Саамова

Номер патента: 1524708

Опубликовано: 20.02.2002

Авторы: Бажанов, Куинджи, Саамова, Стрежнев

МПК: G02B 5/18

Метки: вогнутых, дифракционных, решеток

Способ изготовления вогнутых дифракционных решеток, включающий нарезание на вогнутой подложке алмазным резцом на делительной машине непрямолинейных штрихов с переменным шагом, установку нарезанной решетки в спектрограф и измерение расстояний rs и rm от вершины решетки до ее сагиттального и меридионального спектральных изображений в меридиональной и сагиттальной плоскостях соответственно, отличающийся тем, что, с целью обеспечения заданных аберрационных характеристик изготавливаемых решеток, сначала осуществляют нарезание штрихов, устанавливая на делительной машине расчетные значения угла p...

Номер патента: 1531061

Опубликовано: 23.12.1989

Авторы: Мансурова, Саамова, Стрежнев

МПК: G02B 27/32

Метки: градуировки, излучения, преимущественно, приборов, приемником, спектрофотометрических

...спектрометрическийприбор 2, круггую д афрагму 3, устанавливаемую перед Фокальной плоскостьюприбора 2, прицем диаметр йдиафрагмы много меньше Фокусного Ерасстояния прибора (1Е), приемник5 излучения, установленный с возможностью перемещения в фокальной плоскости 1 прибора 2 перпендикулярно егооптической оси 6, и регистрирующуюсистемуФотометрицеская шкала 8 (фиг,2)содержит основной дифракционный мак 30симум 9 и вторицные дифракционныемаксимумы 1 О,Устройство работает следующим образом.Излучение от истоц ика 1 иэлучения с длиной волны Л проходит черезприбор 2 круглую диафрагму 3 и фокусируется в Фокальной плоскостиприбора. При этом в Фокальной плоскостинаблюдается дифракционная картина,состоящая из основного дифракционного максимума...

Номер патента: 1499111

Опубликовано: 07.08.1989

Авторы: Баранов, Куинджи, Саамова, Стрежнев

МПК: G01B 11/00

Метки: линейных, перемещений

...регистрируются блоком 8 отсчета перемещения и служат мерой перемещения измеряемого объекта. В результате наклона решетки-индекса 5 на уголпо отношению к поверхности решетки- шкалы 6 паразитные пучки света, отраженные от ее рабочей и нерабочей поверхностей, выводятся за пределы ныходной диафрагмы 7 и не снижают величину модуляции выходного рабочего светового пучка. При повороте решетки-индекса 5 ее эффективная постоянная Й, уменьшается, ее предварительно введенное приращение Дй компенсируется. Регулируя величину угла , добиваются положения решетки- индекса 5, при котором муаровые полосы растягиваются на все рабочее поле так, что вместо движения муаровых полос происходит равномерное изменение освещенности во всех точках рабочего...

Номер патента: 1497605

Опубликовано: 30.07.1989

Авторы: Куинджи, Саамова, Стрежнев

МПК: G02B 5/18

Метки: волны, дифракционной, длины, концентрации, максимуме, решетки, энергии

...от клина 2, Затем поворачивают решетку 3 вокруг оси, 10 параллельной ее штрихам, до совмещения пучка 6, отраженного от решетки в К-м порядке спектра, с пучком 5. Перемещением клина 2 в направлении изменения его плотности уравнивают 15 интенсивности пучкой 5 и 6 и по градуировочной кривой фотометрического клина 2 определяют его плотность РГкф соответствующую положению уравнивания интенсивности пучков 5 и 6, Затем 20 поворачивают решетку 3 вокруг оси9 параллельной ее штрихам до совмещения пучка 7, отраженного от решетки 3 в К+1-м порядке спектра, с пучком 5. Перемещением клина 2 уравнивают интенсивности пучков 5 и 7 и по градуирЬвочному графику фотометрического клина определяют его плотность г к+сДлину волны Л, в максимуме...

Номер патента: 1287087

Опубликовано: 30.01.1987

Авторы: Саамова, Стрежнев

МПК: G02B 5/18

Метки: вогнутая, дифракционная, решетка

...показаны) формирует главные дифракционные максимумы для всех длин падающего излучения. Распределение интенсивности дифрагированного всеми штрихами вогнутой решетки излучения между главными максимумами определяет положение максимума концентрации энергии 1При выполнении угла М в соответствии с выражением (1) положение Л максимума концентрации энергии, определяемое отражением от всех штрихов решетки, совпадает с заданным )положением, т. е. 3= ) .Кривая 7 (фиг,2) характеризует распределение относительной интенсивности 1 в зависимости от длиныволныпадающего излучения для решетки, имеющей постоянный угол блеска, и для центрального штриха известной решетки, Распределение интенсивности от всех штрихов известной решетки показано кривой 8,...

Номер патента: 1186986

Опубликовано: 23.10.1985

Авторы: Куинджи, Саамова, Стрежнев

МПК: G01M 11/00

Метки: оптических, приборов, разрешающей, спектральных, способности

...на 55 два пучка. Пучок, проходящий через щель 5 и поляроид 4, поляризуется;ов направлении Е под углом 45 к направлению щели 5. А пучок, проходящий через поляроид 3 и цель 6, по-.ляризуется в направлении Е под уголом 45 к направлению щели 6. Укаэанные световые пучки после прохождения оптического прибора 8 создаютв фокальной плоскости 9 изображениящелей 5 и 6, которые регистрируютсярегистрирующей системой 10.Так как векторы поляризации пучков, создающих изображения щелей 5и 6, взаимно перпендикулярны, тоисключается их взаимная итерференция.Следовательно, распределение интенсивности в фокальной плоскости 9оптического спектрального прибора 8будет определяться только его разрешающей способностью, Исключаетсятакже влияние на результаты...

Номер патента: 1171744

Опубликовано: 07.08.1985

Авторы: Саамова, Стрежнев

МПК: G02B 27/44, G02B 5/18

Метки: диспергирующее

...соответствующих решеток 1 и 2. Кроме того, решетка 2 имеет возможность перемещения(2) 3),%=4,4 д,з 1 п ус соз 6 где (6 - угол блеска первой решетки 1;%- коротковолновая граница 25области пропускания устройства.Другая часть падающего излчения с Ъ с % ), будет дифрагировать в спектральные порядки 10 решетки 1. Для того, чтобы на вторую решетку 2 пада ло излучение только нулевого порядка 9 спектра решетки 1, решетку 2 смещают вдоль прямой 5 до тех пор, пока расстояние между центральными35 штрихами решеток не окажется равным величине г, соответствующей выражению (1), и поворачивают по дуге 6 окружности с радиусом г вокруг оси 3 на угол 6, = 29 . Угол др образо, ван входной ветвью 7 оптической оси устройства и прямой 5, Затем решетку 2...

Номер патента: 1094007

Опубликовано: 23.05.1984

Авторы: Журавлев, Куинджи, Саамова, Стрежнев

МПК: G02B 5/18

Метки: вогнутая, дифракционная, решетка

...к крутой грани штрихов.На фиг.1 представлена конструкция предлагаемой решетки в разрезе по ширине заштрихованной поверхности; на фиг,2 - схема отражения падающего на решетку излучения при угле "блеска" решетки.Вогнутая дифракционная решетка содержит слой 1 металлизации, на котором сформированы штрихи 2 двугранного ступенчатого профиля и который жестко скреплен с подложкой 3. Пологая 4 и крутая 5 грани всех штрихов 2 снабжены зеркальным покрытием, Угол 6 между этими гранями выполнен прямым, а угол А наклона пологих граней 4 штрихов решетки к касательной 6 ее образующей 7 определяется соотношением (1), При этом угол "блеска" решетки - о( отсчитывается от нормали 8 к ее образующей 7 в направлении нормали 9 к крутой грани 5 штрихов 2 и...

Номер патента: 949348

Опубликовано: 07.08.1982

Авторы: Куинджи, Саамова, Совина, Стрежнев

МПК: G01J 3/40

Метки: дефекта, дифракционной, изображения, интенсивности, образуемого, относительной, решеткой, спектрального

...путем наклона апертурной диафрагмы, установленной перед решеткой, относи", тельно направления ее штрихов до разделения дефекта спектрального изображения от изображения вторичных дифракционных максимумовизмеряют интенсивность дефекта, выделяют вто ричный дифракционный максимум, рав" ный по интенсивности дефекту спектрального изображения, определяют положение этого максимума относи"8 фтельно спектральной линии, а относительную интенсивность 1 ь дефекта спектрального изображения вычисляют по формуле где х - расстояние между положениемвыделенного вторичного дифракционного максимума и спектральной линии;А - ширина заштрихованной поности решетки;1 - длина штрихов заштрихованной поверхности;3 - угол дифракции света от решетки;- фокус...

Номер патента: 864223

Опубликовано: 15.09.1981

Авторы: Саамова, Стрежнев

МПК: G02B 5/18

Метки: асферических, вакуумной, дифракционных, области, разрешающей, решеток, спектора, способности, ультрафиолетовой

...решетки,50М Л 2. ЛИтеор Атеор 31 теор ЬОтсюда разрешаннцая способность В )дпя длины волны 1, может быть пред 55 ставлена в видегде к лС 1)теор А 2 Из (5) и (6)следует, что разрешающуюспособность решетки В , для длиныволны К можно определить, не измеряя непосредственно при Д , ее разрешающую способность.Таким образом, зная величину разрешающей способности В для однойдлины волны Х в заданном порядке,например, в видимой области спектраможно определить разрешающую способность К 7, для любой другой длины волны , в этом же порядке, например, ввакуумной ультрафиолетовой областиспектра.Измерение разрешающей способностиасферических решеток можно произво"дить только в стигматической областицлин волн, поскольку эти решетки, вособенности...