Способ измерения параметров дисперсных систем
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 619792
Авторы: Полторацкий, Сачков
Текст
М 1, " илиоОПИС -ИЮ ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советсинк) Приорите осударственный комите Совета М ин нст ров С С С по делам изобретений и открытий.Ф. Полторацкий и К.Н. Сачк 71) Заявите Московский автомобильно-дорож ститу 54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ДИСПЕРСННХ СИСТЕМИзобретение относится к области анализа дисперсных систем и предназначено для измерения диаметров час-. тиц, их концентрации, Флуктуации концентрации аэрогидрозолей, коллоидных смесей и т.д.Известен способ определения радиальной функции распределения атомов и молекул по средней интенсивности рассеянного рентгеновскогочения в Функции угла, под которымрассеивается 111 .Данный способ не позвь Флуктуации конценте анамалии в рассеив торая является частью радиальной Функции распределения, соответствующей малыч расстояниям (не более нескольких диаметров частиц) . На основании полученныхданных судят. о диаметре частиц и о их концентрацииНедостаток указанного способа состоит в том, что в центральной части области углов рассеяния лронсходит смешение рассеянного излучения с прошедшим основным лучком. В результате получают не всю радиальную Функцию распределения, а только ее часть, что позволяет определить лишь размер частиц и их концентрацию. В то время как Флуктуации концентрации и прочие аномалии в рассеивающем объеме, размер которых больше нескольких диаметров частиц, известный способ определить не позволяет.Целью настоящего изобретения является снижение трудоемкости измерения концентрации, размера частиц, величины и масштаба Флуктуаций концентрации.По предлагаемому способу исследуемый объем облучают пучком когерентного свэлементом в е- гистрируют излуоно оляет опре" рации иающем объеделит прочи Известен также способ определе ния размеров рассеивающих частиц п интегральным значениям индикатрисы рассеяния света в области малых углов2,Этот способ заключается в том., что исследуемый объем с рассеивающими частицами облучают пучком света, фиксируют путем сканировани в плоскости наблюдения среднюю интенсивность рассеянного излучения как функцию угла рассеяния, Далее выполняют интегральное преобразо" вание,фурье полученной функции, ко ета, сканируют приемньъ плоскости наблюдения, р интенсизность рассеянно3.619792 формула изобретения Составитель Б. КомраковРедактор Л. Жаворонкова Техред Э.Чужик Корректор С, ГарасинякЗаказ 4491/37 . Тираж.872 ПодписноеЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССРпо делам изобретений и открытий113035 Москва ЖРаушская наб. д. 45 филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 го излучения,и обрабатывают резуль.таты измерений путем исследования спектра пространственных Флуктуаций интенсивности. При этом производят сканирование приемного элемента по окружности, лежащей в плоскости, перпендикулярной направлению падающего пучка, и с центром, лежащим на оси пучка, и Фиксируют.мгновенное распределение-интенсивности в направ- лении сканирования.Данный способ позволяет Фикси;роватв всю радиальную Функцию распре деления, что дает возможность увеличить число измеренных параметров. Способ измерения параметров дисперсных систем путем воздействия на иих пучком когерентного электромагнитного излучения, сканирования приемного элемента, в плоскости наблюдения, регистрации интенсивности рассеянного излучения и обработки результатов измерений, заключающийся в исследовании спектра пространственных Флуктуаций интенсивности,о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью снижения трудоемкости изме 8 рения концентрации, размера частицвеличины и масштаба Флуктуаций концентрации, производят сканирование приемного элемента по окружности, лежащей в плоскости, перпендикуляр ной направлению падающего пучка, ио центром, лежащим на оси пучка, и Фиксируют при этом мгновенное рас.пределение интенсивности в направле.нии сканирования.5 Источники информации, приняты"во внимание при экспертизе:1. ШиФрин К.С., Колмаков Н.Б,Известия АЯ СССР. Физика атмосферы .и океана. Т. 3. Вып. 12, 1967.20 2, Кольер Р, Бернхарт К., Лин Л.Оптическая голография. М., Мир, 1973.
СмотретьЗаявка
2196490, 08.12.1975
МОСКОВСКИЙ АВТОМОБИЛЬНО-ДОРОЖНЫЙ ИНСТИТУТ
ПОЛТОРАЦКИЙ БОРИС ФЕДОРОВИЧ, САЧКОВ КОНСТАНТИН НИКОЛАЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 11/30
Метки: дисперсных, параметров, систем
Опубликовано: 15.08.1978
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-619792-sposob-izmereniya-parametrov-dispersnykh-sistem.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения параметров дисперсных систем</a>
Предыдущий патент: Установка для контроля угловых ошибок прямоугольных призм
Следующий патент: Насадка двустороннего визирования
Случайный патент: Способ обогрева варочного котла периодического действия