Лысогоров

Номер патента: 1505166

Опубликовано: 10.01.2000

Авторы: Дикаев, Лысогоров, Миргородский, Ревенко, Сандомирский

МПК: G01N 21/39

Метки: коэффициента, оптического, поглощения

Способ измерения оптического коэффициента поглощения материала, включающий последовательное облучение исследуемого участка материала пучками оптического излучения с рабочей p и калибровочной к длинами волн, промодулированными по амплитуде с одинаковой частотой, и измерение на этих длинах волн величин мощности P1 и P2 падающего излучения, отличающийся тем, что, с целью расширения класса исследуемых материалов и диапазона длин волн рабочего излучения и повышения точности, при облучении последовательно регистрируют...

Номер патента: 705986

Опубликовано: 30.03.1982

Авторы: Волков, Лысогоров, Мизеров, Портной, Смирницкий

МПК: G02B 5/18

Метки: дифракционной, монокристалла, поверхности, решетки

...шагом и различными углами блеска. Решение этой проблемы позволяет существенно расширить спектральный интервал таких приборов, что ведет к расширению круга задач, решаемых,ими. Кроме того, при создании целого ряда интегрально-оптических и оптоэлектронных приборов возможность получать решетки с различными углами блеска позволяет направленно изменять их основные характеристики.Предлагаемый технологический процесс изготовления решетки заключается в следующем.Изготавливают монокристалл (подложка будущей решетки) с исходной кристаллографической плоскостью, наиболее устойчивой к какому-либо химическому травителю (аналогично устойчивой к фотохимическому травителю или устойчивой при ионно-плазменном распылении).705986 Рабочую поверхность...