Способ определения наличия прозрачных кристаллических веществ

сОсОз сОБетскихсОцилнистическихРеспублик с 5 с 5 6 08 В 19/02 тЕГСТНО НИЕ ИЗОБРЕТЕМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ ледоваий инс 4) СПОСОБ ОРОЗРАЧНЫХЕСТВ7) Изобретение тической сигнаенено для об 1) 4651584/242) 21.02.89б) 30.08.93, Бюл. Мг 321) Государственный ссаучно-иссльский и проектно-конструкторсктут "Южциигипрогаз"2) А.А,Быков6) Заявка Канады М 572195, кл. В 64/02, 1977,РЕДЕЛЕНИЯ НАЛИЧИЯ РИСТАЛЛИЧЕСКИХ ВЕотносится к области автолизации и может быть принаружения прозрачных Изобретение относится к области автом тической сигнализации и может быть прим нено для обнаружения прозрачных к исталлических веществ, в частности олед нения различных обьектов, например газ перекачивающих агрегатов,Цель изобретения - повышение нздежнссти определения наличия прозрачных кристаллических веществ.Нз прилагаемом чертеже показана схем модели устройства для реализации предлагаемого способа.Устройство содержит установленные в светозащитном корпусе 1 источник снега 2 и оляризатор 3, контрольную поверхссость 4 контролируемым веществом 5, за котор й установлен фотодатчик б, размещенный п ред анализатором 7, после которого устан влен фотодатчик 8, причем анализатор 7 и отодатчик 8 размещены во втором свето.Ы 218373 кристаллических веществ, в частности обледенения различных обьектов, например газоперекачивающих агрегатов. Цель изобретения - повышение надежности определения наличия прозрачных кристаллических веществ, Поставленная цель достигается тем, что путем просвечивания контролируемого пространства световым потоком формируют поляризованный световой поток, измеряют амплитуды деполяризованного светового по 1 ока и светового потока, измеренного после поглощения кристаллическим вещест сом, преобразуют зти потоки в электрические сигнзлы и по соотношению амплитуд определяют нзличие кристаллического вещества. 1 ил.,1 табл. защитном корпусе 9. Поляризатор 3 и анализатор 7 устассовленьс тэк, чтобы происходило "гашение" луча, т,е, плоскости поляризации их взаимно перпендикулярны.Электрическая часть схемы представляет собой схему измеренс - и сравссения тока отфотодатчиков 6, 8. Резисторы 10, 11 преднэзссзчены для регулировки тока в цепи каждого из фотодзтчиков, Ток в цепи каждого фотодатчика измеряется микрозмперме Грами 12, 13. Питание схемы осущес гвляется от двух источников стабилизированного напряжения 14, 15, Результат срзвнсния измеряется микроамперметром 16.Пример осуществле сия способа Нз модели, описансгой выше, поочередно вводится контрольная поверхссгзсгь с исследуемым веществом 5 (стекла с загрязненссями в Виде ссылп, 1 сэслэ. Грязсс, сослоем льда и т.п.), и измеряются токи в цепях микроамперметров 12 и 13.При этом предварительно, по наиболеерассеивающему свет веществу(им оказалсяслой песка), при помощи переменных рези- Бсторов 10, 11 токи в цепях микроамперметров 12 и 13 подбираются так, чтобыизменения этих токов были одинаковы, а ихотношение, соответственно, было равноединице 10Результаты исследований приведены втаблице.Из данных, приведенных в таблице,видно, что предложенный способ позволяетконтролировать наличие кристаллического 15вещества - льда.Согласно закону сохранения энергииобщее количество света в системе неизменно и равно количеству света. излучаемомуисточником света. Увеличение рассеяния 20света средой приводит к уменьшению количества света, прошедшего через эту средуна величину рассеяния,Таким образом, определив на сколько 25 уменьшился световой поток после прохождения через среду, можно предположить, что эта часть светового потока либо полностью рассеялась, т.е, превратилась в деполяризованный свет, либо частично 30 рассеялась, э частично поглотилась и отразилась веществом.Отсюда следует, что если вещество только рассеивает свет, то отношение величины рассеянного света к разности между 35 начальным и прошедшим световым потоком при полном рассеянии будет равно единице, и будет меньше единицы, если часть этого света поглощена и отражена этим веществом,При прохождении через идеальное кристаллическое вещество имеет место не изменение направлений распространения светового потока (рассеяние), а изменение его плоскости поляризации, т,е. величина светового потока не изменяется, изменяется его плоскость поляризации, поэтому фотодатчик б, установленный после поляризатора 3 не зафиксирует этого изменения,Но после анализатора 7 величина светового потока за счет кристаллической структуры значительно увеличится.При прохождении света через реальное кристаллическое вещество его рассеивающие свойства скомпенсируются в измерительной схеме увеличением интенсивности деполяризованного за счет рассеяния света, а за счет кристаллической структуры вещества произойдет его дополнительное увеличение.Формула изобретения Способ определения наличия прозрачных кристаллических веществ путем просвечивания контролируемого пространства световымпотоком,отличающийся тем, что, с целью повышения надежности определения наличия прозрачных кристаллических.веществ, формируют поляризованный световой поток, измеряют амплитуды деполяризованного светового потока и светового потока, измеренного после поглощения кристаллическим веществом, преобразуют эти потоки в электрические сигналы и по соотношению амплитуд определяют наличие кристаллического вещества,% лЛЛцЪ с(Ъ цЪ Б С ЦЪ О ч чч ЮЙ сС ЦЪ Ц ООО Ц ЦЪ иЪ ЦЪ ЦЪ цЪО ЦСЪ ,РСц О сО иЪ цЪ 9 цЪ цЪ цЪ О ст цЪ ЦЪ ц) цЪ О О СО О) СЪ Ц) й ЦЪ ЦЪ ЦЪ О ЦЪ цЪ ЦЪ ОЪ ЦЪ О цЪ О О О О ОО О О О О О О О СфЪ СЪ СЪ Сф) СЪ СЪ СЪ СЪ СЪ СЪ СфЪ СЪ СЪ О СОЦЪ С 1 ЦЪ СЪ ЦЪ цЪОъОО) ОэЧ Оф СЧ цЪ Ц) 1 ЦЪ ЦЪ ЦЪ ЦЪ ЦЪ ЦЪ ЦЪ ЦЪ ЦЪ Ц) Е ЦЪ ЦЪ ЦЪ Ю (О Ю ЦЪ ЦЪ (О Ю ЦЪ (О ЦЪ О Ю СЪ с.О й фр с, щаа срсЗ2Е ммыс О фрр фклкк сССФ йЯФ щ Ф З, О д х О р31 2ооБсБМоо е ащаа.,С Х Б Е Б О О О ссс ОООцЪ цЪ С Оъ О - СЧ СЪ цЪ,О цЪО ЦЪ О О СЪ СЪ СЧ ЦЪ СЦЪГ СМ Р 4 ГБОС1837342 Составитель А. БыковТехред М.Моргентал Реда С. Кулакова е озориз Тиражвенного комитета по из 113035, Москва, Ж, Р зводственно-иэдате ий комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101 каз 2868 ПодписноеВНИИПИ Государст обретениям и открытиям при ГКНТ СССаушская наб., 4/5