Способ определения длины волны в максимуме концентрации энергии дифракционной решетки

,149760 А 1)4 С 02 В 5/8 ВСЕСОЮ Е 11 Т 3БЛБ) ТЕНИЯ злучения, фотом рическиионную редля натическотносится ческ Изобретение спектрально Целью изобр ра дуе муюический клин 2, исщетку 3 иблюдения с строению, яется повышеу при к ени ктрапьных пор е точност а схема с редставле уществлен на фиг. 2 щения коэ начены: 5 - пуина; 6 - пучок, в нулевом поаженный Ьт рее; 8 - графикр / Л Р На фиг, 1 ойства для о ого способа; 2 обо На фиг. чок, отраж отраженный рядке; 7 шетки в пея предлагае график за н ныл от к от решетк пучок, от вом порядРк+, /Ри " ентов висимости отн клина ометричес ошения дл пропускания ф 9 к+, /ри от о Устройство соба содержитЛ,/Л ш вол ависимо я осуществления О охр источник ОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЦТИЯМРИ ГКНТ СССР ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕ Н д ВТОРСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(56) Авторское свидетельство СССР1195 316, кл, Г 02 В 5/18, 1984.Герасимов Ф.И. и др, Дифракционные решетки, - Сб.: Современные тенденции в технике спектроскопии./Ред. Раутиан С. Г, Новосибирск, 1982, с.57 (54) ГПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДЛИН)1 ВОЛНЫ В ИАКСИРУМЕ КОНЦЕНТРАЦИИ ЭНЕРГИИ ДИФРАКЦИОННОЙ РЕШЕТИ(57) Изобретение относится к оптическому спектральному приборостроению, Целью изобретения является ловы шение точности, 1 онохроматическим пучком с длиной волны Л освещают дифракционную решетку через фотометр ческий клин. Уравнивают интенсивности пучков: отраженного от фотометрического клина и пучка исследуемого спектрального порядка путем изменения коэффициента пропускания клина, Определяют коэффициент рк пропускания клина, соответствующий равенству пучков для двух последовательных спектральных порядков. По графику зависимости отношения Р к / Р = з 1 пВ(1:-Л./Л )3 (К+ 1- Л,/Л )/С(К- Л,/Л)йпР(К+ 1- - Лр/Л )И , где К - номер меньшего из двух последовательных спектральных порядков дифракционной решетки;длина волны в максимуме кочцентрации решетки в 1-м порядке спектра опре-,р деляют длину волны в максимуме концентрации энергии. Способ полезен для дифракционных решеток, имеющихмум концентрации энергии в ультлетовой и вакуумной ультрафиолеобластях спектра. 2 ил, 1497605(К - -) з 1 п ГК+1- - )1Ло ЛоЛ Л номер меньшего из двух последовательных спектральных порядков;коэффициент пропускания фотометрического клина, соответствующий уравниванию интенсивностей пучков: отраженного от клина 2 и от иссле дуемой решетки 3 вК-м и К+1-м порядках спектра соответственно;длина волны в максимуме концентрации энергии в первом50 порядке спектра;длина волны моцохроматического излучениягдеККоэффициент отражения решетки в К-м порядке спектра Ф определяетея выражением г с - ,/л)1фк (. Л /)з Способ осуществляют следующим образом,Освещают с помощью источника 1 излучения Аотометрический клин 2 и ис 5 следуемую решетку 3 моцохроматическим излучением с длиной волны 3, наблюдают на коническом экране 4 пучок 5, отраженный от клина 2, Затем поворачивают решетку 3 вокруг оси, 10 параллельной ее штрихам, до совмещения пучка 6, отраженного от решетки в К-м порядке спектра, с пучком 5. Перемещением клина 2 в направлении изменения его плотности уравнивают 15 интенсивности пучкой 5 и 6 и по градуировочной кривой фотометрического клина 2 определяют его плотность РГкф соответствующую положению уравнивания интенсивности пучков 5 и 6, Затем 20 поворачивают решетку 3 вокруг оси9 параллельной ее штрихам до совмещения пучка 7, отраженного от решетки 3 в К+1-м порядке спектра, с пучком 5. Перемещением клина 2 уравнивают интенсивности пучков 5 и 7 и по градуирЬвочному графику фотометрического клина определяют его плотность г к+сДлину волны Л, в максимуме концентрации энергии в первом порядке спек тра определяют по графику зависимости 9 к1 кОтношениеПри измерениях интенсивность 1Х пучка 5 определяется интенсивностью падающего пучка 1 и коэффициентом отраженияповерхности клина 2:Интенсивность 1 с пучка 6 опреде" ляется коэффициентом пропускания (ппотностью клина 2) рк и коэффициентом отражения решетки 3 фк1 с=1 Р ф В момент уравнивания 15= с -ф " =Ркфотсю а д Ф = -к Ан ало гично ф к+1 9Г к+1 так как измерения проводятся на одной и той же длине волны, то ( постоянно, Таким образомЛк Ц ф эдпрГ(К - -)1 (К+1- -ф)к Л ф Лк кф (К - ) в 1 пГ (К+1 -- )1 Р к+1+.Рк По графику 8 зависимости р / рк,гк от Л,/ Л для полученного отношениярк /Рк находят величину отношения Л,/ Л и затем определяют Л,Наиболее полезным и перспективным двляется применение способа для решеток, имеющих максимум концентрации энергии в ультрафиолетовой и вакуумной ультрафиолетовой областях спектра, для которых практически невозможно испольэовать способы качественного визуального определения из-эа ограниченного 1 набора визуально наблюдаемых спектральных линий, а количественные фотоэлектрические способы требуют использования вакуумного оборудования, Формула изобретенияСпособ определения длины волны в максимуме концентрации энергии дифракционной решетки, включающий освеще" ние дифракционной решетки, монохроматическим пучком излучения, о т л ич а ю щ и й с я тем, что, с цельюповышения точности, освещают дифракционную решетку монохроматическим пучком излучения через фотометрический клин, поворачивают дифракционную7 б 05 где К 5Гк, к 10 15 5 149 решетку вокруг оси, параллельной ее штрихам, до совмещения пучка, отраженного от фотометрического клина, с пучком исследуемого спектрального порядка дифракционной решетки, изменяют величину коэффициента пропускания фотометрического клина до уравни- вания интенсивности совмещенных пучков, регистрируют коэффициент пропускания фотометрического клина для двух последовательных порядков спектра, а длину волны в максимуме концентрации энергии дифракционной решетки определяют по графику зависимости Л Л,Укадп 1(К- дЩ+1 Х )(К )айВ(К+1- - )3)Лф , , ЛцЛ Л номер меньшего из двух последовательных порядковспектра дифракционной решеткй;коэффициент пропускания фотометрического клина, соответствующий уравниванию интенсивности пучков: отраженного от фотометрического клина и дифракционной решеткив К-м и (К+1)-м порядкахспектра;длина волны в максимуме концентрации решетки в первомпорядке спектра;длина волны монохроматического пучка излучения.1497605 аказ 4443/49НИИПИ Гос ираж 51 одп ое ударственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Гагарина,101 оизводственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород Составитель С, Иванов Редактор А, Лежнина Техред М,Ходанич Корректор Э, Лончакова