Патенты с меткой «прозрачных»

Страница 7

Устройство для измерения поперечных размеров прозрачных и полупрозрачных нитевидных изделий

Загрузка...

Номер патента: 702800

Опубликовано: 15.06.1987

Автор: Осипов

МПК: G01B 11/10

Метки: нитевидных, полупрозрачных, поперечных, прозрачных, размеров

...тем, что устройство снабженозакрепленным в держателе"перпейдикулярно оптическойоси непрозрачным нитевидным теломмйнимальный размер которого ограни " чен погрешностью.измерения, а максимальный - .границей исчезновения дифракционной картины, направляющиедержателя выполнены сферическими.На фиг. 1 изображена принципиальная схема предлагаемого устройства;на фиг. 2 - схема расположения непрозрачного тела и измеряемого нитевидного изделия в сферических направляющих держателя.Предлагаемое устройство содержитисточник 1 монохроматического коге"рентного излучения, держатель 2,предназначенный для закрепления ни-тевидного изделия 3 и непрозрачногонитевидного тела 4 перпендикулярнооптйческой оси 0-0 с помощью сферических йаправляющих 5,...

Способ контроля качества оптически прозрачных пластин и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1320667

Опубликовано: 30.06.1987

Авторы: Ибраимов, Кринов, Олейников, Палант, Соболевская, Степнов, Херсонский

МПК: G01J 1/04, G01N 21/958, H01L 21/66 ...

Метки: качества, оптически, пластин, прозрачных

...фототока усиливается усилителем 12, логарифмируется и черезблок 14 управления поступает в блок15 памяти вычислительного прибора.Затем включается реле 5 и плоская диафрагма 3 заменяется объемной 4. Вэтом положении фотоприемником 2 регистрируется излучение, прошедшеесквозь образец 11 без изменения направления и вектора поляризацииЗарегистрированный сигнал логарифмируется и через блок 14 управления поступает на схему 16 вычитания. Одновременно на схему вычитания из блока 15 памяти поступает первый сигнал.По величине разности сигналов определяется разность линейных коэффициентов поглощения материала при первом и втором измерениях.В положении, показанном на чертеже, измеряется оптическое пропускание материала (измеряются...

Способ измерения коэффициента поглощения света в прозрачных твердых телах

Загрузка...

Номер патента: 1136605

Опубликовано: 23.08.1987

Авторы: Генкин, Демочко, Миллер, Соустов

МПК: G01N 21/59, G01N 29/00

Метки: коэффициента, поглощения, прозрачных, света, твердых, телах

...давления,ч - скорость звука в образце. С помощью диафрагмы и линз (на чертежене показаны) световой пучок лазера 1 формируют такой конфигурации, что егопоперечное сечение совпадает с сечением образца плоскостью, ортогональной к направлению распространенияпучка; при этом распределение интен"сивности в поперечном сечении пучка является гауссовым.Емкостный датчик 4 соединен с источником 5 постоянного напряжения и входным сопротивлением селективного усилителя б, выход которого соединенс измерителем 7, например осциллогС помощью емкостного датчика 4 полезные акустические колебания преобразуют в электрический сигнал, который имеет форму радиоимпульса с частотой заполнения Г. Ширина спектра этого импульса ЬЕ Е/Я определяется в основном...

Способ локационного измерения оптических параметров прозрачных сред

Загрузка...

Номер патента: 1341554

Опубликовано: 30.09.1987

Автор: Белинский

МПК: G01N 21/41

Метки: локационного, оптических, параметров, прозрачных, сред

...поток зондирующего излу 55 чения, с - скорость света, величины б (к), (7 ), Е(к) представляют собой профили соответствующих параметров вдоль трассы зондирования," С - время,переменная интегрирования, а г определяется из уравненияФ)г(С ) = Спг( С)(3)Если зондйрующий поток Р,(С) гармонически промодулирован и имеет амплитуду Р то поток принимаемого излучения также гармонически изменяется во времени с той же частотой и амплитудойо 8 ф(4) где А( а) - Фурье-образ функции А(С, ), а разность фаз между принимаемым и излучаемым потоками равна1 й) = АгамА(й, (5)т.е. аргументу комплексной функцииА(й) .Изменение частоты модуляции потокай производится при помощи управляющего модулятором 2 устройства 14 вводаплавных изменений частоты модуляции,сигнал...

Устройство для измерения толщины стенок прозрачных труб

Загрузка...

Номер патента: 1348639

Опубликовано: 30.10.1987

Авторы: Линденбург, Никонов, Хейфец

МПК: G01B 11/06

Метки: прозрачных, стенок, толщины, труб

...диафрагмы 7, установленной в его задней фокальной плоскости, цилиндрического объектива 8, создающего увеличение в направлении, параллельном щели 3, измерительной щели 9, развертывающего элемента 10, конденсора 11, фотоприемника 12 и блока 13 обработки информации.Устройство работает следующим образом.Приемный объектив 6 изображает стенку контролируемой трубы 5 в плоскости измерительной щели 9. В результате отражения света от наружной и внутренней поверхностей трубы 5 образуются два отраженных световых пучка, в плоскости щели 9 - два изображения щели 3, расстояние между которыми пропорционально толщине стенки трубы 5. Установленный за измерительной щелью 9 развертывающий элемент формирует два коротких световых импульса, временной интервал...

Способ определения распределения плотности прозрачных неоднородностей

Загрузка...

Номер патента: 1350564

Опубликовано: 07.11.1987

Авторы: Жигалко, Колышкина

МПК: G01N 21/45

Метки: неоднородностей, плотности, прозрачных, распределения

...интерференционных полос в ре гистрируемой картине: и , /зпып, (п, - регистрируемая частота интерференционных полос на изображении ударной волны; и- частота, равная разрешению прйбора).25 Размеры защитных стекол (фронтальных стенок) камеры для размещения исследуемой среды .выбраны такими, чтобы они не ограничивали опорный и 30 предметный пучки параллельных лучей, которые как и в дифракционном интерферометре примыкают друг к другу. Пучок монохроматических лучей, падающий на защитные стекла вне призмы, освещает рабочую камеру, в которой находятся исследуемый объект и эталонная среда - невозмущенный газ перед фронтом падающей ударной волны - лучами, параллельными главной оптической оси 40 интерферометра, а следовательно, образующей...

Способ определения ориентировки плоских неоднородностей показателя преломления в прозрачных монокристаллах

Загрузка...

Номер патента: 1361476

Опубликовано: 23.12.1987

Авторы: Кравцов, Скропышев, Соболев

МПК: G01N 21/45

Метки: монокристаллах, неоднородностей, ориентировки, плоских, показателя, преломления, прозрачных

...9 плавно поворачивают вокруг горизонтальной или вертикальной оси, наблюдая за детальностью и контрастностью дифракционной картины на экране 11.В положении, когда плоскости сви 30 леи совпадают с направлением луча,на экране появляется очень детальнаяи относительно контрастная дифракционная картина, на которой можно различить слои толщиной в десятые и сотые доли миллиметра, В этом положенииснимают отсчет с лимба, характеризующий поворот кристалла от ИП вокругсоответствующей оси. С учетом коэффициента преломления обыкновенного 35 40 луча измеренный угол поворота кристалла пересчитывают на угол поворота луча в кристалле, таким образом определяя одно направление (просвечивающего луча), которое лежит в плоскости оптических...

Устройство для измерения толщины оптически прозрачных пленок

Загрузка...

Номер патента: 1374043

Опубликовано: 15.02.1988

Автор: Седов

МПК: G01B 11/00

Метки: оптически, пленок, прозрачных, толщины

...зеркала.Конструктивно светоделитель 9 состоит из двух частей собственно светоделителя е нанесенным отражательнымпокрытием.и компенсатора, выполненныхв виде дисков. В качестве материала использован йодистый цезий (СэЮ), в качестве отражательного покрытия - германий (Ое).Сферическое вогнутое зеркало 11, закрепленное на подвижном штоке 12 в аэростатических направляющих 13 слуяит для изменения оптической разности двух интерферирующих волновых фронтов путем перемещения зеркала 11вдоль его оптической оси. Вогнутыесферические зеркала 10, 11 имеют одинаковые радиусы кривизны, Приемник 14 ИК-излучения служит для преобразования оптического излучения, полученного путем сложения в светоделителе 9 интерферирующих пучков, в электрический сигнал,...

Способ контроля оптически прозрачных диэлектрических объектов

Загрузка...

Номер патента: 1374119

Опубликовано: 15.02.1988

Авторы: Домород, Кожаринов, Храповицкий

МПК: G01N 27/62

Метки: диэлектрических, объектов, оптически, прозрачных

...размера дефекта 6 При прохождении через объект 1 с дефектом 6 (газовой полостью) излучения лазера 5 поглощается дефектом 6 (в зависимости от размеров по лости и начальной проводимости газа в ней), температура, давление и частота столкновений в полости повышаются, и в результате сложных и взаимосвязанных процессов передачи энер гии излучения слабоионизованному газу в полости степень ионизации и яркость свечения газа возрастают. После окончания лазерного импульса (или группы импульсов) светящийся РазРяд в полости дефекта 6 существует еще некоторое время, в течение которого его и можно зарегистрировать с помощьи ЭОП 7. Длительность времени лослесвечения зависит от параметров дефекта 6 и величины приложенного к электродам 2,3...

Оптический способ контроля диаметров прозрачных изделий

Загрузка...

Номер патента: 1375950

Опубликовано: 23.02.1988

Автор: Усик

МПК: G01B 11/08

Метки: диаметров, оптический, прозрачных

...диаметра вискозной сосисочной оболочки в процессе ее производства, и является усовершенствованием устройства по авт. св, В 1111026.Цель изобретения - повышение точ ности и увеличение чувствительности контроля диаметра вискозной сосисочной оболочки путем исключения ее взаимодействия с оптически прозрачной средой. 15На чертеже изображена принципиальная схема, поясняющая предлагаемый способ контроля диаметров прозрачных изделий.Схема содержит источник 1 светова го потока, например лазер, и экран 2.Способ контроля диаметров прозрачных изделий осуществляется следующим образом.От источника 1 светового потока 25 луч 3 проходит из оптически прозрачной несмачивающей среды 4 с показателем преломления и,через стенку вискозной сосисочной оболочки 5...

Способ оценки блеска прозрачных лаковых покрытий на древесине и древесных подложках

Загрузка...

Номер патента: 1383166

Опубликовано: 23.03.1988

Автор: Рыбин

МПК: G01N 21/55

Метки: блеска, древесине, древесных, лаковых, оценки, подложках, покрытий, прозрачных

...определения угла (Брюстера),под которым необходимо освещать контролируемую поверхность и фиксироватьвеличину отраженного света,. предварительно определяют показатель преломления лакового покрытия. Для этойцели используют иммерсионно-микроско. пический метод, который позволяетустановить показатель преломленияпрозрачного лакового покрытия в спектральной области видимого излучения,Для различных лаковых покрытий, определяя показатели преломления, .устанавливают в приборе угол, под ко- фторым осуществляют освещение поверхности и фиксирование отраженногосвета, Допускаемая погрешность приустановке углов падения и отраженияИсвета должна быть не более 3Для определения величины светового потока, отраженного от контролируемой поверхности, перед...

Устройство для обнаружения дефектов в прозрачных изделиях

Загрузка...

Номер патента: 1383170

Опубликовано: 23.03.1988

Авторы: Кенеман, Танчев

МПК: G01N 21/89

Метки: дефектов, изделиях, обнаружения, прозрачных

...попадая на фото- приемник 18. Сигнал с фотоприемника поступает на вход усилителя 20, с выхода которого поступает на видеомагнитофон 21. С второго выхода усилителя сигнал поступает на формирователь 22 строчных импульсов, где формируются прямоугольные импульсы, под-. считывается в соответствии с количеством волокон в держателях 11 и 15 и формируется строчный импульс развертки, который поступает на вход строчной синхронизации видеомагнитофона 21 и на формирователь 23 кадров, на второй вход которого поступает сигнал с фотоприемника 25 датчика скорости подачи контролируемого из 1383 170делия. Формирователь 23 кадров сравнивает количество строк в кадре с размером кадра и вырабатывает кадровый импульс для записи на видеомагнитофон 21.Кроме...

Способ измерения геометрических размеров прозрачных трубок

Загрузка...

Номер патента: 1384938

Опубликовано: 30.03.1988

Авторы: Бондарев, Васьков, Дракунов, Кафыров, Костылева, Тимохин

МПК: G01B 11/02

Метки: геометрических, прозрачных, размеров, трубок

...Техред И. Верес Корректор А. Обручар Заказ 1 19/36 Тираж 680 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж - 35, Раушская наб., д. 4/5 Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул, Проектная, 4Изобретение относится к измерительной технике и предназ 11 ачено для измерения прозрачных трубок.Цель изобретения - повышение информативности. 5На чертеже изображена оптическая схема устройства, реализующего способ. Устройство, реализующее способ, содержит диафрагму 1 с непрозрачной шторкой 2, экран 3 и контролируемую трубку 4,Способ осуществляют следующим образом.Ширина пучка света, образуемая диафраг мой 1, больше внешнего диаметра трубки 4, поэтому на экране 3 всегда...

Устройство для определения дефектов в прозрачных полимерных пленках

Загрузка...

Номер патента: 1385038

Опубликовано: 30.03.1988

Авторы: Госьков, Губанов, Дьяченко, Михайлов, Михайлова, Рязанцев, Тараканов

МПК: G01N 21/41

Метки: дефектов, пленках, полимерных, прозрачных

...16средние и большие дефекты, компаратор 17 - малые и большие. Сигнал свыхода компараторов поступает на входарифметико-логического устройства18, где осуществляется сортировка ицифровая обработка сигнала и с помощью знаковых индикаторов 19, 20, 21высвечивается количество дефектовбольших, средних и малых за время контроля пленки,Устройство (фиг.2) содержит гелийнеоновый лазер 1, пластинку Д/4 22,полупрозрачное зеркало 23, Фотоприемник 24 опорного канала, фокусирующую линзу 2, сканирующее устройство 3, фотоприемники б дополнительного канала, собирающую линзу 5, ножФуко 7, цилиндрическую линзу 25, фотоприемник 8 основного канала, программируемый усилитель 9 основногоканала, программируемый усилитель 10дополнительного канала, усилитель...

Фотометрический способ определения высоты шероховатостей поверхности оптически прозрачных плоских деталей

Загрузка...

Номер патента: 1397727

Опубликовано: 23.05.1988

Авторы: Афанасьева, Матшина, Мухамедов, Несмелов

МПК: G01B 11/30

Метки: высоты, оптически, плоских, поверхности, прозрачных, фотометрический, шероховатостей

...к поверхности 7 образца 8, 1установленного за отверстием 4 так, что диффузно отраженное от поверхности 7 излучение без потерь попадает в фотометрический шар 2, Зеркально отраженная часть потока через отверстие 3 отводится в пространство вне Фотометрического шара 2, Диффузно отраженное от поверхности 7 излучение попадает в фотометрический шар 2, где оно интегрируется и создает на приемной поверхности фотоприемника 6 через отверстие 5 освещенность, пропорциональную коэффициенту , диффузно отраженного от поверхности 7 излучения, Затем образец 8 переворачивают и аналогично определяют коэффициентдиффузно отраженного излучения от поверхности 9.Далее образец 8 помещают между источником 1 излучения и отверстием 3 параллельно...

Способ изготовления пакетов из прозрачных полимерных пленок и этикетирования их

Загрузка...

Номер патента: 1406051

Опубликовано: 30.06.1988

Автор: Ходор

МПК: B65C 9/08

Метки: пакетов, пленок, полимерных, прозрачных, этикетирования

...а верхний являетсядном последующего пакета,В рукав 2 с образованным поперечным швом вносят дозу продуктов, которой соответствует помещенная в припуске 3 этикетка б.За время внесения всей дозы рукав 2 перемещается на заданную длину пакета. В случае образования пакета издвух полотнищ пленки образуют дополнительный соединительный продольныйшов 9 для крепления полотнищ,В припуске 3 могут быть образованы отверстия для улучшения условийтранспортировки,10 Формула изобретения1. Способ изготовления пакетовиз прозрачных полимерных пленок иэтикетирования их, заключающийся в15 формировании рукава, образованиисоединительного продольного шва, вложения этикетки и разделении рукавана пакеты, о т л и ч а ю щ и й с ятем, что, с целью снижения...

Устройство для измерения клиновидности оптических прозрачных пластин

Загрузка...

Номер патента: 1425441

Опубликовано: 23.09.1988

Автор: Елисеев

МПК: G01B 11/26

Метки: клиновидности, оптических, пластин, прозрачных

...пути светового потока, от.раженного от первого светоделителя 3.Третье отклоняющее зеркало 10 установлено под прямым углом к второмуотклоняющему зеркалу 8. Второй снетоделитель 9 размещен между вторым 8й третьим 10 отклоняющими зеркаламиВ плоскости симметрии прямого угла,Образуемого этими зеркалами. ПлосКость симметрии прямого угла, нКоторой размещен светоделитель 9,перпендикулярна плоскости экрана 7.Ребро прямого угла, образованногозеркалами Я и 10, ориентировано под 40углом к плоскости экрана 7. В устройстне этот угол равен 45,Устройство работает следующимобразом,Пучок света источника 1 с помощью фокусирующей системы 2 концентрируется в точку. Далее в ниде расходящегося пучка свет лазера проходит через светоделитель 3 и падаетна...

Устройство для проверки прозрачных стеклянных изделий

Загрузка...

Номер патента: 1433426

Опубликовано: 23.10.1988

Автор: Роберт

МПК: G01N 21/90

Метки: проверки, прозрачных, стеклянных

...изображения данного дефекта зависит от относительного расположения 26 6точки С и края маски 6 так, что четкость и яркость изображения дефектаоказываются в зависимости от поперечного положения дефекта в поле зрениякамеры и от расстояния объекта отмаски. Таким образом, даже умеренныйпреломляющий дефект, находящийся вданной части поля зрения, может вызвать ослабление проходящего черезнего света, одинаковое с ослаблениемсвета, проходящего через более крупный преломляющий дефект, но расположенный в другой части поля зрения, аэто означает, что система представляет собой пространственно-вариантнуюсистему.Указанные ограничения можно обойти, если кажущееся пропускание светав точке С зави"ит только от угла О.,на который в результате...

Способ измерения скорости движения рассеивающих объектов в прозрачных средах

Загрузка...

Номер патента: 1435942

Опубликовано: 07.11.1988

Авторы: Белинский, Розанов, Телегин, Чиркин

МПК: G01C 13/00

Метки: движения, объектов, прозрачных, рассеивающих, скорости, средах

...8, поступает на приемную систему 5-6-7, Корреляционная Функция Фототока на выходе ФЭУ определяется рассеянием излучения на движущихся частицах и может быть представлена в виде К(оО = 2 аЛ(4 Л - 4О с 1 сИехр хх -(Пс О (410 - % О /8 аЛ соз(1)где 9 - длина волны лазерного излучения,а - размер лазерного пучка,П - скорость объектов,Я - среднее число рассеивающихобъектов, проходящих черезобласть, из которой принимается рассеянное излучение,(1 с - средний квадрат амплитудыфототока, возникающего прирассеянии от одного объекта,Л - калибровочный коэффициент,определяемый простраИственной структурой сформированного пучка.Корреляционной Функции (1 О соответствует гауссовская Форма спектраЯЯО = (2 аЛОй(4 р О" ( у)яехр(я -,)1(Ь 1)11,...

Устройство для автоматического регулирования размеров и соотношения размеров частиц в оптически прозрачных средах

Загрузка...

Номер патента: 1437840

Опубликовано: 15.11.1988

Авторы: Запольский, Образцов, Соломенцева, Теселкин

МПК: G05D 11/00, G05D 21/00, G05D 27/00 ...

Метки: оптически, прозрачных, размеров, соотношения, средах, частиц

...имеетболее резкую зависимость 1 "Й (прибрелеевском распределении). Поэтомуиспользование зависимости рассеянного света от размеров частиц позволяетзначительно повысить чувствительность измерений,Известны также методы регистрациисветовых потоков, рассеянных только вперед или только назад. Согласно известным формулам для угловой зависимости интенсивности рассеяния крупныеЯчастицы размером гв , в ,. рассеивают2 цвперед (О ( 690 ), где г, - радиус частицы, Л - длина волны излучения, Й, - угол рассеяния. Более мелЛ кие частицы размером г, рассеива 25ют на большие углы, в том числе и назад(180 ъ, О ). Поэтому использованиеэтих явлений, основанное на сравнениидвух. потоков, позволяет выделить сигнал, зависящий как от размеров частиц, так и...

Способ измерения показателя преломления прозрачных стержней

Загрузка...

Номер патента: 1441278

Опубликовано: 30.11.1988

Авторы: Гришко, Паламарчук, Хомук

МПК: G01N 21/41

Метки: показателя, преломления, прозрачных, стержней

...соединяющей точки выхода и вхеда измерения в цилиндр и его радиусами, проходящими через эти точки, 25Угол 1, образован направлением луча, выходящего из цилиндра паральлельно линии регистрации, и перпендикуляром к поверхности цилиндра, проходящим через его центр. Этот угол связан с координатой Х, соответствующей удалению места выхода элементарного луча от линии регистрации, соотношением из треугольника АОВ (фиг, 4): где, К - радиус окружности цилиндра.Углы (, и о равны между собой, как углы при основании равнобедренного треугольника. Угол Ы образован направлением луча, входящего в цилиндр и направлением радиуса циФ45 линдра, проходящего через точку вхо" да луча в него.Углы ., и 1 также равны междузсобой, так как связаны с углами...

Устройство для контроля жидкости в прозрачных ампулах

Загрузка...

Номер патента: 1453262

Опубликовано: 23.01.1989

Авторы: Викторов, Лапшов, Филипин

МПК: G01N 21/17

Метки: ампулах, жидкости, прозрачных

...с 4 О тор 70, шестерни 71 и 72 привода для кулачком 61 привода для перемещения перемещения ампул приводят во вращесосудов. Центральная ось 62 рыча ние вал 73, при этом электромагнитга 60 установлена в кронштейнах 63, ная полумуфта 75 через полумуфту 78 укрепленных на станине . Рычаг 60 приводит во вращение втулку 77, а подпружинен пружиной 64 для обеспе через нее и кулачок 81, который эасчения постоянного контакта ролика тавляет перемещаться через ролик 47 рычага 60 с кулачком 61В централь- вверх рычаг 46 и приводит во враще" ном проходе между планками 50 и 51 ние шестерню 42 узла 39 удвоения установлены вертикальные направляю- хода. При перемещении шестерни 42 по щие 65 со стороны прохода годных 50 зубчатой рейке 41...

Способ изучения прозрачных шлифов горных пород

Загрузка...

Номер патента: 1453263

Опубликовано: 23.01.1989

Автор: Офман

МПК: G01N 21/25

Метки: горных, изучения, пород, прозрачных, шлифов

...при изучениидеталей строения шлифа - форменныхкомпонентов и текстур,Способ позволяет детально исследовать структуру и текстуру породы,выявлять и определять остатки древней Фауны и флоры, минеральные элементы породы, поры и трещины. Формула изобретения Способ изучения прозрачных шлифов горных пород под микроскопом, при осуществлении которого шлиф облу чают светом от двух источников, при этом свет от одного из источников пропускают через образец, а свет дру. гого источника отражают от образца, отличающийся, тем, что, с целью повышения информативности о структуре и текстуре породы, свет, пропускаемый через образец, предварительно пропускают через светоФильтр, область пропускания которого дополнительна к цвету шлифа. ставитель...

Фотоэлектрический способ измерения двупреломления в оптически прозрачных материалах

Загрузка...

Номер патента: 1469390

Опубликовано: 30.03.1989

Автор: Чудаков

МПК: G01N 21/23

Метки: двупреломления, материалах, оптически, прозрачных, фотоэлектрический

...преобразует линейно поляризованныйсвет в эллиптически поляризованный.После прохождения исследуемого объекта 5 в случае его оптической анизотропии изменяется эксцентриситет 25и азимут осей эллипса поляризацйи,Анализатор 6 вращается с постояннойскоростью, вследствие чего интенсив"ность излучения содержит постояннуюи переменную составляющую, изменяющую-ЗОся с частотой, равной удвоенной частоте вращения анализатора,Селективная измерительная система 8 регистрирует только переменнуюсоставляющую сигнала с фотоприемника 7. Компенсатор 4 перестраиваюттаким, образом, чтобы разность ходамежду компонентави излучения сталатакой, что амплитуда переменной составляющей, регистрируемой иэмери Отельной системой 8, стала равной нулю.Разность фаз о и...

Интерференционный способ определения толщины плоскопараллельных объектов из оптически прозрачных материалов

Загрузка...

Номер патента: 1474456

Опубликовано: 23.04.1989

Авторы: Москалев, Смирнова

МПК: G01B 11/06

Метки: интерференционный, объектов, оптически, плоскопараллельных, прозрачных, толщины

...с помощью, например, интерферометра пос.ледовательного типа и спектрографа,Способ осуществляют следующимобразом.Освещают объект параллельным пучком белого света нормально к его поверхности, направляют отраженные от его поверхности лучи в спектральный прибор, регистрируют интерференционную картину, измеряют число полос в ней между двумя длинами волн, помещают объект в измерительный канал интерферометра, направляют интерферирующие лучи в спектральный прибор, регистрируют интерференционную картину, измеряют число полос между теми же длинами волн, что и в первой картине и определяют толщину й объекта по формулеЬ 1 с - Ыс)% а) 2 Ь-,) где йЕ - число полос между двумядлинами волн Эи 3 впервой интерференционнойкартине;- число полос между...

Способ фотоабсорбционной сепарации прозрачных минералов

Загрузка...

Номер патента: 1502140

Опубликовано: 23.08.1989

Авторы: Балаганский, Горелик, Завражный, Кожевников, Платонов, Поваринцев, Яхин

МПК: B07C 5/342

Метки: минералов, прозрачных, сепарации, фотоабсорбционной

...в виде математического выражения О 6пятен по элементам фотомдтрип, 1 гч 1 чемчем прозрачнее минердл, тсм вьппе скорость движения его световых пятен поэлементам фотоматриц, и соответственно больше амплитуда сигналов.Сз, которые собственно являются производными от сигналов С ,Ю. Ус Е Е Втанавливают порог дискриминации сиг 3налов 1,.1 с помощью задатчиков16. Если амплитуда какого-либо сигна-ла Ц 0. ,11 больше заданногоуровня, то такой сигнал проходит через свое сравнивающее устройство14-1, 14-2,14-п и открывает свойключ 15-1,15-2,15-п. Таким образом, за все время днализа куска,сумматор 9 суммирует амплитуды электрических сигналов, пропорциональных только тем световым потокам,которые прошли через прозрачные минералы.Уровень амплитуды...

Способ измерения толщины стенки прозрачных труб и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1522029

Опубликовано: 15.11.1989

Авторы: Евсеенко, Медник, Попов

МПК: G01B 11/08

Метки: прозрачных, стенки, толщины, труб

...5. Благодаря такой схеме при смещениях трубы относительно оптической .системы на величину й на Фотоприемник всегда попадают лучи,отраженные от одних и тех же участковтрубы, в данном случае от ее вершины (точка В). При этом расстояние между изображениями световых лучей, отраженных от наружной и внутренней поверхностей стенки трубы, остается неизменным, а значит не изменяется( и .со и- вп О,в и результат измерения толщины стенки трубы.Расстояние й между осями световых пучков в плоскости фотоприемника 5 связано с толщиной стенки трубы и уг 5 лом падения освещающего пучка зависимостью где 8 - толщина стенки трубы; 7 - коэффициент увеличения оптической системы; ваапнаправлением распространенияпереломленного луча и плос-.костью...

Способ измерения геометрических размеров прозрачных труб и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1523917

Опубликовано: 23.11.1989

Авторы: Гришко, Хомук

МПК: G01B 21/00

Метки: геометрических, прозрачных, размеров, труб

...ослабит елей , когда предельные углы + 9 ,входа лучей в трубу 3 0 велики , вс елучи приходят к фотоприемнику 6 б е з55ограничений и на его выходе получаютсигнал Б соответствующий равномернойосвещенностиПо мере движения осла 17 6бителей 3 и 4, приводящего к уменьшению предельных углов входа в трубу 30 лучей, выходящих параллельно линии регистрации, происходит ограничение ввода части лучей, углы входа которых превышают предельные. Отсутствие ограниченных лучей обусловливает появление темных полос на изображении трубы. При положениях ослабителей, определяющих предельные углы входа +6 лучей в трубу 30, образуются две темйые полосы на иэображении, что соответствует сигналу У на выходе фотоприемника 6, при предельных углах входаЦ...

Фотоэлектрическое устройство для измерения геометрических параметров прозрачных труб в процессе их вытягивания

Загрузка...

Номер патента: 1534301

Опубликовано: 07.01.1990

Авторы: Голубовский, Маслюков

МПК: G01B 11/10

Метки: вытягивания, геометрических, параметров, прозрачных, процессе, труб, фотоэлектрическое

...оси, перпендикулярной плоскостипадения. Она малочувствительна, к смешениям)убы пара)лельзо своей оси. 2 С ) 5 30 40 50 Цилиндрические линзы 8, 8 и оптически сопрягают входнь)е зрачки объективов 7, 7 с фоточувствительными поверхностями фотоприемников и уменьшают длину светя- шихся дуг. Коэффициент уменьшения выбирается таким, чтобы в плоскости фотоприемника размеры светящихся дуг по их длине и размер фоточувствительной части фотоприемников ло ширине были сравнимы. В результате этого достигается пространственная неподвижность светящихся дуг относительно фотоприемников при смешении трубы в направлении, перпендикулярном плоскости падения, и происходит усреднение выходного сигнала фотоприемников по длине дуг. Фотоэлектрическое устройство для...