Патенты с меткой «дефектности»

Номер патента: 259467

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Борисова, Заславский, Исламкулова, Кириллов, Мардзелис, Центральный

МПК: G01N 21/47

Метки: дефектности, оптический, семян12, хлопковб1х

...междкоэффициентом отраце,1Изобретение относится к оптическим способам определения, а именно к определению дефектности хлопковых семян.Известны способы определения дефектности хлопковых семян с использованием в качестве исследуемой оптической характеристики цветового тона или чистоты тока. Однако цветовой тон ядра практически не изменяется при изменении дефектности семян.Цель изобретения - упрощение способа при обеспечении точности анализа, для чего в качестве исследуемой оптической характеристики используют коэффициент отражения света от ядер семян. Исследование ведут в монохром атическом свете с длиной волны 470 нм.Для измерения дефектности образец семян, например хлопковых, подвергают шелушению на дробильных вальцах. Шелуху и волокно...

Номер патента: 282736

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Бабиченко, Воронова, Козьмина

МПК: G01N 31/22

Метки: дефектности, муки

...колон ку, границу разделения зон которой (кислойи щелочной) предварительно устанавливают по Нейтральроту, берут вытяжку хлеба из анализируемой муки не позднее, чем через два часа после выпечки, и определяют на ра- О бочих хроматограммах наличие и степень дефектности муки,по высоте щелочной зоны, окрашонной в фиолетовый или фиолетово-розовый цвет, обусловленный наличием в вытяжке с убфр а кци и ам илозы.5 На чертеже показана схема хроматограмм,где 0 - нормальное зерно; 1, 2, 3, 4 - суткипрорастания; а, б, в, г - количество примесипроросшего зерна (10, 25, 50, 100% соответстО венно),Степень дефектности муки из проросшегозерна, а также наличие его в нормалыномзерне определяют следующим образом: берутколонку из окиси алюминия, в которой...

Номер патента: 391455

Опубликовано: 01.01.1973

МПК: G01N 27/42

Метки: дефектности, диэлектрических

...малая разрешающая способность,Целью изобретения является точное определение конфигурации дефектов, повышение разрешающей способности.Достигается она тем, что диэлектрическую пленку на проводящей подложке приводят в контакт с электролитом, электролитически осаждают металл на дефектах диэлектрической пленки, селективно травят ее и регист,рируют по виду осажденного металла конфигурацию и распределение дефектов на проводящей подложке.Диэлектрическую пленку приводят в контакт с электролитом, на который подают положительный потенциал. В качестве электролита (анода) применяют металл соответствующей соли, находящейся в электролите, или платину, на подложку (катод) подают отрицательный потенциал. Пропускают электрический ток через систему...

Номер патента: 454474

Опубликовано: 25.12.1974

Авторы: Берестнев, Бренер, Мотельс, Флексер

МПК: G01N 29/04

Метки: дефектности, нитей, текстильных

...распространения в ней ультразвука гиперболически связана с коэффициентом затухания звуковой волны. Аналитически эта зависимость выражается в следующем виде: 20С= - (1) корость ультразвуковои волны;коэффициент пропорциональности; 2оэффициент затухания ультразвукоой волны. При наличии дефектов в нити коэффициенттухания волны не будет связан гиперболи ческой зависимостью со скоростью ультразвука.При измерен и структуры нити и сопоставлении с У чит следующее в(2)где С 1 и 61 - соответственно скорость и коэффициент затухания ультразвука в исходной нити до зонытехнологического воздействия,например вытягивания;С, и 6, - скорость и коэффициентзатухания ультразвука после зонытехнологического воздействия,например вытягивания.(2) может быть...

Номер патента: 599178

Опубликовано: 25.03.1978

Авторы: Ермилов, Комиссарова, Морозов

МПК: G01M 13/00

Метки: дефектности

...1, От электродвигателя 3 через эластичную муфту 4 и эксцентрик 5 обеспечиваются кодебания ппатформы вибратора 1 с определенной частотой и амплитудой. Частота и амппитуда колебаний издепия 10 воспринимаются датчиком вибрации 6 и через усипнтепь 7 подаются на отк.оняющиеся пластины катодного осциппографа 8, На другую пару отклоняющихся пластин подается этапонный сигнал от генераторов 9. Этвпонный сигнал опредепяется по амппитуде и частоте копебаний при работе вибрвтора в резонансном режиме. Амплитуда и частота снимаются датчиком и через уснпитепь подаются на откпоняющиеся ппастины катодного осциллографе. На другую пару отклоняющихся плас599178 Составитель В, Таллинс Техред Н. Еабурка Корректор Редактор А. овале Заказ 139 БНИИП/34...

Номер патента: 693383

Опубликовано: 25.10.1979

Авторы: Бондаренко, Кожевников, Рипный

МПК: G07C 11/00

Метки: дефектности, информации

...н любоймомент времени поступает из дефектоскопа 1 ка вход запоминающего устройства 2 и устанавливает его н единичное состояние. Очередным импульсом от датчика перемещения изделия 5информация о наличии дефекта переписывается из запоминающего устройства 2Ян первый разряд регистра З,выход которого подключен к второму входу схемы 7, н результате чего реверсинныйсчетчик 9 производит операцию сложения а запоминающее устройство 2приходИт в исходное состояние.Если длина базового отрезка беевкбнечно протяженного контролируемого иэделия ранна и мм, то регистр 3должен иметь (п+1) разрядов, 60Допустим, что изделие имеет одиночный дефект, информация о котором зафиксирована счетчиком 9. Напротяжении и мм, счетчик 9 будет показывать единицу, а в...

Номер патента: 746285

Опубликовано: 05.07.1980

Авторы: Бабиченко, Самарина

МПК: G01N 33/10

Метки: дефектности, муки

...абсорбированныеполисахариды проявляют 0,0025-нымраствором йода в йодистом калии, определяют цвет зон амилозы и замеряютих высоту.Данные оценки хлебопекарных свойстпшеничной сортовой муки, полученныепредлагаемым способом и известным(по результатам пробной выпечки)показывают, что хлеб, отличающийсяЗаминающимся мякишем, низкими упругопластичными свойствами, объемным выходом и Формоустойчивостью, получаютиэ муки, при хроматографическом анализе кбторой отмечено появление взоне амилозы продуктов ее распада -фиолетовых фракций высотой 23 мм.Налйчиедейолимеризованйой амйлоэй"указывает на возможность сильногоразрушения крахмала при выпечке,которая подтверждается результатамипробной выпечки и хроматографического анализа хлеба. На...

Номер патента: 896400

Опубликовано: 07.01.1982

Авторы: Лапин, Царенко

МПК: G01B 11/30

Метки: дефектности

...на электрические входы блока 1 измерений с функционального генератора 8 поступает периодическая последовательность прямоугольных импульсов, 25 на соответствующие оптические входы воздействует световой поток. На выходе блока будет послеповательность импульсов, модулированных дестабилизирующим параметром (например, неравномерной освещенностью фотодатчиков). КЬличество импульсов во вхопном и выходном сигналах соответствует числу каналов фото- датчика.Выходной сигнал с блока 1 измерения 35через коммутатор 2. (контакты К, замкнуты), управляемый блоком 3 управления, подается на первый вход функционального преобразователя 6. На второйвход последнего вводится последовательность входных импульсов блока 1 измерений, поступающая с...

Номер патента: 926533

Опубликовано: 07.05.1982

Авторы: Адаменко, Валевич, Довженко, Троицкий

МПК: G01B 15/02

Метки: дефектности, классификации, контроле, радиационном, сварных, соединений

...входу которого подключен выход генератора 6 15 прямоугольных импульсов. Выход элемента 5 И-НЕ подключен ко второму входу схемы 7 сравнения частот, к первому входу которой подключен выход преобразователя 3 амплитуда-час тота, Генератор 6 прямоугольных импульсов и последовательно соединенные схема 4 выделения длительности сигнала дефекта и логический элемент 5 И-НЕ образуют преобразователь 25 длительность-частота. Выход схемы 7 сравнения частот соединен со входом регистрирующего блока 8.Устройство работает следующим образом. 30Ионизирующее излучение, проходя через контролируемый материал, попадает на радиационный детектор 1, на выходе которого появляется электрический сигнал, амплитуда и длительность которого пропорциональны геометрическим...

Номер патента: 947733

Опубликовано: 30.07.1982

Автор: Лаврентьев

МПК: G01N 27/02

Метки: дефектности, полимерных, структуры

...2,. подключенные к источнику 3 напряжения постоянного тока, неподвижную обкладку 4 динамического конденсатора и подвижную обкладку 5 конденсатора, совершающую колебания относи- тельно образца 1 и обкладки 4 при помощи вибровозбудителя б (в качестве . которого используют громкоговоритель 1 ГД 28, подключенный к генератору 65 ЭГ-ЗЗ), .напряжение с динамического конденсатора подается на регистрирующий прибор 7 (используют милливольтметр В 3-38).П р и м е р 1 . Для доказательства наличия прямой корреляционной взаимосвязи между способностью воспринимать заряды и качеством поверхности полимеров используют измерение электрической прочности. Как известно, возникновение любых дефектов (микропоры, микротрещины, неоднородности структуры)...

Номер патента: 972339

Опубликовано: 07.11.1982

Авторы: Конышев, Шарафутдинов

МПК: G01N 19/08

Метки: дефектности, кристаллов, поверхности, скрытой

...проверка способа проводится на при- у 5 иере избирательного травления кристаллов 1 Г е одном растворе ГеС 1, который известен как травитель за" медленного действия.Исследованию подвергаются кристал лы размером 5 5 35 мм , выколотые3из предварительно отожженных блоков. Образец одним концом закрепляется в держателе и помещается вертикально в сосуд с травителем так, чтобы его35 большая часть ( 30 мм ) находилась в жидкости, а нижний конец кристалла на расстоянии л 40 мм от дна сосуда, Время травления в этом положении составляет 10 мин. Перемешивание раствора и перемещение образца за время травления исключается. Такая длительность травления выбирается для стаЬилизации диффузионных потоков вблизи поверхности кристалла, По45 окончании...

Номер патента: 1052955

Опубликовано: 07.11.1983

Авторы: Воробьев, Кузнецов, Погребняк

МПК: G01N 23/18

Метки: дефектности, ионных, кристаллов, полупроводниковых

...65 Эти чва процесса ведут к увеличению концентрации позитрончувствительных дефектов, При последующем облучении образца позитронами и измерении параметрой аннигиляции увеличивается относительное число позитронов аннигилирующих с электронами н дефектных местах контролируемого образца. Это ведет к изменению функции импульсного распределения аннигилирующих электроннопозитронных пар, что вызынает соответствукщие изменения параметров аннигиляций. Это позволяет повысить чувствительность метода контроля дефектности материала, Энергия заряженных частиц для предварительного облучения не должна превышать порог смещения атома из регулярного узла решетки контролируемого кристалла, Для ряда бинарных полупроводниковых соединений, таких как 2 л...

Номер патента: 1167492

Опубликовано: 15.07.1985

Автор: Андреев

МПК: G01N 29/04

Метки: дефектности, изделия

...изделие 1 размещают между приспособлением 2, создающим удар, и микрофоном 3, который последовательно соединен с усилителем 4 и осциллографом 5. Позицией 20 б обозначена огибающая амплитуда эталонного образца, а позицией 7 " огибающая амплитуда контролируемого изделия с нарушенным зазором.Способ определения дефектности . 25 иэделий осуществляется следующим образом.В контролируемом изделии 1 возбуждают упругие колебания с помощью приспособления 2, которое со- здает кратковременный механический удар с заданной силой и длительностью воздействия, Причем возбуждают упругие колебания последовательно во всех деталях составного контролируемого изделия 1. При изменении условий возбуждения в зависимости от места приложения удара...

Номер патента: 1260006

Опубликовано: 30.09.1986

Авторы: Головатюк, Грегуль, Отть, Чернышов

МПК: A61K 39/00, G01N 33/49

Метки: дефектности, лимфоцитов

...при 400 Определили количество лимфоцитов в осадке. Ресуспендированную взвесь разлили по 0,1 мл в 4 пробирки. В первой и второй определили число Т- и В-лимфоцитов (Е- и ЕАС-РОК), В третью и четвертую пробирки добавили по О, 1 мп 1 мкмоль раствора третичной перекиси бутила и выдержали вотермостате при +37 С в течение 30 мин, после чего отцентрифугировали при 400 6 в течение 10 мин. Отобрали из каждой пробирки по 0,1 мл надосадочной жидкости. В полученном осадке определили число Т- и В- лимфоцитов (А- и ЕАС-РОК). Выявлено, что в не обработанной третичной перекисью бутила взвеси количество Т- и В-лимфоцитов составило соответственно 30 и 347., Во взвеси, обработанной 1 мкмоль раствором третичной перекиси бутила, число Т- и В-лимФоцитов...

Номер патента: 1310693

Опубликовано: 15.05.1987

Авторы: Кривошей, Чалых, Шредер

МПК: G01N 15/08

Метки: дефектности, полимерного, структуры

...из градиентной колонки окрашенные образцы разделяют по степени дефектности, исходя из интенсивности окраски, определяемой по их светопоглощению на фотокалориметре. Более дефектные образцы имеют более интенсивную окраску,менее дефектные образцы слабее окрашены.П р и м е р 2. Исследуют два образца полиметилметакрилата (органического стекла) марки СОЛ толщиной 1,0 мм. Один исходный образец не подвеграют дополнительной обработке, 3. 13106 а другой был искусственно состарен в ацетоне с образованием визуально наблюдаемых трещин серебра", представляющих собой микротрещины, образующиеся в процессе эксплуатации.В качестве дефектоскопических жидкостей используют систему вода-карбонат калия, имеющую граничные интервалы плотностей 1,00 -...

Номер патента: 1352057

Опубликовано: 15.11.1987

Авторы: Быкова, Дмитриев, Сурков, Трофимова, Тюрина, Шипков

МПК: E21C 39/00

Метки: дефектности, спрессованных, сыпучих

...(фиг. 2). Всеэластичные шнуры 16-19 связаны междусобой, а концы 20 шнуров 17 и 18 разведены относительно концов шнуров 16и 19 и закреплены (также, как и конВ 5цы шнуров 16 и 19), например, с помощью винтов 21 с увеличенными шляп-.ками, К контактным иглам 11 и 12 57 2присоединена измерительная схема 22Эластичные шнуры 16-19 связаны междусобой обвивающей их по спирали нитью23, а контактные иглы 11 и 12 зафиксированы с помощью колец 24, прикрепленных к контактным иглам 11 и 12,На электрической схеме (фиг. 3)контактные иглы 11 подключены к переключателю 25, а контактные иглы 12к переключателю 26, другие поля контактов которых подключены к индикаторам 27, Переключатели 25 и 26 соединены с вольтметром 28, Питание на индикаторы 27 подается...

Номер патента: 1392494

Опубликовано: 30.04.1988

Авторы: Аугутис, Бязарас, Книва, Малдейкис

МПК: G01N 29/04

Метки: дефектности

...алия ния резонансов нд высоких частотахУстройство Д.1 я цсх гоств.ения с нцсцб;5 показано нд чертеже.УстрОЙс гво с здс 1) жид нос лс лц идте:1 ь соединенные приемникдк) с и сских коле бдний, усилитель 2, фил.тр 3 низких цдстцт, измерительный блок 4, и также электромагнитный ударный возбудитель 5, к входу коцрого подсоединен выход усилителя 6. Е нхолу последнего цолсоелинен второй выход управляющегоц хстрцйствд 7, верный ныхцл кнцрого ццлсоелинсц к вхолу блока 8 задержки, выход которого ццлсоелинен к вОру(у входу измерительного блока 4 11 риемник 1 и возбудитель 5 рдсноложены окцл изделия 9 так, чтц их сси црохцлят цсрез пчки максимумов колебаний первой млы нд ли. ниях минимд.нных колебаний второй моды.Способ )суц(ествляк)т сгелукшим...

Номер патента: 1397823

Опубликовано: 23.05.1988

Автор: Безымянный

МПК: G01N 29/04

Метки: дефектности, изделия

...ра= диоимпульс с частотой заполнения си" 40 нусоидального сигнала, а длительностью и периодом повторения, определяемыми видеоимпульсом, поступающим на вход модулятора 2 с генератора 3. Усиленный радиоимпульс усилителем 4 45 поступает на преобразователь 5, с помощью которого в изделии 12 возбуждаются ультразвуковые колебания. Эти колебания принимаются преобразователем 6 и после усилителя 7 поступают 50 на вход калиброванного аттенюатора 8, а с его выхода - на вольтметр 9, являющийся нуль-индикатором, и второй канал осциллографа 10На первый канал осциллографа 1 О поступает сигнал 55 с выхода усилителя 4. Синхронизация работы осциллографаосуществляется генератором 3, который, в свою очередь, синхрониэируетсяизмерителем 11...

Номер патента: 1446552

Опубликовано: 23.12.1988

Авторы: Беспрозванных, Лапенко, Салита

МПК: G01N 29/00

Метки: дефектности, изделия

...значению минимально и максимально возможных частот собственных колебаний для этого типа бездефектных изделий. При изменении условий, например наличие в контролируемом изделии микродефекта, изме .няются параметры колебательного процесса этого изделия относительно эталонного. Например, изменяется при появлении дефекта частота собственных колебаний изделия. Принимают од- З новременно звуковые колебания, возникающие при механических колебаниях контролируемого и эталонного изделий, фиксируют результирующее этих колебаний. Регулирующее колебание двух гармонических колебаний с близкими частотами, собственных колебаний представляет собой колебание с периодом биений, величина которого зависит от соотношения частот этих колебаний, Причем период...

Номер патента: 1453316

Опубликовано: 23.01.1989

Авторы: Алексеев, Беспрозванных, Лапенко, Салита, Чириков

МПК: G01N 29/04

Метки: дефектности

...за счет регулятора 7 опоры производят изменения длины опоры 6, т.е. совмещают регулятор 7 опоры с риской, соответствующей частоте собственных коле банни опоры 6, равной средней частоте, Изделие 1 этого типа подвешивают на нити (проволоке) 8, через которую изделие взаимодействует с опорой 6. 40 50 В контролируемом изделии 1 возбуждают упругие колебания с помощью ударника 2, который создает кратковременный механический удар с заданной силой и длительностью воздейст вия. В связной системе (деталь - опора) возникают результирующие колебания опоры и контролируемого изделия, характеризуемые амплитудой и периодом биений. При изменении условий, например наличие в контролируемом изделии микродефекта, изменяются параметры колебательного...

Номер патента: 1471120

Опубликовано: 07.04.1989

Авторы: Абаренкова, Зарембо, Карпачев

МПК: G01N 29/04

Метки: акустический, дефектности, магнитоупорядоченных, структуры

...осуществляется следующим образом.1471120 1 ги06 О Щ Фр йЮ Оровскийук Коррект оставитель ехред А.Кр едактор Е,Па оманен ираж 788 Под пи сно 03 4 каз зобретениям и открыт Раущская наб., д. 4 Т СССР сударственно 11303комитета п Москва, Жм и роиэводственно-издательский комбинат "Пагент", г, Ужгород, ул. Гагарина Образец исследуемого материала помещают в однородное внешнее магнитное поле, возбуждают и принимают упругую волну, прошедшую через образец и определяют коэффициент затухания этой, волны в исследуемом материале любым способом (например, эхо-импульсным) в зависимости от величины внешнего магнитного поля. Начиная с некоторого значения внешнего магнитного поля величина измеренного коэффициента затухания Ы, остается постоянной и...

Номер патента: 1509704

Опубликовано: 23.09.1989

Авторы: Бобоев, Филатов, Ярцев

МПК: G01N 25/38

Метки: дефектности, межфазного, слоя, состояния, углепластике

...на общую площадь поверхности волокнистого наполнителя, учрс-. твующего в процессе термоокислительной деструкции, определяют степен дефектности межфазного слоя исследуемого материала.Формула изобретения Учитывая площадь поверхности одного моноволокна и его массу, пересчет на общую площадь поверхности наполнителя, участвующего в процессе термодеструкцииЬГ-Яш =10 мг дает 128 см его площади, что соответствует 113 общей площади поверхности наполнителя. Таким образом, сумСоставитель С, Харламов Редактор В. Данко Техред Л.Олийнык Корректор М, ВасильеваЗаказ, 5798/37 Тираж 789 Подписное РНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Ироиэводственно-издательский комбинат...

Номер патента: 1536288

Опубликовано: 15.01.1990

Авторы: Каушпедас, Микшис, Петрухин, Уткина

МПК: G01N 27/20

Метки: алюминий, дефектности, покрытий, полимерных, сплавах

...покрытий на алюминиевых сплавах. Цель изобретения - повышение точности определения дефектов полимерного покрытия, В качестве индикатора пористости в порах покрытия химически осаждают цинк и обрабатывают тонирующим раствором, повышающим контрастность изображения дефектов. Молибдат аммония 2Ацетат натрия 2Полиэтиленгликоль 10При этом точки цинка окрашиваются в черный цвет. Производится анализ дефектов. СдП р и м е р 2. В 30 мл дистилли- М рованной воды растворяют 12 г едко- ф го натра и добавляют 2 г окиси цинка. Я После растворения окиси цинка раст- (ф вор разбавляют дистиллированной во- ( дой до объема 100 мл. Диск с ферролаковым покрытием ставят в горизонтальное положение и на его поверхность в разных местах наносят 10 капель...

Номер патента: 1552091

Опубликовано: 23.03.1990

Автор: Беспрозванных

МПК: G01N 29/04

Метки: дефектности, изделия

...возможных для бездефектных изделий.вЧастота собственных колебаний изделия, а также зона отклика этой частоты определяется формой изделия и размерами: длиной, шириной и толщиной роме того, она зависит от мо1 552091 10 В. Евстратов,дюкоав Корректор М. Максимишине оставител ехредЛ.С Редактор И. Дерба аказ 3 01 Тираж 5 Подписноественного комитета по изобретениям н открытиям 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 ИИПИ Го НТ ССС роизводственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарина, 1 О дулей .упругости, плотности и коэффи-. циента Пуассона контролируемого материала. Все эти факторы, влияющие на частоту собственных колебаний изделия, обуславливают некоторый разброс значений частоты собственных колебаний и ее зоны...

Номер патента: 1589151

Опубликовано: 30.08.1990

Автор: Кулижников

МПК: G01N 19/08

Метки: дефектности, диэлектрических, твердых

...развитие начальныхсубмикроскопических дефектов, которые не оказывают заметного влиянияна механические свойства иэделия,Признак убывания зависимости характеризует развитие более серьезныхмикроскопических нарушений, связанных с разрывами элементов, образующих структуру.П р и м е р. Для наиболее полнойдемонстрации возможностей предлагаемого способа в качестве контролируемого материала использована древесина - природный композиционный материал, имеющий сложное строение и содержащий в своем составе более половины целлюлозы - аморфно-кристал- лического полимера,Кондиционированные образцы 12%-ной влажности представляли собой прямоугольные призмы с основанием 20 ЮОмм и длиной вдоль волокон 30 мм. Сжатие вдоль волокон проводили на нагрузочной...

Номер патента: 1608530

Опубликовано: 23.11.1990

Авторы: Сапожникова, Чалых

МПК: G01N 23/225

Метки: дефектности, покрытий, степени

...способа к выявлению гетерогенности (величина у в примере 1 включает не только стандартное отклонение, нои дефектность шлифа).П р и м е р 3, Определение дефектностипористого (высокогетерогенного) полимерного материала.В качестве обьекта исследования используют серосодержащий образец искусственной кожи на основе полиамидатолщиной 1 мкм. Величины 1 и 1 р опреде.ляют аналогично описанному в примере 1по Кг. -линии характеристического рентгеновского излучения серы Я) при ускоряющем направлении 0 = 15 кВ и проходящемтоке 1 = 0,5 10 А. Результаты анализа; 1 з =12501 имп / 100 с; 1 р = 19750 имп/100 с;у= 0,633; у = 37 . Найденная величина де 1фектности совпадает с величиной объемнойдоли пор в материале, определенной морфометрически.П р и м...

Номер патента: 1619170

Опубликовано: 07.01.1991

Авторы: Баранов, Ермолаев, Козлов, Кудрявцев, Самохвалов

МПК: G01N 23/00, G01N 29/12

Метки: дефектности

...мм), изготовленные, например,методом двустороннего прессования, имеют три различные (по вертикали) зоны, Наличие дефекта в первой (верхней) зонеприводит к появлению дополнительного резонансного пика 1, а дефекты в зонах И и Ивыз:ахают появление дополнительного пика2, Определяется разность частот между дополнительными пиками бездефектного эталонного изделия Л т 1 = т 1 - т 1; А 2 = 2 - т 1.Контролируемые изделия (цилиндры) позонно просвечиваются узким пучком гаммаквантов и определяется степень ослабления 20излучения и/пэ( = 1,2,3), где и - плотностьпотока гамма-квантов, прошедших череззону цилиндра с номером , пэ - плотностьпотока гамма-квантов, прошедших черезэталонное бездефектное изделие, В результате контроля определяется...

Номер патента: 1670587

Опубликовано: 15.08.1991

Авторы: Кочетов, Молодцов

МПК: G01N 29/12

Метки: дефектности, неразрушающего

...с эталонными, либо с расчетными значениями для беэдефектных изделий.Воздействие нормированными тепловыми импульсами осуществляют, например, путем обдувания струей воздуха переменной температуры (или переменным по интенсивности излучением) поверхности контролируемого изделия, причем период теплового воздействия импульса необходимо выбирать таким, чтобы э время воздействия иэделие не могло нагреться1670587 Составитель С. ВолковТехред М,Моргентал Корректор С. Шевкун Редактор А, Лежнина Заказ 2747 Тираж 373 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Производственно-иэдательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина, 101(охладиться) до температуры...

Номер патента: 1677596

Опубликовано: 15.09.1991

Авторы: Богданов, Кулижников, Хорсов

МПК: G01N 19/08

Метки: дефектности, древесных, плит

...обеспечивает при движении. плиты сканирование приемником всей площади плиты. При прохождении под приемником дефектной зоны плиты в измерительную цепь поступает сигнал, длительность которого зависит от размера дефектной зоны, поэтому суммарная длительность электромагнитных импульсов, измеренная при прохождении под приемником всей плиты, является интегральной характеристикой дефектности контролируемой плиты, Таким образом, указанные условия осуществления способа и выбор в качестве характеристики дефектности суммарной длительности электромагнитных импульсов обеспечивают снижение трудозатрат контроля плиты, движущейся в технологическом потоке по роликовому транспортеру, поскольку отпадает необходимость анализа амплитуд генерируемых...

Номер патента: 1712806

Опубликовано: 15.02.1992

Авторы: Беспрозванных, Лукин, Николаев

МПК: G01M 13/04

Метки: дефектности, подшипника, роликового, сепаратора, цилиндрического

...а также максимальные амплитуды рядом стоящих периодов биеклй зависят от наличия дефектов (их величины) в обоих связных элементах, например в кольцах сепаратора, Затухание колебаний любого типа зависит от его материала, наличия и величины дефектов и т,ппоэтому амплитуда затухающих колебаний тем быстрее уменьшается, чем больше, например, величина дефекта.Так как при связных колебаниях колец сепаратора результирующее колебание завислт от затухания отдельных составляющих колебательного процесса, т,е. амплитуда результируюгцего колебания (биения) у дефектного сепаратора уменьшается более интенсивно от периода к периоду, чем у исправного, Поэтому отношение максимальных амплитуд рядом стоящих периодов биений - хороший информативный...