Резунков

Номер патента: 1800261

Опубликовано: 07.03.1993

Авторы: Дадеко, Паско, Поляков, Резунков

МПК: G01B 21/00

Метки: оптических, прозрачных

...радиусов частоты т 01 (угла у 01 ) целесообразно оставить постоянным для заданной серии измерений, как при установке эталонной детали, так и контролируемых деталей ( сро 1), Тогдау 01 = ф 1, т.е. при использовании для контроля деталей эталонной сферы радиуса Во, кроме измерений по способу-прототипу, необходимо дополнительно произвести измерение угла у 02 . При ЭТОМ ПОГРЕШНОСТЬ ИЗМЕРЕНИЯ УГЛа гРО 2, КаК и других углов Брэгга, определяется погрешностью измерения частоты акустических колебаний 102, соответствующих соотношению (3), что для современных приборов, как указывалось выше, не превышает ЮЛ =10В этом случае измерение смещения о 2- д 1, являющегося основным источником погрешности определения параметров оптических деталей по...

Номер патента: 1737397

Опубликовано: 30.05.1992

Авторы: Варенцов, Паско, Резунков, Шаповал

МПК: G02B 26/02

Метки: модулятор

...которой происходит перемещение зеркала 3 и с помощью которой, например, модулятор может устанавливаться на базовую плоскость несущей конструкции 17 оптического прибора или интерферометра для управления оптической длиной пути пучка 18.Модулятор работает следующим образом. С помощью упора 11 через чувствительный элемент с прокладками 10 осуществляется предварительный изгиб мембраны 2. Это позволяет поддерживать устойчивый механический контакт в структуре упор-прокладка-чувствительный элемент-центр мембраны. При подаче входного сигнала на чувствительный элемент происходит его деформация (уменьшение, в частности, линейн ых размеров), что в зависимости от знака управляющего сигнала приводит или к дополнительному изгибу , мембраны, или...

Номер патента: 1631271

Опубликовано: 28.02.1991

Авторы: Дадеко, Паско, Резунков, Тетера

МПК: G01B 21/00

Метки: оптических, прозрачных

...параллельным оптической оси.При этом при углах падения на деталь 2 монохроматических пучков Ф, (см. фиг. 1) углы преломления на выходе из детали определяются выражениямиф, В фе(п)-п ф Ор, (2)Мгде и - показатель преломления конт 50ролируемой детали.Знак члена п в уравнении (2), зависит от соотношения углов падения пучка излучения на грань с клиновидностью и углаклиновидности. Для55 указанного случая угол падения пучка ф, на грань с клиновидностьюбольше клиновидности. Для противополож где Х - расстояние от оси пучка 14до оптической оси,Для удобства расчетов выбирают значение Х 1 близким к половине диаметра детали 0: 0Х 1= 2.(4) Измеряют диаметр детали 2 и направляют монохроматическое излучение на края детали на расстояние Х от...

Номер патента: 1612201

Опубликовано: 07.12.1990

Авторы: Антонюк, Дмитрук, Поляков, Резунков

МПК: G01B 7/14

Метки: величины, диэлектрическими, зазора, между, поверхностями, прозрачными

...которого начикает происходить изменение. сдвига фаз с изменением угла падения осве. щающего пучка.Рассчитывают по полученным данным показатель п 1 преломления диэлектрика. После этого освещают поверхность под углом рф, удовлетворяющим соотношению го(ф(п/2, и при этом угле сопротивления величину ф сдвига фаз между Р- и 8-компонентами. Заможцогти измерения величины зазора мень. ше длицы волны и повышение точности измерений. Освещают поверхности, между которыми измеряют зазор, пучком монохромати. ческого плосьополяризованного излучения, плоскость поляризации которого составляет угол и/4 с плоскостью падения. Изменяя угол падеьия и одновременно регистрируя сдвиг фаз между Р- и Ь-компонентами, определяют угол , при котором начкнает...

Номер патента: 1456776

Опубликовано: 07.02.1989

Авторы: Дадеко, Камелин, Паско, Резунков, Тетера

МПК: G01B 11/26

Метки: оптических

...участка на участок,расположенный ближе к центру, для вогнутой поверхности выполняются соотноЧ,ь (, 1 64Вычитая (4) из (3) с учетом (1) и (2), (6) и (7), получаем соотношения дпя определения радиуса кривизны оптической детали КХ -Х с 1 Як -с( = - = - =(Е -Г ) (8)К К 2 Л 1 3 1 К = (2 п - 1)ЙЧ(Я(Е -Е), (9) где й - расстояние между осями пучков падающего излучения.Для случая чисто клиноВидной оп тической детали, когда К- : Й -ф 3 = Ы - Ю 4 = Ор клинОВиДность детали -= У- Юг определяется из выражения Если контролируемая деталь непрозрачная, то радиус кривизны определяется соотношением (8). При контроле оптической детали, имевшей клинонидность (фиг.2, пунктир), при неизмененности углов Ы и с(г углы отражения первого ( Ц) и второго ()...

Номер патента: 1322088

Опубликовано: 07.07.1987

Авторы: Горбань, Паско, Резунков, Тетера, Ялинич

МПК: G01B 11/255

Метки: детали, кривизны, оптической, поверхности, радиуса

...положение 16 сферы радиуса К с центром вточке 0 и положение 17 той же сферыпри смещении на расстояние х. 0центр смещенной сферы, й - расстояние между осями 8 и 10 резонаторов.При смещении сферы на расстояние хвозникает оптическая разность хода Ь(показано для случая отражения отсферы). 45Из решения треугольников АСР иАО С можно получить 2 Е - - 14 х + Ьй(1)Ь51Учитывая, что реальная величина Ь соизмерима с Л, т.е. составляет доли и единицы микрометров, а величина х - единицы миллиметров, то с погрешностью менее 0,13 Й х К Ь Измерения производят следующим об 2После установки детали 11 в оезо- наторы, ее юстировкой добиваются наличия генерации в обоих резонаторах и устройством 15, в качестве которого можно использовать, например,...

Номер патента: 1315799

Опубликовано: 07.06.1987

Авторы: Волков, Горбань, Резунков, Скирда, Суббота-Мельник, Ткач

МПК: G01B 11/255

Метки: линейных, перемещений

...13, где излучение делят вторым светоделителем 10 попо лам, смещают разделенные пучки одинотносительно другого и световозвращают их уголковыми отражателями 11 и 12,Оптическая проекционная система 9 10осуществляет оптическую связь опорной площадки 7 с плоскостью изображения, в которой размещена диафрагма 14, Излучение, прошедшее интерферометр 13, формирует на щелевой диафрагме 14 два световых пятна, смещенных один относительно другого вдоль прямой, перпендикулярной щели диафрагмы, смещение 1 между которыми равно2 ОР - й /3где й - величина бокового сдвига винтерферометре между световозвращенными пучками;25- линейное увеличение оптической сопрягающей системы,Б поле переналажения световых пучков наблюдают интер 1 еренционные...

Номер патента: 1283221

Опубликовано: 15.01.1987

Авторы: Горбань, Друченко, Паско, Резунков, Тетера

МПК: C01B 11/24

Метки: детали, кривизны, оптической, поверхности, радиуса

...юстировкой контролируемой детали. На чертеже представлен частный случай, когда угол между осями резонаторов равен нулю, а контролируемая поверхность составляет с осями резонаторов угол, близкий к 90.Схема работает следующим образом.Если деталь 11 непрозрачна или имеет отражающее покрытие, то резонаторы состоят из измеряемой детали 11, активных элементов 5 и 6 и отражательных элементов 2 и 4, т.е. отражательные элементы 1 и 3 в данном случае в измерении не участвуют.Если деталь прозрачная плоскосферическая, то резонаторы вместо детали 1 содержат отражательные элементы 1 и 3.Выходное излучение с частотами Ч и Ч поступает в блок 12 регистрации. Один из резонаторов (нижний) снабжен устройством управления длиной резонатора, например, в...

Номер патента: 291168

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Винокуров, Окунев, Пасынкувг, Резунков, Чиркин

МПК: G01R 27/26

Метки: варисторов, коэффициента, нелинейности

...1 токового резистора и параллельно включенпых вольтметров; сопротивление 2 потерь схемы по постоянному току; сопротивление 3 по 5 терь схемы по переменному току; вольтметр 4переменного напряжения; вольтметры б и бпостоянного напряжения; амперметр 7 постоянного тока; источник 8 питания переменногонапряжения; источник 9 питания постоянного10 напряжения,Сущность предлагаемого способа заключается в следующем.Изменяют амплитуду переменного напряжения источника спнусоидального переменного15 напряжения в зависимости от величины постоянного напряжения на выходе регулируемого источника питания постоянного напряжения по определенному закону, вид которогозависит от элементов схемы реализующего20 устройства. В этом случае будет...