Патенты с меткой «прозрачных»
Устройство для контроля плоскостности прозрачных деталей
Номер патента: 1073575
Опубликовано: 15.02.1984
Автор: Пономарев
МПК: G01B 11/30
Метки: плоскостности, прозрачных
...которой привеательно расположенные дена. в оптический контакт с веконтрония зеркало, коллиматор лируемой поверхностью 16 ЯетаЯЯ 11 конфокально расноло- с помощью тонкого слоя иммерсиониой ва, клиновидную пласти- жидкости 9. Поскольку грейь 12 йризнижней поверхностью мы 7 Расположена нОД углом Врюстера блюдения интерференцион- относитеяьно падающих на Нее лучей, оптический элемент, а лазерное излучение Полярйзовацо лнен в виде трех- в плоскости, перпеидккуяярной пдосустановленной так, 55 кости их падения, то эти лучи 14 граней предназначенаполностью выводятся из ириэмы 7, а о контакта с неконтро- следовательно, и из контролируемой хностью детали, а дру+ детали 11 и ие .попадают на экран б положена под углом Брюс-, наблюдения. паразитиые...
Оптический способ контроля диаметров прозрачных изделий
Номер патента: 1111026
Опубликовано: 30.08.1984
Авторы: Айрапетянц, Булыбенко, Гоголинский, Усик, Шульман
МПК: G01B 11/08
Метки: диаметров, оптический, прозрачных
...малая толщина стенок полых изделий вызывает смещение О преломленного светового потока, прошедшего че Орез стержень, равное 55где сг - толщина полого прозрачногоизделия,С, - угол падения светового потока; д - коэффициент преломления материала изделия,.Цель изобретения - возможностьконтроля диаметра полых прозрачныхизделий, содержащих внутри воздух иимеющих малую толщину стенок.Поставленная цель достигается тем,что согласно оптическому способуконтроля диаметров прозрачных изделий, заключающемуся в том, что направляют световой поток на изделие,определяют отклонение проходящегочерез изделие светового потока, покоторому судят о диаметре изделия,определяют расстояние от источникасветового потока до плоскости продольного сечения...
Способ оптического определения концентрации высокодисперсных примесей в прозрачных жидкостях
Номер патента: 1122925
Опубликовано: 07.11.1984
Авторы: Рождественская, Ролич
МПК: G01N 15/02
Метки: высокодисперсных, жидкостях, концентрации, оптического, примесей, прозрачных
...волны света.Поставленная цель достигается.тем, что согласно способу оптического определения концентрации высокодисперсных примесей в прозрачныхжидкостях, включающему направление40поляризованного монохроматическогосвета через жидкость, регистрациюинтенсивности отраженного поляризованного света, регистрируют рассеян"ный свет с поляризацией, параллель 45ной поляризации падающего света, выделяют спектр Мандельштама-Бриллюе.на и определяют концентрацию приме"сей по отношению интенсивностейцентрального и боковых компонентовспектра. 5 2рального и боковых компонентовспектра Мандельштама-Бриллюена длямалой концентрации частиц.Падающий монохроматический поляризованный свет 1 с поляризацией,направленный по вектору Е , проходиточерез...
Устройство для измерения оптических параметров прозрачных сред на основе интерферометра маха-цендера
Номер патента: 1130778
Опубликовано: 23.12.1984
МПК: G01N 21/45
Метки: интерферометра, маха-цендера, оптических, основе, параметров, прозрачных, сред
...компенсатор, электрооптический фазовый модулятор и механизм вращения поляризатора, а также два избирательных усилителя, причем первый поляризатор, первый ромб Френеля, второй поляризатор второй ромб Френеля, третье полупрозрачное и третье непрозрачное зеркала установлены последовательно между коллиматором и интерферометром, третий и четвертый ромбы Френеля расположены внутри интерферометра на пути одного иэ лучей, прерыватель луча и фазовый компенсатор установлены последовательно внутри интерферометра на пути второго луча, электрооптический фазовый модулятор расположен между интерферометром и анализатором, а фотоприемник соединен с регистрирую щим устройством через параллельно соединенные избирательные усилители, один:из которых...
Способ определения ориентировки плоских неоднородностей показателя преломления в прозрачных монокристаллах
Номер патента: 1140082
Опубликовано: 15.02.1985
Авторы: Войцеховский, Кравцов, Скропышев, Уркинеев
МПК: G01N 21/45
Метки: монокристаллах, неоднородностей, ориентировки, плоских, показателя, преломления, прозрачных
...11 устанавливают на пути лучаза кристаллом на расстоянии 0,5-3 мв зависимости от желаемой степениувеличения дифракционной картины впределах 2-20 раз. Перемещением объектива 10 вдоль луча сначала добиваются фокусировки изображения кристаллана экране (определяется по четкомуизображению пылинок или царапин, имеющихся на гранях), а затем сбиваютфокусировку небольшим перемещениемобъектива в ту или другую сторону.Необходимость "сбивания" фокусировкцопределяется тем, что неоднородностипоказателя преломления кристалла обусловливают появление на экране дифракционной картины итменно в условиях дефокусации, причем максимальная контрастность дифракционной картины получается нри вполне определенной степени дефокусации, зависящей в своюочередь от...
Способ измерения показателя преломления жидких и газообразных прозрачных сред и устройство для его осуществления
Номер патента: 1144034
Опубликовано: 07.03.1985
Авторы: Арефьев, Госьков, Старостенко
МПК: G01N 21/41
Метки: газообразных, жидких, показателя, преломления, прозрачных, сред
...искажения и смещения ее экстремальных точек относительно неискаженной картины пропорциональны величине дц . Положение нулевого максимума определяют при помощи колеблющегося щелевого электромагнитного анализатора и установленного за ним фотоприемника, закрепленных на подвижной каретке, снабженной микрометрическим винтом. По величине амплитуды первой гармоники сигнала, снимаемого с Фотоприемника, судят о положении нулевого максимума дифракционной картины относительно щелевого анализатора. Блок обработки сигнала состоит из предварительногоона щели относит аспроетранения с но направ 40 оследовательформирую"3 11440 и узкополосного усилителей и Фазового детектора, на который также поступает сигнал с генератора, питающего электромагнитный...
Электрографический копировальный аппарат для изготовления копий с прозрачных пленочных носителей изображений
Номер патента: 1149204
Опубликовано: 07.04.1985
Авторы: Демехин, Кочетов, Рекеть, Спиридонов, Харисов
МПК: G03G 15/00
Метки: аппарат, изображений, копий, копировальный, носителей, пленочных, прозрачных, электрографический
...по пп, 1 - 3, о т л и ч а ю щ и й с я те 1, что, с цепью качественных полутоновых изображений между узлом зарядки Фоточувствите 51 ьного слоя и лентопротяжным механизмом для перемеяеция пленки-оригинала,установлен ленторотяжцый механизм 7, 814 и промеутачцого носителя 10,Аппарат работает следующим образом,По команде оператора путем нажатия кнопки Пуск подают напряжениеца пр 1 гводцой электродвигатель(не показан) промежуточного носитепя 10, Включаются осветительныесистемы 9, создается жидкостноймениск в блоке ",2 проявления,нагревается термоэлемент блока 15закрепления. Теплый воздух поступает на пленку в коп, На коронирующиепроцодочки узла в заряд 11 подаетсяВысокое напряжение порядка бКВ.,Б результате воздух вокруг них иониэируется и на...
Способ оценки оптической стойкости твердых прозрачных материалов
Номер патента: 1150523
Опубликовано: 15.04.1985
Авторы: Горбунов, Емелин, Классен
МПК: G01N 17/00
Метки: оптической, оценки, прозрачных, стойкости, твердых
...различного типа без их облучения.Для обнаружения и классификации дефектов, а также для регистрации начала разрушения материала в области дефектов наиболее удобно использовать микроскоп с дополнительной подсветкой непрерывным или импульсно-периодическим светом. Дефекты материала различного типа можно отличить по размеру, Форме, диаграмме рассеяния, геометрии расположения, концентрации. Начало разрушения материала в области дефектов обнаруживается по вспышкам свечения и увеличению интенсивности рассеянного на дефекте света.После определения минимальной интенсивности излучения, приводящей к повреждению материала для каждого типа его дефектов определение оптической стойкости материала проводят без использования его облучения лазерным...
Устройство для контроля оптических искажений в прозрачных объектах
Номер патента: 1163219
Опубликовано: 23.06.1985
МПК: G01N 21/59
Метки: искажений, объектах, оптических, прозрачных
...объектива;А - ширина светопоглощающегоучастка первого шелевого 25 растра;Э - диаметр действующего входногозрачка объектива.На чертеже приведена схема устройства.З 0 На схеме обозначены первый щелевойрастр 1, контролируемый прозрачныйобъект 2, объектив 3, второй щелевойрастр 4, светоприемник 5, осветитель6 и держатель 1 контролируемого объСветовые лучи осветителя 6 попадают на первый щелевой растр 1,поглощаются на его светопоглощаю щих участках и отражаются от диффузнорассеивающих .участков. Излучениепервого щелевого растра 1 попадаетв расположенный за ним объектив 3,который строит изображение растра 1на расположенном эа объективом 3втором щелевом растре 4. От каждойсветящейся точки растра 1 в объектив3 попадают только лучи, излучаемыев...
Устройство для определения спектральной чувствительности оптически прозрачных твердых материалов
Номер патента: 1163220
Опубликовано: 23.06.1985
Авторы: Анисимов, Жучкова, Карпухин, Кричевский, Новорадовский, Сааков, Трубников, Яшин
МПК: G01N 21/63
Метки: оптически, прозрачных, спектральной, твердых, чувствительности
...светопоглощающего слоя,Устройство работает следующимобразом,Образец 1 (фиг. и 3 в держателе2 облучают параллельным пучком светаисточника 3 через светофильтр 4 икомпенсирующий кварцевый клин 5 позаданной временной сетке Ф в кассетеб. Время облучения задается системойуправления, содержащей блок 7 управления и двигатель 8, перемещающийш орку 9 между образцом и светофильтром, Редуктор 1 О обеспечивает разныескорости перемещения шторки по коордиф"нате 1 .Облученный образец 1 в держателе 2помещают в рамку 1 (,фиг.2) такимобразом, что координата образца Ясовпадает с горизонтальным направлением перемещения рамки 11 в станине 12, а точка образца Х=О, облученная в течение времени 1 = 1находится перед выходной.шельюспектрофотометра. Блок 13...
Двухлучевое интерференционное устройство для измерения толщины прозрачных пленок
Номер патента: 1165879
Опубликовано: 07.07.1985
Авторы: Сергеева, Черноусова
МПК: G01B 11/06, G01B 9/02
Метки: двухлучевое, интерференционное, пленок, прозрачных, толщины
...призмы и призмы Дове, а держатель измеряемой пленки установлен с возможностью поворота в плоскости, перпендикулярной основанию оборачивающей призмы.На чертеже изображена принципиальная схема двухлучевого интерференционного устройства для измерения толщины прозрачных пленок.Устройство содержит осветительную систему 1, интерференционный блок, выполненный в виде последовательно расположенных по ходу излучения плоскопараллельной пластины 2, установленной под углом 45 к оси излучения, обеспечиваюшей призмы 3 и призмы 4 Дове, узкополосный интерференционный фильтр 5, поляризатор 6, уголковую призму 7, зрительную трубу 8, держатель 9 измеряемой пленки, установленный с возможностью поворота в плоскости, перпендикулярной основанию...
Устройство для измерения пространственного распределения коэффициента пропускания объектов, прозрачных для ик излучения
Номер патента: 1165901
Опубликовано: 07.07.1985
Авторы: Лисянский, Морозов, Морозова
МПК: G01J 1/44
Метки: излучения, коэффициента, объектов, прозрачных, пропускания, пространственного, распределения
...изображения, трехзапоминающих устройств - 18-20,аналогового измерителя 21 отношений,формирователя 22 строчных и кадровьм 55синхроимпульсов и формирователя 23стробирующих импульсов, два входакоторого соединены с соответствую 901 .4щими выходами формирователя 22 строчных и кадровых синхроимпульсов и формирователя 17 стробирующих импульсов четных и нечетных кадров иэображения, а выход соединен с входом второго запоминающего устройства19, выход. которого подключен к первому входу видеоконтрольного устройства 11, к второму входу которого подключен формирователь 22 строчных и кадровых синхроимпульсов 22,вход которого соединен с одним выходом формирователя 16 тактовых импульсов, два входа которого подключены соответственно к датчикам...
Материал для электропроводящих прозрачных пленок
Номер патента: 1172896
Опубликовано: 15.08.1985
Авторы: Висьтак, Готра, Тымчишин, Фечан
МПК: C03C 17/25
Метки: материал, пленок, прозрачных, электропроводящих
...кислота 2,8-2,9 Пятифтористыйванадий 0,41172896 Изобретение относится к материало. ведению и может быть использовано для получения электропроводящих прозрачных пленок (ЗПП 11), применяемых для изготовления различных индикаторных устройств, в частности при изготовлении электролюминесцентных, жидкокристаллических индикаторов и т.п,Целью изобретения является уменьшение поверхностного сопротивления и увеличение снетопропускания. Таблица Содержание, мас.Ж Компоненты 20 2500 100 20 Тетрохлорид 80 80 80 БутилацетатПлавиковая кислота 2,9 2,8 2,8 2,8 0,8 0,9 0,4 0,6 0,3 Пятифтористый ванадий Т а б л и ц а 2 Свойства 18 26 22 38 64 7891 93 95 Светопропускание,Е Составитель Г.БуровцеваТехред Л,Микеш Корректор В.Гирняк Редактор М.Недолуженко...
Устройство для измерения перемещения объектов и показателей преломления прозрачных сред
Номер патента: 1173177
Опубликовано: 15.08.1985
Авторы: Прилепских, Ханов
МПК: G01B 11/00, G01B 9/02
Метки: объектов, перемещения, показателей, преломления, прозрачных, сред
...объема с заданной оптической длиной, на пример в виде стеклянного столбика.В качестве источника,1 когерентного излучения используется одночастотньй лазер.Устройство работает следующим об 55разом,Коллимированный пучок света отисточникакогерентного излучения,проходя расщепитель 8 луча, делится на два параллельно распространяющих ся пучка. Светоделитель 3 разделяет каждый изпадающих пучков света на два луча. Отраженные от светоделителя 3 лучи направляются на отражатель 4 и модулятор 5, В измерительном плече лучи распространяются к отражателю 6 и оптическому элементу 7. Возвращенные от этих элементов, лучи пространственно совмещаются на светоделителе 3 с соответствующими лучами света, возвращенными светоделителем 4, и интерферируют,...
Способ измерения порогов объемного оптического пробоя прозрачных материалов
Номер патента: 1187023
Опубликовано: 23.10.1985
Авторы: Крутякова, Райхман, Смирнов
МПК: G01N 17/00, H01S 3/00
Метки: объемного, оптического, порогов, пробоя, прозрачных
...Б.А. РайхманСмирнов621.375.8 (088.8)Горшков Б.Г. и др. Размерныйт и статистика лазерного разрущелочно-галоидных кристалловище волны 10,6 мкм. - Квантоваяоника, 1981, т. 8,1, с. 148 Алешин И,В. и др. Оптическая прочность слабопоглощающих материалов. Л., Изд-во, ЛДНТП, 1974, с. 12.Крутяков В.П. и др. Свечение щелочно-галоидных кристаллов под действием излучения с ) = 10.,6 мкм. ЖТФ, 1978, т, 48,4, с. 844-852. (54)(57) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПОРОГОВ ОБЪЕМНОГО ОПТИЧЕСКОГО ПРОБОЯ БО , 1187023 ПРОЗРАЧНЫХ МАТЕРИАЛОВ, заключающийся в облучении материалов лазерным излучением, о т л и ч а ющ и й с я тем, что, с целью сокращения времени измерений, материал облучают по крайней мере двумя сериями лазерных импульсов с одинаковой интенсивностью в каждой...
Устройство для измерения линейных размеров прозрачных и полупрозрачных тел
Номер патента: 1188538
Опубликовано: 30.10.1985
МПК: G01B 21/02
Метки: линейных, полупрозрачных, прозрачных, размеров, тел
...1 О 1 20 Ъ 5 динен с третьим входом логическогоблока 25, выход генератора 18 импульсов соединен с четвертым входоми через схему 19 удвоения частотыс пятым входом логического блока 25,выход которого соединен со счетнымвходом счетчика 26, выход счетчикаявляется выходом у-тройства, причемвходы логической схемы ИЛИ 24 соединены с выходами логических схемИ 2 1-23 первый вход логическойсхемы И 21 соединен с первым входомлогической схемы И 22 и являетсяпервым входом логического блока 25,первый вход логической схемы И 23соединен с вторым входом логическойсхемы И 22 и является вторым входомлогического блока 25, второй и третий входы логической схемы И 21 соединены соответственно с вторым итретьим входами логической схемыИ 23 и являются третьим и...
Устройство для измерения показателя поглощения инфракрасного лазерного излучения в прозрачных материалах
Номер патента: 1010940
Опубликовано: 07.01.1986
Авторы: Кунина, Лифшиц, Чудаков
МПК: G01N 21/55
Метки: излучения, инфракрасного, лазерного, материалах, поглощения, показателя, прозрачных
...введена система из двух неподвижных и одного подвижного плоских зеркал для коммутации лазерного луча в двух перпендикулярных направлениях относительно предметного столика, а фотоэлектрический полярископ установлен на консоли с возможностью поворота относительно предметного столика.55 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 На чертеже схематично изображено предлагаемое устройство.Устройство состоит из инфракрасного лазера .1 с непрерывной генера- цией излучения (мощность лазера может варьироваться от нескольких ватт до десятка ватт), фокусирующей оптики 2, плоского зеркала 3, установленного с воэможностью поворота относительно двух других плоских зеркал 4 и 5, направляющих лазерное излучение на прозрачный плоский образец 6, расположенный на...
Способ измерения геометрических размеров прозрачных труб
Номер патента: 1223038
Опубликовано: 07.04.1986
МПК: G01B 21/10
Метки: геометрических, прозрачных, размеров, труб
...38 2мированным световым пучком на входфотоприемника 9 попадает рассеянноеизлучение. Рассеяние света происходитв точках А, В, С и В поверхности трубы 8 (фиг,2).С целью определения расстояниймежду точками А и О, В и С, соответствующих внешнему и внутреннему диаметрам трубы 8, в коллимированныйпучок вводят ослабитель 11, предварительно жестко связанный с дифракционной решеткой 13. При движении ослабителя в моменты времени й,происходит измеНение интенсивностй 3 попадающего на вход фотоприемника 9 рассеянного излучения (фиг.З),Значения й й , Т и Т соответствуют четырем положениям ослабителя11, при которых перекрываются части1, 11, 111 и 1 Ч светового пучка(фиг,2).Изменение интенсивности 3 приуказанных положениях ослабителя 11регистрируют...
Способ определения коэффициента температуропроводности частично прозрачных материалов
Номер патента: 1223108
Опубликовано: 07.04.1986
МПК: G01N 25/18
Метки: коэффициента, прозрачных, температуропроводности, частично
...платинородий в платинородиевых ПП 30/6 термопар. Дно контейнера является горячей границей образца. Верхняя (холодная) границаобразца образуется приводимой с нимв тепловой контакт платиновой крышкойконтейнера диаметром 76 и толщиной0,5 мм, по образующей которой приварена цилиндрическая платиновая стенка толщиной 0,05 и высотой 1,8 мм.Толщина образца определяется погруженными в расплав тремя алундовымиопорами, выполненными в виде трубокс осевыми прорезями внутренним диаметром 4, толщиной стенки 0,2 и высотой 5,6 мм, оси которых расположеныперпендикулярно плоскости дна контейнера, на удалении от оси контейнера с.радиусом 30 мм. К крышке контейнера состороны, противоположной от образца,приварены контактной сваркой королекизмерительной...
Способ изготовления образца для измерения деформаций прозрачных материалов
Номер патента: 1232940
Опубликовано: 23.05.1986
Авторы: Альварес-Суарес, Мартынов, Рязанцев, Юречко
МПК: G01B 11/16
Метки: деформаций, образца, прозрачных
...материалов, получаемых израстворов.Цель изобретения - повышение точности измерения деформаций.Указанная цель достигается тем,что объемная сетка в образце создается без его повреждения, шаг сеткиможет меняться по объему образца., 10сетка фиксируется точно.Способ осуществляется следующимобразом,В жидкую Фазу материала образца(дистиллированную воду) при 50-60 С 15добавляют поверхностно-активные вещества в концентрации О- - 10- г/ли фотохромные вещества (спиропираны)в такой же концентрации, Полученныйраствор перемешивают 16 ч и отстаи бахают не менее 20 ч в отсутствие света, затем его облучают в течение20-40 с видимым светом лампы мощностью 1 кВт. Полученный раствор эамораживают в термостате, Обрабатываютповерхность образца...
Способ измерения оптической неоднородности прозрачных сред и формы отражающих поверхностей и интерферометр сдвига для его осуществления (его варианты)
Номер патента: 1237960
Опубликовано: 15.06.1986
Автор: Шехтман
МПК: G01N 21/45
Метки: варианты, его, интерферометр, неоднородности, оптической, отражающих, поверхностей, прозрачных, сдвига, сред, формы
...настроенных по схемам,20 изображенным ца Фиг. 1 и 2 25 30 35 40 45 50 55 Расходящийся световой пучок ис,тачцика 1 (Фиг. 1) направлен светоделительной пластикой 2 к исследуемому объекту и зеркалу 3, Отраженный от последнего сходящийся световой пучок разделен светаделительнойпластикой 4 ца два пучка, направленных к зеркалам 5 и 6, В результатеотражения одного лучка ат зеркала 5,а другого от зеркала 6 и светоделительной пластины 7 в плоскости цабгаодения Я имеет место интерферецциакная картина. Зеркало 6 совместно сосветоделительнымк пластиками 2, 7и зеркалам 3 формирует изображение 8источника 1, а зеркала 5 - изображение 9 источника 1. В отличие отзеркала 6 зеркало 5 своей гибкойчастью формирует изображецие 1 О источника 1. Участок...
Поляризационно-голографический способ определения напряжений в прозрачных объектах и устройство для его осуществления
Номер патента: 1257407
Опубликовано: 15.09.1986
Авторы: Дричко, Лейкин, Мешалкин
МПК: G01B 11/16
Метки: напряжений, объектах, поляризационно-голографический, прозрачных
...и11)Угггг 1 ф Ь =й(а,6 гдеа, иЬ,иа Ьгг толщина объекта;оптические коэффициенты, характеризующие свойства материала для длин волн излучения 3 и Л соответгственно (оптические коэффициенты определяют из предварительных тарировочньп испытаний)Устройство для осуществления поляризационно-голографического способа определения напряжений в прозрачных объектах содержит расположенные последовательно и оптически 2опорном пучках с другой длиной волны, регистрируют две голограммы исследуемого объекта в двух длинах волн излучения при двух взаимно перпендикулярных линейных поляризациях излучения, Гологракщ восстанавливают и получают две картины абсолютной разности кода излучения д и д1 2 (иэодромы), соответствующие излуче- нияМ, поляризованным...
Устройство для обнаружения дефектов в прозрачных тонкопленочных изделиях
Номер патента: 1260773
Опубликовано: 30.09.1986
Авторы: Балабанов, Ковтун, Куфтерина
МПК: G01N 21/45
Метки: дефектов, изделиях, обнаружения, прозрачных, тонкопленочных
...микропроцессором для автоматической обработки данных и расположен таким образом, чтобы его объектив был через одну из граней призмы 2 сфокусирован на исследуемую область изделия 6.Устройство работает следующимобразом. нанесенную на верхнюю поверхность пластины 3, которая разделяет на два потока равной:интенсивности.Первый из них, отразившись от ме" таллической пленки, затем испытывает полное внутреннее отражение от грани призмы ввода излучения 2 и затем при условии под угломМ290 пересекает исследуемое изделие 6 непосредственно у края пластины 3. Второй световой поток, проходя сквозь металлическую пленку попадает на нижнюю поверхность пластины 3 таким образом, что крайние лучи светового потока попадают строго на край ее нижней...
Устройство для измерения контура сечения прозрачных оптических элементов
Номер патента: 1265472
Опубликовано: 23.10.1986
Автор: Тарханов
МПК: G01B 11/24, G02B 27/28, G02B 27/50 ...
Метки: контура, оптических, прозрачных, сечения, элементов
...сигнала , фотоприемника 10 при пустом резервуаре 4 беэ жидкости 5 и измеряемого элемента 6. Этим автоматически учитываются потери на френелевское отражение от поверхностей раздела плоскопараллельной пластины с данным показателем преломления. Эти потери одинаковы как для пустого резервуара 4, так и для заполненногожидкостью 5, при условии, что материал держателя 3 имеет показательпреломления, совпадающий с показате" лем преломления жидкости 5, Послеэтого оптический элемент 7 помещаютв резервуар 4 на держатель 4 и заливают жидкость 5. Выбирают уровень жидкости 5, совпадающий с наибольшейвысотой оптического элемента 6 относительно держателя 3 (хотя это и не обязательно). Высота уровня 1 должна быть измерена любым известным способом с...
Способ определения коэффициента теплопроводности частично прозрачных для теплового излучения материалов
Номер патента: 1267240
Опубликовано: 30.10.1986
Авторы: Битюков, Захаров, Петров, Степанов
МПК: G01N 25/18
Метки: излучения, коэффициента, прозрачных, теплового, теплопроводности, частично
...графитовой сажей, степень черноты которой равно 0,97), для температуры нагрева 2500 К. 5 1 О 15 20 25 30 35 40 отжиг нагревателя проводят 1 О ч при2750 К.На фиг.2 показана зависимостьспектрального пропускания кварцевогостекла КВ, нагретого до температуры1500 К и вьдержанного в течение одного часа над вольфрамовым нагревателем, отожженным предварительно притемпературе 2500 К в течение часа(кривая 35), причем пропускание исходного стекла и стекла после нагрева над отожженным в течение 10 чнагревателем не изменяется (измерение пропускания материала выполненона спектрофотометре Я ресогй 75 1 К).Аналогичный график иллюстрируетвлияние превышения температуры нагревателя над заданной. Экспериментально установлено, что превышениена 200 - 300...
Концентратор светового потока для прозрачных и частично прозрачных источников света
Номер патента: 1278763
Опубликовано: 23.12.1986
МПК: G02B 5/12
Метки: источников, концентратор, потока, прозрачных, света, светового, частично
...создает изображение с наименьшими искажениями и наибольшей яркостью. Применение рассеивателя именно сферической формы необязательно. Его форма и размеры выбираются так, что рассеиватель и источник света в . измерительном приборе 5 изображаются линзой 6 в пределах люка 7 входа.Концентратор света работает следующим образом.Свет, испускаемый источником 4 во все стороны, достигает поверхности зеркальной сферы 1, часть его, определяемая отношением площади выходного отверстия 8 к площади всей сферы 8, попадает в измерительный прибор 5 через осветительную линзу 6, а оставшаяся часть испытывает многократ-,ные отражения, каждый раэ диффузно рассеиваясь на поверхности рассеивателя 3 и частично попадая опять в измерительный прибор.Если источник...
Материал для прозрачных проводящих покрытий
Номер патента: 1282035
Опубликовано: 07.01.1987
Авторы: Введенский, Калиниченко, Козлов, Кочерба, Лаврищев, Петрушенко, Тетерин, Цагина
МПК: C03C 17/00, G02B 5/28
Метки: материал, покрытий, проводящих, прозрачных
...добавка лютеций (111) оксида в количестве 0,1 0,5 мас.7. обеспечивает термическую стабильность поверхностного сопротивления покрытия, В таблице приведены значения поверхностного сопротивления покрытий, измеренные непосредственно после изготовления пленки; а также при ее нагреве до 20 С и после охлаждения до комнатной температуры в зависимости от состава исходного материала. В последней строке таблицы для сравнения приведены экспериментальные данные. полученные для пленок, содержащих 907 1 п О и 107 БпО. Матерйал синтезируют из водорастворимых солей индия, церия и.лютеция совместным осаждением гидроокисей с последующей прокалкой 1000 1100 ОС в течение двух часов на воздухе. церий (1 Ч) оксиду, 5 мл раствора азотно-кислого лютеция с...
Способ дифракционного допускового контроля диаметров прозрачных диэлектрических волокон
Номер патента: 1285317
Опубликовано: 23.01.1987
Авторы: Лазарев, Мировицкая, Сарвин
МПК: G01B 11/08
Метки: волокон, диаметров, дифракционного, диэлектрических, допускового, прозрачных
...осуществляетсяследующим образом,Располагают контролируемое прозрачное диэлектрическое волокно 730вертикально (что обусловлено пространственной ориентацией вытяжной машины), а непрозрачные волокна 3под углами= 60 к нему так,чтобы проекция их пересечения находилась в центре облучающего пучка.Этообеспечивает создание трех дифракционных картин, расположенных под углами 60 друг к другу, которые незатеняют друг друга и не интерферируют между собой.1Два непрозрачных эталонных волокна 3 выбирают таким образом, что поле допуска, сформированное положения ми минимум дифракционных картин от нихопределяет максимальный и минимальный размер контролируемого диэлектрического волокна. Использование двух эталонных волокон 3 позволяет получить...
Светоприемное устройство для точечного и построчного оптоэлектронного считывания прозрачных и непрозрачных оригиналов световым лучом
Номер патента: 1303048
Опубликовано: 07.04.1987
Автор: Хайнрих
МПК: H04N 1/04
Метки: лучом, непрозрачных, оптоэлектронного, оригиналов, построчного, прозрачных, световым, светоприемное, считывания, точечного
...13 и полое тело 3 светоприемного устройства позиционированы один относительно другого так, что точка 18 сканирования является центром светоприемной поверхности 7, выполненной в виде внутренней поверхности полого шара. Считываемый световой поток 6, промодулированный в соответствии с изображением мгновенной точки 18 сканирования оригинала 1, который из-за царапин или склеенного монтажа может иметьнесимметричное распределение интенсивности, отражается от оригинала 1 диффузно в светоприемное устройство. Светоприемная поверхность 7 светоприемного устройства собирает считываемый световой поток 6 под большим пространственным углсм (угол, под которым светоприемное устройство воспринимает свет) и передает его через светопроводящие волокна 9...
Способ контроля прозрачных объектов
Номер патента: 1307313
Опубликовано: 30.04.1987
Авторы: Бабушкин, Воронков, Красиков, Тихомолов
МПК: G01N 21/43
Метки: объектов, прозрачных
...материалов капилляра и контролируемого объекта соответственно). Наблюдение и фотографирование возникающей картины можно осуществлять через тубус микроскопа, когда объектив сфокусирован на объект или отдельные его детали, где происходит внутреннее отражение.Варьирование размером толщины стенки ячейки показывает, что при малой толщине поляризационные полосы взаимно перекрывают друг друга, создавая дифракционные нарушения, из-за чего интерпретация картины усложняется.В то же время слишком толстая стенка искажает сам ход луча в стекле, способствуя возникновению добавочных бликов. Выбор соотношения внутренний диаметр/толщина стенки в пределах 3-6 является экспериментально обоснованным.Подготовку жидкого объекта осуществляют следующим...