Способ измерения параметров дефектов в материалах

(51) 4 С 01 И 27/20 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИИ НИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ ВТОРСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТ 7/319.1 (088.8)Японии У 56-1702829/04, 1980.ранции Кд 2317036,27/20, 1982,(54) СПОСОБ ДЕФЕКТОВ ВМА (57) Изобрет бам неразруш алов и может мической, ма ЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРТЕРИАЛАХ кта,ыть использовано в иностроительной, м л(21) 40001 (22) 27.12 (46) 23,02 (71) Карага институт (72) М.С.К В,Ф.Бежена и В,Э,Барк (53) 620.1 (56) Патен кл. 601 ХПатент кл, С 01 И 88. Бюл. 9 7ндинский политехнический силов, С.П.Слухаевский Н.С.Косилов ие относится к спосо ющего контроля матери лургическои и других отраслях народного хозяйства. Повышение точностии достоверности и принципиальнаявозможность определения размеровдефектов и глубины их залегания реализуются путем совокупных измеренийпри варьировании проходящего черезобразец угла наклона вектора электрического поля измерительнои цепи.Первое измерение производят первойпарой пластин под углом наклона цк плоскости образца, второе - подугломвторой парой пластин. Сравнительное измерение производят призначении М=О электродами, установленными на поверхности прямоугольного образца беэ наклона поля. Порезультатам измерений определяютглубину и линейный размер дефеИзобретение относится к измерительной технике, в частности к способам неразрушающего контроля материалов, и может быть использованов резинотехнической, химической,машиностроительной, металлургическойпромышленности,Целью изобретения является повышение достоверности способа,На чертеже приведена блок-схематройства для реализации способа.Устройство, реализующее способ,содержит генератор 1 прямоугольныхимпульсов, который подключен к проводящей пластине 2, жестко скрепленной с диэлектрической призмой 3. Ксвободным поверхностям плоских участков проводящей пластины, наклоненных под угломик конт 1 2ролируемому материалу 4, прикрепляют накладки 5 из контролируемого материала в виде прямоугольныхпризм. С противоположной стороны к,контролируемому материалу прижимаются яакладки 5, прикрепленные к участкам проводящей пластины 6, содержа щим охранные кольца и измерительныеэлектроды 7. Накладки 5 имеют такуюформу, чтобы противолежащие участкипроводящих пластин 2 и 6 оказалисьпараллельными друг другу. Количествонаклоненных под разными углами кконтролируемому материалу противолежащих участков проводящих пластинопределяется числом измеряемых пара"метров материала. Электроды 7 подключают к входам преобразователей 8ток-напряжение с малым входным сопротивлением. Охранные кольца подключают непосредственно на землю. Вшходы преобразователей 8 подключают кблоку 9 сбора данных оптоволоконной1Формула изобретения Способ измерения параметров дефек.30 тов в материалах, заключающийся втом, что исследуемый образец прямоугольной формы закрепляют между элек.тродами, измеряют параметры электрической цепи, содержащей дефект, о тл и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения достоверности способа, дополнительно создают электрическое поле, не менее чем под двумя различными уГлами к плоскости исследуемого образца, измеряют величины токов, протекающих в цепи, и определяют параметры дефектов по результатам совместных измерений,40 системы. С приемника-преобразователя10 оптоволоконной системы через блок11 сопряжения информация поступаетна микроЭВМ 12, С учетом показанийдатчика 13 координаты обработаннаяинформация далее выводится для ви"зуалиэации на экран монитора 14.Способ реализуют следующим обра зом.Производя" первое измерение токав электрической цепи, содержащейдефект при использовании первойпары противолежащих участков пластин 15 2 и 6 с углом наклона ч электрического поля к плоскости исс 1 едуемогообразца прямоугольной формы,Второе измерение производят сьвторой парой противолежащих участков 20 проводящих пластин 2 и 6 с углом наклонаэлектрического поля к поверхности образца.По результатам совместных измерений определяют параметры дефекта 25 (линейный размер).1376929 тель И.КоршуновМ,Ходани Ко ос ктор С.йекг едакто Пекарь е о к нии Производстзенно-полиграфическое предприятие, г.ужгород, ул.Проектная аказ 786/45 ВНИИПИ Госуд по делам 113035, Моск