Патенты с меткой «прозрачных»

Страница 8

Устройство для локальной диагностики оптически прозрачных излучающих объектов

Загрузка...

Номер патента: 1536279

Опубликовано: 15.01.1990

Авторы: Александров, Бородин, Рутберг, Тарабанов

МПК: G01N 21/41

Метки: диагностики, излучающих, локальной, объектов, оптически, прозрачных

...оси. В этомслучае лучевой поток несет,информацию из зоны 4 исследуемого объекта,Объект наблюдения всегда устанавливается перед линзой таким образом,чтобы желаемая точка наблюдения в объекте располагалсь на расстоянии, большем чем фокусное расстояние й. Непрозрачный экран с отверстием устанавливается между линзой и исследуемым объектом на расстоянии Ь от линзы,Система О.индикации располагается по другую сторону линзы на расстоя(4нии Я, равном Е -8 - , где 8 - длина камеры вдоль оси 7, Выбирают расположение экрана относительно линзы так, чтобы излучение от объекта захватывалось линзой иа величину 1, которую можно определить из следующего выраженияИ+ -Е) пРи К ) г ),0 (2)Ргоо где Р - поперечный размер камеры 1;К - радиус линзы,Далее,...

Способ определения показателя преломления прозрачных сред

Загрузка...

Номер патента: 1550378

Опубликовано: 15.03.1990

Авторы: Александров, Самойлов, Ярошевич

МПК: G01N 21/45

Метки: показателя, преломления, прозрачных, сред

...относительно 1-й волны пластина может разворачиваться на углы в преоделах от 0 до 90 -О, т.е, углы поворота пластины равны углам падения (при сСо=О), 158 6 выполненный в виде плоскопараллельной пластины, формирование из прошедшего образец, излучения интЕрференционной картинь 1, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью упрощения измерений при сохранении их точности, интерференционную картину формируют путем пропускавия через пластину второй плоской монохроматической волны 3 под углом 6 к первой монохроматической волне,поворачивают пластину и измеряют порядок интерференции ДИ, на интерференционной картине при изменении .в результате поворота угла падения первой плоской монохроматической волны от исходного значения Ко до 0 дополнительно...

Устройство для измерения геометрических параметров огранки прозрачных ювелирных камней

Загрузка...

Номер патента: 1566202

Опубликовано: 23.05.1990

Автор: Доронин

МПК: G01B 9/08

Метки: геометрических, камней, огранки, параметров, прозрачных, ювелирных

...является повышение производительности измерения путем одновременного изображения сфокусированных пучков на экране, отраженных от граней контролируемого 1 О ювелирного камня.На чертеже приведена принцпиальная схема устройства .Устройство содержит осветитель 1, телесистему 2, диафрагму с переменным отверстием (не показана), съемный объектив 3, экран 4, выполненный в виде полусферы, на внутренней стороне которохо нанесена измерительная сетка, а в его центре имеется от верстие, совмещенное с оптической осью устройства, и приспособление 5, предназначенное для размещения контролируемого ювелирного камня. Приспособление 5 с ювелирным камнем разме щают в центре кривизны экрана.Устройство работает следующим образом.Предварительно...

Способ контроля диаметра прозрачных протягиваемых изделий

Загрузка...

Номер патента: 1566203

Опубликовано: 23.05.1990

Авторы: Ахраров, Касимов, Мирзажанов

МПК: G01B 11/00

Метки: диаметра, прозрачных, протягиваемых

...поляризатора 4, светофильтр 7, светоделитель 8, по ходу одного иэ разделенных им пучков находится окуляр 11 для визуального наблюдения интенсивности в поперечном сечении прошедшего пучка, а по ходу другого - фоторегистратор 9 и блок 10 индикации.Способ осуществляется следующим образом.Формируют от источника 1 света посредством коллиматора 2 колимированный пучок света, посредством пропускания через поляризатор 4 создают в нем линейную поляризацию и освещ566203 Составитель В.БатхинРедактор Н.Бобкова Техред Л,Олийнык Корректор Т,Палий Заказ 1215 Тираж 490 Подписи 1 ИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СС 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Производственно-издательский комбинат "Патент", г,ужгород, ул....

Устройство для построчного считывания полутоновых прозрачных оригиналов

Загрузка...

Номер патента: 1581231

Опубликовано: 23.07.1990

Автор: Томас

МПК: G06K 11/00

Метки: оригиналов, полутоновых, построчного, прозрачных, считывания

...за 10 Фокусируеэллипса, большая ось которого параллельна линии 9 развертки. Рассеицавщая пластина 11 образует переднюю понерхность сцетосмесителя 12, который состоит из параллелепипеда, цыполнен 5 ного из прозрачного материала, например стекла или плексигласа, и внешние поверхности которого отполированы,Выходящий иэ рассеивающей пластины 10 11 рассеянный свет в этом теле эа счет многократных отражений подводится к его нижней поверхности, которая в большей степени, независимо от формы сфо кусированного пятна на рассеивающей пленке, засвечивается по большой поверхности, Этим уменьшается или устраняется влияние эффекта Кайе, причем так сильно, что, практически он уже не мешает, С нижней стороны сцетосме сителя 12 свет попадает в...

Способ измерения толщины стенки прозрачных труб и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1585670

Опубликовано: 15.08.1990

Авторы: Никонов, Хейфец

МПК: G01B 11/06

Метки: прозрачных, стенки, толщины, труб

...фотоприемньпг развертывающий блок 3, другая, отразившись от полупрозрачного зеркала 2, поступает на фотоприемный развертывающий блок 4, причем фотоприемные развертывающие блоки 3 и 4 расположены на различных расстояниях 1 =1+1 и 1 = 1 +1гот измеряемой трубы соответственно. Сигналы с электронных блоков 5 и 61обработки информации поступают в вычислительный блок 7, в котором производится операция вычисления толщиныстенки трубы по формуле: гд и Й- соответственно расстояния между световыми пуч 30ками, отраженными от поверхностей измеряемойстенки трубы, на фотоприемныхразвертывающихблоках 3 и 4; 35и - показатель преломленияматериала стенки трубы;При наличии клиповидности стенки, отраженные от ее внутренней и наружной поверхностей, пучки не...

Способ измерения шероховатости поверхностей прозрачных плоскопараллельных пластин

Загрузка...

Номер патента: 1585673

Опубликовано: 15.08.1990

Авторы: Ангельский, Максимяк

МПК: G01B 11/30

Метки: пластин, плоскопараллельных, поверхностей, прозрачных, шероховатости

...поверхность пластины 7, Измеряют значения 1кеЧ мкс1 иини ц аналогично предыдущим:измеминрениям. Расчитывают среднеквадратичные отклонения профиля от базовой линии К и и Кповерхностей3пластины из соотношений: Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в оптическом приборостроении,машиностроении и других отраслях науки и техники для измерения шероховатости поверхности.Цель изобретения - повышение точности измерения и расширение диапа. зона измеряемых высот в сторону мень Оших знаений.На чертеже изображена принципиаль-,ная схема устройства, реализующегоописываемый способ,Устройство содержит одномодовый 15лазер 1, телескопическую систему 2,гениометр 3, объектив 4, диафрагмуи фотоэлектронный блок б...

Устройство для контроля плоскостности прозрачных деталей

Загрузка...

Номер патента: 1589045

Опубликовано: 30.08.1990

Авторы: Калбазов, Калбазова

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: плоскостности, прозрачных

...источника 1 излучения направляют зеркалом 2 на объектив 3. Пройдя оптический клин 7, излучение попадает на объектив 4 колпиматора, затем на клиновидную пластину 5 и контролируемую деталь 9. Излучение, отражаемое от контролируемой детали 9 и эталонной 25 30 35 40 45 50 оптический клин, отклоняется от он тической оси и совершает круговое движение на экране 6. В результате чего параэитные интерфереиционные картины и участки с неравномерностью освещения, связанные с дифракцией когерентного излучения, на неизбежных загрязнениях оптических элементов, получают круговое перемещение .в плоскости экрана и при вращении клина с частотой более 24 Гц раэепгваются и становятся невидимыми, а исследуемая интерференционная картина остается при этом...

Способ измерения порогов объемного оптического пробоя прозрачных материалов

Загрузка...

Номер патента: 1475328

Опубликовано: 23.09.1990

Авторы: Крутякова, Смирнов

МПК: G01N 17/00

Метки: объемного, оптического, порогов, пробоя, прозрачных

...существующих источннкон излучения. 2Образец облучают серией и лазерных импульсов с гауссовым распределе нием интенсивности с различными произвольными значениями интенсивности Ч;=Ч 1.,Ч , превьгаающими пороговуюоблучая каждый .раэ новое место образца, Далее для каждого значения интенсивности Ч; подсчитывают числоБ, микроразрушений, появнншихея в ис следуемых областяхкристалла после облучения. Результаты измерений Б; и 1. аппроксимируют линейной эависимостью Н=К 1 пп+Ь, значения параметров которой К=ТгСЬ и Ь=-юг СЫпЧ рассчитынают методом наименьших квадра- тов1475328 4вались образцы размерами в 1 О раз меньше тех, которые требуются при измерениях иэвестныии способами. формула и э о б р е т е н и я где Ь,К - параметры линейной...

Устройство для контроля диаметра прозрачных волокон

Загрузка...

Номер патента: 1597532

Опубликовано: 07.10.1990

Авторы: Евсеенко, Коровченко, Попов

МПК: G01B 11/08

Метки: волокон, диаметра, прозрачных

...фотоприемника 6. При таком соотношении параметров цилиндрическая оптическая система 4 переносит изображение освещенного лазерным пучком участка волокна 2 на регистрирующий фотоприемник 6 с размерами чувствительного элемента Ь х Ь . Приэтом в параксиальном приближении отклонение плоскости рассеяния от оптической оси, происходящее при накло" 55 не волокна, не приводит к смещениюрегистрируемой картины с чувствительного элемента регистрирующего фото приемника. Размер П изображения вплоскости регистрирующего фотоприемника 6 связан с размером П освещенного участка волокна 2 формулой(2) Ъгде Ч = -- коэффициент увеличенияацилиндрической оптической системы.Освещенность Е в пределах площадки чувствительного элемента регистрирующего...

Теневой прибор для исследования прозрачных неоднородностей

Загрузка...

Номер патента: 1599828

Опубликовано: 15.10.1990

Авторы: Грибова, Камалов, Комиссарук, Попов, Ревтович, Смирнов, Тогулев, Чекменева

МПК: G02B 27/30

Метки: исследования, неоднородностей, прибор, прозрачных, теневой

...принципиальная оптическая схема теневого прибора.Прибор содержит источник 1 света, 15конденсор 2, реперную сетку З,оптическую насадку 4, состоящую иэ двуходинаковых скленных положительныхлинз, входную щель 5,плоские поворотные зеркала 6 и 6(2), два одинаковых 20объектива 7,8 и 8(2), 7(2),установленных навстречу друг другу, первыйиз которых 7,8 является коллиматорным объективом, а второй 8(2), 7(2)объективом приемной части, между которыми находится исследуемая среда 9,В фокальной плоскости объектива 8(2),7(2) расположена непрозрачная визуализирующая диафрагма (нож-Фуко) 1 О,за которой установлен проекционный, 30двухкомпонентный объектив 11,12, вплоскости изображения которого размещена пленка фотокамеры 13,Теневой прибор работает...

Способ измерения градиента показателя преломления прозрачных объектов

Загрузка...

Номер патента: 1608507

Опубликовано: 23.11.1990

Авторы: Ермоленко, Ушенко

МПК: G01N 21/45

Метки: градиента, объектов, показателя, преломления, прозрачных

...от изменения угла ориентации оси пропускания плоскости световых колебаний. В результате получают информа цию о градиенте показателя преломления прозрачного образца с шероховатой поверхностью раздела двух сред,В процессе распространения плоского волнового фронта линейно поляри- З 0 зованного излучения в слое вещества с градиентом показателя преломления Р(п) возникает эллиптически поляризованная компонента в прошедшем потоке лазерного излучения. Величины эллиптичности и азимута поляризации световой волны 9 в локальном участке объекта связаны с локальным значением градиента показателя преломления и.соотношением 40- соответственно эллиптичИнтенсивность световых колебаний в пределах зоны корреляции, измеряемая в ситуации скрещенных...

Устройство для измерения скорости распространения акустических волн в оптически прозрачных средах в условиях высоких давлений

Загрузка...

Номер патента: 1619065

Опубликовано: 07.01.1991

Автор: Максимочкин

МПК: G01H 5/00

Метки: акустических, волн, высоких, давлений, оптически, прозрачных, распространения, скорости, средах, условиях

...проходят в исследуемую жидкостьи вызывают в последней измененияпоказателя преломления в виде концентрических окружностей (в сечении, перпендикулярном оптической оси).Вследствие дифракции света на периодической структуре, образованнойрадиально сходящилися акустическимиволнами в исследуемой жидкости, вфокальной плоскости второго объектива6 образуются дифракционные максиму-мы также в виде концентрических окружностей (на чертеже показана лишьпервая окружность с наименьшим диаметром), диаметр которых связан сискомым значением скорости и распространения акустических волн в жидкости(1)Ъ 2 Ггде 0 - диаметр кольца в дифракционной картине (максимумпервого порядка);Р - фокусное расстояние второгообъектива 6;%р - длина волны оптического...

Способ определения ориентации оси легкого намагничивания прозрачных пленок

Загрузка...

Номер патента: 1517558

Опубликовано: 15.01.1991

Авторы: Бурым, Дубинко

МПК: G01R 33/04

Метки: легкого, намагничивания, ориентации, оси, пленок, прозрачных

...с поляризатором положении, и далее - нафотоприемник 8, Затем измеряот сдвигфазы между сигналом с фотоприемникаи сигналом с резистора 9, пропорщональным току катушек, создаощих поле,параллельное плоскости образца, с помощью днухлученого осцллографа 10,На вход внешцей скролздции осциллографа подается сгнал с формрователя прямоугольных импульсов 11, цакоторый поступает сцгцап с резистора 9, Вращая лимб с образцом, отыски"наот положеие 3 о Гда сдвиг фазы мак 20сималец, На фиг, 2 схемдтчески изображены доменная стрчктура и различныефазы вращения поля 1 Т ОЛН лежит нвоскост, которая совпадает с плоск, остьюо вращения цол. Н направлениеОЛН составляет угол Оо с нормалью кпленке, Стрелками ца фцг, 2 показанынаправления некто ров и...

Фотометрический способ определения качества полировки оптических прозрачных деталей

Загрузка...

Номер патента: 1627830

Опубликовано: 15.02.1991

Авторы: Афанасьева, Несмелов

МПК: G01B 11/30

Метки: качества, оптических, полировки, прозрачных, фотометрический

...фотоприемника 6 чс 1 р)з отверстие 5 освекенцость, пропорциональную коэд)д)циенту , диф 0 фузно отраженного от поверхности 8 излучения, Затем образец 7 переворачивают и лца.огично определяют коэффициент ) диффузцо отраженного излучения от поверхности 9.Далее дс таль 7 помещают между исто и 1:о.1 1 элуцеция н отверстием 3 1 Р .1)Е.1111) С.Р 11нсЦЛЛ 1110 У 1 О)1 ОЖЕцпь) детл.ц 1. Ири этом регулярно проше;шее черед дс-.таль 7 излучение отв)д 11 т 1:я черо; отвсрст 1 е 4 в простр,цстцо гн Ьотометрического нара 2,) =-а+ ) + с, +)+ г- ь с 8 пгВпг2(п потоки излучения раздельно с обеихповерхностей 8 и 9 интегрируются вфотометрицеском шаре 2 и создают наприемной поверхности фотоприемника 6через отверстие 5 освещенности, пропорциональные...

Способ контроля прозрачных оптических деталей

Загрузка...

Номер патента: 1631271

Опубликовано: 28.02.1991

Авторы: Дадеко, Паско, Резунков, Тетера

МПК: G01B 21/00

Метки: оптических, прозрачных

...параллельным оптической оси.При этом при углах падения на деталь 2 монохроматических пучков Ф, (см. фиг. 1) углы преломления на выходе из детали определяются выражениямиф, В фе(п)-п ф Ор, (2)Мгде и - показатель преломления конт 50ролируемой детали.Знак члена п в уравнении (2), зависит от соотношения углов падения пучка излучения на грань с клиновидностью и углаклиновидности. Для55 указанного случая угол падения пучка ф, на грань с клиновидностьюбольше клиновидности. Для противополож где Х - расстояние от оси пучка 14до оптической оси,Для удобства расчетов выбирают значение Х 1 близким к половине диаметра детали 0: 0Х 1= 2.(4) Измеряют диаметр детали 2 и направляют монохроматическое излучение на края детали на расстояние Х от...

Рефрактометр для прозрачных пластин

Загрузка...

Номер патента: 1631373

Опубликовано: 28.02.1991

Автор: Амстиславский

МПК: G01N 21/45

Метки: пластин, прозрачных, рефрактометр

...проходя подложку туда и обратно по нормали (опорный пучок), а луч 18 рассеивается на прямом пути - до отражения и проходит поверхность 14 туда и 5 10 15 20 25 30 35 40 45 45 50 обратно под углом (предметный пучок), Так как лучи 17 и 18 возникают в результате рассеяния на одной и той же частице, тоУ / дополнительные скачки фаз д р и д р обусловленные рассеянием, имеют одну и(1ту же величину, т,е. д р идар, и на разность хода Ллучей 17 и 18 они не влияют. Поэтому можно добиться высокой степени взаимной когерентности этих лучей.Перекрывание опорного и предметного пучков при условии их когерентности приводит к формированию интерференционной картины, В силу осевой симметрии расположения она имеет вид системы светлых и темных...

Способ определения оптической анизотропии прозрачных образцов

Загрузка...

Номер патента: 1640542

Опубликовано: 07.04.1991

Авторы: Недужко, Стринадко, Ушенко

МПК: G01B 11/30

Метки: анизотропии, образцов, оптической, прозрачных

...регистрации, измеряют распределение интенсивности и азимутов поляризации в нулевой полосе, по которым определяют оптическую анизотропию и высоту миронеровностей поверхности образца. 1 ил. деления оптичес ых образцов.йство содержит источник 1 иэлучещий высококогерентное излучение волновым фронтом, светоделитель ные зеркала 3 и 4, оптический смемагнитооптический модулятор б, р 7 и фотоэлектронный умножиПредлагаемый способ одующим образом, Полупрозрачная пластин учение,от источника 1 из ка; объектный, который наказ 1012 Тираж 393 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ ССС 113035; Москва, Ж, Раушская нэб 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г Ужгород, ул,Гагарина, 101 исследуемому...

Устройство для измерения линейных размеров прозрачных и полупрозрачных изделий

Загрузка...

Номер патента: 1640550

Опубликовано: 07.04.1991

Авторы: Иванов, Чистяков

МПК: G01B 21/02

Метки: линейных, полупрозрачных, прозрачных, размеров

...до каждого иэ обьективов 6 и 7 равна фокусному расстоянию каждого обьектива, световые пучки, пройдя обьективы б и 7, перемещаются в зоне измерения параллельно самим себе и оптическим осям обьективов 6 и 7, формируя в зоне измерения две ветви параллельного сканировайия, Причем перемещение пучков в сканирующих ветвях носит встречный характер. Размах сканирования ограничивается створом 8, который выполняет роль эталонной меры длины,При наличии измеряемого изделия 28 в зоне измерения световые пучки, сканируя по изделию 28, образуют в пространстве эа ним два развернутых во времени теневых иэображения кромок изделия 28, которые фокусируются линзами 9 и 10 на фотоприем-. никах 11 и 12, где преобразуются в электрические сигналы. Эпюры...

Способ ультразвукового контроля качества оптически прозрачных монокристаллических слитков

Загрузка...

Номер патента: 1640628

Опубликовано: 07.04.1991

Авторы: Казимиров, Каневский, Минаева, Сластен, Струков

МПК: G01N 29/00

Метки: качества, монокристаллических, оптически, прозрачных, слитков, ультразвукового

...двухканального осциллографа 5 подается экспоненциальный сигнал с генератора 6 экспоненты, Синхронизатор 7 обеспечивает согласованный между собой запуск импульсного модулятора 2, генератора 6 экспоненты и генератора развертки двухканального осциллографа 5 так, что на экране двухканального осциллографа 5 одновременно с серией принятых эхо-импульсов наблюдается экспоненциальный сигнал. Экспоненциальный сигнал совмещается с огибающей серии принятых эхоимпульсов путем изменения постоянной времени генератора 6 экспоненты. Ультразвуковым преобразователем 1 сканируют по торцовой поверхности контролируемого протяженного изделия 13 путем его перемещения. При сканировании ультразвуковой преобразователь 1 в процессе излучения и приема вращают вокруг...

Способ получения интерферограммы для контроля плоскостности прозрачных деталей

Загрузка...

Номер патента: 1647215

Опубликовано: 07.05.1991

Автор: Гусев

МПК: G01B 11/24, G01B 9/021

Метки: интерферограммы, плоскостности, прозрачных

...изображение пердней грани контролируемого обьекта 3плоскости фотопластинки 6.Способ осуществляют следующим обрВ сигнальном канале диффузноянного когерентного излучения из бпропускают через контронтролиробьект 3 и с помощью обьектива 5 напластинке 6 с использованием оппучка, поступающего на нее из блокаписывают одновременно голограммуЗаказ 1645 Тираж 396 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035. Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент". г. Ужгород, ул.Гагарина, 101 сированного изображения передней грани контролируемого объекта 3 и голограмму Фурье его задней грани. Перед записью второй экспозиции с помощью механизма 4 сдвига и поворота осуществляют...

Сепаратор для отбраковки прозрачных минералов, пораженных включениями

Загрузка...

Номер патента: 1648566

Опубликовано: 15.05.1991

Авторы: Балаганский, Лагов, Платонов, Цукерман, Яхин

МПК: B03B 13/06

Метки: включениями, минералов, отбраковки, пораженных, прозрачных, сепаратор

...5, защищенный от прямого света лазера 4 экраном 7, через молочное стекло регистрирует эту освещенность и преобразует ее в электрический сигал И (фиг,4, И (т. Сигнал фотодатчика 5 проходит на вычитающий элемент 11 и интегратор 10 (фиг,1), Последний производит интегрирование сигнала И 5(фиг.4, Ио(т. Постоянная интегрирования т 4 берется равной не менее 100 Ть где Т - время развертки лазерного луча поверхности куска наибольшего размера. При таком условии за время анализа точечного включения в куске сигнал с интегратора 10 практически не изменяется. Сигналы на входах вычитающего элемента 11 по усредненной амплитуде практически равны (фиг.4, Иь (т), И 1 о (т) при т ", 1 з - 14). поэтому на его вь;ходе наблюдается небольшой сигнал...

Голографическое устройство для контроля неоднородности прозрачных объектов

Загрузка...

Номер патента: 1649252

Опубликовано: 15.05.1991

Авторы: Бахтин, Гриневский, Калинкин, Логинова, Малов, Селиванов

МПК: G01B 9/021

Метки: голографическое, неоднородности, объектов, прозрачных

...коллимированного пучка на зафиксированной на регистрирующей среде 5 картине полос приводит к фокусировке пучка за средой 5, При отсутствии неоднородностей на контролируемом участке обьекта точка фокусировки симметрична положению фокуса объектива 3 относительно регистрирующей среды 5, Расположенный в этой точке фоторегистратор 6 с ограниченной апертурой фиксирует максиМальную интенсивность, В случае же наличия неоднородностей излучение фокусируется не только в эту точку, поэтому из-за ограниченности апертуры фоторегистратора 6 фиксируется меньшая величина сигнала, которая характеризует интегральную оценку неоднородности исследуемого прозрачного обьекта.Поскольку апертура фоторегистратора коллиматора ограничена размером используемой...

Устройство для измерения механических напряжений в деталях, выполненных из оптически прозрачных материалов

Загрузка...

Номер патента: 1651115

Опубликовано: 23.05.1991

Авторы: Ворнычев, Захаров, Казимиров, Костюк, Крутогин, Летюк, Пономарев, Сорокин

МПК: G01L 1/24

Метки: выполненных, деталях, механических, напряжений, оптически, прозрачных

...- разность фаз, возникшая припрохождении светового пучкачерез напряженный участок.Расстояние между линзами 1 выбиорают из расчетного градуировочногографика зависимости этого расстоянияот средней толщины образца, построенного на основе заданных показателя16511 преломления материала образца, длины волны используемого излучения и величины фокусных расстояний обеих линз (Фиг.2),5 В оьъектах, дающих малый набегразности фаэ, зависимость 1 от.напряжений близка к линейной, поэтому скорость измерений можно существенно повысить, исполь зуя известноеустройство, в сочетании с перемещением образца перпендикулярно лучу спостоянной скоростью при одновременной записи 1. Полученную зависимость можно откалибровать и получитьпрофиль напряжений...

Устройство для измерения геометрических размеров прозрачных труб

Загрузка...

Номер патента: 1657961

Опубликовано: 23.06.1991

Авторы: Горский, Гришко, Скаржепа, Хомук

МПК: G01B 21/10

Метки: геометрических, прозрачных, размеров, труб

...графики С и С наиг.2 а/и луч С на Аиг. 3).ГраАик зависимости угла входа оптических лучей в прозрачную трубу 25 от координат выхода эТих лучей параллельно линии регистрации, привеЛенцой на Рвг. 2 а, построен на основе зависимостей: Х, Х9 -2(лгсз 1 п- -лгсв 1 п - +агсв)па па пЬХ.5 = (агсв 1 п -- ггсв 1 п-) (3)пЬ Ъ фгце 8 - угол вхоЛа лучей, прохоЛящихчерез лве стенки трубы 5 и внутреннее отверстие; 62- угол входа лучей,проходящих через стенку трубы 25 ииспьтывающих явление полного внутреннего тражеция на границе внутреннего отверстия трубы ,5; 9- уголвхода лучей, прохоЛящих только черезстс цку трубы 25 и не входящих во внутренее отверстие; и - показатель преломлеция материала трубы 5 (показате 5 ь преломления окружающего трубувозЛухл и...

Способ контроля неоднородности прозрачных объектов

Загрузка...

Номер патента: 1670379

Опубликовано: 15.08.1991

Авторы: Бахтин, Гриневский, Калинкин, Логинова, Малов, Селиванов

МПК: G01B 9/021

Метки: неоднородности, объектов, прозрачных

...4 мо 1670379нохроматического излучения, Поскольку длину волны излучения пучка 4 выбирают лежащей вне диапазона спектральной чувствительности регистрирующей среды 1, то пучок 4 не фиксируется на среде 1, а дифрагирует на интерференционной структуре, образованной наложением пучков 2 и 3. При отсутствии резких изменений оптических свойств объекта в областях, просвечиваемых этими пучками, на регистрирующей среде 1 в результате наложения пучков 2 и 3 формируется голограмма, имеющая структуру типа плоской дифракционной решетки. Дифрагированный на этой решетке пучок собирают линзой 5, в фокусе которой расположена диафрагма б, имеющая отверстие размером, равным дифракционному размеру пучка 4. Расположенным эа диафрагмой б фотоприемником 7...

Способ определения напряжений в прозрачных материалах

Загрузка...

Номер патента: 1670389

Опубликовано: 15.08.1991

Авторы: Абен, Иднурм, Пуро

МПК: G01B 11/16

Метки: материалах, напряжений, прозрачных

...пластмасс, Целью изобретения является повышение информативности за счет определения компоненты тензора остаточных напряжений по направлению перпендикуляра к сечению. Объект помещают в иммерсионную среду и просвечивают в двух параллельных сечениях поляризованным излучением под разными углами. Для каждого угла регистрируют параметр изоклины и относительную разность хода. По полученным данным определяют с помощью расчетных соотношений компоненту тензора остаточных напряжений по направлению перпендикуляра к сечениям. регистрируют параметр изоклины и относительную разность хода. По полученным данным определяют с помощью расчетных а соотношений компоненту тенэора остаточ- р ных напряжений по направлению перпендикуляра к сечениям. Формула...

Способ измерения толщины прозрачных пластин с рассеивающей поверхностью

Загрузка...

Номер патента: 1672209

Опубликовано: 23.08.1991

Автор: Кизеветтер

МПК: G01B 15/00

Метки: пластин, поверхностью, прозрачных, рассеивающей, толщины

...Р подложки образца с темным (неосвещен1672209 иг. ным) кругом вокруг лазерного луча, Из фиг,1 видно, что диаметр темной области Ог связан с толщиной образца как Н -0,25 О со ус . Для того, чтобы поверхность Р являлась рассеивающей, высота шероховатости поверхности Вдолжна быть больше половины длины волны лазерного излучения, Рассмотренный эффект будет иметь место и в том случае, если ВвА/2, но контраст изображения будет ниже, и при Ва -+ 0 иэображение вообще исчезнет вследствие отсутствия диффузного рассеяния, Наилучшим условием наблюдения, соответственно, и условием измерения толщины пластины является размещение исследуемого образца на хорошо отражающей поверхности, например на листе белой бумаги, Угол падения лазерного луча...

Устройство для измерения показателя преломления прозрачных сред

Загрузка...

Номер патента: 1679301

Опубликовано: 23.09.1991

Авторы: Бородин, Веселев, Лизунов, Мокрош

МПК: G01N 21/45

Метки: показателя, преломления, прозрачных, сред

...22 сигналов, нуль-индикатора 23 и процессора 24Устройство работает следующим образом, 1679301Параллельный пучок источника 1 моно- хроматического света делится светоделительным элементом 6 на две равные части, одна из которых при помощи светоделительного элемента 2, уголковых отражателей 3 и зеркал 4 и 5 образует интерференционную картину в основном интерферометре считывающим регистрируемым устройством 21, а вторая часть при помощи зеркал 8-11 уголковых отражателей 12 и светоделительного элемента 7 - интерферирующую картину во вспомогательном интерферометре считывающего регистрирующего устройства,По заданной программе процессор 24 управляет механизмом 17 перемещения вакуумных камер 13, при этом считывание полос осуществляется...

Способ обнаружения инородных тел в прозрачных емкостях с жидкостью

Загрузка...

Номер патента: 1689805

Опубликовано: 07.11.1991

Автор: Александров

МПК: G01N 21/00

Метки: емкостях, жидкостью, инородных, обнаружения, прозрачных, тел

...на дне тяжелыми инородными телами эа счет трения также приводится во вращение. Затем емкость 1 с жидкостью тормозят и останавливают, что приводит инородные тела во взвешенное состояние; После этого емкость 1 с жидкостью помещают в осветительно-приемное устройство.Заказ 3807 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул,Гагарина, 101 Осветителем 2 этого устройства формируется вертикальная локализованная в пространстве световая полоса (показана штриховкой), с осью которой совмещается ось емкости 1 с жидкостью. Фотоприемное устройство 3 регистрирует сигнал рассеяния, создаваемый попавшими в...