Кислецов

Устройство для определения скорости движения объекта со случайным распределением яркости

Загрузка...

Номер патента: 1245089

Опубликовано: 20.09.2006

Авторы: Абакумов, Егоршин, Кислецов, Кузнецов, Мишин, Николаенко, Семавин

МПК: G01P 3/36

Метки: движения, объекта, распределением, скорости, случайным, яркости

Устройство для определения скорости движения объекта со случайным распределением яркости по авт. св. № 856286, отличающееся тем, что, с целью расширения эксплуатационных возможностей, в него введены коррелятор, первый вход которого соединен с выходом блока сравнения, а второй вход - с выходом блока дифференцирования, экстремальный регулятор, вход которого соединен с выходом коррелятора и блок поворота приемников излучения, вход которого соединен с выходом экстремального регулятора.

Электрод для импульсного объемного разряда

Номер патента: 1544136

Опубликовано: 27.05.1999

Авторы: Журавлев, Иливицкий, Кислецов, Муркин, Шорин

МПК: H01S 3/038

Метки: импульсного, объемного, разряда, электрод

Электрод для импульсного объемного разряда, содержащий основание со штуцером для ввода легкоионизируемых присадок и рабочую пластину из пористого материала, образующие полость, отличающийся тем, что, целью повышения устойчивости разряда, электрод дополнительно содержит перфорированную перегородку, установленную в полости между рабочей пластиной и основанием, в перегородке выполнены резьбовые отверстия, в которых расположены винты, один конец каждого из которых установлен в контакте с внутренней поверхностью рабочей пластины с помощью шаровой опоры, при этом рабочая пластина выполнена из упругодемпфирующего металла.

Электрод газоразрядного импульсно-периодического лазера

Номер патента: 1519484

Опубликовано: 27.05.1999

Авторы: Журавлев, Кислецов, Муркин, Федосов, Фомин

МПК: H01S 3/038

Метки: газоразрядного, импульсно-периодического, лазера, электрод

Электрод газоразрядного импульснопериодического лазера, содержащий диэлектрическую подложку, на противоположных концах которой расположены инициирующий и заземленный электроды, отличающийся тем, что, с целью повышения ресурса работы электрода, диэлектрическая подложка выполнена с капиллярно-пористой структурой и пропитана неэлектропроводной жидкостью с диэлектрической проницаемостью, равной диэлектрической проницаемости материала подложки.

Проточный газовый лазер с замкнутым контуром

Номер патента: 1804261

Опубликовано: 27.05.1999

Авторы: Быстров, Журавлев, Зайцев, Кислецов, Кравцов, Кузнецов

МПК: H01S 3/097

Метки: газовый, замкнутым, контуром, лазер, проточный

1. Проточный газовый лазер с замкнутым контуром, содержащий цилиндрический корпус, цилиндрический ротор-электрод с диэлектрическим покрытием на рабочей поверхности, закрепленный на валу внутри корпуса коаксиально с ним с возможностью вращения, разрядный канал, совмещенный с оптическим резонатором и расположенный в кольцевом зазоре между корпусом и ротором-электродом, высоковольтный электрод, размещенный в разрядном канале на внутренней поверхности корпуса вдоль его образующей, полый цилиндрический статор и теплообменник, отличающийся тем, что, с целью повышения ресурса и энергии излучения, уменьшения весо-габаритных характеристик, ротор-электрод выполнен в виде полого диэлектрического...

Способ получения сегнетоэлектрических пленок на диэлектрической подложке

Номер патента: 1600564

Опубликовано: 27.05.1999

Авторы: Журавлев, Кислецов, Кусочек, Яббаров

МПК: H01G 4/08

Метки: диэлектрической, пленок, подложке, сегнетоэлектрических

Способ получения сегнетоэлектрических пленок на диэлектрической подложке, включающий нанесение на подложку слоя порошка сегнетоэлектрика и последующую термообработку, отличающийся тем, что, с целью повышения производительности и упрощения процесса, в качестве диэлектрической подложки используют полимерную пленку, при этом, порошок используют с размерами частиц, выбранными из соотношенияd = (0,1 - 0,0025)h,где d - диаметр частиц порошка;h - толщина полимерной пленки,а термообработку осуществляют однородным скользящим по поверхности подложки разрядом с объемной энергией (2 - 3) х 105 Дж/м3, числом импульсов 5 - 6, частотой следования импульсов 5...

Устройство для пространственной локализации и определения частотных характеристик колебательных процессов в камерах сгорания

Номер патента: 1480548

Опубликовано: 20.05.1999

Авторы: Журавлев, Кислецов, Кусочек, Мединская, Шорин

МПК: G01N 21/53

Метки: камерах, колебательных, локализации, пространственной, процессов, сгорания, характеристик, частотных

Устройство для пространственной локализации и определения частотных характеристик колебательных процессов в камерах сгорания, включающее модельную камеру сгорания с форсуночной плитой и щелевыми термостойкими окнами, источник излучения, оптически связанный через формирователь светового пучка и щелевые термостойкие окна с блоком приема излучения, соединенным через блок усилителя с системой регистрации и обработки результатов измерений, а также механизм перемещения формирователя светового пучка вдоль продольной оси камеры сгорания, содержащий сельсин, соединенный с блоком регистрации и обработки результатов измерений, отличающееся тем, что, с целью повышения точности и достоверности...

Устройство для измерения скорости движения частиц в двухфазном потоке

Номер патента: 1561666

Опубликовано: 20.05.1999

Авторы: Журавлев, Кислецов, Кусочек, Мединская, Щеглов

МПК: G01N 21/53

Метки: движения, двухфазном, потоке, скорости, частиц

Устройство для измерения скорости движения частиц в двухфазном потоке, содержащее источник излучения, оптически связанный через конденсатор с фотоприемным блоком, включающим в себя последовательно расположенные на оптической оси приемную оптическую систему, дифракционную решетку и фотопреобразователь, выход которого соединен с входом измерительной системы, причем оптическая ось фотоприемного блока пересекает ось перетяжки каустики излучения, отличающееся тем, что, с целью увеличения точности измерения вектора скорости за счет определения его знака и повышения пространственного разрешения, в качестве источника излучения использован лазер, конденсор выполнен в виде цилиндрической оптической...

Устройство для лазерной терапии

Загрузка...

Номер патента: 1801362

Опубликовано: 15.03.1993

Авторы: Бакуцкий, Жуков, Кислецов, Лысов, Шевченко

МПК: A61B 5/06, A61B 6/00

Метки: лазерной, терапии

...Оптимальная чувствительность фоторегистрирующей системы устанавливается следующим образом, При закрытых управляемых диафрагмах фотодатчиков 5 и 6 и включенномстабилизированном источнике 8 питания5 устанавливается электрический нуль фотодиодов по темновому току с помощью элементов схемы сравнения (характеристикифотодиодов должны быть по возможностиидентичными). Затем управляемая диаграм 10 ма фотодатчика 5 приоткрывается настолько, чтобы интенсивности части опорноголуча , падающего на фотодиод, было достаточно для его вывода на линейный участокпаспортной характеристики, Установкой наповерхности 11 облучения последовательночерного и белого полей экрана 12,светорассеивающие характеристики которых приняты за эталонные, и изменением...

Устройство для реконфигурации многопроцессорной системы

Загрузка...

Номер патента: 1798801

Опубликовано: 28.02.1993

Авторы: Кислецов, Поленов

МПК: G06F 11/20, G06F 15/16

Метки: многопроцессорной, реконфигурации, системы

...отказа в последнем будет сформирован код, соответствующий каналу 1, который с выхода 24 отказа выставил на вход 28 блока 2 свой сигнал отказа. После этого с выхода 29 синхронизации блока 2 сигнал синхронизации запишет в триггер 15 "0". СИгналом низкого уровня с единичного выхода триггера 15 будет закрыт элемент И 11. Этот же сигнал поступит на коммутационный выход 25, который отключит входы и выходы отказавшего процессора от системной шины. Сигналом высокого уровня с нулевого выхода триггера 15 закрывается элемент ИЛИ-НЕ 5, отключая сигнал отказа отказавшего процессора от входа 19 канала 1,По программе обслуживания (см. фиг, 3)прерывания по отказу процессор считывает с выхода 27 устройства из блока 2 код йо отказа, который...

Отказоустойчивая вычислительная система

Загрузка...

Номер патента: 1798800

Опубликовано: 28.02.1993

Авторы: Кислецов, Поленов

МПК: G06F 15/16

Метки: вычислительная, отказоустойчивая

...равно ли содержимое ячейки М коду конца инструкции ЕКИ. Если КЕКО, топеременной А присваивается значение А+2и алгоритм повторяется начиная с точки"М 2". Если йЕИО, то номер инструкциисравнивается с номером К последней инст-рукции,ПриФ К, переменнойприсваиваетсязначение +1 и алгоритм повторяется с точки"МЗ", При= К ВУ 1 выходит из режимадоступа в память, снимая сигналы ЗМ иТДП. После чего ВУ 1 выходит из режимапрерывания, и все исправные ВУ продолжают работу в соответствии с измененной инструкцией,Таким образом, после отказа ВУ 1, егопрограмму будет выполнять соседнее исправное младшее по приоритету ВУ 1.Кроме того, при отказе ВУ 1 с соответствующего выхода 21 признака отказа устройства 2 контроля через линию 15 признакаотказа...

Телескопическая опора

Загрузка...

Номер патента: 1784756

Опубликовано: 30.12.1992

Авторы: Елатонцев, Кислецов, Луцев

МПК: F16B 1/00, F16B 17/00

Метки: опора, телескопическая

...Цель изобретения - . повышение износостойкости и расширение функциональных возможностей телескопической опоры,На чертеже изображена телескопичеТелескопическая опора содержит полый цилиндрический корпус 1 с осевой штангой 2 и установленные последовательно внутри корпуса 1 механизм запирания и механизм перемещения, Механизм перемещения содержит установленные концентрично штанге 2 фланец 3 и обойму 4 с шариками 5, Механизм запирания содержит полый шток 6, фрикционную муфту,включающую гайку 7 и втулку 8 с взаимообращенными коническими поверхностями контакта и жестко закрепленный в корпусе 1 стакан 9 с элементами 10 фиксации втулки 8 от поворота, а также упругий элемент 11. Штанга 2 выполнена в виде ходового винта Гайка 7...

Прибор для исследования механических свойств электропроводных материалов

Загрузка...

Номер патента: 1777041

Опубликовано: 23.11.1992

Авторы: Анисимов, Кислецов, Колокольчиков

МПК: G01N 3/42

Метки: исследования, механических, прибор, свойств, электропроводных

...невысокая точность измерения глубины внедрения индентора, обусловленная деформацией конструктивных элементов, расположенных между рабочей поверхностью индентора и местом установки датчика глубины внедрения, приводящей к погрешности определения механических свойств,Целью изобретения является повышение точности,Поставленная цель достигается тем, что в приборе для исследования механических свойств электропроводных материалов, содержащем основание для установки испытуемых материалов, размещенный напротив него индентор, устройство нагружения индентора, датчики нагрузки и глубины внедрения и связанное с ними регистрирующее устройство, на рабочую поверхность индентора нанесена диэлектрическая пленка из материала с модулем упругости выше...

Терапевтическое устройство

Загрузка...

Номер патента: 1734778

Опубликовано: 23.05.1992

Авторы: Бакуцкий, Жуков, Кислецов, Лысов, Шевченко

МПК: A61N 5/00

Метки: терапевтическое

...линзы, Все это приводит к тому, что операция юстировки становится длительной и утомительной, а само состояние.юстировочной системы - .неустойчивым.Эти сложности частично исчезают при условии заведомо плохой фокусировки, когда размеры сфокусированного светового пята настолько больше диаметра входного торца, что все изменения положения торца осуществляются в пределах средней области сфокусированного светового пятна, Однако при этом используется лишь часть мощности лазерного излучения, а мощность излучения на выходе не является постоянной, поскольку распределение плотности мощности по сечению пучка неравномерно. Поэтому ясно, отчего в схеме известной насадки используется простая однолинзовая система: чем хуже условия фокусировоки, тем...

Способ определения размеров поглощающих субмикронных частиц в оптически прозрачных материалах

Загрузка...

Номер патента: 1718053

Опубликовано: 07.03.1992

Авторы: Анисимов, Жеков, Кислецов, Мурина, Попов

МПК: G01N 21/00

Метки: материалах, оптически, поглощающих, прозрачных, размеров, субмикронных, частиц

...устройством 4, сигнал с которого поступает на измеритель 7, Определяют коэффициент объемного поглощения ао материала исследуемого образца 3 при каждом изменении длительности импульсов лазерного излучения. Изменение олимп проводят до тех пор, пока не будет зафиксировано скачкообразное изменение величины коэффициента объемного поглощения ао, что свидетельствует о том, что длительность импульса 7 имп достигла своего эффективного значения тимпТакое скачкообразное увеличение величины коэффициента объемного поглощения может быть объяснено следующим образом. Величина коэффициента объемного поглощения материала го складывается из коэффициента аом материала и коэффициента поглощения частиц, присутствующих в мал л териале, задаваемого как...

Устройство для автоматизированного контроля эвм

Загрузка...

Номер патента: 1697080

Опубликовано: 07.12.1991

Авторы: Кислецов, Поленов

МПК: G06F 11/07

Метки: автоматизированного, эвм

...необходимо о гсчитать до идентификации отказа,а в программируемый счетчик 77 загружается код ременного интервала, соответствующий временному интервалу. ,на которомпроисходит счет числа сбоев до идентификации отказа, Код временного интервала икод числа сбоен являются составными частями кода условия, 30Через вход 61 блока 23 на вход 67 программируемого счстчика 77 подается кодвременного интервала, а на вход 67 программируемого счетчика 87 - код числа сбоен, Затем через вход 62 блока 23 на входы68 программируемых счетчиков 77 и 78 по, дается сигнал записи и производится запись кода временного интервала впрограммируемый счетчик 77 и кода числасбоев в программируемый счетчик 78. 40По сигналу, подаваемому на вход 64блока 23, а затем через...

Способ обработки монокристаллов гранатов

Загрузка...

Номер патента: 1638221

Опубликовано: 30.03.1991

Авторы: Анисимов, Жеков, Кислецов, Мурина, Попов, Федоров

МПК: C30B 29/28, C30B 33/00

Метки: гранатов, монокристаллов

...Проведение отжига с темпера.турой более 400 С нецелесообразно,из-з а сложности высокотемпературныхпечей, Проведение отжига при температуре порядка 1000 С и более приводитк выпаданию фазы УА 10 э и т.д., кдиффузии атомов, что в свою очередьприводит к образованию точечных дефектов типа Г-центров, 0-вакансий ит.д,Длительность импульса лазерногоизлучения, которым проводят обработ -ку, равна 10 -1 О с и определяетсяэкспериментально, 40Уменьшение длительности импульсаприводит к тому, что времени для перехода частицы в новое кристаллическоесостояние становится недостаточно,то есть она находится при высокой 45температуре мало времени.Увеличение длительности, импульса приводит к уменьшению энергии вотдельном "пичке" лазерного импульсаи данной...

Измеритель скорости

Загрузка...

Номер патента: 1601586

Опубликовано: 23.10.1990

Авторы: Кислецов, Кондратьев, Щеглов

МПК: G01P 3/36

Метки: измеритель, скорости

...формируемое объективом 1 в плоскости линейки фотоэлементов 2, создает на их выходах сигнал, представляющий в первом приближении функцию распределения яркости элементов объекта 14 в направлении его движения. Сигналы с каждой пары соседних фотоэлементов 2 подаются на инвертирующие и неинвертирующие входы дифференциального усилителя 3, соответствующего этой паре, Электромагниты 4, подключенные к выходам дифференциальных усилителей 3, создают пространственно неоднородное магнитное поле вокруг ротора 5.Использование дифференциальных усилителей 3 обусловлено необходимостью перемагничивания магнитотвердых стерж 35 40 45 50 55 5 10 15 20 25 ней б с целью повышения контраста пространственных неоднородностей магнитного поля. Под воздействием...

Способ визуализации поверхностных электроразрядных процессов

Загрузка...

Номер патента: 1562833

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Журавлев, Кислецов, Кусочек, Муркин

МПК: G01N 27/60

Метки: визуализации, поверхностных, процессов, электроразрядных

...при этом ионизационные волны обуславливают появление поверхностных зарядов на диэлектрической подложке 3, в поле которых частички мелкодисперсного диэлектрического порошка 4 приобретают поверхностный экранирующий заряд противоположного знака. В результате этого кулоновские силы и сопутствуюшие разрядным процессам газодинамические волны давления вызывают перераспределение мелкодисперсного диэлектрического порошка 4 в 25 соответствии с образовавшимся на поверхности диэлектрической подложки 3 разрядовым рельефом, При анализе завершенных стадий электроразрядных процессов мелкодисперсный диэлектрический порошок 4 наносят после подачи напряжения для исключения искажений, вносимых газодинамическими колебаниями, при этом подаваемое...

Способ определения прочности диэлектрических пленок

Загрузка...

Номер патента: 1562754

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Анисимов, Кислецов, Колокольчиков, Подкопаев

МПК: G01N 3/40

Метки: диэлектрических, пленок, прочности

...электрических свойств диэлек-. вании 7 твердомера 1, При включениитрической пленки. электродвигателя 3 индентор опускаетНа фиг,1 представлена схема уст- ся до касания с пленкой 8. Нагрузкаройства для определения прочности на него возрастает и измеряется с попленок; на фиг.2 - зависимость изме" ,.мощью датчика 4 регистратором 6, Однения тангенса угла диэлектрических новременно измерителем 9 фиксируетсяпотерь от нагрузки,изменение сд 3.Устройство состоит из твердомера Способ осуществляю следующим об 1 с индентором 2, соединенного с дви- разом,гателем 3 и датчиком 4 усилий. Элект- Помещают диэлектрическую пленку народвигатель 3 управляется от источни- электропроводную подложку, вдавка 5 тока, а сигнал с датчика 4 по- в пленку индентор и...

Измеритель скорости

Загрузка...

Номер патента: 1290172

Опубликовано: 15.02.1987

Авторы: Кислецов, Щеглов

МПК: G01P 3/36

Метки: измеритель, скорости

...изобретения - уменьшение погрешности измерения скорости.На фиг.1 изображена функциональная схема измерителя скоростиф на фиг.2 - векторная диаграмма одной из возможных реализаций сигнала на выходе многоканального блока фазовой Измеритель скорости работает следующим образом,Объективы 1 формируют в плоскостирастровых фотодетекторов 2 изображения разных участков протяженногообъекта 12,При движении объекта 12 на выходах дифференциальных усилителей 3появляются синусоидальные сигналыс одинаковой для всех фотоприемниковчастотой, пропорциональной скоростиЧ движения объекта 12, и фазой ,случайным образом изменяющейся отфотоприемника к фотоприемнику. Выходные сигналы всех фотоприемниковподаются на входы многоканального блока 4 фазовой коррекции....

Бесконтактный измеритель скорости протяженного оптически неоднородного объекта

Загрузка...

Номер патента: 1290171

Опубликовано: 15.02.1987

Авторы: Кислецов, Марин, Щеглов

МПК: G01P 3/36

Метки: бесконтактный, измеритель, неоднородного, объекта, оптически, протяженного, скорости

...лучи световых пучков, прошедших сквозь каждый из элементов, пересекались с плоскостью изображения объектива 2 в различных точках, равномерно распределенных в направлении движения с шагом, равным пространственному периоду растрового фотодетектора 3, т.е. углы отклонения призматических элементов составляют дискретное множество с дискретом, равным отношению пространственного периода растрового фотодетектора 3 к фокусному расстоянию объектива 2.Бесконтактный измеритель скорости протяженного оптически неоднородного объекта работает следующим образом.Световой поток осветителя 1, отраженный от объекта 7, попадает на призменно-растровую пластинку 6.Наличие призменно-растровой пластинки 6 приводит к тому, что в плос Формула изобретения...

Устройство для укладки шоколадных изделий в коррекс

Загрузка...

Номер патента: 1284490

Опубликовано: 23.01.1987

Авторы: Авдонин, Анисимов, Кислецов, Шитарев, Шпакова

МПК: A23G 3/00

Метки: коррекс, укладки, шоколадных

...изделиями по конвейеру 1 поступают на механизм 6 поворота. В момент остановки конвейера 1 форма 2 входит в приспособление 7 для фиксации, а затем следует поворот на 180 и форма 2 оказывается в опрокинутом состоянии. В этот момент толкатель 8, совершающий возвратно-поступательное движение, выталкивает форму 2 из механизма 6 поворога, помещая ее в направляющие верхио цепного конвейера 9. Одновременно с конвейера 3 подают коробки 4 с уложенными в них коррексами 5 и помещают их на нижнем цепном конвейере 10. Цепные конвейеры 9 и 10 движутся синхронно с остановками.Формы 2, и коробки 4 с коррексами 5 располагаются на них строго одна под другой, При одновременном движении конвейеров 9 и 10 в мо,ент достижения передним торцем формы 2...

Цилиндрическое параболическое зеркало с регулируемым фокусным расстоянием

Загрузка...

Номер патента: 1278762

Опубликовано: 23.12.1986

Авторы: Анисимов, Кислецов, Колокольчиков

МПК: G02B 5/10

Метки: зеркало, параболическое, расстоянием, регулируемым, фокусным, цилиндрическое

...вращении микрометрического винта 16 происходит смещение стержней 9 в направлении опорного блока 12. При этом стержни 9 давят по линии контакта на приливы 7, что вызывает реакцию стержней 10 на приливы 8 и приводит к образованию изгибающих моментов действующих на упругую пластину 1 и изгибающих ее. Так как взаимодействие между стерж" нями 9 и 10 и упругой пластиной 1 осуществляется по линии контакта вы" пускных поверхностей приливов 7 и 8 и при этом имеется возможность вра" щения стержней 9 и 10, вокруг своих асей 13 и 14, силы трения между упругой пластиной 1 и стержнями 9 и 10 минимальны и усилия полностью направлены на изгиб упругой пластиныПриливы 7 и 8 играют тройную роль в силовой схеме устройства.Они усиливают передний 2 и...

Способ испытания диэлектрических пленок и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1270638

Опубликовано: 15.11.1986

Авторы: Анисимов, Кислецов, Колокольчиков, Подкопаев, Труфанов

МПК: G01N 3/42

Метки: диэлектрических, испытания, пленок

...из диаграмм зависимостей Р(Ю),15Вязкоунругие свойства определяютиз диаграмм зависимостей Р(с) иб(е), где С -время нагружения и внедрения индентора.Диэлектрическую проницаемость при 2 Овдавливании плоского индентора определяют по формуле для плоского конденсатора, а при вдавливании сфери,ческого индентора по формуле 38 4пленку одновременно закручивают вокруг оси.Для определения предела выносливости пленки, а также площади петли гистерезиса нагрузка-деформация при чередующейся нагрузке и разгруке нагружение индентора проводят циклически, изменяя нагрузку по периодическому закону,Диэлектрические пленки в общем случае материалы пористые, и концентрация пор в зоне вдавливания индентора изменяется. Однако при эксплуатации пленок...

Устройство для укладки шоколадных изделий в коррекс

Загрузка...

Номер патента: 1238747

Опубликовано: 23.06.1986

Авторы: Авдонин, Анисимов, Кислецов, Шпакова

МПК: A23G 3/00

Метки: коррекс, укладки, шоколадных

...19 катушку 16 намагничивания к источнику 20 постоянного тока.Устройство работает следующим образом.Формы 2 с отлитыми в ячейки 3 шоколадными изделиями по конвейеру 1 поступают на механизм 8 поворота. В момент остановки конвейера 1 форма 2 входит в приспособление 9 для фиксации, а затем следует поворот на 180 и форма 2 оказывается в опрокинутом состоянии. В этот момент толкатель 10, совершающий возвратно-поступательное движение, выталкивает форму 2 из механизма 8 поворота, помещая ее в направляющие верхнего цепного конвейера1. Одновременно с конвейера 5 подают коробки 6 с уложенными в них коррексами 7 и помещаются на нижнем цепном конвейере 12, Цепные конвейеры 11 и 2 движутся синхронно с остановками, Формы 2 и коробки 6 с...

Способ изготовления конфет типа “ассорти

Загрузка...

Номер патента: 1223880

Опубликовано: 15.04.1986

Авторы: Авдонин, Анисимов, Кислецов, Полищук, Шитарев, Шпакова

МПК: A23G 3/00

Метки: «ассорти», конфет, типа

...ячейки производятзаливку шоколадной массы, затемудаляют излишки последней путемопрокидывания форм и получают открытую оболочку, После этого охлаждают формы до образования в ячейкахтвердой шоколадной оболочки вкоторую заливается начинка чуть ниже (1-1,5 мм) уровня форм. Затемнад уровнем начинки перпендикулярновнутренней поверхности оболочкипроизводят выборку части шоколаднойоболочки и одновременно локальныйнагрев поверхности оболочки в зоневыборки, например, путем нагреваинструмента, производящего выборку.Далее производят отливку донышка. Для этого нагретой шоколадноймассой заполняют поверхность надначинкой и образовавшийся после выборки внутреннии кольцевой паз,после чего формы направляют на охлаждение. Полученное таким образом донышко...

Устройство для укладки шоколадных изделий в коррекс

Загрузка...

Номер патента: 1163825

Опубликовано: 30.06.1985

Авторы: Авдонин, Анисимов, Кислецов, Полищук, Шитарев, Шпакова

МПК: A23G 3/00

Метки: коррекс, укладки, шоколадных

...общий вид (план), на Фиг, 2 - вид по стрелке А на Фиг. 1; наФиг. 3 - узел на фиг. 2.1Устройство для укладки шоколадных15изделий в коррекс состоит из конвейера 1 для подачи форм 2 с отлитыми вячейки изделиями, конвейера 3 дляподачи коробок 4 с коррексами 5, механизма 6 поворота форм 2 с приспособ- флением 7 для фиксации форм 2, выполненным в виде направляющих, толкателя 8 и механизма выборки изделий.Механизм выборки изделий включаетверхний цепной конвейер 9 с гонками25для Форм 2 и нижний цепной конвейер10 с гонками для коробок 4 с коррексами 5. Над рабочей ветвью верхнегоцепного конвейера 9 расположенмеханизм воздействия на Форму 2. Ме1ханизм воздействия на форму 2 состоит из двух намагничивающих систем 11 и 12. Намагничивающие с.стемы11...