Патенты с меткой «образуемого»

Устройство для измерения толщины слоя льда, образуемого на стенках трубопровода

Загрузка...

Номер патента: 241306

Опубликовано: 05.09.1976

Авторы: Антонов, Лютов

МПК: E03B 7/00

Метки: льда, образуемого, слоя, стенках, толщины, трубопровода

...лши 40 дО бъем воды в т еление шкалы,шенным в нем чувскоторый выполнен вмерзаюшей жидкост том,неза- Д м(сти 25 на одно одяшийс убке, пр Известные толщины слоя ках трубопро емый в после пус с размеш элементом и го и надежног бопроводов,Описываем ена Ленина горно-металлургический комбина им. А.П. Завенягина 3, соединенной в верхней части4, припаянной к крышке 5 корпуняемой в этом месте сальникомВ верхней части трубка гермрывается пробкой 7 и снабженаКорпус устройства, как и сам тпокрывают термоизоляцией, обесв месте установки устройства теравные теплопотерям на равном 1 О бопровода,При превращении воды в лед увеличение объема воды, находя пусе 2 устройства, которая начи на эластичную емкость 3. В рез го незамерзающая жидкость, нах в...

Способ определения относительной интенсивности дефекта спектрального изображения, образуемого дифракционной решеткой

Загрузка...

Номер патента: 949348

Опубликовано: 07.08.1982

Авторы: Куинджи, Саамова, Совина, Стрежнев

МПК: G01J 3/40

Метки: дефекта, дифракционной, изображения, интенсивности, образуемого, относительной, решеткой, спектрального

...путем наклона апертурной диафрагмы, установленной перед решеткой, относи", тельно направления ее штрихов до разделения дефекта спектрального изображения от изображения вторичных дифракционных максимумовизмеряют интенсивность дефекта, выделяют вто ричный дифракционный максимум, рав" ный по интенсивности дефекту спектрального изображения, определяют положение этого максимума относи"8 фтельно спектральной линии, а относительную интенсивность 1 ь дефекта спектрального изображения вычисляют по формуле где х - расстояние между положениемвыделенного вторичного дифракционного максимума и спектральной линии;А - ширина заштрихованной поности решетки;1 - длина штрихов заштрихованной поверхности;3 - угол дифракции света от решетки;- фокус...