Патенты с меткой «прозрачных»

Номер патента: 1693371

Опубликовано: 23.11.1991

Авторы: Москалев, Смирнова

МПК: G01B 11/06

Метки: интерференционный, объектов, плоскопараллельных, прозрачных, толщины

...с и Ь . Таким образом, перемещение зеркала интерферометра в воздушной ветви на величину Л = 1 до полногЬ наложения всех интерференционных полос в обеих интерференционных картинах позволяет непосредственно определить толщину т исследуемого образца,тСоставитель Б,ЕвстратовТехред М.Моргентал КоРРектоР М,шароши Редактор О.Головач Заказ 4067 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул.Гагарина, 101 Способ осуществляют следующим образом,Монохроматический пучок света полупрозрачным зеркалом 2 разделяется на два луча 3 и 4, при этом лу 3, дойдя до зеркала 7, возвращается и, отразившись от...

Номер патента: 1693373

Опубликовано: 23.11.1991

Автор: Елисеев

МПК: G01B 11/26

Метки: клиновидности, оптических, пластин, прозрачных

...и 10 установлен с возможностью отсчетного перемещения по отношению к измеряемой пластине 12 вдоль линии, параллельной оси источника 1 излучения,Способ осуществляют следующим образом,С помощью источника излучения -лазера 1 и фокусирующей системы 2 формируют и направляют на пластину 12 расходящийся гомоцентрирующий пучок когерентного излучения, На делительной пластине 3 отраженное от пластины 12 излучение разделяется и частично направляется ею на зеркало 4, а от него - на делитель 6 Часть излучения отражается от делителя 6 снова к зеркалу 4 и направляется им через поляризатор 7 и скрещенные поляризаторы 9 и 10 на экран 11. Другая часть излучения проходит через делитель 6, попадает на зеркало5 и направляется им через поляризатор 8 и...

Номер патента: 1693421

Опубликовано: 23.11.1991

Авторы: Данилов, Тарасенко

МПК: G01M 11/00

Метки: пластин, поверхностей, прозрачных, юстировки

...от всех поверхностей окон пучки выходили наружу из канала 4., 2. Выбирают внутреннюю поверхность одной иэ пластин 3 в качестве опорной, При 1693421чем из двух имеющихся выбирают ту, которая лучше совпадает с плоскостью стенкиканала 4,3. При использовании экрана устанэв"ливают экран 5 так, чтобы он пересекал все 5отраженные пучки 6,4, Выставляют экран (нож) 5 параллель.но опорной поверхности, контролируя равенство расстояний от противоположныхкраев экрана (от ножа при его продольном 10перемещении) до опорной поверхности (например, линейкой).5. Поворачивают юстируемую пластину(второе смотровое окно) вокруг первой оси,параллельной проекции падающего пучка 15на опорную пластину(первое смотровое окно), до минимального отклонения всех...

Номер патента: 1693483

Опубликовано: 23.11.1991

Авторы: Бендерский, Ржевский, Рупчев

МПК: G01N 21/45

Метки: подложках, показателя, преломления, прозрачных, слоев

...нормальны к зондирующему излучению, Один пучок проходит сквозь исследуемую пленку и подложку, другой - через подложку без пленки,Линия г.рорези перпендикулярна осивращения пластинки, а сама ось вращениялежит в плоскости зондирукгщих пучков. Отъюстированное на бесконечную полосу излучение интерферометра попадает на оптическое приемное устройство 9, электрический сигнал которого подается на один из входов двухкоординатного самописца, Второй вход самописца соединен с потенциометром, напряжение на котором пропорционально углу поворота образца,Включение двигателя разворота пластинки приводит к одновременному изменению напряжения на выходе оптического приемного устройства и напряжения на потенциометре, отсчитывающем угол поворота 25 30 35...

Номер патента: 1695185

Опубликовано: 30.11.1991

Авторы: Камалов, Комиссарук, Смирнов, Тогулев

МПК: G01N 21/45

Метки: исследования, неоднородностей, оптическая, прибора, прозрачных, средах, теневого

...и астигматизма, но Вследствие нарушения симметрии опт 1 ческой системы имеет слабую кому. Однако качество изобракенп сс.ается более Высоким по сравнению с известныкьНа ОСНОВЕ даННОй ОПтИЧЕСКОй СИСТЕМС. разрабать Ваю гся интерференционно-теневье приборы ИАБ, ИАБ, ИАБИАБ - 468 и "Поток". Оокусные расстояния Объективов соответственно равны 1840, ,000, 3200, 1000 и 1000 мм при относительном отверстии 1,2. Для получения эмпирическбй зависимости были проведены специальные исследования изменения качества йзобракения Опической системы в зависимости отормы положительной линзы и, линь: обьектива, Выбор соотношений не более : и ДруГих, укаэанных В форму" ле изобре.ения, сделан на основе сравнения мноГих Ваоиантов, В которых В каждом...

Номер патента: 1712356

Опубликовано: 15.02.1992

Авторы: Гандельсман, Емельянова, Олейник, Трушанина

МПК: C07C 309/89, C09B 29/08

Метки: 4-фторсульфонил-4, n-(2-ацетоксиэтил)-n, качестве, красителя, окрашенных, основе, полимеров, прозрачных, стирола, этиламиноазобензол

...3,3 г (0,016 моль) К-(2-ацетоксиэтил)-Й-этиланилина в 10 мл 4 н, НС 1. После сочетания нейтрализуют насыщенным рас твором СНзСООМа до рН 6-7, краситель отфильтровывают, промывают водой, сушат и кристаллизуют. Выход 4,6 г (73%), т.пл.91 - 92 С (из гексана).Найдено, %: С 54,76: Н 5,21; Г 4,58; 10 й 11,11.С 1 ВН 20 РЙ 3043Вычислено, о : С 55,00; Н 5,09; Р 4,84; й 10,68.Лмакс =465 нм (спирт), 15 Получение и испытание композиций на основе красителя по примеру 1.П р и м е р 2. Композицию готовят путем механического смешения гранул полистирола с порошкообразным красителем в ша ровой мельнице в течение 10 мин, а затем проводят гомогенизацию на лабораторном шнеке (/0=9) в интервале температур 180 - 190 - 200 С, Из полученных гранул отливают...

Номер патента: 1499573

Опубликовано: 07.03.1992

Авторы: Акашкин, Ветошкин, Печенкин

МПК: C23C 14/34

Метки: индия, оксидов, олова, основе, пленок, проводящих, прозрачных

...приводит к росту удельногосопротивления, т,е, в данных режимахстановится существенным процесс трав эления пленки. Так как выдержать время обработки с точностью до секундзатруднительно, то в этих режимахнаблюдается невоспроизводимость повеличине полученного значения удельного .сопротивления до минимальнойвеличины в течение нескольких секунд.В качестве рабочего газа используют азот и/или аргон, которые не, образуют летучих соединений с окислами индия и олова. Использованиедругих газов не обеспечивает достижение положительного эффекта ввидуих реакционной способности; сопровождающейся травлением и образованием летучих соединений, загрязняющихокислы индия-олова.При давлении рабочего газа ниже1 Па происходит. существенное увеличение...

Номер патента: 1718053

Опубликовано: 07.03.1992

Авторы: Анисимов, Жеков, Кислецов, Мурина, Попов

МПК: G01N 21/00

Метки: материалах, оптически, поглощающих, прозрачных, размеров, субмикронных, частиц

...устройством 4, сигнал с которого поступает на измеритель 7, Определяют коэффициент объемного поглощения ао материала исследуемого образца 3 при каждом изменении длительности импульсов лазерного излучения. Изменение олимп проводят до тех пор, пока не будет зафиксировано скачкообразное изменение величины коэффициента объемного поглощения ао, что свидетельствует о том, что длительность импульса 7 имп достигла своего эффективного значения тимпТакое скачкообразное увеличение величины коэффициента объемного поглощения может быть объяснено следующим образом. Величина коэффициента объемного поглощения материала го складывается из коэффициента аом материала и коэффициента поглощения частиц, присутствующих в мал л териале, задаваемого как...

Номер патента: 1718054

Опубликовано: 07.03.1992

Авторы: Кривецкий, Микадзе, Чагулов

МПК: G01N 21/17

Метки: оптически, прозрачных, состава, сред, стабильности

...сравнения, состоящую из двух кювет, одна из которых расположена между полюсами постоянного магнита с отверстиями для зондирующего излучения, причем ячейка выполнена с возможностью перемещения перпендикулярно оси зондирующего излучения и установки в двух фиксированных положениях.Сопоставительный анализ с другими известными устройствами контроля показывает, что в предлагаемом устройстве в ячейке Фарадея используется постоянное магнитное поле вместо переменного, Кроме того, в устройстве контроля обеспечена возможность перемещения ячейки Фарадея относительно зондирующего излучения. благодаря этим отличиям обеспечивается и;вышение достоверности контроля.45 50 55 На чертеже приведена блок-схема и редлагаемого устройства.Устройство...

Номер патента: 1741025

Опубликовано: 15.06.1992

Авторы: Гриценко, Кабанова, Смирнов, Яковлев

МПК: G01N 21/39

Метки: дефектности, монокристаллических, оксидов, оптически, прозрачных

...материала, но также могут приводить к его разрушению. Для данного рода оксидов пороговая плотность мощности лазерного излучения, приводящая к разрушению материалов)за счет эффекта оптического пробоя), составляет порядка 10 Вт/см и выше, Поэтому для выявления структурных дефектов и выбора бездефектных заготовок для изготовления линз и других оптических элементов без разрушения материалы необходимо облу 2- чать образцы лучом лазера с с10 Вт/см . Предлагаемый способ контроля позволяет выявлять не только структурные макродефекты на поверхности и в объеме материала, но и микродефекты (дислокации и точечные), а также изучать их процесс образования и преобразования при лазерном воздействии, Особенно предлагаемый метод усиливает эффект...

Номер патента: 1744514

Опубликовано: 30.06.1992

Авторы: Дождиков, Ковенков, Петров

МПК: G01J 5/08

Метки: излучательной, прозрачных, спектральной, способности, частично

...усилению и преобразованию соответствен 20 но при помощи усилителя 6 с прецизионным коэффициентом усиления и аналого-цифрового преобразователя 7. При этом выбор дискретного коэффициента усиления осуществляется так, что, с целью обеспечения наивысшей точности измерений, уровень сигнала, поступающего на аналого-цифровойпреобразователь, близок к его верхнемупределу измерений и следовательно величина погрешности в регистрации сигнала будет30 минимальной,Существенным отличием данного устройства от ранее используемых устройствдля измерения спектральной излучательнойспособности материалов является выделе 35 ние участка с малой излучательной способностью из всего регистрируемого спектраизлучения образца при скоростном сканировании и дальнейшее...

Номер патента: 1753269

Опубликовано: 07.08.1992

Авторы: Дубровский, Есьман, Кулешов, Пилипович

МПК: G01B 21/00

Метки: геометрических, прозрачных, размеров, труб

...на микросхемах КР 580 ВИ 53, КР 597 САЗ, К 155 ИЕ 5, К 155 ИЕ 4, К 155 РЕЗ, К 155 ТМ 2, К 155 ЛА 11, микропроцессорная магистраль 14 - стандартный набор шин для подключения элементов устройства.Устройство работает следующим образом,При включении питания лампа 1 освещает рассеиватель 2, часть поверхности которого, ограниченная диафрагмой 3, освещает диффузно измеряемую трубу 4, изображения краев диафрагмы отражаются от внешней и внутренней поверхностей трубы, образуя теневую картину, которая проецируется объективом 5 на ЛФЗС 6. Такжепри включении питания в тактовом генераторе 8 формируется сигнал "Сброс", кото-рый. инициализирует микропроцессор 11 и 5интерфейс 10, Далее по сигналам тактовогогенератора 8 микропроцессор 11...

Номер патента: 1761286

Опубликовано: 15.09.1992

Авторы: Волков, Комлев, Потапов, Цыпин

МПК: B03B 13/02

Метки: объектов, прозрачных, сепаратор, сортировки

...среднюю интенсивность (радиус 1), найти отклонения Д =- 1, - и и просуммировать по модулю, то будет получена сумма модулей отклонений Апр = 50п=Я ;-, =дДля полупрозрачного, т.е. матового кристалла неправильной формы индикатриса рассеяния имеет равномерный характер, отклонения Д= 1- О значительно меньше, чем в случае прозрачного кристалла. Сумма модулей отоклонений Алолупр =-, 1 - р 1== ), Ь-тоже значительно меньше, чем Апр, т.е,Д,", Д 1.Работа сепаратора осуществляется следующим образом,Объекты узломподачи сортируемыхобъектов транспортируются в оптическуюкамеру 2, где освещаются осветителем 3 снаправленным световым пучком, свет рассеивается и интенсивность рассеянного вразные стороны излучения преобразуется вэлектрические сигналы...

Номер патента: 1763884

Опубликовано: 23.09.1992

Авторы: Баранов, Крупицкий, Морозов, Родичев, Сергеенко

МПК: G01B 11/06

Метки: оптически, прозрачных, толщины, элементов

...точность измерения толщины тонких прозрачных пленок зависит от погрешности перемещения амплитудного растра и погрешности при наблюдении гашения дифракционного максимума и непревышает величины Х/40.Целью изобретения является повышение точности измерения и расширение класса контролируемых элементов по степени шероховатости.Для этого дифракционную структуру световой волны формируют с помощью аку.-, стооптического модулятора света, формируют интерференционную картину из нулевого и прошедшего элемент порядков дифракции светового излучения, преобразуют ее в электрический сигнал и измеряют изменение его фазы, а толщину ЬЛ элемента определяют по формуле" -гютРтгде АО - изменение, фазы одного из световых пучков на выходе прозрачного...

Номер патента: 1768960

Опубликовано: 15.10.1992

Авторы: Прилепских, Ханов

МПК: G01B 11/02, G01B 9/02

Метки: объектов, перемещений, показателей, преломления, прозрачных, сред

...относительно другого, Синхронное перемещение отражателей измерительного плеча, перемещение отражателя опорного плеча или изменения показателя преломления воздуха в устройстве до отражателя измерительного плеча вызывают синхронное изменение интерференционных сигналов и не изменяют результата измерений. 1 ил. ломления прозрачных сред содержит лазер, расщепитель луча, светоделитель, два отражателя, образующие измерительное плечо, отражатель и модулятор, образующие опорное плечо, два фотоэлектрических преобразователя и соединенный с ними блок согласования,Однако в этом устройстве не удается выравнять интенсивности интерферирующих пучков в обоих измерительных каналах, а это приводит к низкому контрасту интер",В , , О НО 1 .":;С З,.О 1...

Номер патента: 1770849

Опубликовано: 23.10.1992

Авторы: Войтукевич, Лапицкий, Лившиц

МПК: G01N 21/45, G03H 1/00

Метки: кристаллов, одноосных, оптически, ориентации, прозрачных

...монохроматическим когерентным излучением. обеспечивающее достижение положительного эффекта - повышение точности определения ориентации оптической оси кристалла, Следовательно, заявляемыйспособ ориентации одноосных оптическипрозрачных кристаллов представляет собой новую совокупность признаков как сочетание известных признаков и нового технического свойства, что позволяет признать его соответствующим критерию "существенныеотличия",На чертеже представлена оптическая схема устройства, реализующего предлагаемый способ,Схема устройства содержит источник 1монохроматического плоскополяризованного когерентного излучения, двухосевой20 гониометр 2, исследуемый кристалл 3, систему 4 сбора оптической информации и оптический регистратор 5.Процесс...

Номер патента: 1772627

Опубликовано: 30.10.1992

Авторы: Куренкова, Скрипаль, Усанов, Феклистов

МПК: G01B 21/08

Метки: полупрозрачных, прозрачных, слоев, тонких

...чертежом, на20 котором представлена схема устройства,реализующего предложенный способ измерения толщины прозрачных и полупрозрачных слоев, нанесенных на отражающиеповерхности,25 Устройство содержит предметный столик 1, на котором располагается исследуемая поверхность 2, оптический блок 3,механизм 4 наводки на резкость с визирнойметкой, Б - источник освещения, 6 - прием 30 ная телевизионная камера, монитор 7, пульт8 управления, блок 9 питания устройства,Исследуемая поверхность 1 расположена на Предметном столике 2 таким образом,чтобы измеряемый слой был обращен к обь 35 ективуЗ оптического устройства,. Исследуе-.мая поверхность 1 должна бытьрасположена в поле зрения оптического устройства 3. Наводка на резкость осуществляется...

Номер патента: 1775598

Опубликовано: 15.11.1992

Авторы: Арефьев, Вартанянц, Фотиев, Шатин

МПК: G01B 11/08

Метки: параметров, прозрачных, труб

...своей геометрической оси не вносит погрешности в измерения геометрических параметров, В то же время угловые наклоны трубы в плоскости чертежа (фиг.2), приводят к значительным искажениям размеров контролируемых отрезков в плоскостях анализа Р и Р.Предположим, что труба наклонилась на угол Ьотносительно первоначальной геометрической оси. В этом случае анализируемые отрезки А 1 81, 81 С, С Е, А 1 81,1 81 С, С Е 1 между проекциями лучей в плоскостях анализа Р и Р описываются следующими выражениями 1 з 1 п 2 а+Ь а= с - 2и1 з 1 п 2 - Ь а 1-с- г д,г; - урЬ Ьсоз 2 ЬЗа счет того, что зондирующие лучи О и О направлены в противоположных направ 1 лениях проекции расстояний на плоскость анализа Р между лучами а, в. с для луча О...

Номер патента: 1776988

Опубликовано: 23.11.1992

Авторы: Суминов, Сухарев, Шанин

МПК: G01B 11/24

Метки: оболочек, осесимметричных, прозрачных, профиля, тонкостенных, формы

...1, светоделитель 2, зеркало 3, коллиматоры 4 и 5, приспособление 6 для фиксации контролируемой оболочки 7, контактный измеритель 8 толщины оболочки, перископическую систему 9, зеркало 10, суммирующую призму 11, систему 12 технического зрения, микро- ЭВМ 13, приводы 14 и 15 горизонтального и азимутэльного поворота оболочки 7, а также блоки 16 и 17 согласования.Способ реализуется следующим образом,Контролируемую оболочку 7 фиксируют в требуемом положении в приспособлении 6. Оно представляет собой оптическую делительную головку, на которой закреплен узел для фиксации оболочки 7 и контактный измеритель 8 толщины на базе индуктивного датчика информации. Приспособление 7 обеспечивает поворот оболочки вокруг ее оси в горизонтальной плоскости...

Номер патента: 692358

Опубликовано: 30.01.1993

Авторы: Емалеев, Лукин, Миронов, Покасов, Сазанович

МПК: G01N 21/41

Метки: масштабов, неоднородностей, оптических, прозрачных, средах

...для измерения С 2.3Целью изобретения является повышение эффективности оценки величинымасштабов неоднородностей в прозрачных средах.Поставленная цель достигается тем;что измеряют на одной и той же трассе отношение дисперсий флуктуацийразности фаз одновременно между двумя парами когерентных оптическихпуцков, разнесенных на различные рас"стояния в плоскости перпендикулярнойнаправлению распространеййя, "". 40Известно, что изменения фазы оптицеской волны более цувствительны кнеоднородностям показателя преломления по сравнению с амплитудой. Этопозволяет полуцить значительную велицину дисперсии разности фаз междублизкорасположенными пучками при наличии мелкомасштабных неоднородностей. В этой связи нет необходимостиизмерять малые величины...

Номер патента: 1800261

Опубликовано: 07.03.1993

Авторы: Дадеко, Паско, Поляков, Резунков

МПК: G01B 21/00

Метки: оптических, прозрачных

...радиусов частоты т 01 (угла у 01 ) целесообразно оставить постоянным для заданной серии измерений, как при установке эталонной детали, так и контролируемых деталей ( сро 1), Тогдау 01 = ф 1, т.е. при использовании для контроля деталей эталонной сферы радиуса Во, кроме измерений по способу-прототипу, необходимо дополнительно произвести измерение угла у 02 . При ЭТОМ ПОГРЕШНОСТЬ ИЗМЕРЕНИЯ УГЛа гРО 2, КаК и других углов Брэгга, определяется погрешностью измерения частоты акустических колебаний 102, соответствующих соотношению (3), что для современных приборов, как указывалось выше, не превышает ЮЛ =10В этом случае измерение смещения о 2- д 1, являющегося основным источником погрешности определения параметров оптических деталей по...

Номер патента: 1806152

Опубликовано: 30.03.1993

Авторы: Майер, Мокроусов, Смагин, Чупахина

МПК: C08L 33/10, C09K 11/77

Метки: полимеризуемый, полимерных, прозрачных, состав

...широкие полосы поглощения, что позволяет получать материалы, пропускающие в достаточно узком интервале длин волн, что невозможно при использовании 41-металлов, Смесь з-, р-, б- и 51-металлов с лантаноидами позволяет усиливать контрастность материалов, повысить показатель преломления, регулировать область пропускания материала, Определенно выбранное сочетание солей металлов позволяет получать материалы, не пропускающие излучение оптического диапазона,Дополнительно введение в полимеризуемый состав низших алифатических кислот, имеющих до семи атомов углерода, в концентрации от 1 1 О до 1 моль/литр приво дит к увеличению растворимости солей в мономере, что является положительным эффектом в случае использования металлов, имеющих полосы...

Номер патента: 1806345

Опубликовано: 30.03.1993

Авторы: Голощапов, Ершов, Москович, Рыков

МПК: G01N 21/53

Метки: оптических, прозрачных, свойств, сред

...оптических каналов. снабжен запоминающим устройством, наСовмещение осей источника излучения пример, пик-детектором для запоминания ии приемника соответствует максимальным 5 удержания максимальных по йпоказаниям и ибпоказани прим прибора. Эти показания и явля- бора или цифровой индикацией.ются значениями светопропускания стекла Таким образо й1ом, устро ство позволяетт.к. при совмещении оси источника излуче- определить оптические свойства стекла, нения и приемника на последний попадает снимая его с транспортных средств, испольмаксимальный световой поток, вызываю зуя объект исст и следования в качестве констщий максимальный фототок или изменения руктивно о сг вязующего элемента. междусопротивлейия, при использовании в каче- источником света...

Номер патента: 1807344

Опубликовано: 07.04.1993

Авторы: Балгин, Боев, Водотыко

МПК: G01N 21/25

Метки: оптически, полимеров, прозрачных, старению, стойкости

...В качестве критерия сдвига спектрофотометрической кривой в сторону больших длин волн в процессе иэотермического воздействия выбрано приращение поглощения света исследуемым образцом, Как видно на фиг,1, самое максимальное приращение поглощения света в исходном состоянии находится на длине волны 760 нм. Поскольку динамику старения рассматривают относительно исходного состояния, то длину волны 760 нм и выбираютдля определения приращений поглощения света. На фиг,2 показаны необходимые построения для определения приращения поглощения света образцами. На длине волны 760 нм проводят прямую, параллельную оси ординат. От точки пересечения этой прямой с исследуемой спектрофотометрической кривой в сторону большего поглощения откладывают отрезок...

Номер патента: 1810402

Опубликовано: 23.04.1993

Авторы: Кожевников, Колесников

МПК: C30B 29/48, C30B 33/02

Метки: кристаллов, оптически, прозрачных, селенида, цинка

...к низуТребуемый для проведения отжига по кристалла 3 град/см и скорости сниженияпредлагаемому способу интервал темпера- температуры 26 град/ч так, что по окончатур верха кристалла в начальный момент 5 нии отжига температура верха кристалла соотжига 1240 - 1280 С выбран эксперимен- ставляет 650 С. Получен кристалл селенидатально и соответствует температуре верха цинка с коэффициентом поглощения излукристалла по окончании его выращивания. чения свето ИК-уиапазона с длиной волныПри начальной температуре свыше 1280 С 10,6 мкм 1,3 10 см .происходит термическое травление верх Дополнительные примеры приведены вней части образца за счет испарений селе-таблице (строки 1 - 8).нида цинка, что ведет к неоправданным...

Номер патента: 1836620

Опубликовано: 23.08.1993

Автор: Курт

МПК: F41H 3/00

Метки: маскировки, отражающей, плоскостей, поверхностью, прозрачных

...рамка2, открытая с ее верхней стороны. Рамка 2закреплена на удерживающем профиле 3для оконного стекла 1 (например: свинченаили приклеена) и снабжена пазом 4, проходящим на определенном расстоянии отоконного стекла 1. В паз 4 вдвинуто выполненное, например, из металлического листаили пластмассовой пластины покрытие 5,имеющее перфорацию 6. Вследствие этой 30перфорации 6 лучи света 7 не могут отражаться от оконного стекла 1. С другой стороны, все же возможен вид изнутри, т.е. внаправлении 8. В универсальном проти- .вогазе 9 (противоатомного, противобиологического и противохимического),содержащем обычно маску 10, фильтр 11, атакже фиксирующие ленточки 12, застекленные отверстия для глаз покрытынапример, выполненным из пластмассы,...

Номер патента: 1837342

Опубликовано: 30.08.1993

Автор: Быков

МПК: G08B 19/02

Метки: веществ, кристаллических, наличия, прозрачных

...этом предварительно, по наиболеерассеивающему свет веществу(им оказалсяслой песка), при помощи переменных рези- Бсторов 10, 11 токи в цепях микроамперметров 12 и 13 подбираются так, чтобыизменения этих токов были одинаковы, а ихотношение, соответственно, было равноединице 10Результаты исследований приведены втаблице.Из данных, приведенных в таблице,видно, что предложенный способ позволяетконтролировать наличие кристаллического 15вещества - льда.Согласно закону сохранения энергииобщее количество света в системе неизменно и равно количеству света. излучаемомуисточником света. Увеличение рассеяния 20света средой приводит к уменьшению количества света, прошедшего через эту средуна величину рассеяния,Таким образом, определив на сколько...

Номер патента: 2004222

Опубликовано: 15.12.1993

Авторы: Азнабаев, Бикбов

МПК: A61F 9/00

Метки: масс, прозрачных, хрусталиковых, эмульгирования

...нанесения разреза роговицы цистотомом вскрывают переднюю капсулу хрусталика, В переднюю камеру вводят микроканюлю, соединенную со шприцом, содержащим раствор ристомицина сульфата в определенном разведении. Конец микроканюли вводятся в толщу хрусталика и при легком раскачивании микроканюли нажатием на поршень шприца в толщу хрусталика вводят 0,1-0,2 мл раствора растомицина сульфата, В течение 1-2 с наступает интенсивное помутнение и разрыхление прозрач ных хрусталиковых масс.Предлагаемый способ позволяет исключить послеоперационные осложнения при экстракции частичных катаракт, связанные с повреждающим действием активного ве щества на внутренние структуры глазногояблока, Благодаря этому значительно сокращается длительность пребывания...

Номер патента: 1625068

Опубликовано: 30.12.1993

Авторы: Загоруйко, Кобзарь-Зленко, Комар

МПК: C30B 29/48, C30B 33/02

Метки: кристаллов, оптически, прозрачных, селенида, цинка

...в которой показано изменение коэффициента 3 см в зависимости от условийобработки),Это достигается благодаря воздейст 30 вию на образец термических напряжений,расположенных под углом 90 к плоскостиобразца, Расположение боковых нагревателей под прямым углом к центральному обусловливает аналогичное расположение35 градиента температур в полости нагревателей и образующихся термических напряжений в материале кристалла, чтоспособствует противоположному воздействию термических напряжений на разориен 40 тированные по объему кристалласпонтанные напряжения кристаллическойрешетки образца.Проектируя эти точки в систему координат температура (Т, С) - длина (см), получаем точки а, б, в, г, д, е, и т.дсоединяя их между собой, получаем графическую...

Номер патента: 1584555

Опубликовано: 30.05.1994

Авторы: Мищенко, Ринкевичюс

МПК: G01N 21/45

Метки: показателя, преломления, прозрачных, твердых, тел

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОКАЗАТЕЛЯ ПРЕЛОМЛЕНИЯ ПРОЗРАЧНЫХ ТВЕРДЫХ ТЕЛ, заключающийся в формировании первого и второго когерентных монохроматических световых пучков с длиной волны излучения , пропускании первого светового пучка через исследуемый образец, выполненный в виде плоскопараллельной пластины, сведении первого и второго световых пучков с образованием первой интерференционной картины, изменении путем поворота исследуемой пластины угла падения на пластину первого светового пучка от 0 o до , измерении величины изменения порядка интерференции N1 для первой интерференционной картины при...