Патенты с меткой «рефлектометрический»

Номер патента: 868347

Опубликовано: 30.09.1981

Авторы: Обрадович, Попов, Солодухо

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхностей, полированных, рефлектометрический, шероховатости

...и общий отраженный от поверхности изделия световой поток 1 О Л , по отношениям (1 Э + +д 1 )Л /1, и (1 + Ь)Л / ), судят о среднем квадратическом отклонении и об интервале корреляции высот неровностей.0СпоСоб может быть реализован с помощью серийно выпускаемых спектрофотометров с интегрирующей сферой типа СФи СФ.На чертеже представлена принципи альная схема спектрофотометра.Спектрофотометр содержит монохроматор 1 и интегрирующую схему 2, которая включает ловушку 3, заслонку 4, приемник 5 излучения и регистри рующее устройство 6.Способ осуществляется следующим образом.Контролируемое изделие 7 располагают в окне интегрирующей сферы 2, освещают поверхность изделия 7 с помощью монохроматора 1 монохроматическим излучением по крайней мере з...

Номер патента: 1272108

Опубликовано: 23.11.1986

Авторы: Витенберг, Терехов, Торчинский

МПК: G01B 11/30

Метки: анизотропных, металлических, параметра, поверхностей, рефлектометрический, тел, шероховатости

...корреляции, среднего угла наклона боковых сторон неров"ностей, среднего шага неровностей,а также за счет исключения при измерении эталонных образцов.На чертеже изображена принципиальная схема устройства, реализующегопредлагаемый рефлектометрическийспособ,Устройство содержит источник 1 монохроматического света, поляризатор2, приемник 3 зеркально отраженногосвета, регистрирующую аппаратуру 4,угловую шкалу 5.Рефлектометрический способ измерения шероховатости анизотропных поверхностей металлических тел осуществляют следующим образом, 30На контролируемую шероховатую поверхность б из источника 1 монохроматического света через поляризатор2, поляризующий свет в вертикальнойплоскости, направляют световойоток 35с длиной волны известной...

Номер патента: 1529039

Опубликовано: 15.12.1989

Авторы: Лисицын, Надежкин, Фокин

МПК: G01B 11/30

Метки: высоты, микронеровностей, поверхности, рефлектометрический, средней, шероховатой

...отношения.Способ осуществляют следующим образом,Зондирующее излучение лазера 1 направляют через светоделительную пластинку 2 на исследуемую поверхностьдетали 9. Деталь 9 помещают в центркривизны сферического отражающегозеркала 3 и сообщают им гармоническиеколебания с помощью механизма 4 вокруг оси, проходящей через точку Озондирования и перпендикулярной плоскости падения излучения. Ось, проходящая через точку О и перпендикулярная плоскости падения излучения, составляет прямой угол с осью 02. Уголд падения излучения на исследуемуюповерхность изменяется, что вызываетмодуляцию интенсивности зеркальнойсоставляющей излучения, отраженногоот исследуемой поверхности. Зеркало3 возвращает отраженный от исследуемой поверхности детали 9 в зеркальном...

Номер патента: 1582004

Опубликовано: 30.07.1990

Авторы: Буянов-Уздальский, Обрадович

МПК: G01B 11/30

Метки: изделия, параметров, поверхности, рефлектометрический, шероховатости

...поток Рэ при каждомзначении длины 21 волны излучения измеряют фотоприемником 3, подключенным к электронному блоку 1, а часть30диффузного потока, рассеянного вплоскости падения в малом телесномугле 1163 под углом бср к нормали поверхности 6 изделия, измеряют при каждомзначении 21 фотоприемником 4, подключенным к электронному блоку 1, Телесный угол Ь(д определяется расстоянием.от освещенного участка поверх,ности до диафрагмы э, установленнойгперед фотоприемником 4, и диаметром40диафрагмы 5Значение рассеянного потока, деленное на телесный угол Ьд),дает интенсивность излучения 1(в 1,6),рассеянного под углом бср. В электронном блоке 1 при каждом значении 1измеряется (с учетом телесного угла307 и чувствительности фотоприемников)...

Номер патента: 1835069

Опубликовано: 15.08.1993

Авторы: Вацех, Марек

МПК: G01N 22/04

Метки: влажности, измеритель, импульсный, капиллярно-пористых, рефлектометрический, тел

...которая в решениях с применением техники стробирования, как в случае прибора для проверки кабелей ТЕК ТВОИ Х 1502, сложна и дорогостоя ща.Если испытатель содержит только один волновод (п=1) то вместо разветвления вводится прерывность полного сопротивления для получения второго отметчика времени. Применение в измерителе согласно изобретению записываемой сохраняющей единяемой на время пользования им кизмерителю посредством электрического присоединения, снимает необходимость индивидуального вписывания характеристических для этого испытателя параметров, как это имеет место относительно длины отдельных испытателей в устройстве. В измерителе согласно изобретению кроме длины отдельных волноводов испытателя вписываются в эту память...