Патенты с меткой «полупрозрачных»

Номер патента: 36342

Опубликовано: 31.05.1934

Авторы: Векшинский, Иванов, Израэлит

МПК: H01J 1/62

Метки: катодных, люминесцирующих, особенно, полупрозрачных, трубок, экранов

...люминисцирующих порошков слоями любой толщины и, следовательно, любой степени прозрачности.Экраны, изготовленные по этому способу, обладают большой механическойпрочностью, не гигроскопичны, поддаются легко обезгаживанию и высокомвакууме и имеют предельную световуюотдачу.Сущность способа заключается в том,что мелко измельченное люминисцирующее вещество, подлежащее нанесениюна экран, смешивается с мелко измельченным вспомогательным веществом,химически не действующим на первоеи обладающим легкой возгоняемостью при нагревании до не слишком высокой температуры. В качестветакого вспомогательного вещества могут быть выбраны как химические соединения, улетучивающиеся без разложения (напр., хлорная ртуть, иод и камфара), так и вещества,...

Номер патента: 60830

Опубликовано: 01.01.1942

Автор: Батищева

МПК: C09D 127/00

Метки: защитных, зеркалах, наружным, непрозрачных, отражающим, покрытий, полупрозрачных, слоем

...оптических деталей могут быть покрыты лаком р ными способами, например, путем опускания поверхности в лак, вания или опрыскиван 11 я ее лаком и т. и.Толщина пленки покрытия может быть подобрана желаемая путем изменения содержания растворителя в лаке. Слой толщиною в один микрон уже достаточно прочен.Покрытые лаком детали помещают в пространство, содержащее пары растворителя винилитового лака, например, ацетона, амилацетата и т. п., в котором их выдерживают 40 - 60 мси, после чего выдерживают детали на воздухе в течение 5 - 6 час. После этого покрытые лаком детали поме 1 цают в термостат и выдерживают их в нем в течение 6 - 7 час при температуре полимиризации 120 - 170. На этом обработка покрытия кончается.Такое покрытие обладает...

Номер патента: 66683

Опубликовано: 01.01.1946

Авторы: Езриелев, Файнштейн

МПК: C08F 120/14, C08F 2/02

Метки: непрозрачных, основе, пластмасс, полиметилметакрилата, полупрозрачных

...при быстро враща сяке и температуре 75 - 80 в течение 2 - 3 час.По окончании процесса полимеризации полимер в виде мелкого порошка отфильтровывается, промывается водой и высушивается при 60 - 70.Изделия, полученные из данного полимера, просвечиваются и окрашены в белый цвет.П р и мер 2. В 100 г метилметакрилата растворяют 2 г полисти-. рола, 1 г перекиси бензола, добавляют 10 г дибутилфталата, содержащего 0,001 - 0,005 г диметиламидоазобензола, в зависимости от: .с паемого оттенка, и 500 г воды, содержащей 3 г полимстакриловой кислоты.Полимеризапию осуществляют как указано в примере 1.Изделия, полученные пз данного полимера, имеют впд сл кости.ЬЪ 66683 о Предмет изобретения Способ получения полупрозрачных и непрозрачных...

Номер патента: 66697

Опубликовано: 01.01.1946

Автор: Фридлянд

МПК: C03C 17/09, C03C 17/27, C23C 14/58 ...

Метки: алюминированных, зеркал, полупрозрачных

...любым заданньм коэфициентом пропускаОбщеизвестным способом испарения алюминия в вакууме изготовляют непрозрачные или малопрозрачные зеркала, Затем оксидированием на аноде в электролитическсй ванне ча"ть алюминия на зеркале переводится в прозрачную окись и зеркало становится более прозрачным.Алюминий, перешедший в окись, служит защитной пленкой для зеркала. Толщина и механическая поочность защитной пленки зависят от напряжения на электродах электролитической ванны во время окисления зеркала. Экспериментально установлено. что минимальное напряжение. которое требуется для получения полупрозрачных зеркал с достаточно прочной пленкой, равно 10 вольтам,Зеркала, окисленные при напряжении свыше 10 вольт, устойчивы по отношению к спирту, эфирам...

Номер патента: 87676

Опубликовано: 01.01.1950

Авторы: Рождественский, Щукин

МПК: C03C 17/06, G02B 1/10

Метки: деталях, оптических, полупрозрачных, серебряных, слоев

...графика зависимость отражения Я от пропускания Т. Эта зависимость характеризуется очень большим поглощением в области пропускания от 40 до 70%.Такая зависимость получается при длительности испарения для рассматриваемой области Т и И всего лишь в 20 сек, что краине затрудняст дозировку толщины слоя в процессе испарения. При замедленных темпах испарения, позволяющих получить Я и Т с большей точностью, область с большими потерями увеличивается от Т = 30 о до Т = 70%, и характеристика принимает вид, изображенныи на кривой 1. Это объясняется тем, что серебро в тонких слоях имеет коллоидальную структуру и лишь в толстых слоях с Т порядка 30 - 40% приобретает свойства, характерные для металлов.Предлагаемый способ позволяет расширить...

Номер патента: 108423

Опубликовано: 01.01.1957

Автор: Берковский

МПК: H01J 40/16

Метки: вывод, катодов, полупрозрачных, умножителей, фотоэлектронных

...осуществляется тонкой спиральной пружиной, навитой из вольфрамовой неотожяенной проволоки диаметром 0,2 мм, внутренний диаметр которой 1,0 лм, длина 15 - 20 мл. Один конец этой,пружины соединяется с выводом катода, а второй ее конец несколько растягивается (на 10 - 15 л,и) и приваривается к соответствующему выводу ножки. Внутрь пружины вставляется керн, изготовленный из отрезка никелевой проволоки диаметром 1 ми (см. чертея). После всех этих операций ножка вставляется в баллон и заваривается. Далее выполняются все последующие операции технологического цикла. Керн необходим для устранения возникновения нежелательных вибраций пружины при работе фотоэлектронного умнояителя, когда последний испытывает тряску или другую...

Номер патента: 141656

Опубликовано: 01.01.1961

Авторы: Марченко, Целищев, Чуриловский

МПК: G01B 9/00

Метки: микронных, наличия, оптико-электронная, отверстий, пленках, плотных, полупрозрачных

...источника света из точки О, расположенной в плоскости 5, переносится в точку О в которой расположен входной зрачок приемной части установки - апертурная диафрагма 9. Над осветителем находится стол 10 с щелевой прорезью, закрытой защитным плоскопараллельным стеклом 11,Апертурная диафрагма 9 расположена в фокальной плоскости объектива, благодаря чему создается телецентрический ход лучей,141656значительно улучшающий условия работы развертывающего устройства, выполненного в виде вращающейся многогранной призмы 12.В плоскости Я сопряженной с плоскостью контролируемого изделия 14, располагается диафрагма с прямоугольным отверстием, за которой распо,хожена конденсорная линза 15, проектирующая изображение на катод фотоумножителя 16. Призма 12...

Номер патента: 217678

Опубликовано: 01.01.1968

Авторы: Вайсман, Зальцман, Зингман, Кундзич, Украинский, Яковенко

МПК: G01N 21/89

Метки: неравномерности, полупрозрачных, прозрачных, просвета

...12,С помощью системы конденсор - объектив на образце бумаги проектируется световое пятно с равномерной освещенкостью. Апертурными диафрагмами 5 можно регулировать количество света, поступающего на образец бумаги, а также выравнивать фототоки обоих плеч системы. Микрообъективы 8 проектируют с определенным увеличением освещенные участки бумаги,в плоскость диафрагм поля зрения 9, Изменяя действующее отверстие диафрагмы 9, можно изменять величину одновременно просматриваемого участка бумаги в зависимости от типа контролируемой бумаги,Измерение неравномерности просвета бумаги производят следующим образом,Испытуемый образец устанавливают в. барабан 12, включается источник света, световой поток которого через конденсоры, призмы, диафрагмы,...

Номер патента: 264158

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Вайсман, Зальцман, Украинский, Финкельштейн

МПК: G01N 21/21, G01N 33/34

Метки: волокон, материалах, ориентации, оценки, полупрозрачных, прозрачных, степени

...свойств материалов.Цель изобретения - повысить точность и упростить процесс измерения.По предложенному способу образец бумаги помещают в скрещенную систему поляризатор в анализат, поворачивая образец вокруг оптической оси, измеряют интенсивность света, прошедшего сквозь эту оистему, и вычисляют отношение максимального и минимального результатов измерения.Способ осуществляется следующим образом.Образец бумаги помещают в скрещенную систему поляризатор - анализатор, пропускают через эту систему свет, количество прошедшего света зависит, в частности, от того, как волокна располагаются относительно плоскости поляризации света. В бумаге, как правило, существует преимущественная ориентация волокон в машинном направлении. Поэтому максимум...

Номер патента: 319886

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Мен, Сергеев

МПК: G01N 25/18

Метки: истинного, коэффициента, полупрозрачных, теплопроводности

...чалой, н ности ко либо по ием. По агают атурные разце. С разцы у и холоди Для разца поверх зивом 25 покрыт распол темпер дом об гим об 30 тел емс присоединением заявки-Приоритет СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕН ЕПЛОПРОВОДНОСТИ Изобретение относится к теплофизическим измерениям.Известно, что истинную теплопроводность Л полупрозрачных материалов, т. е. веществ, пропускающих и поглощающих радиацию, при средних и высоких температурах определяют путем исключения из эффективной теплопроводности л,ф, полученной в эксперименте, лучистой теплопроводности Х:вычисляемой по формуле Росселанда или Польца. Интегральный коэффициент поглощения й находят на основе другого эксперимента, в котором измеряют спектральный коэффициент поглощения для ряда длин волн и затем...

Номер патента: 544894

Опубликовано: 30.01.1977

Авторы: Буачидзе, Маршания, Татарашвили

МПК: G01N 25/18

Метки: веществ, дифферециальный, полупрозрачных, теплопроизводности

...полупрозрачного вещества (т) определяют лучистую - составляющую теплопроводности.В качестве эталонной среды по оптическому свойству со 100 сс-ным пропусканием тепловых лучей выбирается вакуум не менее 5 10 мм рт, ст. Кроме того, в качестве этаЗо лонной среды по оптическому свойству со544894 Формула изобретения Составители В. Гусева Ре дактор Е, Караулова Тсхрсд Е. Петрова Корректоры: Л. Котова и Т, ДобровольскаиЗаказ 122/6 Изд.134 Тираж 899 Подписное Ц 1.1 ИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР но делам изобретений и открытий 113035. Москва, К.ЗВ, Рачиская паб, д 418Типография, нр. Сапунова, 2 3100% -ным пропусканием тепловых лучей выбирается диатермический газ, пли азот, или кислород, или водород.Способ заключается в...

Номер патента: 587344

Опубликовано: 05.01.1978

Авторы: Горшенев, Падерин

МПК: G01J 5/32

Метки: отражательной, поглощательной, полупрозрачных, пропускательной, способности

...излучения и регистрирующий прибор. В этом устройстве излучение от источника проходит через исследуемый материали эталон, например воздух, и по этнэщениюинтенсивностей двух проходящих лучистыхпотоков определяется прнпускательная спас.обность образца1.Недостатки устройства сэстэят в том,чт.о для определения пропускательной способности необходимо иметь данные этражательной способности образцов и, кроче тогоне учитывается собственное излучениеобразцов,Наиболее блиэкляется устройствокательной, поглощспособности 2 ,лучения, датчики(088.8) описания 11.01,78 2ющий прибор и нагревательный элемент,предназначенный также для крепления исследуемого образца. С помощью этого устройства проводят последовательно четыре измерения...

Номер патента: 765672

Опубликовано: 23.09.1980

Авторы: Белевич, Вдовин, Евтехов, Менчев, Островский

МПК: G01J 5/12

Метки: индикатрисс, коэффициента, отражения, полупрозрачных, спектрального

...устанавливается каретка 3, имеющая возвратно-поступательное движение. На каретке 3 кре.пится прямоугольный замкнутый водоохлаждаеьый экран 4, внутри которогонаходится нагреватель 5 с отверстиемпод образец 6. Для удобства эксплуатации, т.е. смены образца или нагревателя, водоохлаждаемый экран 4 выполнен из двух частей, входящих однав другую (см. Фиг. 2). На одной .половине водоохлаждаемого экрана (см.фиг. 3) в верхней центральной частичерез изоляторы 7 крепится нагреватель 5 с токоподводами 8, а сбоку -эталон сравнения 9. Эталон 9 и образец6 находятся на одной оси и поочередноЗ 5с помощью каретки 3, устанавливаютсяна оптической оси перед выходным окном вакуумной камеры 1.Для обеспечения воэможности снятияиндикатрисс отражения от образца...

Номер патента: 956975

Опубликовано: 07.09.1982

Автор: Курбатов

МПК: G01B 9/02

Метки: объектов, полупрозрачных, толщины

...чертеже приведена схема устройства для контроля толщины полупрозрачных объектов. Устройство содержит источник 1 излучения, которыйустановлен перед зеркалом 2 с приводом 3, Объектив 4 установлен наФокусном расстоянии от зеркала 2перед диафрагмой 5 с приводом б.Объект 7 устанавливается эа диафрагЗ 0 мой 5 и зеркалом 8, эа которым в956975 диафрагмы, добиваются одинаковых показаний.Таким образом, снабжение устройства зеркалом, установленным с возможностью вращения, его размещение в 5 определенном месте и конкретное выполнение диафрагмы позволяет повысить точность контроля толщин. Формула изобретения фокусе объектива установлен приемник излучения, например фотоприемник 9У соединенный с входом счетчика 10 импульсов.Устройство работает...

Номер патента: 1188538

Опубликовано: 30.10.1985

Авторы: Вайнблат, Ершов

МПК: G01B 21/02

Метки: линейных, полупрозрачных, прозрачных, размеров, тел

...1 О 1 20 Ъ 5 динен с третьим входом логическогоблока 25, выход генератора 18 импульсов соединен с четвертым входоми через схему 19 удвоения частотыс пятым входом логического блока 25,выход которого соединен со счетнымвходом счетчика 26, выход счетчикаявляется выходом у-тройства, причемвходы логической схемы ИЛИ 24 соединены с выходами логических схемИ 2 1-23 первый вход логическойсхемы И 21 соединен с первым входомлогической схемы И 22 и являетсяпервым входом логического блока 25,первый вход логической схемы И 23соединен с вторым входом логическойсхемы И 22 и является вторым входомлогического блока 25, второй и третий входы логической схемы И 21 соединены соответственно с вторым итретьим входами логической схемыИ 23 и являются третьим и...

Номер патента: 702800

Опубликовано: 15.06.1987

Автор: Осипов

МПК: G01B 11/10

Метки: нитевидных, полупрозрачных, поперечных, прозрачных, размеров

...тем, что устройство снабженозакрепленным в держателе"перпейдикулярно оптическойоси непрозрачным нитевидным теломмйнимальный размер которого ограни " чен погрешностью.измерения, а максимальный - .границей исчезновения дифракционной картины, направляющиедержателя выполнены сферическими.На фиг. 1 изображена принципиальная схема предлагаемого устройства;на фиг. 2 - схема расположения непрозрачного тела и измеряемого нитевидного изделия в сферических направляющих держателя.Предлагаемое устройство содержитисточник 1 монохроматического коге"рентного излучения, держатель 2,предназначенный для закрепления ни-тевидного изделия 3 и непрозрачногонитевидного тела 4 перпендикулярнооптйческой оси 0-0 с помощью сферических йаправляющих 5,...

Номер патента: 1408246

Опубликовано: 07.07.1988

Автор: Холопов

МПК: G01J 5/50

Метки: излучения, ик-области, коэффициентов, отражения, полупрозрачных, пропускания, спектра

...стенки камеры 1, для этого зеркало 9 устанавливают вположение, показанное на фиг. 1 штрихами,образец 5 вводят между черными телами (положение черных тел 3 и 4 любое) и фиксируют величину сигнала по отсчетному устройству 2.Выводят образец 5 из объема между чер 0 ными телами и измеряют яркость 1 образца на фоне стенки камеры. После этогочерные тела 3 и 4 устанавливают в положение, при котором черное тело 4 находитсямежду черным телом 3 и зеркалом 7. Обра 15 зец 5 устанавливают между черными телами. При этом черным телом 3 облучак)т однунз поверхностен образца 5, а черным телом4 - другую поверхность образца, обращенную к фотоприемному устройству 10. Зеркало 9 устанавливают в положение (пока 20 зано на фиг. 1 сплошными линиями),...

Номер патента: 1640550

Опубликовано: 07.04.1991

Авторы: Иванов, Чистяков

МПК: G01B 21/02

Метки: линейных, полупрозрачных, прозрачных, размеров

...до каждого иэ обьективов 6 и 7 равна фокусному расстоянию каждого обьектива, световые пучки, пройдя обьективы б и 7, перемещаются в зоне измерения параллельно самим себе и оптическим осям обьективов 6 и 7, формируя в зоне измерения две ветви параллельного сканировайия, Причем перемещение пучков в сканирующих ветвях носит встречный характер. Размах сканирования ограничивается створом 8, который выполняет роль эталонной меры длины,При наличии измеряемого изделия 28 в зоне измерения световые пучки, сканируя по изделию 28, образуют в пространстве эа ним два развернутых во времени теневых иэображения кромок изделия 28, которые фокусируются линзами 9 и 10 на фотоприем-. никах 11 и 12, где преобразуются в электрические сигналы. Эпюры...

Номер патента: 1187563

Опубликовано: 23.12.1991

Авторы: Вишневецкая, Ефимов, Моисеев, Петров, Степанов

МПК: G01N 21/55

Метки: зеркально-отражающих, коэффициента, коэффициентом, малым, поглощения, полупрозрачных, рассеяния, твердых

...данного способа очень важно правильно выбратьэталонное зеркало. Его коэффициентотражения должен быть мал и хорошоизвестен, Одним из возможных вариан.тов является использование в качестве такого зеркала тонкой тщательно отполированной пластины из оптических монокристаллов или стекол;у которых на исследуемую областьспектра приходится область высокойпрозрачности, В этом случае коэф, фициент отражения такого зеркала определяется только показателем преломления материала .и может быть рассчитан с учетом многократных от" ражений в слое очень точно, посколь" ку показатель преломления. измеряется с точностью до четвертого-пятого знака после запятой.Пример реализации способа,1 ля определения коэффициента рассеяния оптической керамики...

Номер патента: 1742636

Опубликовано: 23.06.1992

Автор: Холопов

МПК: G01J 5/50

Метки: заданной, излучения, интегральных, коэффициентов, отражения, полупрозрачных, пропускания, температуре

...измерении с помощью ФПС ЭЯ образца в различных условиях одновременного облучения обеих его сторон двумя черными телами, измерении ЭЯ черных тел и определении коэффициентов излучения,пропускания и отражения образца расчетным путем по результатам измерений, измеряют первую заданную (Т 1), вторую (Т 2) и третью (Тз) температуры чер-, ных тел, измеряют с помощью спектрально неселективной ФПС ЭЯ образца11) при облучении визируемой и обратной его сторон черными телами при первой температуре, одновременно с облучением виэируемой стороны образца черным телом при первой температуре облучают обратную сторону образца последовательно черными телами при второй и третьей температурах и измеряют соотвегствующие ЭЯ образца12 и ) 1 з), одновременно...

Номер патента: 1772627

Опубликовано: 30.10.1992

Авторы: Куренкова, Скрипаль, Усанов, Феклистов

МПК: G01B 21/08

Метки: полупрозрачных, прозрачных, слоев, тонких

...чертежом, на20 котором представлена схема устройства,реализующего предложенный способ измерения толщины прозрачных и полупрозрачных слоев, нанесенных на отражающиеповерхности,25 Устройство содержит предметный столик 1, на котором располагается исследуемая поверхность 2, оптический блок 3,механизм 4 наводки на резкость с визирнойметкой, Б - источник освещения, 6 - прием 30 ная телевизионная камера, монитор 7, пульт8 управления, блок 9 питания устройства,Исследуемая поверхность 1 расположена на Предметном столике 2 таким образом,чтобы измеряемый слой был обращен к обь 35 ективуЗ оптического устройства,. Исследуе-.мая поверхность 1 должна бытьрасположена в поле зрения оптического устройства 3. Наводка на резкость осуществляется...

Номер патента: 1824556

Опубликовано: 30.06.1993

Авторы: Кондратенко, Моисеев, Петров, Степанов

МПК: G01N 21/88

Метки: макроструктуры, однородности, пластин, полупрозрачных, сильнорассеивающих

...для расчета гэфф по соотношениям (2) - (4) величина О считаетсяизвестной, Она слабо зависит от вариацийзаданного технологического режима изготовления материала и может быть достаточно просто измерена на тонком образцеэтого материала. Другая величина - коэффициент А вообще не влияет на гэфф, поскольку она сокращается при подстановке(2) и (4) в формулу (3.Что касается эффективного коэффициента поглощения К, то его величина во многомобусловлена наличием неконтролируемых вкаждом конкретном случае примесей и может сильно меняться от пластины к пластине, что делает необходимым измерение Кдля каждой пластины, С этой целью сигнал0 приемника излучения, пропорциональный энергии пропущенного пластиной излучения при положении пучка в...

Номер патента: 1103662

Опубликовано: 27.06.1995

Авторы: Баскин, Падерин

МПК: G01J 5/02

Метки: излучательной, полупрозрачных, способности

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ИЗЛУЧАТЕЛЬНОЙ СПОСОБНОСТИ ПОЛУПРОЗРАЧНЫХ МАТЕРИАЛОВ, содержащее корпус с механизмом вращения исследуемого образца, блок опорных сигналов, водоохлаждаемый цилиндр с расположенным внутри него радиометром, нагреватель и датчик температуры, отличающееся тем, что, с целью упрощения конструкции при исследовании полупрозрачных материалов толщиной до 2 мм путем исключения из конструкции термостатированных моделей черного тела, оно снабжено дополнительным водоохлаждаемым цилиндром с радиометром, а блок опорных сигналов выполнен в виде теплопроводной и теплоизолированной с трех сторон подложки, закрепленной внутри корпуса на оси механизма вращения, на нетеплоизолированной стороне которой нанесены два кольцевых...