Патенты с меткой «прозрачных»

Номер патента: 863613

Опубликовано: 15.09.1981

Авторы: Борисова, Лаврищев, Орлова, Патрикеева, Чернова

МПК: C09D 3/66

Метки: износостойких, покрытий, прозрачных, состав

...растворов в бутаноле.Полиизоцианат-биурет представляет собой биуретовое производное1,6-гексаметилендиизоцианата, используется в качестве отвердителя полиэфиров в лаковых композициях испособствует повышению физико-механических свойств покрытий 7).В качестве органических растворителей используют различные спирты,эфиры, ароматические углеводороды идругие,В табл.1 представлены предлагаемые составы в сравнении с известнымсоставом.Приготовление композиции для нанесения на поликарбонатное или акриловое оргстекло производят следующим образом.К меламино-алкидному лаку добавляют в определенном соотношении раствор полиизоцианат-биурета в ксилолеили смеси ксилола с этилгликольацетатом и тщательно перемешивают. Полученный состав разбавляют...

Номер патента: 868343

Опубликовано: 30.09.1981

Автор: Попов

МПК: G01B 11/06

Метки: пластин, прозрачных, толщины

...света. Линза 2 согласует апертуру микро- объектива 3 с диаметром лазерного пучка. Измеряемая пластина б располагается на предметном столике 4, щ который перемещается в двух взаимно . перпендикулярных направлениях, что позволяет наводить пучок света на любую точку пластины б.Для наблюдения интерференционных полбс служит экран 5 из матового стекла, на котором нанесена шкала.Лазер 1, микрообъектив 3 и лин за 2 объединены в один блок. Этот блок может перемещаться вдоль своей оси относительно пластины б, что 40 позволяет точно фокусировать пятно света на поверхность пластины. В устройстве производится измерение угло-, вой ширины полосы равного наклона под углом 1:45 О . . 65 Способ осуществляется следующимобразом.Пластину б располагают на...

Номер патента: 868344

Опубликовано: 30.09.1981

Авторы: Денисенко, Кузнецов, Однороженко, Сабокарь

МПК: G01B 11/08

Метки: внутреннего, диаметра, прозрачных, труб

...падающего пучка, в которых наблюдается отражение от внутренней поверхности трубы; на фиг. 3 - сигнал, поступающий на вход регистрирующего блока при однократном пересечении направленным пучком контролируемой трубы.Устройство содержит источник 1 света, систему 2 для перемещения пучка света, например систему линз и призм, собиракщую линзу 3, при.помощи которой прошедший пучок света"Патент", г. Ужгородул. Проектная, 4 Филиал П подается на фотоприемник 4, служащий для преобразования светового сигнала в электрический, устройство 5, служащее для исключения поляризованной составляющей прошедшего пучка, например поляризатор, регистрирующий блок 6,Способ осуществляется следующим образом.Кеполяризованный пучок света от источника 1 света при...

Номер патента: 872959

Опубликовано: 15.10.1981

Автор: Скрелин

МПК: G01B 11/30

Метки: бесконтактный, высоты, образцов, поверхности, прозрачных, фотометрический, шероховатости

...о определяемые, напр формулами Френеля, воначальном положе разца;Т 1 - коэффициент пропускания4измеряемой поверхности итолщи образца в первоначальном его положении;Т " сигналы от диффузного и1полного потоков, отраженных от поверхностей в первоначальном его положении, , г - коэффициенты зеркальногоотражения измеряемой и противоположной изповерхностей образределяемые, напримформулами френеля,перевернутом положеобразца;У - коэффициент пропуспротивоположной измой поверхности и ний за счет искажений, вносимых слоем при воспроизведении микрорельефа, и в ряде случаев делает непригодными образцы для эксплуатации.Целью изобретения является повышение точности и упрощение процесса измерения.Поставленная цель достигается тем, что после...

Номер патента: 873000

Опубликовано: 15.10.1981

Авторы: Отменников, Потехин

МПК: G01M 9/00

Метки: исследования, неоднородностей, прозрачных

...11 = Й 1 Я, где Ь - расстояние от соответствующего отверстия 5-8 осветительной диафрагмы до оси Г - фокусное расстояние объектива 9. Эти параллельные пучки света просвечивают неоднородность 22 и попадают в объектив 10 приемной части. В плоскости изображения объектива 10 изображения отверстий 4-8 осветительной диафрагмы 3 зкранируются соответствующими экранами 15- 17 и ножами Фуко 8 и 19 визуализирующейфдиафрагмы. Световые пучки после каждого элемента визуализирующей диафрагмы разводятся с помощью оптических клиньев 11-14 и образуют на экране 21 пять раздельных теневых картин 23-27 исследуемой неоднородности 22. Действие неоднородности 22 вызывает сдвиг иэображений отверстий 4-8 осветительной диафрагмы 3 относительно элементов 15-19...

Номер патента: 873053

Опубликовано: 15.10.1981

Автор: Чашечкин

МПК: G01N 21/45

Метки: градиента, коэффициента, преломления, прозрачных, сред

...в которой происходитотклонение света на угол ;- длина пути света в отклоняющей среде;Е - координата в направлении отклонения луча, а шаг решетки,выполненной по форме отклоненного пучка, выбирают изсоотношения 8 = 6 Г где г - фокусное расстояние приемного объектива системы.На фиг. 1-3 изображены блок-схемы устройства, в которых реализуется данный способ измерения градиента коэффициента преломления.Устройство состоит из источника 1 белого света с непрерывным (лампа накаливания) или лииейчатым (ртутная лампа) спектром, объектива 2, формирующего изображения источника, диафрагмы 3, коллиматорного объектива 4, диспергирующего элемента 5, оптической кювета с исследуемой средой б, приемного коллиматорного объ-., ектива 7, установленной...

Номер патента: 881571

Опубликовано: 15.11.1981

Авторы: Попов, Чашечкин

МПК: G01N 21/45

Метки: градиента, коэффициента, преломления, прозрачных, сред

...лучей в призме 5 и вся системадиафрагма - призма - решетка выпол нены с возможностью синхронного враШения вокруг продольной оптическойоси устройства,Устройство работает следующим образом.Белый свет, излучаемый источником1, проходит через объектив 2, Формирующий иэображение источника, диафрагму с плоской щелью, расположеннуюв фокусе основного объектива 3, выходит в виде параллельного пучка лучей и поступает на диспергирующуюпризму, отклоняюШую свет на угол Явеличина которого зависит от длиныволны и не превышает= о с /Г, гдео"щах - максимальное отклонение лучав фокальной плоскости и приемногообъектива теневого прибора, при котором свет не виньетируется элементамиустройства; Г - фокусное расстояниеприемного объектива, для...

Номер патента: 890169

Опубликовано: 15.12.1981

Авторы: Камалов, Сухоруких, Харитонов, Шаров

МПК: G01N 21/45

Метки: исследования, неоднородностей, оптический, прибор, прозрачных

...26"29. Входной 9 и выходной 21 отражательные призменные блоки состоят каждый иэ четырех прямоугольных призм, их катетные грани образуют прямоугольник, центркоторого совмещен с оптической осью, а его плоскость перпендикулярна опти" ческой оси; кроме того, в каждомпризменном блоке прямоугольные призмырасположены так, что зеркальные гипотенузные грани обращены в сторону объективов и развернуты по о 1 ношениюк одноименным граням соседних призм на угол 90 . Источники света 1-4 в осветителе установлены на зеркальных отображениях оптицеской оси входным призменным блоком 9 с возможностью перемещения в,плоскости, препендикулярной оптической оси. Для осуществления наклона на угол 90йдополнительной щели 11 и вспомогательных ножей Фуко 18 и 20 в...

Номер патента: 797379

Опубликовано: 30.01.1982

Авторы: Морозов, Тищенко, Шелопут

МПК: G02F 1/11

Метки: монокристаллов, оптически, прозрачных, разориентировки

...устанавливают перед источником света 3. За кристаллом располагают систему из двух поло797379 2О ( Составитель В. Масленников Текред Л. Куклина оррект айн Коляд едак Изд104 Тираж 515 Подписное осударственного комитета СССР по делам изобретений и открытий113035, Москва, )К, Раушская наб д. 4/5 аказ 25/3 ПО По Тип, Харьк. фил. пред. Патент жительных линз 4 и 5, диафрагмы 6 н экрана 7,Кристалл,1 просвечивают параллельным пучком от источника света, диаметр которого больше поперечных размеров кристалла, Плоскости 8 и 9 кристалла, перпендикулярные направлению распространения света, предварительно должны быть отполированы.Через плоскость 10, разориентацию которой измеряют, возбуждают излучателем,З в кристалле ультразвуковой пучок, который...

Номер патента: 922595

Опубликовано: 23.04.1982

Авторы: Абен, Иднурм, Клабуновский, Павлов

МПК: G01N 21/21

Метки: веществ, поляризационно-оптических, прозрачных, свойств

...вращения относительно оптической оси поляриметра, при вращении образца фиксируют минимальный и максимальный углы отклонения анализатора относительно скрещенного с поляризатором положения и по ним судят о величине двулучепреломления и оптической активности вещества.Суть способа поясняется чертежом.Свет от источника .через поляризатор 1 попадает на иссследуемый образец 2, прикрепленный к цилиндрической подложке 3, которая имеет отверстие, совпадающее с исследуемым участком образца. Затем подложка с образцом помещается в стандартный поляриметр между поляризатором 1 и анализатором 4 с воэможностью вращения относительно оптической оси поляриметра, Вращая образец и анализатор, по минимуму интенсивности на его выходе определяют...

Номер патента: 924650

Опубликовано: 30.04.1982

Авторы: Куинджи, Петров, Стрежнев, Функ

МПК: G02B 5/18

Метки: амплитудных, дифракционных, прозрачных, решеток

...граней штрихов к поверхности подложки. При этом толщина слоя алюминия выбирается равной глубине штрихов и составляет, например, 2,5 мкм. Нагрузку на алмазный резец подбирают так, чтобы глубина погружения резца при формировании штрихов ограничивалась поверхностью подложки. Затем по вышеуказанной формуле определяют напряжение и осуществляют электрохимическое оксидирование в 0;53-ном (ИБ)НРО. 650 1ности решетки создается прозрачныйокисный слой. При этом на дне штрихов образуются прозрачные участкишириной Я, Заданное соотношение между прозрачными и непрозрачными участками штрихов по ширине решетки достигается за счет равномерного окисления слоя алюминия при оксидировании.Наиболее широко используются проз.10 рачные амплитудные дифракционные...

Номер патента: 944533

Опубликовано: 23.07.1982

Авторы: Вайсблат, Ошеров

МПК: A61B 3/00

Метки: глаз, диагностики, помутнений, прозрачных, сред

...зубьевнанесена шкала 11, В накале 3 срав рнения напротив пластины 5 установлено параллельно сй зеркало 12, обращенное зеркальным покрытием кпластине 5,Приставка 4 прикреплена к корпусу с помощью переходника 13.На входе приставки 4 имеется щель14, регулируемая по ширине с помоцью микрометрического винта 15 ислужащая для регулирования входногопотока; Далее на оптической осиприставки расположены объектив 16,призма 17 для разложения света в спектри поворачиваемая вокруг оси ручкой18 поворотного механизма фиКсирую- у 5щая линза 19 со щелью 20, регулируемой по ширине с помощью микрометрического винта 21, служащей для выделения участка спектра необходимойширины, и коллиматор 22, направляющий световой поток параллельным пучком в канал сравнения...

Номер патента: 945648

Опубликовано: 23.07.1982

Авторы: Денисенко, Однороженко

МПК: G01B 11/08

Метки: геометрических, прозрачных, размеров, труб

...судят о геометрических раз Омерах прозрачных труб.На фиг. 1 изображена принципиальная схема устройства для осуществления способа; на фиг, 2 - схема,.поясняющая способ; на фиг. 3 - график зависимости интенсивностй светового пучка от положения ослабителя.Устройство содержит источник 1 излучения, диафрагму 2 для формирования луча заданной геометрии, подвиж-,ный ослабитель 3, систему 4 для задания направления визирования, фотоприемник.5 и регистрирующий блок б.Способ осуществляется следующим образом. 25Пучок света от истоцника .1 излучения направляют на исследуемую трубу 71в плоскости, перпендикулярной к еегеометрической оси. При этом на входфотоприемника 5 попадает рассеянное 30в точках А, В, С и О поверхности тру- .бы 7 излучение...

Номер патента: 949434

Опубликовано: 07.08.1982

Авторы: Белянин, Буленков

МПК: G01N 21/958

Метки: внутренних, кристаллов, кристаллографической, несовершенств, ориентации, прозрачных

...образца параллельно горизонтальной оси вращения. кристалла. Операция проводится при помощи двух дуг гониометрической головки. После этого одна из боковых граней образца соответствующей ручкой становится в горизонтальное положение. Горизонтальная установка проверяется по достижению одновременности фокусировки двух параллельных ребер этой грани. Другой ручкой производят перемещение кристал. ла для введения анализируемого участка несовершенства в поле зрения окуляра микроскопа. Риску на стекле окулярного микрометра 7 устанавливают параллельно ребру пересечения боковых граней кристалла 5 и фиксируют показания шкалы барабана 8. Затем ту же риску путем вращения окулярного микрометра 7 устанавливают параллельно анализируемому участку...

Номер патента: 950798

Опубликовано: 15.08.1982

Авторы: Замоздик, Мельченко

МПК: C23C 15/00

Метки: индия, оксида, покрытий, проводящих, прозрачных

...качестве подложки используют также полимерный материал, что намного расширяет возможности применения этих покрытий (например, фото- и кинотехника, системы записи и воспроизведения информации).950798 Удельное поверхностное сопротивление,Ом/квадрат Соотношение газов в камере Светопропускание, ь Материал подложки Аг Предлагаемый способ 87-88 86-87 92-95 Стекло 18 77 Стекло 76 Лавсан 50 Известный 80-85 Стекло 15 Лавсан Формула изобретения 40 Составитель Д. Белый Редактор,Л. Повхан Техред А. Бойкас Корректор Е. Рошко Заказ 5636/30 Тираж 1053 Подл исное ВНИИПИ Государственного комитета СССР но делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж - 35, Раушская наб., д. 4/5 Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 43Пример 1. Осаждение пленки...

Номер патента: 956424

Опубликовано: 07.09.1982

Авторы: Алехин, Баржин, Колпаков, Мещеряков, Милькевич, Читова

МПК: G01B 11/16

Метки: механических, напряжений, оптически, пластинах, прозрачных, пьезоэлектрических

...электроде будет повторять картину распределения зарядов на соответствующей стороне пьезоэлектрической пластины. При сканировании светового луча поповерхности пластины 10 между точкамивыхода пучка из первого электрода 3 ивхода в пластину 10, а также между точками выхода этого пучка из этой пластиныи входа во второй электрод 4 установятсяразности потенциалов, пропорциональныеплотностям поверхностных зарядов, которые возникают на облучаемых сторонахпластины 10 под воздействием возникающихв ней механических напряжений, вызванных ее нагружением. Поскольку при этомпьезоэлектрическая пластина помещена вдиэлектрическую жидкость, а электрооптический эффект, свойственный таким жидкостям, на много порядков превышаетэлектрооптический и...

Номер патента: 958926

Опубликовано: 15.09.1982

Авторы: Алексеев, Кобелев, Селин, Шаймарданов

МПК: G01N 21/45

Метки: газов, жидкостей, интерферометрический, оптически, прозрачных, рефрактометрии

...по формуле где М и )ч - смешения интерференционныхкартин пар, лучи которых прошли через исследуемую среду и вакуум соответственно.На чертеже представлено устройство, с помощью которого реализован даннь 1 й способ. Устройство содержит полупрозрачные зеркала 1 и 2, кювета 3 с исследуемым веществом, зеркало 4, измеритель 5 смешения интерференционной картины, полупрозрачные зеркала 6 и 7, кювета 8 с вакуумом, зеркало 9, тяга 10, измеритель 1) смещения интерференционной картины. Элементы 1 - 5 образуют правую, а 6 - 9 - левую ветви устройства, идентичные друг другу.20 Устройство работает следующим образом Луч источника излучения )на чертеже не показан) проходит через полупро: р;1:пь.с зеркала 1 и 2, попадает в кювету,;...

Номер патента: 960543

Опубликовано: 23.09.1982

Авторы: Кутев, Полякова, Цуканов

МПК: G01J 1/16

Метки: веществ, концентрации, прозрачных, растворах

...света,На чертеже изображено устройство,реализующее предложенный способ.Устройство содержит импульсный источник 1 излучения, излучение от которого проходит через .оптическую систему 2, кювету 3 с исследуемым раствороми падает на фотоприемник 4, сигнал скоторого поступает на блок 5 обработкисигналов. Блок 6, включенный в цепьисточника 1, преобразует разрядный токисточника в импульс напряжения, которыйпоступает в блок 5, Результирующийсигнал с блока 5 поступает на индикаторное устройство 7, Питание и управСоставйтель И, Беляевориз Техред С.МигуноваКорректор А. ф едактор 8/45 Тираж 887 ВНИИПИ Государственного по делам изобретений и 1 1 3035, М осква, Ж 35, РаЗак Подписноеомитета СССРоткрытийушская наб., д. 4/"Па ген Ужгород, ул,...

Номер патента: 966784

Опубликовано: 15.10.1982

Авторы: Осин, Петухов

МПК: H01J 9/42

Метки: давления, оптически, прозрачных, сосудах

...от давления.Определение давления в сосуде осуществляют с помощью калибровочной зависимости,вязывающей величину отношения интенсивноо.и указанных спектральных линий с давлениемстаточиых газов в сосуде, полученной на эта.онных объемах,Известный способ Количество ампул с.12 - 18 18-26 26-35 35 - 60 10-15 15-20 Фиолетовое 20-25 свечение 25-50 Нет свечения 7 50 Данный способ позволяет увеличить падеж. ность контроля герметизации выпускаемой про. дукции, в частности стеклянных ампул, содер. жащих медынские и ветеринарные биологические препараты. Как видно из таблицы, данный способ лоз. воляет сортировать ампулы по величине давлеши остаточных газов и Обеспечивает повышение точности в диапазоне 10 - 2700 Па до 10 - 15% от измеряемой...

Номер патента: 976356

Опубликовано: 23.11.1982

Авторы: Козлов, Соловьев, Суслов

МПК: G01N 21/85

Метки: мелкодисперсных, объектах, прозрачных, размеров, частиц

...как бы кпереналожению светлых и темных полосв изображении, и разность между интенсивностью наиболее и наименее яркого места в изображении после прохождения рассеиваюцего объекта будетменьше, чем до его прохождения световым пучком. Причем при уменьшенииотношения периода модуляции к диамету пятна размытия эта разность будетуменьшаться. Когда период модуляциибудет равен диаметру пятна, в котороеразмывается каждая точка в плоскостииэображения, различие между темнымии светлыми полосами в изображении наблюдаться не будет, т.е. иэображение В качестве пространственного модулятора предлагается использовать две рядом расположенные прозрачные решетки с частотой порядка 10-50 штрихов/ми, При повороте двух идентичных прозрачных решеток...

Номер патента: 980148

Опубликовано: 07.12.1982

Авторы: Гаврилов, Гусев

МПК: G03G 16/00, G11B 9/08

Метки: деформируемых, записи, использованием, матричной, прозрачных, слоев

...управляющих электродов, на которые подают электрические сигналы. Прозрачный деформируемый слбй размещают таким образом, чтобы егет свободная поверхность находилась на расстоянии 5-500 мкм от электродов. Электрическое поле, возникающее под действием сигналов управления, взаимодействует с деформируемым слоем из-за различия диэлектрических проницаемостей деформируемого слоя и среды, расположенной со стороны свободной поверхностиВ результате980148 Формула изобретения Составитель В,КачановТехред О, Неце Корректор О,Билак Редактор Л.йчелинская Заказ 93 б 7/41 Тираж б 22 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4...

Номер патента: 987379

Опубликовано: 07.01.1983

Автор: Борисов

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, исследования, неоднородностей, прозрачных

...выходе описывается полной периодической функцией. Подсчет показателя преломления производится по Формуле показатель преломления исследуемой среды в измеряемой области- дина волны источника света;показатель преломления окружающей среды;перемещение световода наодин период;- целое, кратное числу прохождений рабочего луча черезисследуемую среду. где и Озеркала 3, экран 4 с отверстием, фотоумножитель 5 и световод 6, способный с помощью перемещающегося устройства двигаться вдоль направления рабочего луча через исследуемый объект 7, Луч от когерентного источника 1 света, например лазера, раздваивается с помощью светоделительной пластины 2 на рабочий и опорный лучи. Система зеркал 3 за пределами рабочего пространства вновь сводит лучи вместе,...

Номер патента: 1002829

Опубликовано: 07.03.1983

Авторы: Бандура, Моисеенко, Пашкуденко, Прохоров, Чирков

МПК: G01B 9/02

Метки: оптически, прозрачных, слоев, толщины

...наредуцированной плоскости 13, и для еенаблюдения необходимо переместить фокус объектива 2 от поверхности слоя11 на расстояние, равноес 1о щ еигде д - вертикальное перемещение объектива 2 от появления системы а интерференционных полосдо системы б, мкм;д - геометрическая толщина слоя,мкм;и - показатель преломления слоя.50 д =с 1 лгде д - вертикальное перемещение объ-.2ектива 2 от а до с систем полос мкмд - геометрическая толщина слоя, 55мкм;и - показатель преломления слоя,Решая систему уравнений из двухуказанных соотношений. толщину слоя На фиг. 1 изображена принципиаль 45ная схема устройства, реализующеГопредлагаемый способ; на фиг. 2 вид интерференционной картины, записанный на самописце в виде эгектрических сигналов,Способ...

Номер патента: 1002832

Опубликовано: 07.03.1983

Авторы: Веселовский, Митрофанов

МПК: G01B 11/08

Метки: волокон, диаметра, прозрачных

...оси волокна 3в четыре раза меньше отрезкаот измеряемого волокна 3 до фокальной плоскостиволокна 3 до фокальной плоскости объ. ектива 3, а главная плоскость всейоптической системы, т.е. цилиндрической оптической системы 4 и объектива 2, находится посредине указанногоотрезка. При этом в параксиальномприближении отклонение плоскости рассеяния от оптической оси в пространстве предметов не приводит к смещениюрегистрируемой .картины в фокальнойплоскости объектива, что позволяетповысить надежность контроля.Способ осуществляется следующим образом.Пучок света от лазера 1 падаетна волокно 3 пенпендикулярно его оптической оси. Полученная в результате рассеяния лазерного излучения на волокне 2 интерференционная картина формируется объективом 2. В...

Номер патента: 1013419

Опубликовано: 23.04.1983

Автор: Гаврищенко

МПК: C03B 1/00

Метки: преимущественно, прозрачных, стекломассы

...быть применен к различным проз.рачным материалам и средам, в качестве прмеров рассмотрим способы очистки воды истекла типа К.П р и м е р 1, Металлическая кюветас водой, содержащая поглошающие включе.ния, подсвечивается сверху на свободную поверхность лазерными импульсами ультрафиолетового излучения (лазер ЛГИ - 21) (длина волны излучения 337,1 нм, длительность импуль.са 8 10 9 с, энергия импульса излучения310Дж) для контроля наличия поглощающих включений. Контроль осуществляется визуально с помощью люминесцентногомикроскопа (метод лазерной ультрамикроскопии),После измерения указанным методом концентрации поглощающих включений на свободную поверхность воды подается гигантскийимпульс излучения рубинового лазера (дли.на волны...

Номер патента: 803640

Опубликовано: 30.05.1983

Авторы: Костюкевич, Минько

МПК: G01N 21/45

Метки: показателя, преломления, прозрачных, сред

...тем, что при использовании источников света невысокой монохроматичности необходимо урав 0 2нять оптические длины путей интерФерирующих пучков с точностью до длины волны, для чего опорное и предметное плечи устройства должны быть пространственно оаэнесены. Юстировкаустройства, заключающаяся в совмещении пучков, движущихся по разным направлениям и в выравнивании их оптических путей, сложна,Цель изобретения - упрощение конструкции и уменьшение габаритов устройства при сохранении техническиххарактеристик,Поставленная цель достигаетсятем, что в предлагаемом устройствеФормирователь параллельного светового пучка одновременно является коллиматором и расположен на одной оптической оси с клинообразными зеркалами. Первое зеркало является...

Номер патента: 1042042

Опубликовано: 15.09.1983

Автор: Кукушкин

МПК: G06K 7/14

Метки: носителя, оптически, периодически, повторяющихся, позиций, преобразования, прозрачных, участков, фотоэлектрического

...свойств носителей оказывается существенно нарушенным, что приводит к снижению точности преобразования.ния,Снижение минимальной величины 4 второго общего сигнала в зоне форми-.рования максимума дополнительногоэлектрического сигнала 3 дает возможность приблизиться к выполнению условия автокомпенсации разброса проз рачности носителя и тем самым повы(на участке до момента 1 равенства сигналов 1 и 2 от рассматриваемого оптически прозрачного участка носителя максимальным сигналом является сигнал 1, а на участке от 1 до 1 равенства сигнала 2 с сигналом 12 от очередного оптически прозрачного, участка носителя максимальным является сигнал 2); формируют на каждом шаге перемещения носителя дополнительный электрический сигнал 3, Формируют первый...

Номер патента: 1054749

Опубликовано: 15.11.1983

Авторы: Бачериков, Зеленчук, Ивановский, Кубышкин

МПК: G01N 21/41

Метки: показателя, преломления, прозрачных, сред, флуктуаций

...среду, показатель ослабления которой можетизменяться одновременно с флуктуациями показателя преломления среды,чувствительно к обоим параметрам одновременно, и выделить шумовой сигнал от влияния флуктуаций показателяослабления среды не представляетсявозможным, а это, в свою очередь,приводит к дополнительным погрешностям. Целью изобретения является повьае- ние точности измерения.Поставленная цель достигается тем,45 что в устройство для .измерения показателя преломления прозрачных сред и его флуктуаций, содержащее размещенные в герметичном корпусе с иллюминаторами источник излучения и рас-,50 Положенные вдоль оптической оси устройства по ходу излучения коллиматор, фокусирующий объектив, диафрагму и фотоприемник, соединенный через блок...

Номер патента: 1059530

Опубликовано: 07.12.1983

Авторы: Камалов, Сухоруких, Харитонов, Чекменева, Шаров

МПК: G01N 21/00, G02B 27/52

Метки: исследования, неоднородностей, оптический, прибор, прозрачных

...и увеличивается погрешность определения параметров исследуемой неоднородности, Наи более сильно этот недостаток прибо. - ра проявляется при исследовании слабых неоднородносТей, например, потоков разреженного газа в аэродинамических установках. Цель изобретения - повьааение точности измерения оптических характеристик прозрачных неоднородностейПоставленная цель достигается.тем, что в оптическом приборе для исследования прозрачных неоднородностей, содержащем четыре осветительных и четыре приемных канала, первый коллиматор с диафрагмой, установленной в его передней Фокальной плоскости и включающей две щели, выполненные в диагонально расположенных квадрантах диафрагмы, второй коллиматор с диафрагмой, установленной в его задней Фокальной...

Номер патента: 1073571

Опубликовано: 15.02.1984

Автор: Щербаков

МПК: G01B 11/16

Метки: деформации, изгиба, объектов, прозрачных, тонкостенных

...в центре, источник. света и фоторегистратср, установленный за отверстием экрана 2,Недостатками известного устройства являются невозможность исследо. -вания сильно искривленных объектовс поверхностью двойной кривизныс требуемой точностью иэ"за отсутствия эталонной поверхности исследуемого объекта.Цель изобретения - повышение точности определения деформаций.Это достигается тем, что устройство для определения деформаций изгиба тонкостенных прозрачных объектов, содержащее основание и установленные иа нем нагружающий узел, экран с нанесенным растром и отверстием в центре, источники света и фоторегистратор, установленный за отверстием экрана, снабжено зеркалом спрофилированной поверхностью, установленным вдоль оптической осиустройства...