных ключей 19, 20соединены с выходом вибрвторв 16, входкоторого соединен со вторыми управпяюши739344 Одновременно отрицательным импульсом закрывается третий ключевой диод 27, открывается второй ключевой диод 26 и разрядный конденсатор 23 перезаряжается через второй ключевой диод 26 и запоминающий конденсатор 2, снимая с поспеднего заряд. Поскольку зарядные и разрядные импульсы тока поступают на запоминающий конденсатор 2 одновременно и равны по амппитуде, пульсации выходного параметра значительно уменьшаются.Основным преимуществом измеритедя явпяется повышение точности измерений, что...

Измеритель отношения энергий импульсных акустических сигналов

Загрузка...

Номер патента: 890314

Опубликовано: 15.12.1981

Авторы: Адаменко, Драбич, Сторчай, Федорив

МПК: G01V 1/52

Метки: акустических, измеритель, импульсных, отношения, сигналов, энергий

...буферного конденсатора19 и с первым контактом ключа 6,второй контакт которого соединенсо входом инвертирующего усилителя21 постоянного тока и первой обкладкой конденсатора 20,При поступлении на вход 22 устройства измерителя импульсов напряжения сигнала ближнего или дальнего прием890314 ников акустического зонда, через дифференцирующий конденсатор 1, токовый повторитель 2 и формирующий конденсатор 8 протекают импульсы тока положительной полярности. Каждый импульс тока заряжает формирующий конденсатор 8 до некоторого напряжения, пропорционального амплитудному значению входного сигнала, После окончания каждого импульса тока производится сброс заряда с конденсатора 8 с помощью ключа 3Последний управляется передними фронтами импульсов,...

Способ измерения температур и энергий активации молекулярных переходов в полимерах

Загрузка...

Номер патента: 928207

Опубликовано: 15.05.1982

Авторы: Авотиньш, Бартенев, Калнин, Кулешов

МПК: G01N 23/00

Метки: активации, молекулярных, переходов, полимерах, температур, энергий

...с одновременной регистрацией спектра радиотермолюминесценции, перед охлаждением их вакуумируют до давления не выше,-Ч10 мм рт.ст., облучают в вакууме,а последующий нагрев осуществляют со скоростью 1,5 - 18 С/мин.Сущность способа состоит в следующем.Приготавливают образцы в виде различной эффективной толщины слоев полиэтилена на подложке путем механического разрушения адгезионных соединений, полученных в одном и том же режиме контактирования.Различная толщина слоя достигается расслаиваниемэтих адгезионных соединений при различной температуре, что обеспечивает локализацию фронта разрушения на различном расстоянии от поверхности раздела из-за изменения характера распределения напряжений в адгезионном. соединении.Образцы металлической фольги...

Спектрометр энергий заряженных частиц

Загрузка...

Номер патента: 970980

Опубликовано: 23.05.1983

Авторы: Вайсберг, Горн, Хазанов

МПК: G01T 1/36

Метки: заряженных, спектрометр, частиц, энергий

...соотношениемЕмин -6 яшгде Й, - средний квадратическийшум ППД. При этом частота шумоэых импульсов (флуктуационных выбросов), амплитуда которых превосходит Е, не( превышает 1 имп/с.Для типичного значения бе 7-10 кэВ,Е =40-60 кэВ.. Испольэуемое в ряде спектрометров,устанавливаемых на космичееких аппаратах, пассивное охлаждение ППД,т.е. соединение детектора. с хладопроводом, связанным с конструкциями10 космического аппарата, находящимисяв тени хотя и достаточно сложно,.позволяет снизить значение Еминвсего до 25-30 кэВ.,Цель изобретения - снижение энер 15 гетического порога чувствительности.укаэанная цель достигается тем,. что в спектрометр энергий заряженных частиц, содержащий соединенныепоследовательно полупроводниковыйщ детектор,...

Устройство для идентификации частиц высоких энергий

Загрузка...

Номер патента: 1040928

Опубликовано: 28.02.1984

Автор: Оганесян

МПК: G01T 1/38

Метки: высоких, идентификации, частиц, энергий

...РПИдруг от друга и от частиц,Устройство состоит из радиатораРПИ 1 (2000 слоев литиевой фольгитолщиной 10 мкм и с расстоянием между слоями 0,98 мм), размещенного взазоре магнита 2 (напряженность магнитного поля Н - 310 4 Гс, длинаполюса магнита 1 м), и дрейфонойкамеры 3 толщиной 5 см, наполненнойксеноном при нормальном давлении исостоящей из дрейфового промежутка 4, объема 5 пропорциональногоусиления, высоковольтного электрода 6, сетчатого электрода 7,и сигнальных нитей 8.Устройство работает следующимобразом,Идентифицируемая частица в магнит.ном поле движется по круговой траектории с радиусом кривизны300 Н/Р, где Р - импульс частицы.В радиаторе 1 она образует переходное излучение, которое напранленопо касательной к траектории...

Способ анализа поверхности методом спектроскопии обратно рассеянных ионов низких энергий

Загрузка...

Номер патента: 1205208

Опубликовано: 15.01.1986

Авторы: Амелина, Аристархова, Волков, Гутенко

МПК: H01J 49/26

Метки: анализа, ионов, методом, низких, обратно, поверхности, рассеянных, спектроскопии, энергий

...пушки, а величины й и В постоянные, то Е 1 определяется еез равенстваЕ, (, ГЕ,-Е (3)где С - постоянная для данной конструкции,Для того чтобы награвлять на по верхность исследуемого объекта поочередно пучки ионов разного сорта ( .е , е , Хг и т.д.1, необходи+мо с помощью источника 19 изменять величину ,Р ступенчато согласно формуле (3и как показано нафиг, 2 б, а также с учетом величин масс ионов и ускоряющее напряжение 13 пушки, чтобы обеспечить про хождение через Фильтр ионов одногосорта, при изменениях ускоряющего напряжения, на управляющий вход источника 19 поступает выходное напряжение из источника 17, изменяющее 0 с помощью делителя в источнике 9 согласно формуле ( 3). В простейшем случае на управляющий вход источника 19 подается...

Спектрометр обратно рассеянных ионов низких энергий

Загрузка...

Номер патента: 1215144

Опубликовано: 28.02.1986

Авторы: Аристархова, Волков, Толстогузов

МПК: H01J 49/26

Метки: ионов, низких, обратно, рассеянных, спектрометр, энергий

...выставляется в фокус анализатора с помощью подвижного держателя 1,Сталкиваясь с атомами внешнегомонослоя поьерхности образца 2, ионыпервичного пучка в результате упругого парного соударения рассеиваются в разные стороны. Рассеянные ионы,прошедшие через входную щель во внут реннем цилиндре 5 анализатора 3 впространство между электродами. 4и 5, разделяются по энергиям. Ионыс определенной энергией, траекториикоторых ограничены крайними траекториями по всему азимуту, проходятчерез выходную щель внутреннегоэлектрода 5 и фокусируются в отверстие выходной диафрагмы 6 анализатора 3.Пройдя через отверстие диафрагмы 6, ионы, двигаясь в эквипотен-.:циальном пространстве по прямолинейным траекториям, попадают на коллектор 7, Далее импульсы...

Магнитный ахроматический селектор энергий ионов

Загрузка...

Номер патента: 1238013

Опубликовано: 15.06.1986

Авторы: Буранов, Веников, Тарасов, Унежев

МПК: G01T 1/36, H01J 49/44

Метки: ахроматический, ионов, магнитный, селектор, энергий

...квазимоноэнергетическогопучка ускорителя в спектр, где интенсивность частиц в диапазоне измеряемых в эксперименте энергий практически не зависит от энергии частиц. Преобразованный пучок. с энергетическимспектром, заданным толщиной и материалом поглотителя и зарегистрированным дополнительным детектором 4, по падает в вакуум-провод магнитногоанализатора. Поглотитель представляетсобой металлическую фольгу, протягиваемую поперек пучка ионов так, чтобы ее толщина изменялась во времени 5 по линейному закону х йх х -асу+хб 3и анализирующего магнита 7 собирают,ся в фокальной плоскости системы, т.е, анализирующий магнит осуществляет разделение в плоскости дисперсии по импульсам (для одинаковых типов ионов - по энергиям), а с помощью...

Спектрометр энергий электронов

Загрузка...

Номер патента: 495970

Опубликовано: 30.06.1986

Автор: Сорокин

МПК: G01T 1/36, H01J 49/04

Метки: спектрометр, электронов, энергий

...строго по изображению центральной электронной лийии, и изолированные от нее две широкие боковыезоны так, что все три они охватываютполную опертуру МКП, лежат в однойплоскости и разделены зазорами (например, величиной 0,1 мм), причем выходы центральной зоны отдельно ибоковых эон вместе включены на схему совпадений через дифференциальныеанализаторы амплитуд импульсов.На чертеже изображен меридиальный размер предлагаемого устройства.Устройство содержит исследуемыйфотокатод" 1, входную щель 2 анаО 2лизатора шириной 0,1-0,2 мм, электро статический анализатор 3 эггектронов с фокусировкой на 7 (2 радиан без выходной щели и с расстоянием между цилиндрами большим, чем удвоенная ширина электронного спектра в фокальной плоскости в...

Устройство для идентификации заряженных частиц высоких энергий

Загрузка...

Номер патента: 1531044

Опубликовано: 23.12.1989

Авторы: Авунджян, Оганесян

МПК: G01T 1/38

Метки: высоких, заряженных, идентификации, частиц, энергий

...- расстояние между анодом икатодом; 20- расстояние от точки ионизации до катода.Поскольку в случае квантов РПИ энергия фотоэлектронов не превышает 20-40 КэВ, они остановятся в непо срецственной близости от катода, образовав кластер ионизации. Следовательно, газовое усиление для всех случаев иониэации, создаваемой фото- электронами, будет максимальным. 30о Выбор интервала 1000-2000 А толщин конвертера обусловлен тем, что при меньшж толщинах уменыпается вероятность поглощения в них квантов РПИ, а при болыпнх толщинах резко умень 35 шается эффективность выхода из них фотоэлекгронов.В детекторе такого типа фоновым процессом, ограничивающим разрешающую способность, являются дельта- электроны, образующиеся в самом радиаторе (точнее, в...

Анализатор энергий заряженных частиц

Загрузка...

Номер патента: 1651328

Опубликовано: 23.05.1991

Авторы: Голиков, Давыдов, Романов, Уткин, Чепарухин

МПК: H01J 49/48

Метки: анализатор, заряженных, частиц, энергий

...положение каждой эквипотенциали-полунлоскости и значение ее потенциала Ф при выбранной системе Физических величин однозначно определяется величиной двуграннрго угла 1, который эквилотенциаль образует с плоскостью хв. В частности, при(= 1 рад значение потенциала численно совпадает с коэффициентом А, а при (0 (плоскость хз) потенциал Ф равен нулю. Поле имеет осооенность на оси я, где сходятся все эквипотенциали. Поскольку потенциал (1) зависит от отношения координат у/х, т.е. является однородной Функцией координат х и у нулевой кратности, то в поле действует особый закон подобия траекторий. Он заключается в том, что при смещении точки вылета частицы вдоль оси х, при сохранении ее начальной кинетической энергии и направления...

Анализатор энергий электронов

Загрузка...

Номер патента: 1661869

Опубликовано: 07.07.1991

Авторы: Гордийчук, Дорошенко, Рыбалко, Сыбиль

МПК: H01J 37/26, H01J 49/48

Метки: анализатор, электронов, энергий

...между приемником и окном наблюдается нелинейная зависимость абсолютного значения измеряемого отношения. Однако для всего диапазона традиционно используемых в электроннозондовой технике линейных размеров. со 10 ний, при увеличении отношения более 2 на 15 20 25 40 50 55 30 35 блюдение условия ОФ 10 позволит избежать превышение ошибок измерений, вызванных данным механизмом, более традиционного 100 порога,. Существенность признака, связанного с отношением толщины к диаметру диафрагм и электродов, обусловлена следующими обстоятельствами. Как показали результаты экспериментальных исследовачинают существенным образом сказываться эффекты, связанные с оседанием регистрируемых электронов на внутрен. них стенках протяженного...

Устройство для измерения профиля пучка заряженных частиц высоких энергий в циклическом ускорителе

Загрузка...

Номер патента: 1674399

Опубликовано: 30.08.1991

Авторы: Дельнов, Логинов, Меркер

МПК: H05H 7/00

Метки: высоких, заряженных, профиля, пучка, ускорителе, циклическом, частиц, энергий

...тиристор 19. За время Т 1 - 5 мс происходит разряд конденсатора 17 через катушку 5. Ферромагнитный сердечник 3 втягивается в катушку 5. Исходное расположение сердечника относительна катушки 5, геометрию катушки 5 и ток в ней выбирают таким образам, чтобы в нламент прохождения сердечника через центр катушки 5 ток в ней оказывался равным нулю. Далее рамка с ферромагнитным сердечником 3 и нитью 4 движется равномерно со скоростью, кото. 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 рая определяется величиной тока разряда, индуктивнастью катушки и массой рамки с сердечником. Равномерность пересечения нитью 4 поперечного сечения пучка частиц 23 обеспечивает необходимую точность измерения интенсивности потока вторичных частиц 24 системой 25 регистрации....

Анализатор энергий заряженных частиц

Загрузка...

Номер патента: 695465

Опубликовано: 15.11.1991

Авторы: Машинский, Протопопов

МПК: G01T 1/36, H01J 49/02

Метки: анализатор, заряженных, частиц, энергий

...полезногосйгнала падает. Б то время как уровень фо.-, . на, обусловленнйй, например, паразитнойэмиссией с цилиндрических электродов, остается йрежним, так какразмеры выходной:диафрагмы не пленяются. Это значительноснижает соотношение сигнал/шум анализа тора,Цель изобретения. - обеспечение плавной регулировки разрешения без ухудшения соотношения сигнал/шум анализатора,Цель достигаетсятем, что в известномустройстве, включающем электродную систему в виде изолированных и имеющих общую ось внешнего цилиндра и внутреннегоцилиндра с прорезями на боковой поверх :ности, коллектор ирасположенную передним диафрагму, кольцевая щель которой образована внешней и внутренней частью диафрагмы и коаксиальна электроднойсистеме, по меньшей мере...

Способ измерения длины деканалирования частиц высоких энергий в монокристаллах

Загрузка...

Номер патента: 1632344

Опубликовано: 15.06.1992

Авторы: Галяев, Запольский, Чесноков

МПК: H05H 7/00

Метки: высоких, деканалирования, длины, монокристаллах, частиц, энергий

...фиг.2. Затем монокристалл поворачивают и наводят на него пучок со стороны изогнутой части, как это показано на фиг.3, и повторно измеряют,интенсивность отклоненных частиц системой 5 диагностики пучка, В первомизмерении частицы, деканалированные на прямой частимонокристалла длиной Ь, нв будут отклоняться монокристаллом и не захватываются хвостовой частью 4 магнитооптической системы, Во втором измерении 5 частицы, деканалированные на прямой части монокристалла, будут захвачены в аксептансе хвостовой цасти ч магнитооптицеской системы,так как они уме повернуты монокристаллом,Таким Образом отношение зарегистрированных интенсивностей Й 1/Й 2 в первом и втором измерениях равно доле частиц, не испытавшихдеканалирования на прямой части...

Электростатический анализатор энергий заряженных частиц

Загрузка...

Номер патента: 1746428

Опубликовано: 07.07.1992

Авторы: Горелик, Протопопов, Трубицын

МПК: H01J 49/48

Метки: анализатор, заряженных, частиц, электростатический, энергий

...1-1, образованной ограничительными кольцами 12 и 13,приемника частиц 14.Анализатор содержит также блок развертки 15, подключенный к внешнему цилиндру 1 и через делитель 16 - ккорректирующим кольцам 5,6,7,8,Анализатор работает следующим образом.На внешний цилиндр 1 с блока 16 подается отклоняющий потенциал 0 относительно внутреннего цилиндра 2 с полярностью,совпадающей с полярностью анализируемых частиц. Внутренний цилиндр 2 заземляется. На корректирующие кольца 5 и 7 сделителя напряжения 16 подается потенциал 0,33 О, нэ корректирующие кольца 6 и 8- 0,67 О.Поток вторичных частиц, выбитых из образца 17 преодолев пространство свободного дрейфа за счет начальной энергии, 40через входную прорезь 3 попадает в областьанализирующего...

Электростатический анализатор энергий заряженных частиц

Загрузка...

Номер патента: 1826089

Опубликовано: 07.07.1993

Автор: Якушев

МПК: H01J 49/44

Метки: анализатор, заряженных, частиц, электростатический, энергий

...2 подвижно вдоль оси с помощьюштока 9, полый цилиндр 10, закрепленныйна пластине 11. Торцы цилиндров 8 и 10ограничивают образуемую между нимикольцевую щель 12 выходной диафрагмы.Общая ось электродной системы анализатора -13.Пластина 11 скреплена со штоком 14,служащим совместно с коромыслом 15 ддяперемещения цилиндров 8, 10 вдоль оси 13.На чертежах показаны также крайниетраектории заряженных частиц, определяющие входной конический пучок.50 55 В подобных анализаторах при уменьшении или увеличении щели выходной диафрагмы, соответствующем изменению полезного сигнала, происходит соответственно изменение фона, образующегося, например, эа счет паразитной вторичной эмиссии с электродов анализатора. В результате достигаются . высокие значения...

Времяпролетный атомный зонд с компенсацией разброса кинетических энергий ионов

Номер патента: 1713385

Опубликовано: 28.02.1994

Авторы: Дубенский, Кудрявцев, Никоненков, Шмикк

МПК: H01J 49/40

Метки: атомный, времяпролетный, зонд, ионов, кинетических, компенсацией, разброса, энергий

ВРЕМЯПРОЛЕТНЫЙ АТОМНЫЙ ЗОНД С КОМПЕНСАЦИЕЙ РАЗБРОСА КИНЕТИЧЕСКИХ ЭНЕРГИЙ ИОНОВ, содержащий камеру дрейфа, в которой размещены держатель образца и детектор ионов, источник регулируемого постоянного напряжения и генератор испаряющих импульсов регулируемой амплитуды, подключенные к держателю образца, отличающийся тем, что, с целью улучщения массогабаритных характеристик, упрощения процесса юстировки ионного пучка и расширения класса исследуемых материалов, в него введен отражатель ионов, отражающий электрод которого соединен с выходом источника регулируемого постоянного напряжения, а держатель образца подключен к средней точке дополнительно введенного делителя напряжения, состоящего из двух резисторов, один из выводов которого подключен к...

Устройство для контроля потерь пучка заряженных частиц высоких энергий

Загрузка...

Номер патента: 1829884

Опубликовано: 20.08.1995

Авторы: Лапицкий, Селезнев

МПК: H05H 7/00

Метки: высоких, заряженных, потерь, пучка, частиц, энергий

...является современный ускоритель или канал транспортировки ускоренного пучка, и поперечный размер вакуум-провода непосредственно связан с параметрами и пучка и вторичных радиационных полей, обусловленных его потерями,Сравнение. заявляемого решения с известными техническими решениями показывает, что предлагаемая конструкция и размещение РМ на вакуум-проводе обеспечивают квазиоднородность Функции отклика РМ по аэимутальной координате источника потерь на просматриваемом мониторном участке трассы. Благодаря этому повышается точность локального контроля потерь пучка и оказывается возможным перейти (путем калибровки) от контроля к измерению потерь, что в конечном счете позволит качественно улучшить и расширить функциональные возможности...